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第二章X射線衍射分析原理2.1概述2.2X射線物理學(xué)基礎(chǔ)2.3X射線衍射晶體學(xué)基礎(chǔ)2.4X射線衍射原理2.1概述1895年11月8日,德國物理學(xué)家倫琴在研究真空管的高壓放電時,偶然發(fā)現(xiàn)鍍有氰亞鉑酸鋇的硬紙板會發(fā)出熒光。這一現(xiàn)象立即引起的細(xì)心的倫琴的注意。經(jīng)仔細(xì)分析,認(rèn)為這是真空管中發(fā)出的一種射線引起的。于是一個偉大的發(fā)現(xiàn)誕生了。由于當(dāng)時對這種射線不了解,故稱之為X射線。后來也稱倫琴射線。一、X射線的發(fā)現(xiàn)
2.1概述倫琴發(fā)現(xiàn),不同物質(zhì)對X射線的穿透能力是不同的。他用X射線拍了一張其夫人手的照片。很快,X射線發(fā)現(xiàn)僅半年時間,在當(dāng)時對X射線的本質(zhì)還不清楚的情況下,X射線在醫(yī)學(xué)上得到了應(yīng)用。發(fā)展了X射線照像術(shù)。1896年1月23日倫琴在他的研究所作了第一個關(guān)于X射線的學(xué)術(shù)報告。1895年倫琴初次發(fā)現(xiàn)X射線時,
拍攝的他夫人手指的X射線照
一、X射線的發(fā)現(xiàn)
2.1概述一、X射線的發(fā)現(xiàn)
1901年第一張諾貝爾物理學(xué)獎授予W.K.倫琴
1896年,倫琴將他的發(fā)現(xiàn)和初步的研究結(jié)果寫了一篇論文,發(fā)表在英國的《Nature》雜志上。
1901年,諾貝爾獎第一次頒發(fā),倫琴因X射線的發(fā)現(xiàn)而獲得第一個諾貝爾物理學(xué)獎。
1914德國科學(xué)家勞厄因發(fā)現(xiàn)晶體的X射線衍射獲諾貝爾物理學(xué)獎1915英國威廉·亨利·布拉格和威康·勞倫斯·布拉格父子因用X射線分析晶體結(jié)構(gòu)獲諾貝爾物理學(xué)獎1917英國巴克拉因發(fā)現(xiàn)X射線對元素的特征發(fā)射獲諾貝爾物理學(xué)獎1924瑞典西格班因研究X射線光譜學(xué)獲諾貝爾物理學(xué)獎1927美國康普頓因發(fā)現(xiàn)散射X射線的波長變化、英國科學(xué)家威爾遜因發(fā)明可以看見帶電粒子軌跡的云霧室而共同獲得諾貝爾物理學(xué)獎。1929法國科學(xué)家德布羅意因提出粒子具有波粒二項性獲諾貝爾物理學(xué)獎1936荷蘭德拜因X射線的偶極矩和衍射及氣體中的電子方面的研究獲諾貝爾化學(xué)獎1946美國馬勒因發(fā)現(xiàn)X射線輻照引起變異獲諾貝爾生理學(xué)或醫(yī)學(xué)獎1954美國鮑林利用X射線在結(jié)構(gòu)化學(xué)領(lǐng)域取得突出成就獲得諾貝爾化學(xué)獎1958前蘇聯(lián)切連科夫發(fā)現(xiàn)X射線照射晶體或液態(tài)物質(zhì)時會發(fā)出微弱的藍(lán)光獲得諾貝爾物理學(xué)獎1961美國的霍夫斯塔特完成了X射線的無反沖共振吸收等成就榮獲諾貝爾物理學(xué)獎1962英國生物學(xué)家肯德魯用特殊X射線衍射技術(shù)獲得鯨肌紅蛋白和馬血蛋白的結(jié)構(gòu)獲得諾貝爾化學(xué)獎1981瑞典的西格巴恩研制出X光電子能譜儀,開拓了光電子能譜學(xué)的新領(lǐng)域獲得諾貝爾物理學(xué)獎1982英國科學(xué)家克盧格因以晶體電子顯微鏡和X射線衍射技術(shù)研究核酸蛋白復(fù)合體獲諾貝爾化學(xué)獎二、X射線的本質(zhì)對X射線本質(zhì)的爭論,焦點集中在它是:粒子流?電磁波?
