2023年業(yè)務(wù)知識(shí)競(jìng)賽-ARL直讀光譜知識(shí)考試參考題庫(kù)（含答案）

2023年業(yè)務(wù)知識(shí)競(jìng)賽-ARL直讀光譜知識(shí)考試參考題庫(kù)（含答案）（圖片大小可任意調(diào)節(jié)）第I卷一.全考點(diǎn)試題庫(kù)(共20題)1.什么是ARL直讀光譜的時(shí)間分辨光譜技術(shù)（TRS）？

正確答案:

時(shí)間分辨光譜技術(shù)（TRS）-----樣品激發(fā)時(shí)，每次放電的電流波形和“時(shí)間窗口當(dāng)分析”（即光被積分的時(shí)間段）與每個(gè)元素的分析靈敏度有極大的關(guān)系。根據(jù)放電時(shí)的電流波形，選擇適當(dāng)?shù)腡RS窗口位置，可以：

（1）避開放電初始階段產(chǎn)生背景的高峰電流；

（2）確定具有最佳信背比的平臺(tái)電流階段為積分時(shí)間段，從而獲得最佳的靈敏度和精度。

另外，由于TRS的獨(dú)特?cái)?shù)據(jù)采集功能，對(duì)某些元素而言，當(dāng)分析譜線與干擾譜線之間存在一定的激發(fā)電勢(shì)差時(shí)可以明顯地改進(jìn)痕量元素校正曲線擬合的準(zhǔn)確性。2.ARL直讀光譜儀激發(fā)光源有哪些選擇要求？

正確答案:

在選擇光源時(shí)應(yīng)盡量滿足下列要求：

（1）高靈敏度，隨著樣品中元素濃度微小的變化，其檢出信號(hào)有較大的變化；

（2）低檢出限，能對(duì)微量及痕量成分進(jìn)行檢測(cè)；

（3）良好的穩(wěn)定性，試樣能穩(wěn)定地蒸發(fā)、原子化和激發(fā)，使結(jié)果具有較高的精密度；

（4）譜線強(qiáng)度與背景強(qiáng)度之比大（信噪比大）；

（5）分析速度快，預(yù)燃時(shí)間短；

（6）構(gòu)造簡(jiǎn)單，安全、易操作；

（7）自吸收效應(yīng)小，校準(zhǔn)曲線的線性范圍寬。3.ARL直讀光譜為什么會(huì)出現(xiàn)“激發(fā)”聲音異常？

正確答案:

ARL直讀光譜出現(xiàn)“激發(fā)”聲音異常大致有如下幾個(gè)原因：

1.聲音尖刺耳，——?頻率偏高，電流偏低。

2.斷斷續(xù)續(xù)（不連續(xù)），——?有漏氣現(xiàn)象（密封不好進(jìn)了空氣）。

3.聲音低沉悶，——?頻率偏低，電流偏大。

4.聲音雜亂（嘈雜有時(shí)有爆豆聲），——?氬氣不足，電氣控制不良。

5.突然中斷。——?電路保護(hù)，軟件中斷。

6.還有可能是密封不好，漏氣導(dǎo)致+氣流不穩(wěn)。

7.還有可能是氬氣純度嚴(yán)重不夠。

8.還可能是樣品表面有顆粒氣孔。

9.電路問(wèn)題，電路中某處接觸不良。4.ARL-3460標(biāo)準(zhǔn)化系數(shù)不合格如何處理？

正確答案:

處理方法：

1.清理激發(fā)臺(tái)；

2.清理廢氣桶；

3.清理透鏡；

4.重新描跡；

5.做一下恒光跟暗電流測(cè)試；

6.換一瓶高純氬氣試試。5.ARL直讀光譜分析試樣組成結(jié)構(gòu)狀態(tài)有哪些影響？

正確答案:

試樣中大多數(shù)金屬元素都是以互相化合及相互熔融的形式存在，而且由于熱處理方式，如淬火、退火、鍛壓、澆注以及冶煉等的過(guò)程不同，均會(huì)使它們?cè)优c原子間的晶格排列發(fā)生變化，不同的晶格其鍵的結(jié)合能發(fā)生差異，會(huì)影響其熔點(diǎn)及導(dǎo)熱性，改變其被光源侵蝕的程度。

