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分類號(hào)案卷號(hào)件號(hào)2016-09-29發(fā)布 廣東省質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布前言 Ⅲ 1 1 1 2 2 2 2 2 3 3 3 3 3 3 4 4 6 8 8 9 IⅢ1下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T29768-2013信息技術(shù)射頻識(shí)別800/900MHz空中接口協(xié)議GJB7377.1-2011軍用射頻識(shí)別空口接口第1部分:800/9MHzISO/IEC18000-6:信息技術(shù)面向物品管理的射頻識(shí)別第6部分:860MHz-960MHz空中通信ISO/IECTR18047-6:信息技術(shù)射頻識(shí)別設(shè)備一致性測(cè)試方法第6部分:860MHz~960MHz空中525.2測(cè)試環(huán)境不作特別說明的情況下,正常測(cè)試的環(huán)境溫度23℃±3℃,相對(duì)濕度40%~60%。極端測(cè)試條件根據(jù)具體應(yīng)用需求或相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)確定。5.3默認(rèn)容限不作特別說明的情況下,測(cè)試儀器和測(cè)試程序的默認(rèn)最大誤差為±5%。5.4本底噪聲測(cè)試前使用頻譜分析儀測(cè)量測(cè)試地點(diǎn)的本底噪聲,頻譜分析儀的獲取信號(hào)時(shí)間不低于1min。6測(cè)試平臺(tái)6.1標(biāo)簽芯片測(cè)試平臺(tái)6.1.1測(cè)試設(shè)備測(cè)試設(shè)備包括:閱讀器、頻譜分析儀、信號(hào)發(fā)生器、示波器、衰減器和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。6.1.2測(cè)試平臺(tái)按照ISO/IECTR18047-6的規(guī)定,將待測(cè)芯片固定于探針測(cè)試臺(tái)上或綁定在PCB上,芯片端口引出引線按圖1的方式連接。測(cè)試前需根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)所采用的閱讀器進(jìn)行校準(zhǔn),閱讀器或信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生的信號(hào)應(yīng)符合GJB7377.1-2011、GB/T29768-2013或ISO/IEC18000-6等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,測(cè)試時(shí)應(yīng)注意引線帶來的衰減。頻譜分析儀示波器6.2閱讀器芯片測(cè)試平臺(tái)測(cè)試設(shè)備包括:標(biāo)簽、頻率計(jì)、頻譜分析儀、衰減器、功分器、信號(hào)發(fā)生器和示波器。6.2.2測(cè)試平臺(tái)34按照ISO/IECTR18047-6的規(guī)定,將待測(cè)芯片固定于探針測(cè)試臺(tái)上或綁定在PCB上,芯片端口引出引線按圖2的方式連接。測(cè)試前應(yīng)驗(yàn)證所采用的超高頻RFID標(biāo)簽符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),測(cè)試時(shí)應(yīng)注意引線帶來超高頻RFID標(biāo)簽功分器圖2閱讀器芯片測(cè)試平臺(tái)7.1標(biāo)簽芯片物理層測(cè)試7.1.1標(biāo)簽芯片識(shí)別門限功率測(cè)試目的確定標(biāo)簽芯片能夠被識(shí)別的門限功率。測(cè)試方法在標(biāo)簽芯片工作頻帶內(nèi),從零開始調(diào)整輸入功率直到標(biāo)簽的返回調(diào)制信號(hào)被檢測(cè)并且標(biāo)簽產(chǎn)生響應(yīng)。測(cè)試中以2.5MHz為步進(jìn),對(duì)每個(gè)頻率點(diǎn)分別測(cè)其門限功率。具體的測(cè)試步驟如下:a)閱讀器的工作頻率設(shè)置為Fn;b)閱讀器的幅度值應(yīng)設(shè)置為低于Pmm,通常初始置零;c)將待測(cè)標(biāo)簽芯片接入測(cè)試平臺(tái)中;d)由閱讀器不斷發(fā)送指令,并且每發(fā)出一條指令后逐漸增加信號(hào)幅度,直到UID能被完全檢測(cè);e)數(shù)據(jù)傳輸情況應(yīng)對(duì)比相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行驗(yàn)證,以防標(biāo)簽芯片出現(xiàn)錯(cuò)誤響應(yīng)。然后增大閱讀器信號(hào)幅度重復(fù)步驟d)直至標(biāo)簽芯片被正確識(shí)別,并記錄閱讀器此時(shí)的信號(hào)頻率F、發(fā)射功率R和f)采用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試標(biāo)簽芯片在輸入功率為PP,頻率為R時(shí)的反射系數(shù)Su,標(biāo)簽芯片識(shí)別門限功率即由計(jì)算(B-P)×(1-Sn)2得到;g)以2.5MHz為步進(jìn)增大測(cè)試頻率,然后重復(fù)上述步驟a)~f)。應(yīng)對(duì)所有被測(cè)標(biāo)簽芯片進(jìn)行測(cè)試,將所測(cè)標(biāo)簽芯片中門限功率最大的值確定為標(biāo)簽芯片識(shí)別的門限功率。59率P和衰減P;6測(cè)試目的驗(yàn)證標(biāo)簽芯片能否正確的解調(diào)閱讀器信號(hào),以及接收到閱讀器發(fā)送的信號(hào)之后的最小響應(yīng)時(shí)間。測(cè)試方法測(cè)試中閱讀器應(yīng)發(fā)送相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的強(qiáng)制性命令,待測(cè)標(biāo)簽芯片接受到來自閱讀器的命令后應(yīng)及時(shí)作出正確的響應(yīng),閱讀器接受到標(biāo)簽芯片的響應(yīng)之后,得到標(biāo)簽芯片的最小響應(yīng)時(shí)間,并發(fā)出新一輪的命令。