二、X射線的本質(zhì)對X射線波動性最完美的研究是德國物理學(xué)家勞厄(Laue)。
1912年,勞厄是德國慕尼黑大學(xué)非正式聘請的教授。一天著名物理學(xué)家索末菲的一名研究生厄瓦耳向他請教關(guān)于光在晶體中散射的數(shù)學(xué)分析問題。在討論中勞厄想到了一個問題,就問厄瓦耳,如波長比晶體中原子的間距比小,會發(fā)生什么情形?厄瓦耳說,他的公式應(yīng)當(dāng)包括這種情形,并將公式抄了一份給勞厄。討論時,勞厄若有所思……
光的干涉與衍射
X射線的本質(zhì)X射線的本質(zhì)在倫琴的兩名研究生弗里德里希(W.Friedrich)和克尼(Knipping)的幫助下,勞厄進(jìn)行了第一次X射線衍射實驗,并取得了成功。第一次X射線衍射實驗所用的儀器。所用的晶體是硫酸銅。
X射線的本質(zhì)勞厄法X射線衍射實驗的基本裝置與所拍的照片
X射線的本質(zhì)愛因期坦稱,勞厄的實驗“物理學(xué)最美的實驗”。它一箭雙雕地解決了X射線的波動性和晶體的結(jié)構(gòu)的周期性。
X射線的本質(zhì)二、X射線的本質(zhì)后來的科學(xué)證明,與可見光一樣,X射線的本質(zhì)是一種電磁波。它具有波粒二象性,既具波動性,又具有粒子性。在X射線衍射分析中應(yīng)用的主要是它的波動性,反映在在傳播過程中發(fā)生干涉、衍射作用。而在與物質(zhì)相互作用,進(jìn)行能量交換時,則表現(xiàn)出它的粒子性。μ=c/λ
X射線的本質(zhì)X射線的波動性:
X射線的波動性表現(xiàn)在它以一定的波長和頻率在空間傳播。X射線的波長范圍:10-0.001nm
X射線的本質(zhì)X射線的波長范圍:100-0.01?或10-0.001nm
硬X射線:0.05-2.5?
0.5-2.5?主要用于晶體結(jié)構(gòu)分析
0.05-1?主要用于金屬探傷等
軟X射線:10-100?主要用于醫(yī)學(xué)波長的單位:nm(納米)法定單位
?過去的常用單位
KX晶體學(xué)單位(不常用)
換算關(guān)系:1nm=10?X射線的本質(zhì)X射線粒子性:
X射線的粒子性表現(xiàn)在它是由大量的不連續(xù)的粒子流構(gòu)成的。它具有一定能量和動量。
能量ε和動量p與X射線光子的頻率v和波長λ之間的關(guān)系如下:
ε=hv=hc/λp=h/λ
h為普朗克常數(shù),為6.625×10-34J·s
c為光速,為2.998×108m/sX射線的本質(zhì)X射線衍射分析的用途晶體結(jié)構(gòu)研究;物相分析;精細(xì)結(jié)構(gòu)研究;單晶體取向及多晶織構(gòu)的測定。2.2X射線物理學(xué)基礎(chǔ)一、X射線的產(chǎn)生與X射線管
在真空度達(dá)到~10-6mmHg的X射線管中,將鎢絲陰極通以幾十mA的電流,受熱發(fā)射出電子,電子在幾萬伏高壓下加速運動撞擊在一定金屬制成的陽極靶上,由陽極產(chǎn)生X射線。X射線的產(chǎn)生與X射線管X射線的產(chǎn)生常用的方式:
X射線管和同步幅射X射線源常用X射線管的結(jié)構(gòu):
X射線的產(chǎn)生與X射線管
