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論文修改說明<RareMetals><EffectsofpunchchamferradiusonmicrostructureandmagneticpropertiesofbackwardextrudedNd-Fe-Bringmagnets><RMET-D-13-00350>請給出各向同性磁體的尺寸，以及熱變形的壓力和時間等參數；以上參數在文中已添加.圖6中橫坐標單位錯誤，應該是kA/m，圖中矯頑力數據與文章中描述不符，文章中提到R5磁體的矯頑力最大，而在圖中R8磁體的矯頑力為最大值，互相矛盾；圖中縱坐標剩余磁化強度最大不超過9emu/g，轉換成國際單位后，其數值遠低于摘要中提到的1.4T，請解釋；橫坐標單位已修改為kA/m；圖中矯頑力數據與文中不符，經核查原始數據，為作圖過程標示錯誤，已改正。并附測試原始數據，見附圖1；圖中縱坐標剩余磁化強度最大不超過9emu/g，轉換成國際單位后，其數值遠低于摘要中提到的1.4T，此問題是由于將測試數據結果單位為emu，誤作為emu/g。將縱坐標單位轉換成emu/g的結果(與縱坐標交點值)分別為:R2:142emu/g;R5:128.2emu/g;R8:134emu/g.測試結果原始數據見附圖1；以上問題通過重新處理作圖已修正。圖3中，R8磁體的晶粒尺寸要大于R2磁體，請解釋一下其矯頑力大于R2磁體的原因？這主要是由于R2樣品在整個壁厚尺寸上，微觀組織結構并不是均勻的，文獻[2][8]也提到。論文中所用圖片選擇的是微區(qū)結構較均勻的部分。.在R2樣品中，我們觀測到有粗大晶粒存在，見附圖2.同時從附圖1中R2擠壓環(huán)底部不同位置的性能也可以反映出來.因而VSM測試樣品尺寸(Φ2.5×2.5)中可能含有這樣的區(qū)域。論文圖3中(d)圖已修改。底部R2環(huán)靠近環(huán)外側測試結果;底部R2環(huán)靠近環(huán)內側測試結果;附圖1.a底部R2環(huán)測試數據.附圖1.b底部R5

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