ASME鍋爐及壓力容器規(guī)國際性規(guī)定(泄漏檢測)

......... .... .ASME鍋爐及壓力容器規(guī)國際性規(guī)Ⅴ2023泄漏檢測前言1911裕度，為防止破損和對生命財產(chǎn)安全供給合理牢靠的保證。一、第Ⅴ卷容A分卷 無損檢測方法第1章 通用要求第2章 射線照相檢測第3章 金屬鑄件的射線照相檢測第4章 在役檢查的超聲檢測方法第5章 制造的超聲檢測方法第6章 液體滲透檢測第7章 磁粉檢測第8章 品的渦流檢測第9章 目視檢測第10章 泄漏檢測第11章 增加環(huán)氧樹脂容器聲放射檢測第12章 加壓試驗時金屬容器的聲放射檢測1章通用要求注：通用要求即是對第2章～12章都適用的要求。T—110適用圍要求。這些無損檢測方法是：射線照相檢測超聲波檢測液體滲透檢測磁粉檢測渦流檢測目視檢測泄漏檢測聲放射檢測以上這些無損檢測方法用于檢測的對象是：材料、焊縫和加工零部件的外表和在的瑕疵〔或叫缺陷。T—120總則注：從10個方面提出了A〔或B〕分卷的使用原則和有關(guān)規(guī)定。T—130設備注：規(guī)無損檢測單位和無損檢測人員應負責保證使用本規(guī)要求的檢驗設備。T—150規(guī)程〔a)本規(guī)所涉及的無損檢驗方法在正常狀況下對制造過程中遇到的大局部幾何形狀和材料都是適用的?！瞓)裝廠有責任按規(guī)有關(guān)卷的要求制定出無損檢驗規(guī)程及人員資格鑒定規(guī)程。〔c)規(guī)程執(zhí)行?！癆SMET—160校驗制造廠、制造商、安裝單位應保證全部設備按A/B驗。(b)校驗是必需的。注：設備、計量器具都必需按要求進展校驗。T—170檢驗與檢查有關(guān)篇章的要求進展的全部檢驗工作已按本篇和《規(guī)》有關(guān)篇章的要求執(zhí)行。他有權(quán)要求見證本規(guī)有關(guān)篇章所提出的任一項檢驗。在本篇章中檢查員一詞是指具備本《規(guī)》各有關(guān)篇章中所規(guī)定資格的授權(quán)檢驗師。(b)雇用的人員進展質(zhì)量掌握的職責。檢測人員和無損檢測工作進展監(jiān)視和見證。T—180評定注：每種無損檢測方法必需依據(jù)驗收標準進展檢測結(jié)果的評定，因此，規(guī)的各有關(guān)篇章中都應有驗收標準的容。T—190記錄/文件記錄/A/B檢測單位和無損檢測人對記錄/文件負責。10章泄漏試驗本章中包括了正文和10個強制性附錄和一個非強制性附錄。正文規(guī)定了承受ASME具體的規(guī)定，而有關(guān)檢測規(guī)程、設備、檢定、評定，檢測文件等正文中都作了一般性的規(guī)定。T—1010 適用圍注：當本《規(guī)》的有關(guān)卷規(guī)定承受第10章的泄漏方法或技術(shù)時，應同時承受第1章的一般要求。即只要承受第101本章的強制性附錄如下：附錄Ⅰ ——直接加壓法附錄Ⅱ 氣泡試驗——真空罩法附錄Ⅲ 鹵素二極管檢漏儀探頭試驗附錄Ⅳ 驗——檢漏儀探關(guān)技術(shù)附錄Ⅴ 氦質(zhì)譜試驗——示蹤探頭技術(shù)附錄Ⅵ 壓力變更試驗附錄Ⅶ 術(shù)語匯總附錄Ⅷ 熱電導檢測儀探頭試驗附錄Ⅸ 氦質(zhì)譜試驗——護罩技術(shù)附錄Ⅹ 超聲波泄漏試驗公式符號附錄A 漏試驗公式符號T—1020 總則注：規(guī)定泄漏檢測應按書面檢測規(guī)程進展。T—1021 書面規(guī)程要求T—1021.1要求書面檢測規(guī)程的要最低要求，其容詳見相應的強制性附錄。書面規(guī)程要求對重要變素和非重要變素應規(guī)定單一值或數(shù)值圍。T—1021.2要求的修改T—1021.3規(guī)程鑒定書面規(guī)程應予鑒定，假設規(guī)程中重要變素有變化，應予重鑒定。