1.常用的靶材:Cr,Fe,Co,Ni,Cu,Mo,Ag2.冷卻系統(tǒng):陽極的底座一般用銅制作。使用時通循環(huán)水進(jìn)行冷卻。3.X射線射出的通道:窗口一般用對X射線穿透性好的輕金屬鈹密封,以保持X射線的真空。一般X射線管有四個窗口,分別從它們中射出一對線狀和一對點狀X射線束。
4.焦點:指陽極靶面被電子束轟擊的面積,形狀取決于陰極燈絲的形狀。X射線的產(chǎn)生與X射線管4.焦點:焦點一般為1mm×10mm的長方形。產(chǎn)生的X射線束以6°度角度向外發(fā)射。在不同的方向產(chǎn)生不同形狀的X射線束:0.1×10mm的線狀X射線束。1×1mm的點狀X射線束。X射線的產(chǎn)生與X射線管
5、X射線管的基本電氣電路與X射線的產(chǎn)生1、連續(xù)光譜電子和陽極碰撞速度降低,產(chǎn)生電磁波,部分電子經(jīng)多次碰撞產(chǎn)生一連續(xù)光譜二、X射線譜2、特征X射線譜當(dāng)電壓加到25kV時,Mo靶的連續(xù)X射線譜上出現(xiàn)了二個尖銳的峰Kα(0.071nm)和Kβ(0.063nm)。Kα波長比Kβ長,Kα與Kβ強(qiáng)度比約為5:1。
放大看,Kα還分為Kα1和Kα2兩條線。Kα1和Kα2強(qiáng)度比約為2:1。
隨著電壓的增大,其強(qiáng)度進(jìn)一步增強(qiáng),但波長不變,也就是說,這些譜線的波長與管壓和管流無關(guān)。
它與靶材有關(guān)。對給定的靶材,它們的這些譜線是特定的。因此,稱之為特征X射線譜或標(biāo)識X射線譜。產(chǎn)生特征X射線的最低電壓稱激發(fā)電壓。不同靶材料具有不同波長的特征X射線和激發(fā)電壓
莫塞萊定律不同靶材的同名特征譜線,其波長λ隨靶材原子序數(shù)Z的增大而變短。莫塞萊,1914年
3、特征X射線產(chǎn)生的機(jī)理說明:
1)激發(fā)電壓對不同的陽極靶是不同的,它由陽極靶的原子序數(shù)Z所決定。
2)陽極靶不同產(chǎn)生的特征X射線的波長不同。
3)工作電壓一般是激發(fā)電壓的3-5倍。因為當(dāng)工作電壓激發(fā)電壓的3-5倍時,I特/I連最大。
4)實驗中最常用的特征X射線是Kα。最常用的靶材是Cu和Fe。
5)λKα=2/3λKα1+1/3λKα2,有時需要注意區(qū)分Kα1和Kα2。
三、X射線吸收性質(zhì)
三、X射線吸收性質(zhì)I=I0e-xI—X射線強(qiáng)度I0—初始X射線強(qiáng)度x—物質(zhì)厚度—物質(zhì)的線性吸收系數(shù),其意義是當(dāng)X射線通過物質(zhì)時,在X射線傳播方向上,單位長度上X射線強(qiáng)度的衰減程度(cm-1)。它與物質(zhì)的種類、密度和X射線波長有關(guān)。
Z4
n
Z—原子序數(shù)n—2.5~3
1)吸收系數(shù)隨波長的增大而增大,且在一定區(qū)間內(nèi)是連續(xù)變化的。這是因為X射線的波長越長越容易被物質(zhì)所吸收。
2)在某些波長的位置上產(chǎn)生跳躍式的突變。即吸收限(吸收邊)或激發(fā)限的存在。
(1)濾波片的選用Ni的吸收限:0.14869nm
Cu靶X射線:Kα=0.15418nmKβ=0.13922nm
一般采用比靶材的原子序數(shù)小1或2的材料。
當(dāng)Z靶<40時,Z濾=Z靶-1
當(dāng)Z靶≥40時,Z濾=Z靶-2