對(duì)于由于組織結(jié)構(gòu)不同引起的影響，在光譜分析時(shí)應(yīng)嚴(yán)格控制試樣的熱處理狀態(tài)，使試樣的結(jié)構(gòu)保持一致；采用高速高能或高能預(yù)火花光源，由于這類光源的能量大、電蝕作用大，在較短時(shí)間使樣品表面局部熔融及均勻化，可以消除或減少試樣表面結(jié)晶組織結(jié)構(gòu)的影響；其次適當(dāng)延長(zhǎng)預(yù)燃時(shí)間也減少結(jié)晶組織的影響。6.ARL3460直讀光譜儀的描跡步驟有哪些？

正確答案:

1.在主界面中點(diǎn)擊“Initialisation”（初始化），然后在相應(yīng)界面中點(diǎn)擊“Integrated?Profile”（強(qiáng)度描跡）。

2.點(diǎn)擊“Integrated?Profile”（強(qiáng)度描跡）后彈出子菜單中，選擇程序“FEGEN”，然后選擇元素“C、Si、Mn、P、S、Cr、Ni、Mo、Cu、Al”最多10個(gè)元素。

3.在第一行“Start?Dial?Position”（描跡起始位置）后的方格中輸入例如“92”，在下行“Step?Dial?Divisions”（每步長(zhǎng)）后的方格中輸入例如“2”，最后再在“Maximum?Number?Of?Step”（描跡步數(shù)）后的方格中輸入例如“10”

4.放好樣品“SUS_RN19”后點(diǎn)擊“Start?Profile”（開始描跡）

5.?點(diǎn)擊完“Start?Profile”后，調(diào)好入射狹縫刻度表[依次為92-94-96-98-100-102-104-106-108-110]并依次點(diǎn)擊“”（開始下步）當(dāng)顯示“Steps?Completed”（完成）時(shí)，點(diǎn)擊“Average”（現(xiàn)在平均），當(dāng)求出Avg（平均值），依平均值調(diào)好入射狹縫刻度。

注意：在調(diào)好刻度前，一定要試轉(zhuǎn)（也就如：平均值100.7要調(diào)到100.7時(shí)可旋轉(zhuǎn)到80，然后再回轉(zhuǎn)到100.7，目的時(shí)補(bǔ)償螺絲游隙）。

6.?最后點(diǎn)擊“Exit”退出后會(huì)彈出“Do?you?want?to?store?the?result？”，然后點(diǎn)擊“No”退出。7.ARL直讀光譜儀激發(fā)光源的作用是什么？

正確答案:

激發(fā)光源是直讀光譜儀中一個(gè)極為重要的組成部分，它的作用是給分析試樣提供蒸發(fā)、原子化或激發(fā)的能量。在光譜分析時(shí)，試樣的蒸發(fā)、原子化和激發(fā)之間沒有明顯的界限，這些過(guò)程幾乎是同時(shí)進(jìn)行的，而這一系列過(guò)程均直接影響譜線的發(fā)射以及光譜線的強(qiáng)度。由于樣品種類繁多、形狀各異、元素對(duì)象、濃度、蒸發(fā)及激發(fā)難易不同，對(duì)光源的要求也各不相同。沒有一種萬(wàn)能光源能同時(shí)滿足各種分析對(duì)象的要求。直讀光譜儀分析的誤差，主要來(lái)源于光源部分，因此，光源的選擇十分重要。8.ARL直讀光譜如何進(jìn)行日常維護(hù)？

正確答案:

1.每天要清理火花室。

2.每天要觀察真空泵運(yùn)行情況和油位，要及時(shí)添加、更換。

3.每周要清理一次氬氣回路及過(guò)濾器。

4.每月要清理一次絕緣體和火花架。

5.每月要擦一次透鏡。

6.每月至少要做一次全標(biāo)準(zhǔn)化。

7.每三個(gè)月要作一次描跡，調(diào)整光路系統(tǒng)。9.ARL3460直讀光譜標(biāo)準(zhǔn)化時(shí)漂移系數(shù)是如何表示的？

正確答案:

漂移系數(shù)α：

當(dāng)α=1，β=0說(shuō)明曲線沒有漂移。

當(dāng)α≠1，β=0說(shuō)明曲線只發(fā)生轉(zhuǎn)動(dòng)。

α1曲線斜率降低。

當(dāng)α=1，β≠0則表示曲線只發(fā)生平移。

β0曲線下移。10.什么是ARL直讀光譜所用的內(nèi)標(biāo)法和分析線？

正確答案:

由于試樣的蒸發(fā)、激發(fā)條件以及試樣組成等的任何變化，使參數(shù)A發(fā)生變化，均會(huì)直接影響譜線強(qiáng)度，這種變化往往是難以避免的，所以在實(shí)際光譜分析時(shí)，常選用一條比較譜線，用分析線和比較線的強(qiáng)度比進(jìn)行光譜定量分析，以抵償這些難以控制的變化因素對(duì)A的影響，所采用的比較線稱為內(nèi)標(biāo)線，提供這種比較線的元素稱為內(nèi)標(biāo)元素。在光譜定量分析中，內(nèi)標(biāo)元素的含量變化不大，它可以是試樣中的基體成份，也可是以一定含量加入試樣中的外加元素。按這種分析線和內(nèi)標(biāo)線強(qiáng)度之比進(jìn)行的光譜定量分析方法稱內(nèi)標(biāo)法；所選用的分析線于內(nèi)標(biāo)線的組合稱為分析線對(duì)。但是，并不是任何元素都可作內(nèi)標(biāo)元素，任何一對(duì)譜線均可作分析線對(duì)，因此對(duì)內(nèi)標(biāo)元素、內(nèi)標(biāo)線和分析線的選擇必須具備下列條件：

1.分析線對(duì)應(yīng)具有相同或相近的激發(fā)電位和電離電位，以減少放電溫度（激發(fā)溫度）的改變對(duì)分析線對(duì)相對(duì)強(qiáng)度因離解度、激發(fā)效率及電離度的變化所引起的影響；

2.內(nèi)標(biāo)元素與分析元素應(yīng)具有相近的熔點(diǎn)、沸點(diǎn)、化學(xué)活性及相近的原子量，以減小電極溫度（蒸發(fā)溫度）的改變對(duì)分析線對(duì)相對(duì)強(qiáng)度因重熔、濺射、蒸發(fā)、擴(kuò)散等變化所引起的影響；

3.內(nèi)標(biāo)元素的含量，不隨分析元素的含量變化而改變，在鋼鐵分析中常采用基體元素鐵作為內(nèi)標(biāo)；在制作光譜分析標(biāo)準(zhǔn)樣品成體設(shè)計(jì)時(shí)，往往使內(nèi)標(biāo)元素的含量保持一致，以減少基體效應(yīng)的影響；

4.分析線和內(nèi)標(biāo)線自吸收要小，一般內(nèi)標(biāo)線常選用非共振線，其自吸收系b=1，對(duì)分析線的選擇在低含量時(shí)可選用共振線，在高含量時(shí)，可選用自吸收系數(shù)b接近1的非共振線；

5.分析線和內(nèi)標(biāo)線附近背景應(yīng)盡量小且無(wú)干擾元素存在，以提高信噪比。11.ARL直讀光譜激發(fā)室多久清理一次灰塵？

正確答案:如果分析的樣品數(shù)量較多，可以每天24小時(shí)清一次灰塵，如果分析樣品不是太多，可以每個(gè)班清理一次，總之要視具體情況而定，如果出現(xiàn)激發(fā)聲音異常，測(cè)量數(shù)據(jù)不準(zhǔn)，開始懷疑激發(fā)室不干凈時(shí)，可自行決定清理灰塵了。12.ARL4460在查找數(shù)據(jù)時(shí)彈出數(shù)據(jù)已超過(guò)最大限度的警告對(duì)話框：WinOE://Information!?Maxmumdisplay?limit?has?been?reached。如何處理？

正確答案:

解決技巧：

1.退出應(yīng)用程序即可；

2.將數(shù)據(jù)剪切到新建文件夾中RESULTSC:///ARL-DATA/

方法一：打開“我的電腦”，DatabasesUtilities

方法二：WinOE?將數(shù)值改大，如將原設(shè)定的200改為2000（或進(jìn)入Results?Select/GreateResults?Database?Database后，直接選擇clear清除數(shù)據(jù)）。13.ARL光譜分析對(duì)固體標(biāo)準(zhǔn)樣品有哪些嚴(yán)格的要求？

正確答案:

（1）標(biāo)準(zhǔn)樣品的各元素含量要有標(biāo)準(zhǔn)的化學(xué)分析結(jié)果；

（2）標(biāo)準(zhǔn)樣品各元素含量分布均勻，沒有偏析現(xiàn)象；

（3）標(biāo)準(zhǔn)樣品和要分析的鋼種相同，并且包括分析的全部元素；

（4）標(biāo)準(zhǔn)樣品組織結(jié)構(gòu)、澆注狀態(tài)和分析試樣一致；

（5）標(biāo)準(zhǔn)樣品中分析元素的含量范圍應(yīng)比分析試樣中的元素范圍要寬，內(nèi)標(biāo)元素含量力求一致；

（6）標(biāo)準(zhǔn)試樣的形狀要和分析試樣保持一致。要經(jīng)過(guò)生產(chǎn)實(shí)踐試驗(yàn)可靠方可正式應(yīng)用于生產(chǎn)中。14.什么是ARL直讀光譜透鏡的定位校正原理？