T—1022 有關(guān)規(guī)求應在檢測及其治理中予以考慮：人員的資格/證書；技術(shù)/校準標準檢驗圍可承受的試驗靈敏度或泄漏率報告要求記錄的保存T—1030 設備注：對設備的一般規(guī)定僅僅是對壓力計的要求。T—1031 壓力計要：量程：刻度圍應為檢漏所需的最大壓力的1倍半至4倍。位置：無論與檢測對象連接較近，還是較遠，都應當保證檢測人員在對檢測部件充能夠全面觀看到壓力計的變化錄式壓力計，它可以替代兩個或更多個指示式壓力計中之一。T—1040 其他要求注：規(guī)規(guī)定檢測部位外表清潔度、檢測系統(tǒng)開口處密封材料、檢測部位的濕度、檢測部件的壓力極限等。T—1041 清潔度受檢部件必需作清潔處理，保持枯燥，檢測部位外表無油脂、油漆等污染物。T—1042 開孔開孔處密封材料要求不含示蹤氣體，并在檢測后易于去除。T—1043 溫度檢測時的最低溫度或最高溫度應不超過所承受泄漏檢測方法或技術(shù)所允許的溫度。T—1044 壓力/真空〔壓力極限〕壓力/真空〔極限壓力〕要求需作泄漏檢測的部件應在25%的壓力下進展，但規(guī)有關(guān)卷另有規(guī)定除外。T—1050 規(guī)程T—1051 預泄漏試驗漏，但應留意預檢不得封閉漏孔，影響正規(guī)檢漏。T—1052 試驗挨次規(guī)推舉泄漏檢測應安排在水壓試驗和液壓氣動試驗之前。T—1060 校準為計量檢定，表示設備向高一級精度校準。T—1061 壓力/真空計注：壓力/真空計應當計量檢定，除非另有規(guī)定，每年至少重檢定一次。檢定結(jié)果必需符合制造廠商所列的精度。壓力/真空計在使用期間發(fā)生過失，必需隨時送檢。T—1062 溫度測量裝置溫度測量裝置也應按規(guī)定送檢。T—1063 校準泄漏標準注：規(guī)定了標準漏孔的檢定和漏率圍T—1063.1滲透型泄漏標準注：1×10-7Pa?3/s～1×10-11Pa?m3/sT—1063.2毛細管型泄漏標準注毛細管型標準漏孔應是使示蹤氣體穿過一個毛細管的漏孔。它應具有與所要求的檢測靈敏度和示蹤氣體的實際百分比濃度的乘積相等或更小的漏率，應檢定合格。T—1070 試驗〔檢測〕T—1080 評定注：規(guī)對檢漏技術(shù)檢測結(jié)果評定的依據(jù)是驗收標準。T—1081 驗收標準收標準應予承受。T—1090 文件注：文件主要是指試驗報告或叫檢測報告。T—1091 試驗報告注：規(guī)規(guī)定了檢漏試驗報告至少應括以下容：檢測日期；操作者的資格等級和；檢測規(guī)程〔編號〕和修訂號；檢測方法或技術(shù)；檢測結(jié)果；部件編號；檢測儀器、標準漏孔和材料識別名；檢測工況、檢測壓力、示蹤氣體和氣體濃度；(I)壓力計——制造廠、型號、量程和編號；(j)溫度測量裝置和編號；(k)表示檢漏方法和技術(shù)布置的草圖。T—1092 記錄保存〔應按本規(guī)有關(guān)卷的要求保存〕四、附錄Ⅰ氣泡試驗——直接加壓技術(shù)Ⅰ—1000 引言Ⅰ—1010 錄適用于受檢部件承受充壓的方法進展氣泡檢漏的技術(shù)。Ⅰ—1020 總則Ⅰ—1021 書面規(guī)程要求變素——引起檢測條件、檢測方法和檢測技術(shù)變化的因素。注：規(guī)定了書面檢測規(guī)程的要求，見〔表Ⅰ—1021，表中列出了重要變素有：氣泡形成溶液、外表溫度、外表制備技術(shù)、照明強度、檢測人員技能鑒定要求等。非重要變素有：溶液注施器、加壓氣體、試驗后的清洗技術(shù)、人員鑒定要求等項。此外，書面規(guī)程還包括以下規(guī)定的要求：浸泡時間；壓力表；試驗壓力；驗收標準。定處理。Ⅰ—1030 通用要求Ⅰ—1031 氣體注：檢漏氣體為空氣，也可用惰性氣體。當用惰性氣體時，要留意缺氧時檢測人員的安全。