T-CSTM 01039-2023 微小間距發(fā)光二極管用基板玻璃

ICS

81.040.30CCS

Q

T/CSTM

—2023微小間距發(fā)光二極管用基板玻璃Substrate

glass

light

2023-07-21

發(fā)布 2023-10-21

實施

發(fā)布T/CSTM

01039-2023 本文件參照GB/T

—《標準化工作導(dǎo)則

第1部分：標準化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔識別專利的責任。本文件由中國材料與試驗標準化委員會建筑材料標準化領(lǐng)域委員會

提出。本文件由中國材料與試驗標準化委員會建筑材料領(lǐng)域特種玻璃標準化技術(shù)委員會歸口。T/CSTM

01039-20231 范圍本文件規(guī)定了微小間距發(fā)光二極管（Mini

）背光和直顯用基板玻璃的術(shù)語和定義、產(chǎn)品分類、要求、試驗方法、檢驗規(guī)則、包裝、標志、運輸和貯存。本文件適用于厚度不大于

1.1

的微小間距發(fā)光二極管（Mini

）背光和直顯用基板玻璃2 規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T2828.1—2012

計數(shù)抽樣檢驗程序 第

1

部分：按接收質(zhì)量限檢索的逐批檢驗抽樣計劃GB/T5432

玻璃密度測定

浮力法GB/T5700—2008

照明測量方法GB/T

平板玻璃GB/T16920

平均線熱膨脹系數(shù)的測定GB/T31838.3

固體絕緣材料

介電和電阻特性 第

3

部分：電阻特性(DC

)

表面電阻和表面電阻率GB/T31838.6

固體絕緣材料

介電和電阻特性 第

6

部分：介電特性(AC

)相對介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)(

Hz-10

MHz)GB/T31958

薄膜晶體管液晶顯示器用基板玻璃GB/T32639

平板顯示器基板玻璃術(shù)語GB/T32643

平板顯示器基板玻璃表面波紋度的測量方法GB/T32644—

平板顯示器基板玻璃化學耐久性的試驗方法GB/T32647

平板顯示器玻璃基板規(guī)范GB/T37780

玻璃材料彈性模量、剪切模量和泊松比試驗方法GB/T37900

超薄玻璃硬度和斷裂韌性試驗方法

小負荷維氏硬度壓痕法GB/T38712

超薄玻璃導(dǎo)熱系數(shù)試驗方法

熱流法GB/T39815—2021

超薄玻璃抗劃傷性能試驗方法SJ/T

電子玻璃退火點和應(yīng)變點的測試方法3 術(shù)語和定義GB/T31958、GB/T

32639、GB/T

32647、中界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。3.121.0

/m

300

＞100

μm不準許；≤100

2/m

mm域內(nèi)數(shù)量≤3個2

mm/m工作面不準許

1/2長度≤0.5

；寬度≤0.5

1/2T/CSTM

01039-2023微小間距發(fā)光二極管

light

emitting

diodeMini

單顆芯片（不含封裝）短邊尺寸為

100

μm~300

μm

的發(fā)光二極管。背光基板玻璃

substrate

glass應(yīng)用微小間距發(fā)光二極管制造液晶顯示背光源的玻璃。3.2直顯基板玻璃 direct

display

substrate

glass應(yīng)用微小間距發(fā)光二極管制造顯示像素的玻璃。4 產(chǎn)品分類按基板玻璃的產(chǎn)品功能分為背光基板玻璃、直顯基板玻璃。其中直顯基板玻璃按驅(qū)動方式分為被動式驅(qū)動（PM）直顯基板玻璃、主動式驅(qū)動（AM）直顯基板玻璃。5 要求5.1 外觀質(zhì)量參照