正確答案:介紹一種透鏡定位方法。當(dāng)在平行于光軸的方向上振動(dòng)物鏡時(shí)，物鏡或基片上形成有抗蝕劑材料膜的母盤被移動(dòng)，從而改變物鏡和母盤表面之間的距離。光電探測(cè)器探測(cè)到透射通過(guò)物鏡并被母盤表面反射的返回激光光束。當(dāng)該母盤靠近物鏡焦點(diǎn)時(shí)，光電探測(cè)器探測(cè)到該返回激光光束。當(dāng)探測(cè)到該返回激光光束時(shí)，物鏡或母盤的移動(dòng)停止。15.ARL?3460光譜儀測(cè)量鋼鐵其它元素穩(wěn)定，碳元素不穩(wěn)定，什么原因？

正確答案:

一、與使用的高純氬純度有關(guān)，氬氣中的氧、水、氮不符合高純氬的標(biāo)準(zhǔn)。

二、跟真空泵也有關(guān)系，如果抽真空不夠純，空氣本身就有C，影響會(huì)很大。而且用直讀光譜儀來(lái)檢測(cè)C本身就不太準(zhǔn)確，最好能用紅外碳硫分析儀，如果含量很低的話，最好用高頻紅外驗(yàn)證一下。

三、與樣品表面處理有關(guān)，檢查樣品是否均質(zhì)，白口化。

四、碳含量多高？最好在其它直讀光譜上對(duì)比一下，也有可能是樣品處理的問(wèn)題！

五、用直讀光譜測(cè)碳不穩(wěn)定是很正常的，因?yàn)橹弊x光譜測(cè)非金屬元素不穩(wěn)定是常有的事。16.ARL3460直讀光譜是如何計(jì)入“讀儀器狀態(tài)”的？

正確答案:打開計(jì)算機(jī)，進(jìn)入“”主菜單，點(diǎn)擊“Initialsation”（初始化）按鈕，再點(diǎn)擊“Read?Instrument?status”F7（讀儀器狀態(tài)），即可顯示出儀器狀態(tài)參數(shù)。如果有狀態(tài)條件超出或底于儀器設(shè)置，計(jì)算機(jī)會(huì)自動(dòng)提示報(bào)警。17.ARL負(fù)高壓板電壓的穩(wěn)定性，負(fù)高壓板－1000伏指標(biāo)：提這個(gè)問(wèn)題的原因是，板子出故障，有人說(shuō)沒故障，波動(dòng)在許可范圍內(nèi)，在進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化更新后，負(fù)高壓一直在波動(dòng)，那么這種數(shù)椐可靠嗎？

正確答案:

ARL直讀光譜負(fù)高壓-1000V的電壓輸出范圍應(yīng)該是-1000V±1%，儀器軟件報(bào)警設(shè)置范圍是-995V～-1005V，-1000V的電壓的穩(wěn)定性＜0.05%?，關(guān)鍵是電壓的穩(wěn)定性，負(fù)高壓穩(wěn)定性好，測(cè)出的數(shù)據(jù)才可靠。負(fù)高壓的短期波動(dòng)，對(duì)結(jié)果是有明顯的影響，你的負(fù)高壓一直在波動(dòng)，所測(cè)的數(shù)據(jù)應(yīng)該是不可靠的。

你需要檢查一下負(fù)高壓電路板確實(shí)是否出故障了。18.ARL4460和ARL3460在技術(shù)上有何差別？

正確答案:

1.光源不一樣，ARL3460是模擬光源，ARL4460是數(shù)字光源。

2.光源和透鏡的位置不一樣，激發(fā)臺(tái)，透鏡更好拆卸。

3.ARL4460增加了CCS檢測(cè)技術(shù)。

4.ARL4460的檢出限低于ARL3460。19.Spark-DAT是針對(duì)金屬中的夾雜分析編制的軟件，有沒有使用ARL-4460中的Spark-DAT功能進(jìn)行鋼中夾雜物分析的？

正確答案:

通常進(jìn)行金屬夾雜物分析方法有化學(xué)物相分析法、金相分析、電鏡分析、光電子能譜分析等手段，而用火花源原子發(fā)射光譜儀對(duì)其能進(jìn)行夾雜分析是