Ⅰ—1032 起泡溶液注起泡溶液應承受檢漏專用的溶液形成起泡的溶液應能適應檢測條件下的溫度。Ⅰ—1033 浸泡池注：承受浸泡池方法檢漏時，應承受水或其他適當?shù)娜芤?。浸泡池應能適應檢測條件下的溫度。Ⅰ—1070 試驗漏時的具體要求。Ⅰ—1071 浸泡時間15min。由于壓力的變化會影響產(chǎn)生氣泡的大小、數(shù)量和速率，最終影響檢測結(jié)果。Ⅰ—1072 外表溫度冷卻。假設超出圍，必需驗證檢漏結(jié)果，由于外表溫度是重要變素。Ⅰ—1073 施加溶液注：施加溶液到待檢部位應避開操作不當產(chǎn)生氣泡，以免與泄漏產(chǎn)生的氣泡混淆，造成錯判或誤判。Ⅰ—1074 浸入溶池注：被檢外表應低于溶池的液面，并在易于觀看的位置。Ⅰ—1075 照明和目視器材9種：第一種，直接目視檢驗〔T—952〕要求肉眼觀對待檢外表距離不超過610mm，視角不小于300。視角不便觀看時也可承受反光鏡改善觀看角度。待檢部位照明強度至少1000lx。光源和光強按規(guī)定要驗證，驗證結(jié)果要記錄于文件，保存?zhèn)洳椤Ｆ浯畏N，遠距照相機等。但應留意目視器材的區(qū)分率與檢測要求相當。Ⅰ—1076 泄漏顯示注：當被檢件外表有連續(xù)氣泡消滅就表示受檢部位有穿透性針孔泄漏。Ⅰ—1077 試驗后的清洗以后的部件應依據(jù)產(chǎn)品性能打算是否清洗。Ⅰ—1080 評定Ⅰ—1081 泄漏的氣泡形成，則可驗收。Ⅰ—1082 返修/重試驗注：當觀看到有泄漏時，應標出泄漏位置，然后將被檢件降壓，按相關(guān)產(chǎn)品設計文件或選購技術(shù)條件的規(guī)定返修泄漏處。全部經(jīng)返修的區(qū)域，應按要求重檢測。五、附錄Ⅱ氣泡試驗——真空罩技術(shù)Ⅱ—1000 引言Ⅱ—1010 檢漏。Ⅱ—1020 總則Ⅱ—1021 規(guī)定了書面檢測規(guī)程的要求，見〔表Ⅱ—1021，表中列出了重要變素有：氣泡形成溶液、外表溫度、外表制備技術(shù)、照明強度、檢測人員技能鑒定要求等。非重要變素有：真空罩〔尺寸和外形、真空源、溶液注施器、試驗后的清洗技術(shù)、人員鑒定要求等項。此外，書面規(guī)程還包括以下規(guī)定的要求：壓力表；真空試驗壓力；真空保持時間；真空罩重疊；驗收標準。定處理。Ⅱ—1030 設備Ⅱ—1031 起泡溶液注起泡溶液應承受檢漏專用的溶液形成起泡的溶液應能適應檢測條件下的溫度。Ⅱ—1032 真空罩注：應具有適當?shù)某叽?，例如長762mm，寬152mm，該尺寸應與待檢的局部區(qū)域應具有頂視窗口，罩口應有墊圈與待檢外表密封，并配有連接頭、閥門、照明以及測量用的真空計，真空計量程應為0～103Pa或與其相當?shù)膲毫挝?～760mmHg。由于真空罩技術(shù)壓力不高，因而壓力計量程限度不受規(guī)正文T1031要求的限制。Ⅱ—1033 真空源注：真空罩所要求的真空可用適當?shù)姆椒ǐ@得，如空氣噴吸器、真空泵或電動機帶13.8kPa?；虬匆?guī)有關(guān)卷的規(guī)定。Ⅱ—1070試驗Ⅱ—1071外表溫度冷卻。假設超出圍，必需驗證檢漏結(jié)果，由于外表溫度是重要變素。Ⅱ—1072 施加溶液刷涂的方法施加到被檢外表。Ⅱ—1073 真空罩的放置度。Ⅱ—1074 保壓〔真空〕注：在檢測中，所要求的真空度〔壓力差〕至少應保持10s。Ⅱ—1075 真空罩的掩蓋注：每一相鄰區(qū)域的檢測，真空罩的放置應至少有50mm的掩蓋。Ⅱ—1076 照明和目視器材注與附錄Ⅰ氣泡試驗——直接加壓技術(shù)中〔Ⅰ—1075 目視器材一樣。Ⅱ—1077 泄漏顯示注：當被檢件外表有連續(xù)氣泡消滅就表示受檢部位有穿透性針孔泄漏。Ⅱ—1078 試驗后的清洗后為了到達產(chǎn)品的使用性能，可能要進展清洗。