GB/T

和

GB/T31958

外觀質(zhì)量的要求，基板玻璃外觀質(zhì)量要求應(yīng)符合表

1

表

1

基板玻璃外觀質(zhì)量要求

×a920

0.20a1300

0.25a1500

0.30a1850

0.400.02%a3.0±1.0≥3.0±1.5T/CSTM

01039-2023 5.2 尺寸偏差5.2.1

長度偏差及寬度偏差基板玻璃的長度偏差及寬度偏差應(yīng)符合表2的規(guī)定。表2

基板玻璃的長度偏差及寬度偏差要求5.2.2

厚薄差基板玻璃厚薄差應(yīng)不大于0.025

5.2.2

厚薄差5.2.3

定位角偏差直顯基板玻璃的定位角偏差應(yīng)符合表3的規(guī)定。表3

基板玻璃的定位角偏差5.2.4

切角尺寸直顯基板玻璃切角尺寸長度應(yīng)不大于2.0

mm；寬度應(yīng)不大于

5.2.4

切角尺寸5.2.5

直角度基板玻璃直角度的絕對值應(yīng)不大于0.1%。5.2.6

波紋度基板玻璃的波紋度應(yīng)不大于0.25

m/20

mm。5.2.7

翹曲翹曲應(yīng)不大于0.20

。5.3 理化性能不同類型的基板玻璃的理化性能應(yīng)符合表

4

的規(guī)定。PM

AM

g/cm32.502.452.40GPa707173GPa5.15.35.42.53.04.0MPa≥0.9≥1.1≥1.2-610

9.05.0-8.03.2-3.6W/(m1.11.11.1510515660lg

13.514.015.01kHz

7.57.05.81kHz

0.01800.00950.00352mg/cm11.08.04.02mg/cm0.90.90.92mg/cm1.81.81.8T/CSTM

01039-2023表4

不同類型的基板玻璃的理化性能a表4

不同類型的基板玻璃的理化性能a）環(huán)境溫度：5

C；6.1 試驗環(huán)境除特殊規(guī)定外，試驗應(yīng)在下述環(huán)境條件下進行：ob）相對濕度：不大于。6.2 外觀質(zhì)量6.2.1 試驗裝置外觀質(zhì)量檢驗裝置如圖1所示，該裝置由光源、樣品支撐架(或吊架及試樣夾)、讀數(shù)放大鏡組成。具體要求如下：a) 反射光光源：檢驗區(qū)光照強度不小于8000

lx；T/CSTM

01039-2023b) 透射光光源：檢驗區(qū)光照強度不小于1500

lx；c) 邊緣側(cè)光光源：檢驗區(qū)光照強度不小于4000

；d) 樣品支撐架：不小于試樣尺寸的中空硬質(zhì)合金框架，框架應(yīng)不影響對試樣有效面的觀察，與水平面夾角呈75°

°，見圖1

a）；e) 吊架及試樣夾：兩個試樣夾裝配在水平吊架上，用于試樣垂直懸吊,1

d）；f)

讀數(shù)放大鏡：放大倍數(shù)為倍、精度為0.05

mm和放大倍數(shù)為10倍、精度為0.1

mm的讀數(shù)放大鏡b)

c)

T/CSTM

01039-2023θ——

6.2.2 測試步驟測試步驟如下：a）光照強度確認。照度計正對光源，在待測點測試光照強度，以確認其滿足要求。照度計應(yīng)符合GB／T

5700—2008中5.1的規(guī)定。b）反射光、透射光檢查時，將試樣緊貼支撐架背框放置，觀察者在距試樣約

mm處目視檢查并記錄缺陷數(shù)量、位置等信息。如圖1

b）、圖1

c）所示。邊緣側(cè)光檢查時，將試樣垂直懸吊于試樣夾上，移動側(cè)光源至試樣邊緣20

mm，光源垂直入射試樣橫斷面，觀察者在距試樣約

mm處目視檢查并記錄。如圖1

d）所示。c）采用放大倍數(shù)不低于倍、精度為0.05

mm的讀數(shù)放大鏡測定內(nèi)部缺陷、表面缺陷尺寸。采用放大倍數(shù)不低于10倍、精度為

mm的讀數(shù)放大鏡測定邊緣缺陷的尺寸。T/CSTM

01039-20236.3 尺寸偏差6.3.1 以制品為試樣，將試樣工作面向上放置在測量平臺（

00級平面度大理石）上，采用精度不低于0.1

mm的游標卡尺或相同精度的三坐標測量儀測量四個邊長尺寸，長邊測量值與長度標稱值的最大差值為長度偏差，短邊測量值與寬度標稱值的最大差值為寬度偏差。6.3.2 厚薄差以制品為試樣，將試樣工作面向上放置在測量平臺（