幾種元素K系射線波長和常用的濾波片及其吸收限
(2)不同陽極靶X射線管的選擇
當(dāng)靶材的輻射波長小于被分析元素的K吸收限時,可將元素的K層電子激發(fā)出來,外層電子填入此空位時產(chǎn)生熒光輻射,使背景加深幾種元素K系射線波長及其吸收限
選用特征波長大于或遠(yuǎn)小于樣品中各元素的K吸收限的靶材Z靶≤Z樣品+1或Z靶>>Z樣品
一般靶材的原子序數(shù)比樣品中元素的原子序數(shù)小,或大4-5以上2.3X射線衍射晶體學(xué)基礎(chǔ)一、晶體結(jié)構(gòu)及其表示方法1.晶體的點陣,晶胞和晶系可以用下列的公式表示晶體結(jié)構(gòu)與點陣的關(guān)系
晶體結(jié)構(gòu)=點陣+基元點陣是晶體結(jié)構(gòu)的周期性的幾何描述,基元是陣點所代表的物質(zhì)實體,可以是原子,分子,或一組原子。定義:點陣(lattice)—空間中環(huán)境相同的點形成的無限陣列。晶體的空間點陣?yán)碚摰奶岢龌谝粋€假設(shè),即晶體是無限大的。由于實際晶體的大小遠(yuǎn)超出晶體結(jié)構(gòu)的重復(fù)周期,可以認(rèn)為晶體構(gòu)造是在三維空間無限伸展。具有不同結(jié)構(gòu)的晶體可以有相同的空間點陣(空間格子),如NaCl和金剛石。由同種物質(zhì)構(gòu)成的晶體可以有不同的空間點陣,如金剛石和石墨。
判斷一組點是否為點陣,最簡單有效的方法是連接其中任意兩點的矢量進(jìn)行平移,只有能夠復(fù)原才為點陣。點陣:直線點陣、平面點陣、空間點陣點陣格子簡單(P,PrimitiveorSimple)格子體心(I,BodyCentered)格子面心(F,F(xiàn)aceCentered)格子底心(C,CCentered)格子PIFC(0,0,0)(0,0,0)(1/2,1/2,1/2)(0,0,0)(1/2,1/2,0)(1/2,0,1/2)(0,1/2,1/2)(0,0,0)(1/2,1/2,0)
由于點陣的周期性,可在其中取一個結(jié)點為頂點。以點陣直線上周期為邊長的平行六面體作為重復(fù)單元來概括晶體的特征,這樣的重復(fù)單元稱為晶胞。晶胞=點陣格子+結(jié)構(gòu)基元結(jié)構(gòu)基元的離子坐標(biāo):Na(0,0,0),Cl(1/2,0,0)。晶胞中離子坐標(biāo)為結(jié)構(gòu)基元的離子坐標(biāo)按面心立方格子平移得到面心立方格子陣點坐標(biāo):(0,0,0),(1/2,1/2,0),(1/2,0,1/2),(0,1/2,1/2)Na:(0,0,0),(1/2,1/2,0)(1/2,0,1/2),(0,1/2,1/2)Cl:(1/2,0,0),(0,1/2,0)(0,0,1/2),(1/2,1/2,1/2)根據(jù)宏觀對稱性,有十四種空間格子,對應(yīng)七種晶系
2.晶面,晶面指數(shù),面間距,晶向,晶帶
晶面:不在一直線上的任意三個陣點所決定的平面為點陣平面晶面指數(shù):如某一不通過原點的平面在三個軸矢方向上的截距為m(以a為單位),n(以b為單位)和p(以c為單位)。令1/m:1/n:1/p=h:k:lh:k:l為互質(zhì)整數(shù)比,稱為晶面指
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