Ⅱ—1080 評定Ⅱ—1081 泄漏的氣泡形成，則可驗收。Ⅱ—1082 返修/重試驗注：當觀看到有泄漏時，應標出泄漏位置，然后將被檢件降壓，按相關(guān)產(chǎn)品設計文件或選購技術(shù)條件的規(guī)定返修泄漏處。全部經(jīng)返修的區(qū)域，應按要求重檢測。六、附錄Ⅳ氦質(zhì)譜儀試驗——探測器探頭技術(shù)注：所謂“探測器探頭技術(shù)”也就是國常指的氦質(zhì)譜吸氦法或嗅吸探頭法，“探測器探頭”也就是吸槍。Ⅳ—1000 引言Ⅳ—1010 是一種半定量技術(shù)，因此只能適用于定位而不能用作定量。Ⅳ—1020 總則Ⅳ—1021 注：規(guī)定了探測器探頭技術(shù)書面規(guī)程要求和規(guī)程鑒定要求。書面規(guī)程要求見T—1021.1和表Ⅳ—1021氣體〔空氣或惰性氣體、掃查速率、信號發(fā)生裝置、掃查方向、試驗后的清理技術(shù)和人員鑒定要求。此外還規(guī)定了以下規(guī)程要求：設備泄漏標準〔檢漏儀標準漏孔漏率；系統(tǒng)泄漏標準〔檢測系統(tǒng)標準漏孔漏率；示蹤氣體；示蹤氣體濃度；試驗壓力〔充氦壓力；浸泡時間〔保壓時間；掃查距離；壓力表；靈敏度驗證核查；驗收標準。的規(guī)定處理。Ⅳ—1030 設備Ⅳ—1031 儀器泄漏現(xiàn)象：儀表、音響裝置、指示燈。Ⅳ—1032 關(guān)心設備注：——穩(wěn)壓器。當電源電壓有波動時，應在儀器上接一個穩(wěn)壓器；——探測器探頭全部被檢部位都應用探測器探頭掃查。探頭用一段軟管與儀器相連接，為了縮短響應時間和凈化時間，軟管的長度一般應不超過4570mm。Ⅳ—1033 校準泄漏標準〔校準漏孔〕T—1063.1T—1063.2的滲透型標準有關(guān)卷的規(guī)定。Ⅳ—1060校準Ⅳ—1061儀器校準已經(jīng)檢定的標準漏孔對檢漏儀校準之前儀器應通電預熱，預熱的最少時間應依據(jù)檢漏儀制造廠的規(guī)定。校準檢漏儀時用T—1033.1所述的滲透型標準漏孔，使儀器處于最正確或最適宜的靈敏度下，檢漏儀對氦的最小靈敏度為1×10-10Pa?m3/s。Ⅳ—1062 系統(tǒng)校準注：00TG標準漏孔大小被檢系統(tǒng)校準時應承受毛細管型標準漏孔作為校準漏孔，由100%氦濃度，因此要換算成檢測系統(tǒng)檢漏時所用的氦Q00TGQ Qs 100Qs為毛細管型標準漏孔漏率，%TG為檢漏所用的氦濃度。掃描〔查〕速率將探測器探頭與檢漏儀連接后，在進展檢測前的被檢系統(tǒng)3.2mmQ時掃查速率為準。對被檢系統(tǒng)的掃查應不超過能檢Q的速率。探測時間〔響應時間〕在被檢系統(tǒng)校準時，應記錄檢漏儀輸出信號到達穩(wěn)以削減確定泄漏位置所需的時間。校準頻度和靈敏度指被檢系統(tǒng)靈敏度的校準次數(shù)，規(guī)定在檢測前和檢測后應當校準，檢測中間應每隔2小時校準一次。假設不能檢出Ⅳ—1062.2 則儀器要重校準，并且從上一次合格的校準核查以及全部檢測部位均應重作檢測。Ⅳ—1070 試驗〔檢測〕Ⅳ—1071 試驗場所場所應留意避開過分通風，以免使檢測所需的靈敏度降低。Ⅳ—1072 示蹤氣體濃度氦示蹤氣體的濃度在檢測壓力下，應至少為10%體積濃度。Ⅳ—1073 30min。承受特別的臨時性密封裝置〔例如抽氣罩〕檢測開口部件。壓前已局部抽空的部件。Ⅳ—1074 掃描〔查〕距離頭嘴與被檢外表的距離應保持在3.2mm以。假設被檢系統(tǒng)校準時承受更小的距離，則掃查時的距離不應超過該距離。Ⅳ—1075掃描〔查〕速率注：最大的掃查速率應按Ⅳ—1062.2確定。Ⅳ—1076 掃描〔查〕方向注：檢測時，掃查應從被檢件最下部開頭，然后漸次向上，由于氦氣比空氣輕。Ⅳ—1077 泄漏檢出〔儀表、音響裝置、指示燈〕中一種或幾種信號裝置來指示泄漏檢出。