00級平面度大理石）上，按照圖2所示，以p點作為測試起點，p點距離定位角所在長邊、短邊邊緣距離均不大于10

mm。用測量精度為0.001

mm的螺旋測微計或非接觸式三坐標測量儀，垂直流向方向每隔

mm固定間距進行測量，測試終點距試樣邊緣距離不大于10

mm。所有測試點的厚度測量值的最大值與最小值的差值為厚薄差。1p3

2p

6.3.3 定位角偏差和切角尺寸T/CSTM

01039-2023以制品為試樣，將試樣工作面向上放置在測量平臺（

00級平面度大理石）上，工作面向上，按照圖3所示，采用放大倍數(shù)為10倍、精度為0.1

mm的讀數(shù)放大鏡，讀數(shù)放大鏡置于試樣角部，且十字線同時與試樣長邊、短邊對齊，分別測量4個角在長邊、短邊上被切掉的長度。所測短邊長度為切角尺寸；所測長邊尺寸為定位角尺寸，該尺寸與標稱值的偏差即為定位角偏差。31

2x21 1 x

6.3.4 直角度6.3.4.1 試樣以基板玻璃為試樣。6.3.4.2 試驗裝置直角度測量裝置示意圖如圖

4

所示，該裝置由支撐背板、定位銷、百分表及架體組成，具體要求如下：a) 支撐背板：合金材質(zhì)，用于支撐玻璃試樣，應(yīng)無明顯扭曲變形，板面與水平面夾角θ為75°85°，高度和長度均不小于試樣長度。安裝百分表一側(cè)的背板上沿垂直方向應(yīng)有尺寸標識，精度為1

mm，用于讀出垂直定位銷（圖4中IB）與百分表之間的距離。T/CSTM

01039-2023b) 定位銷：水平定位銷2個（圖4中IC、ID），用于支撐玻璃試樣，兩個定位銷上表面應(yīng)保持水平，且保證試樣穩(wěn)定擺放。垂直定位銷1個（圖4中IB），用于試樣側(cè)邊卡位。定位銷IC、IB中心距試樣待測角頂點距離分別為10

，ID可水平移動。定位銷直徑推薦?20

。c)

百分表：精度不低于0.1

，安裝位置應(yīng)在垂直方向和水平方向可調(diào)，以保證檢測點距離試樣上邊緣約10

，且百分表的測桿可接觸到試樣的側(cè)邊緣。2 3D1II I

6.3.4.3 測量步驟直角度測量按照如下步驟進行：a) 選擇試樣任一長邊作為支撐邊，兩短邊為被測量邊；b) 調(diào)整水平定位銷ID，使其距試樣邊緣約為10

；c) 調(diào)整百分表位置至檢測點高度，推薦檢測點比試樣上邊緣低約10

；

θT/CSTM

01039-2023d) 將試樣支撐邊向下放置到IC、ID定位銷、試樣緊貼支撐背板，水平方向移動試樣，使短邊緊貼定位銷IB；e) 水平移動百分表位置，使百分表測桿頂在試樣邊緣并固定百分表。旋轉(zhuǎn)百分表盤，使百分表讀數(shù)為0；f) 保持支撐邊不變，將試樣沿水平方向翻轉(zhuǎn)180°，重復(fù)d），確認百分表測桿頂在試樣邊緣，讀取百分表變化值，為兩個被測量邊偏離垂直線之和，記為δ；g) 讀取定位銷IB與百分表中心線的間距，記為L；h) 以當前支撐邊對面的平行邊作為支撐邊，重復(fù)步驟d）~

gi) 選擇試樣任一短邊作為試樣支撐邊，兩長邊為被測量邊；重復(fù)步驟b）~

h6.3.4.4 數(shù)據(jù)處理6.3.4.4.1

按公式（1）分別計算以上

4

次測量的直角度。選取

4

次計算結(jié)果的最大值作為測試結(jié)果。直角度=

×100%?????????????????（1）δmm）。L——垂直定位銷與百分表中心線的間距，單位為毫米（mm）。6.4 波紋度按照GB/T

32643的規(guī)定進行，試樣數(shù)量為16.5 翹曲以制品為試樣，將試樣工作面向上放置在測量平臺（

00級平面度大理石）上，采用精度為mm的塞尺或精度不低于

mm的三坐標測量儀，測量試樣下表面與平臺表面之間的最大距離；再將試樣翻轉(zhuǎn)，使工作面向下，再次測量試樣下表面與平臺表面之間的最大距離，測量結(jié)果取最大值。6.6 密度按照

