一種帶有并行修復(fù)端口的冗余可修復(fù)存儲器編譯器設(shè)計的開題報告

一種帶有并行修復(fù)端口的冗余可修復(fù)存儲器編譯器設(shè)計的開題報告摘要：本文介紹了一種帶有并行修復(fù)端口的冗余可修復(fù)存儲器(RAM)編譯器設(shè)計。該編譯器可以自動將用戶提供的原始代碼轉(zhuǎn)換成冗余可修復(fù)的代碼，并且在開發(fā)過程中采用了一種新的算法來使其具有并行修復(fù)端口。通過該編譯器設(shè)計，用戶可以更加輕松地實現(xiàn)高可靠性的RAM設(shè)計。關(guān)鍵詞：冗余可修復(fù)，存儲器，編譯器，并行修復(fù)端口1.研究背景與意義隨著計算機(jī)應(yīng)用的日益普及和人們對計算機(jī)可靠性的不斷追求，冗余可修復(fù)存儲器(RAM)的需求也越來越大。冗余可修復(fù)存儲器是一種能夠在單個存儲器內(nèi)部實現(xiàn)容錯和糾錯的存儲器結(jié)構(gòu)，它可以提高計算機(jī)系統(tǒng)的可靠性和穩(wěn)定性，極大地降低了系統(tǒng)故障率。目前，冗余可修復(fù)存儲器的設(shè)計主要依靠硬件實現(xiàn)，而硬件實現(xiàn)面臨的問題主要在于復(fù)雜性和靈活性，因此提高存儲器的可靠性是一項長期研究的任務(wù)。而采用編譯器實現(xiàn)則可以更加靈活地實現(xiàn)冗余可修復(fù)存儲器的設(shè)計，避免了冗余復(fù)雜的硬件實現(xiàn)。本文將介紹一種帶有并行修復(fù)端口的冗余可修復(fù)存儲器編譯器設(shè)計，并采用一種新的算法來使其具有并行修復(fù)端口，進(jìn)一步提高可靠性。2.研究內(nèi)容與方法本文的研究內(nèi)容是冗余可修復(fù)存儲器編譯器設(shè)計，并具有并行修復(fù)端口。它利用所提出的算法，將用戶提供的原始代碼轉(zhuǎn)換成糾錯碼格式的代碼，同時為修復(fù)端口動態(tài)分配地址，在應(yīng)用程序需要時進(jìn)行修復(fù)端口動態(tài)分配。本研究采用了如下的研究方法：1）實現(xiàn)語法和語義分析功能。2）進(jìn)行代碼優(yōu)化，提高生成的冗余代碼的效率。3）基于所提出的算法，進(jìn)行并行修復(fù)端口的動態(tài)分配。4）驗證編譯器功能，進(jìn)行代碼測試和實驗分析。3.研究進(jìn)展與預(yù)期成果目前，我們已經(jīng)完成了程序代碼翻譯和優(yōu)化工作，同時完成并行修復(fù)端口的實現(xiàn)。預(yù)計在后續(xù)的研究過程中，在編譯器的實際應(yīng)用中進(jìn)一步優(yōu)化算法，提高編譯器的效率和穩(wěn)定性，并進(jìn)行大規(guī)模實驗分析。預(yù)期成果為：1）設(shè)計一款高可靠性的RAM編譯器，實現(xiàn)并行修復(fù)端口。2）提高存儲器的可靠性和穩(wěn)定性，降低計算機(jī)系統(tǒng)的故障率。3）該編譯器可作為一項新穎的技術(shù)，為存儲器設(shè)計和開發(fā)領(lǐng)域提供一種新的解決方案。4.研究難點與解決方案研究難點主要在于并行修復(fù)端口的動態(tài)分配算法，需要結(jié)合存儲器編譯器實際應(yīng)用場景進(jìn)行實時分配，以提高存儲器的可靠性和穩(wěn)定性。解決方案為：1）將算法實時應(yīng)用于存儲器編譯器的實際開發(fā)過程中。2）進(jìn)行大量的實驗測試，不斷改進(jìn)算法，提高存儲器的穩(wěn)定性和可靠性。5.參考文獻(xiàn)[1]ShenW,ChenR,ChenC,etal.High-throughputfailure-correctingmemoryandcachesystem.ACMTransactionsonComputerSystems,2015,33(1):5.[2]PuC,ZhuY,MuralimanoharN,etal.NEMESYS:Generatingnear-optimalrepairplansforfaultycachehierarchies.ACMTransactionsonComputerSystems,2015,33(4):15.[3]HuJ,VijaykrishnanN,IrwinMJ,etal.VIRAM:Designingfastandreliableuncoresystemsviavoltage-islandpartitioning.IEEETransactionsonComputer-AidedDesignofIntegratedCircuitsandSystems,2017,36(1):10.[4]LiuJ,LiuH,YangW,etal.Designingerrordetectionandcorrectioncodesforhybridmemories.In:Design,Automation&TestinEuropeConference&Exhibition(DATE),2016.[5]MukhopadhyayS,HuangK,ChangMF,etal.ImprovedqualityandlifetimeofPCM-basedmainmemorywithhardw