Ⅳ—1078 Ⅳ—1080 評定Ⅳ—1081 泄漏不超過1×10-5Pa?m3/s的允許漏率，則該被檢測的區(qū)域應可驗收。Ⅳ—1082 返修/復檢注：當檢測出不能驗收的泄漏時，應標出泄漏位置，然后將被檢件降壓，按相關(guān)產(chǎn)七、附錄Ⅴ氦質(zhì)譜儀試驗——示蹤探頭技術(shù)槍。Ⅴ—1010 適用圍半定量技術(shù)，因此只能適用于定位而不能用作定量。Ⅴ—1020 總則Ⅴ—1021 T—1021.11021此外還規(guī)定了以下規(guī)程要求：設備泄漏標準〔檢漏儀標準漏孔漏率；系統(tǒng)泄漏標準〔檢測系統(tǒng)標準漏孔漏率；示蹤氣體；真空試驗壓力；真空計量；浸泡時間；掃查距離；靈敏度驗證核查；驗收標準。的規(guī)定處理。Ⅴ—1030 設備Ⅴ—1031 儀器泄漏現(xiàn)象：儀表、音響裝置、指示燈。Ⅴ—1032 關(guān)心設備注：(a)穩(wěn)壓器。當電源電壓有波動時，應在儀器上接一個穩(wěn)壓器；定壓力和泵速應能使檢測靈敏度和響應量時間到達要求。管道和閥門系統(tǒng)。100%氦氣源，另一端為帶有調(diào)整閥的細小開口，如同噴槍。護罩。一種適用的罩子或容器，帶有通孔以便連接接頭。檢測系統(tǒng)中遠離泵系統(tǒng)的抽氣口。Ⅴ—1033 校準泄漏標準〔校準漏孔〕T—1063.1T—1063.2的滲透型標準有關(guān)卷的規(guī)定。Ⅴ—1060校準Ⅴ—1061儀器校準已經(jīng)檢定的標準漏孔對檢漏儀校準之前儀器應通電預熱，預熱的最少時間應依據(jù)檢漏儀制造廠的規(guī)定。校準檢漏儀時用T—1033.1所述的滲透型標準漏孔，使儀器處于最正確或最適宜的靈敏度下，檢漏儀對氦的最小靈敏度為1×10-10Pa?m3/s。Ⅴ—1062 系統(tǒng)校準注：標準漏孔大?、酢?033所述的已校準的標準漏孔〔毛細管型標準漏孔〕應的漏率。標準漏孔在校準檢測系統(tǒng)時應保持開放〔翻開。掃描〔查〕速率抽空后的被檢件到達足夠的真空度時，將氦質(zhì)譜儀連接到被檢系統(tǒng)。把示蹤探頭嘴橫過校準漏孔〔探頭嘴應離校準漏孔6mm以〕對被檢系統(tǒng)進展校準。在實際檢測中，對于示蹤探頭中純氦〔100%〕的流速，被檢系統(tǒng)的掃查速率不應超過能檢出校準漏孔泄漏率的速度。檢測時間在被檢系統(tǒng)校準時，應記錄檢漏儀標準漏孔輸出信號到達穩(wěn)定所需要的時間叫檢測時間〔即響應時間。這是對部件檢漏確定漏孔的定位時間，應當越短越好，以削減確定泄漏位置所需的時間。校準頻度和靈敏度指被檢系統(tǒng)靈敏度的校準次數(shù)，規(guī)定在檢測前和檢測后應當校準，檢測中間應每隔4小時校準一次。假設不能檢出Ⅳ—1062.2 則儀器要重校準，并且從上一次合格的校準核查以及全部檢測部位均應重作檢測。Ⅴ—1070 試驗〔檢測〕Ⅴ—1071 掃描〔查〕速率注：最大的掃查速率應Ⅴ—1062.2確定。Ⅴ—1072 掃描〔查〕方向注檢測時掃查應從被檢件最上部開頭然后漸次向下掃查由于氦氣比空氣輕。Ⅴ—1073 掃描〔查〕距離注：示蹤探頭應在被檢件外表上掃過，掃查時探頭嘴與被檢件外表距離應保持在6mm以。假設被檢系統(tǒng)校準時承受更小的距離，則掃查時的距離不應超過該距離。Ⅴ—1074 泄漏探測〔檢出〕〔儀表、音響裝置、指示燈〕中一種或幾種信號裝置來指示泄漏檢出。Ⅴ—1075 流率〔氦流量〕注：最小流率〔可由示蹤探頭閥門調(diào)整〕應如Ⅴ—1062.2設置。Ⅴ—1080 評定Ⅴ—1081 泄漏不超過1×10-6Pa?m3/s的允許漏率，則該被檢測的區(qū)域應可驗收。Ⅴ—1082 返修/復檢注：當檢測出不能驗收的泄漏時，應標出泄漏位置，然后將被檢件降壓，按相關(guān)產(chǎn)八、附錄Ⅸ氦質(zhì)譜儀試驗——護罩技術(shù)Ⅸ—1010 適用圍測量技術(shù)。