通過觀測(cè)標(biāo)簽芯片是否對(duì)閱讀器發(fā)送命令作出正確的響應(yīng),來判斷測(cè)試成功與否。應(yīng)給出在正常和極端測(cè)試條件下標(biāo)簽芯片的解調(diào)能力和響應(yīng)時(shí)間,以及該值是否符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。7.2.2標(biāo)簽的反向散射該測(cè)試的目的是為了驗(yàn)證標(biāo)簽芯片是否能提供合適的調(diào)制波形,以及閱讀器能檢測(cè)到的最小反向測(cè)試方法閱讀器在最小功率的情況下發(fā)送相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的強(qiáng)制性命令,保證標(biāo)簽芯片的響應(yīng)能被頻譜分析儀識(shí)別。用數(shù)字示波器記錄標(biāo)簽芯片產(chǎn)生的波形,用頻譜分析儀記錄標(biāo)簽芯片響應(yīng)的頻譜功率情況。測(cè)試報(bào)告應(yīng)給出在正常和極端測(cè)試條件下標(biāo)簽芯片反向散射強(qiáng)度,以及該值是否符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。7.2.3發(fā)送接收轉(zhuǎn)換時(shí)間測(cè)試目的該測(cè)試的目的是為了根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中的參數(shù)驗(yàn)證標(biāo)簽芯片和閱讀器之間發(fā)送接收的轉(zhuǎn)換時(shí)間。測(cè)試方法閱讀器應(yīng)在規(guī)定的載波頻率下以最大功率發(fā)送相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的強(qiáng)制性命令。采用示波器測(cè)試標(biāo)簽芯片和閱讀器之間發(fā)送接收的轉(zhuǎn)換時(shí)間。測(cè)試報(bào)告應(yīng)給出在正常和極端測(cè)試條件下標(biāo)簽芯片和閱讀器之間發(fā)送接收的轉(zhuǎn)換時(shí)間,以及該值是否符合7.2.4標(biāo)簽芯片的比特率該測(cè)試的目的是為了根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中鏈路速率的規(guī)定,驗(yàn)證標(biāo)簽芯片的比特率,也即反向鏈路的7閱讀器應(yīng)在規(guī)定的載波頻率下,以最大功率發(fā)送相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的強(qiáng)制性命令。采用示波器記錄使閱讀器芯片發(fā)送未經(jīng)調(diào)制的連續(xù)載波信號(hào),通過連接頻率計(jì)測(cè)試所發(fā)信號(hào)的頻率。需測(cè)試相關(guān)a)控制發(fā)射機(jī)工作在一個(gè)正常的工作信道上,通過同軸電纜將其50Ω的射頻輸出端口與頻譜分析儀相連接,通過頻譜分析儀測(cè)量出其發(fā)射功率Pn;測(cè)試方法a)閱讀器芯片的RF輸出通過50Ω的輸出端口與衰減器及頻譜分析儀連接,測(cè)試時(shí)應(yīng)使閱讀器8注意每個(gè)發(fā)送脈沖的長(zhǎng)度應(yīng)大于10ms且不超過50ms,脈沖之間的間隔應(yīng)大于1ms且不超過10ms;應(yīng)給出相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定下的多組測(cè)試頻率以及相對(duì)應(yīng)的輸出功率,對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試發(fā)射機(jī)雜散發(fā)射功率及頻衡量發(fā)射機(jī)抑制雜散發(fā)能力。應(yīng)給出所測(cè)雜散域內(nèi)多組頻淑及對(duì)應(yīng)的雜散功率,判試結(jié)果是否符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。a)設(shè)置閱讀器芯片工作在相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的一個(gè)d)逐漸增大信號(hào)發(fā)生儀發(fā)送信號(hào)的功率,直9a)設(shè)置閱讀器芯片正常工作在相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的b)設(shè)置信號(hào)發(fā)生儀發(fā)送閱讀器芯片工作信道的相鄰信道上頻率值的干擾信號(hào)(具體頻率值參照相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)),初始信號(hào)功率設(shè)置為零;衡量接收機(jī)在接收標(biāo)簽反饋信號(hào)的同時(shí)抑制來自非相鄰信道上信號(hào)干擾的能力(具體信號(hào)頻率值由相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定)。a)設(shè)置閱讀器芯片正常工作在相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的b)設(shè)置信號(hào)發(fā)生儀發(fā)送和閱讀器芯片工作信道所在頻率不同的干擾信號(hào)(具體頻率值參照相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定),初始信號(hào)功率設(shè)置為零;a)將閱讀器芯片的50Ω射頻端口與頻譜分析儀相連;b)打開閱讀器芯片讓其正常工作,調(diào)節(jié)頻譜分析儀在雜散域內(nèi)的不同頻率上(具體參看相關(guān)標(biāo)準(zhǔn))分別測(cè)量其輸出功率;閱讀器芯片應(yīng)在規(guī)定的載波頻率下以最大功率發(fā)送相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的強(qiáng)制性命令。用示波器記
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