GB/T

5432

的規(guī)定進行，推薦試樣尺寸為（30±2）mm×（30±2）mm。6.7 彈性模量按照GB/T

37780的規(guī)定進行，推薦試樣尺寸為120

mm×25

mm。T/CSTM

01039-20236.8 維氏硬度按照

GB/T

37900

的規(guī)定進行，推薦試樣尺寸為（45~50）mm×（45~50）mm，樣品數(shù)量為

1

片，測試

5

次取平均值。6.9 抗劃傷閾值按照

39815—

B

方法進行預(yù)判，然后再按

A

方法間隔

0.5

N

進行測試。6.10 斷裂韌性按照

GB/T

37900

的規(guī)定進行，推薦試樣尺寸為（4~）mm×（~50）mm，樣品數(shù)量為

1

片，測試

5

次取平均值。6.11 平均線熱膨脹系數(shù)按照

GB/T

16920

的規(guī)定進行，推薦試樣尺寸為（5~）mm×（~50）mm，測試溫度范圍為

℃~

6.12 平均導(dǎo)熱系數(shù)按照

GB/T

38712

的規(guī)定進行，設(shè)置導(dǎo)熱系數(shù)測量儀的冷板溫度為

℃，熱板溫度為

6.13 應(yīng)變點溫度按照

SJ/T

11039

的規(guī)定進行，將試樣制備成纖維狀，推薦纖維直徑（0，長度

200mm~

。6.14

室溫表面電阻率按照

GB/T

31838.3

的規(guī)定進行，將測試結(jié)果以

10

為底求對數(shù)，保留小數(shù)點后一位。6.15 1kHz

介電常數(shù)按照

31838.6

的規(guī)定進行，推薦試樣尺寸為（50±2）mm×（50±2）mm，3

塊，測量頻率為1

kHz。6.16 1kHz

介電損耗按照

31838.6

的規(guī)定進行，推薦試樣尺寸為（50±2）mm×（50±2）mm，3

塊，測量頻率為1

kHz。6.17 化學耐久性按照GB/T

32644—2016中的失重法進行，分別選擇如下試驗條件：a）10%

HF，在

℃下侵蝕20

；b）5%

HCl，在

℃下侵蝕24

h；c）5%

NaOH，在95

℃下侵蝕6

h。其中，化學試劑濃度為質(zhì)量百分比，每種試驗條件各選取試樣3試樣總表面積按照公式（2）計算。每種試驗條件下，取3個試樣測量數(shù)據(jù)的平均值作為結(jié)果。批量

N樣本量

n接收數(shù)

Ac拒收數(shù)

Re2～2530126～90131291～2023151～3234281～5056T/CSTM

01039-2023A=(L×W×2)+[(L+W)×T×2]???????????（2）(cm7 檢驗規(guī)則7.1 檢驗分類檢驗分為出廠檢驗和型式檢驗。7.2 出廠檢驗7.2.1

檢驗項目包括外觀質(zhì)量和尺寸偏差。7.2.2

組批相同原材料、相同配方、相同工藝條件下生產(chǎn)的同一規(guī)格產(chǎn)品，以班產(chǎn)量或生產(chǎn)線產(chǎn)量或機臺產(chǎn)量為一批。7.2.3

抽樣基板玻璃出廠檢驗的抽樣方案應(yīng)符合表5的規(guī)定。當該批產(chǎn)品批量大于片時，以每片為一批分批抽取試樣。表5依據(jù)

2828.1-2012的要求，采用“正常檢驗一次抽樣方案”，適用于所有試驗項目。表

5

表

5

基板玻璃出廠檢驗的抽樣方案7.2.4.1 單項判定若外觀質(zhì)量、尺寸偏差的不合格數(shù)小于表5中規(guī)定的拒收數(shù)，則認為該批產(chǎn)品的上述指標合格，否則為不合格。7.2.4.2 綜合判定外觀質(zhì)量、尺寸偏差均符合要求時，則認為該批產(chǎn)品出廠檢驗合格，否則為不合格。T/CSTM

01039-20237.3 型式檢驗型式檢驗項目為第5章中規(guī)定的全部項目。有下列情況之一時，應(yīng)進行型式檢驗：a）新產(chǎn)品或產(chǎn)品轉(zhuǎn)廠生產(chǎn)的試制定型鑒定時；b）正式生產(chǎn)后，如結(jié)構(gòu)、材料和工藝等有較大改變，可能影響產(chǎn)品性能時；c）出廠檢驗結(jié)果與上次型式檢驗有較大差異時。7.3.1 同7.2.2。7.3.2 外觀質(zhì)量、尺寸偏差項目的抽樣同7.2.3。7.3.3 7.3.3.1 單項判定7.3.3.1.1

外觀質(zhì)量、尺寸偏差同7.2.1。7.3.3.1.2 理化性能所列項目測試結(jié)果符合要求時為合格,否則為不合格。7.3.3.