Ⅸ—1020 總則注：書面規(guī)程要求T—1021.1。表中列出了：五項重要變素，設備制造和型號、外表制備技術(shù)、受檢部件金屬料、真空泵系統(tǒng)、試驗后的清理技術(shù)和人員鑒定要求。此外還規(guī)定了以下規(guī)程要求：設備泄漏標準〔檢漏儀標準漏孔漏率；系統(tǒng)泄漏標準〔檢測系統(tǒng)標準漏孔漏率；真空計量；驗收標準。的規(guī)定處理。Ⅸ—1030 設備注：關(guān)于氦質(zhì)譜檢漏儀的要求與上述附錄Ⅳ或附錄Ⅴ一樣。關(guān)于關(guān)心設備同樣有對(a)穩(wěn)壓器；(b)關(guān)心泵系統(tǒng)；(c)集流腔；(d)護罩；(e)真空計等項要求。關(guān)于標準漏孔則明確規(guī)定應承受滲透型標準漏孔。標準漏孔的最大漏率應為：1×10-7Pa?m3/s。除非本規(guī)有關(guān)卷另有規(guī)定。Ⅸ—1050 工藝注：規(guī)定了護罩檢漏技術(shù)的工藝要求〔氦漏率低、長響應時間的被檢系統(tǒng)〔體積較大或管路較長的被檢系統(tǒng)封部位〔例如橡膠密封墊圈〕導致檢測結(jié)果不符合實際狀況〔造本錢底增大或非漏孔泄漏。假設可能，推舉在上述密封部位進展護罩技術(shù)檢漏，以排解護罩氦氣因被檢系統(tǒng)密封不好而影響檢測結(jié)果。其二，對于重復檢漏或從前檢漏的比照檢漏，此時初步系統(tǒng)靈敏度校準可以省略。Ⅸ—1060 校準注：關(guān)于氦質(zhì)譜檢漏儀的校準要求與上述附錄Ⅳ或附錄Ⅴ一樣。系統(tǒng)校準標準漏孔應帶有100%純氦氣，經(jīng)計量檢定或校準后與待檢部件連接，連接部位應有遠離儀器與部件的連接處，這樣才能真實反響實際漏孔的漏率。響應時間應記錄系統(tǒng)的響應時間，即翻開標準漏孔至檢漏儀有穩(wěn)定讀數(shù)的M1。本底讀數(shù)測定響應時間后應記錄系統(tǒng)的本底讀數(shù)，即系統(tǒng)的背景噪聲讀數(shù)。M2。初始靈敏度校準系統(tǒng)初始靈敏度應按下式計算：CLS 1 M M1 2

—初始靈敏度，Pa m3/s/刻度；1CLPam3/s。重校準。初始校準后標準漏孔關(guān)閉。最終靈敏度校準在被檢系統(tǒng)完成檢測后，且被檢件仍處于護罩中，在標準漏孔關(guān)閉的狀況下，登記儀器在響應時間后穩(wěn)定的輸出讀數(shù)記為M3。然后再次翻開標M4。最終系統(tǒng)靈敏度S2應按下式計算：CLS 2 M M4 3S2Pam3/s/刻度；CLPam3/s。S2S135%以下，儀器應進展清洗或修理，并重校準，然后對被檢件重檢測。Ⅸ—1070試驗〔檢測〕Ⅸ—1071標準技術(shù)最終校準后的系統(tǒng)所測到的泄漏率分為三種檢漏狀況確定。當2=3系統(tǒng)泄漏率應記為〔圍檢漏工程合格。M3>M2〔被檢系統(tǒng)泄漏率大于本底值〕時Q按下式計算確定：2302TGQ2302TG

M 1000

Pam3/s式中：%TG是護罩中示蹤氣體氦氣的濃度。當M3超過被檢系統(tǒng)可探測圍時，亦即輸出信號離開儀表分度區(qū)，此時被檢系統(tǒng)泄漏率應記為“大于系統(tǒng)可探測圍〔大于被檢系統(tǒng)可檢測圍檢漏工程不合格。Ⅸ—1072 替代技術(shù)Pam3/sPSCFFSCF分別由以下公式計算：PSCFCLM M 1 2FSCFCLM M4 3檢測?？梢娞娲夹g(shù)與標準技術(shù)小異，系統(tǒng)測得的泄漏率同樣按下式確定：QⅨ—1080 評定

3 2TG3 2TG0

M 100

Pam3/s注：護罩技術(shù)檢漏的驗收標準為：1×10-7Pa?m3/s，但規(guī)有關(guān)卷另有規(guī)定除外。本〔或密封處部件返修，全部經(jīng)返修的區(qū)域，應按要求重檢測。九、附錄Ⅵ壓力變更試驗注：所謂“壓力變更”即為壓力變化。Ⅵ—1010適用圍〔或被檢件的分界面在特定的壓力或真空環(huán)境下的漏率。壓力上升和真空保持等方法。這些檢測規(guī)定在單位時間的壓力、體積百分比的最大許可轉(zhuǎn)變或單位時間的質(zhì)量轉(zhuǎn)變。Ⅵ—1020總則注：書面規(guī)程要求T—1021.1。表中列出了：五項重要變素，壓力計或真空計制造廠商和型號、外表制備列規(guī)程要求：試驗/真空試驗壓力；浸泡時間〔保壓時間；試驗持續(xù)時間；記錄〔時間〕間隔；驗收標準。Ⅵ—1030設備Ⅵ—1031壓力測量儀表注：(a)壓力計量程刻度指示和記錄型壓力計的量程應符合T—1013(a)的要求，液柱式壓力計或波登管式壓力表的整個量程均可使用。壓力計位置壓力計的位置應按T—1031(b)所述。壓力計類型壓力變更檢測中可承受常規(guī)或確定壓力計〔指示式和記錄式/真空表。當要求更高精度時，可承受液柱式壓力計或波登管式壓力表。所承受的壓力表應具有與驗收標準相適應的精度、區(qū)分力和重復性。Ⅵ—1032溫度測量儀和重復性。Ⅵ—1060校準Ⅵ—1061壓力測量儀注：全部刻度指示、記錄型和波登管式壓力計應按T—1061(b)校準。液體壓力計的標定應由已經(jīng)國家標準校準的標準來校準〔假設有這樣的國家標準。Ⅵ—1062溫度測量儀〔假設有這樣的國家標準。Ⅵ—1070試驗〔檢測〕Ⅵ—1071加壓T—1044規(guī)定加壓。Ⅵ—1072抽真空13.8kPa或依據(jù)本規(guī)有關(guān)卷的要。Ⅵ—1073試驗〔檢測〕持續(xù)時間注：保持檢測壓力〔或真空〕的持續(xù)時間應按本規(guī)有關(guān)卷的規(guī)定。假設無規(guī)定，則應依據(jù)被檢件或被檢系統(tǒng)的漏率大小、且在本規(guī)有關(guān)卷所要求的精度來確定檢測持續(xù)時需要作出溫度和水蒸氣校正，則可能要求假設干小時的持續(xù)時間。Ⅵ—1074小的加壓系統(tǒng)〔金屬〕的溫度，為到達溫度穩(wěn)定，在加壓完成后、開頭檢測以前，15min的保持時間。Ⅵ—1075大的加壓系統(tǒng)開頭之前應測定部氣體的溫度是否已經(jīng)穩(wěn)定。Ⅵ—1076試驗〔檢測〕開頭注：檢測開頭時應記錄最初的溫度和壓力〔或真空〔不超過均作記錄，真到規(guī)定的檢測時間完畢。Ⅵ—1077主要變素〔留意事項〕注：(a)當要求對大氣壓的變化進展補償時，就承受確定壓力表或常規(guī)壓力表和氣壓計作檢測壓力的測量。(b)當本規(guī)有關(guān)卷有要求時，或水蒸氣壓力的變化明顯影響檢測結(jié)果時，應測量部的露點或相對濕度。Ⅵ—1080評定Ⅵ—1081Ⅵ—1082應拒收的檢測緣由、并按本規(guī)有關(guān)卷進展返修之后，應重進展原先的檢測。下面進展復習ASME鍋爐及壓力容器規(guī)復習容問答題：“ASME“ASME1911力容器委員會所制定的，目的在于供給掌握設計、制造和檢測等質(zhì)量的有關(guān)規(guī)章。2．ASME1答：這些無損檢測方法是：射線照相檢測；超聲波檢測；液體滲透檢測；磁粉檢測；渦流檢測；目視檢測；泄漏檢測；聲放射檢測。ASME1答：用于檢測的對象是：材料、焊縫和加工零部件的外表和在的瑕疵〔缺陷。ASME檢測人員和無損檢測工作進展監(jiān)視和見證。ASME10章泄漏試驗”要求壓力計應安放在什么位置?抽空、或者檢測過程中能夠全面觀看到壓力計的變化?！癆SME?答：當被檢件外表有連續(xù)氣泡消滅就表示受檢部位有穿透性針孔泄漏。ASME〔1〕〔2〕〔〕〔4〕簡述ASME“壓力變更試驗”適用圍。答：適用于檢測密封容器在特定的壓力或真空環(huán)境下的漏率。推斷題：ASME〔+〕ASME10章泄漏試驗”包括了正文和10個強制性附錄和一個非強制性附錄〔+〕ASME“第10章泄漏試驗”規(guī)定檢測時的最低溫度或最高溫度應不超過所承受泄漏〔+〕ASME“第10章泄漏試驗”要求需作泄漏檢測的部件應在不超過設計壓力的25%的〔-〕ASME“第10章泄漏試驗”要求需作泄漏檢測的部件應在不超過設計壓力的25%的〔+〕ASME“第10〔+〕ASME“第10章泄漏試驗”規(guī)定毛細管型標準漏孔應具有與所要求的檢測靈敏度和〔+〕“ASME〔+〕“ASME氣泡試驗——直接加壓技術(shù)”規(guī)定應至少保持壓力的時間15min〔+〕〔+〕“ASME〔+〕“ASME〔壓力差〕至少應10s〔+〕“ASME氣泡試驗——真空罩技術(shù)”每一相鄰區(qū)域的檢測，真空罩的放置應至少有50mm〔+〕ASME“氦質(zhì)譜儀試驗——探測器探頭技術(shù)”適用于氦質(zhì)譜法用探測器探頭對充氦〔+〕15．ASME〔-〕ASME〔+〕ASME“氦質(zhì)譜儀試驗——探測器探頭技術(shù)”探頭用一段軟管與儀器相連接，軟管4570mm〔+〕ASME“氦質(zhì)譜儀試驗——探測器探頭技術(shù)”規(guī)定被檢系統(tǒng)靈敏度的校準在檢測前和檢測后應當校準，檢測中間應每隔2〔+〕19．ASME“氦質(zhì)譜儀試驗——探測器探頭技術(shù)”除非本規(guī)有關(guān)卷另有規(guī)定，氦示蹤氣體的濃度在檢測壓力下，應至少為10%〔+〕20．ASME“氦質(zhì)譜儀試驗——探測器探頭技術(shù)”規(guī)定檢測時，掃查應從被檢件最上部〔-〕ASME“氦質(zhì)譜儀試驗——探測器探頭技術(shù)”規(guī)定檢測時，掃查應從被檢件最下部〔+〕ASME“氦質(zhì)譜儀試驗——示蹤探頭技術(shù)”適用于氦質(zhì)譜法用示蹤探頭對抽空部件〔+〕23．ASME〔+〕24．ASME“氦質(zhì)譜儀試驗——示蹤探頭技術(shù)”在被檢系統(tǒng)校準時，檢漏儀標準漏孔輸出信號到達穩(wěn)定所需要的時間叫檢測時間〔即響應時間〔+〕25．ASME“氦質(zhì)譜儀試驗——示蹤探頭技術(shù)”被檢系統(tǒng)靈敏度的校準規(guī)定在檢測前和檢測后應當校準，檢測中間應每隔4〔+〕26．ASME“氦質(zhì)譜儀試驗——示蹤探頭技術(shù)”檢測時，掃查應從被檢件最上部開頭，〔+〕27．ASME“氦質(zhì)譜儀試驗——示蹤探頭技術(shù)”掃查時探頭嘴與被檢件外表距離應保持在6mm〔+〕ASME“氦質(zhì)譜儀試驗——護罩技術(shù)”適用于氦質(zhì)譜法用充氦護罩對抽空部件進展〔+〕ASME〔-〕ASME〔+〕ASME〔+〕S2S135%〔+〕32．ASME“壓力變更試驗”規(guī)定在加壓完成后、開頭檢測以前，應至少有15min的保持〔+〕33．ASME“壓力變更試驗”規(guī)定被檢容器水蒸氣壓力的變化明顯影響檢測結(jié)果時，應測〔+〕擇題選：ASM10〔。A：刻度圍應為檢漏所需的最大壓力的1倍半至4倍；B12倍；C13倍；D：刻度圍應與檢漏所需的最大壓力相等。ASM10章泄漏試驗”規(guī)定，除非另有規(guī)定壓力/〔。A：每一年半至少重檢定一次；B：每年至少重檢定一次；C：每兩年至少重檢定一次；D：每三年至少重檢定一次。ASM10〔：1×101?m3/s～110-2Pa?m/sB：1×10-2Pa?m3/s～1×10-5Pa?m3/sC：1×10-5Pa?3/s～×10-7Pa?m/sASM〔A：1×10-7Pa?m3/sB：1×10-8Pa?m3/s；C：1×10-9Pa?m3/s；