壓力容器無損檢測工藝

該項操作規(guī)，對壓力容器產(chǎn)品的射線探傷實施有效控制本規(guī)適用于對壓力容器進行無損檢測射線探傷前應(yīng)做的準(zhǔn)備工作和射線探傷中全過的管理。對給定工件進行射線探傷時，應(yīng)根據(jù)有關(guān)規(guī)和標(biāo)準(zhǔn)要求選擇適當(dāng)?shù)奶絺麠l件。應(yīng)以GB3323-87A級、ABBAB級的要求。象質(zhì)要求，從探傷器材、方法、條件及度等各個方面都要預(yù)先進行全面地部署。在照相過中，除了合理地選擇透照方法外，還必須選擇好透照規(guī)范，使小缺陷能夠600~700mm0.01~0.13mm的鉛箔增感屏與非增感XL1UyK6條件的選擇及修度和靈敏度的條件進行透照。主要有以下幾個因素：1)因子2)條件的選擇3)條件的修正4)3323-87象質(zhì)指數(shù)來表示照相的靈敏度。（1表面至膠片的距離2、一次透照長度3、環(huán)焊縫100%、透照時的最少次數(shù)；yθθˊLef100%Δ同的透照方法中均有不同的技術(shù)要求。為了使顯影過能正常進行，顯影液的配制方法與序必須合適。配制顯影液時最好制序、溫度和攪拌都要特別注意。20~30分鐘。沖洗的目的是將膠片表面和84中規(guī)定職業(yè)放射工作人員，其全身內(nèi)外照射的累積劑量當(dāng)量不得超過250，并時間：要控制射線對的時間，照射場中所容許的最大劑量率是2.5毫?xí)r（25微希沃特/時距離：要控制射線源到間的距離層：在和射線源之間隔一層吸收物質(zhì)。必須根據(jù)輻射源的活度、用途和工說明：本《射線探傷操作規(guī)》由檢驗處探傷室起草，并負(fù)責(zé)對其內(nèi)容進行解釋

暗室處理是保證底片質(zhì)量的重要工序，應(yīng)指定專人進行。該項操作規(guī)，對無損檢測的射線底片暗室安全操作做出規(guī)定，以確保底片。暗室處理包括切片、裝袋、顯影、定影、水沖洗和底片烘干等。本序適用于射線底暗室安全操作規(guī)膠片應(yīng)與光線完全，距暖氣不少于1m的陰涼干燥處立放膠片盒應(yīng)在暗室開封，外包裝紙余量要折回，以防露光0.5m當(dāng)對膠片質(zhì)量有懷疑時，應(yīng)在前用顯、定液影分析，問題嚴(yán)重時應(yīng)停用手工沖洗規(guī)顯影：其溫度為18～21℃，顯影時間為4～8分鐘，顯影之初和顯影過中要使膠10～15水沖洗：在流動的清水(2立升/分)15～20說明：本《暗室操作規(guī)》由檢驗處探傷室起草，并負(fù)責(zé)對其內(nèi)容進行解釋本規(guī)規(guī)定了檢測人員的資格、儀器探頭試塊、檢測范圍、方法和質(zhì)量分級等本規(guī)采用A型脈沖反射式超聲探傷儀器對鋼板、鍛件和焊縫進行檢測本規(guī)依據(jù)JB4730的要求編寫。符合《容規(guī)》和GB150的要求檢測工藝卡是本規(guī)的補充，必要時由II級人員按合同要求編制，其檢測參數(shù)規(guī)定的3標(biāo)JB4126ZBJ04001《A型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能測試方法》ZBY230《A型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件》ZBY2321號標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件》4通用規(guī)則理論和實際考試合格，取得相應(yīng)等級資格的人員擔(dān)任。檢測由II級以上人員進行，I1.0CTS-22CTS-26儀器和探頭的組合靈敏度在達到所檢工件最大聲時其靈敏度余量應(yīng)≥10dB12dB誤差在±1dB1dB1%80%5%50mm25mm230dB6dB。儀器和探頭的系統(tǒng)性應(yīng)按ZBJ04001和ZBY231的規(guī)定進試。得有大于φ2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。ZBY232JB412615%探頭的掃查速度不應(yīng)超過150mm/s。當(dāng)采用自動裝置掃查時，不受此限6dB在儀器開始使用時應(yīng)對儀器的水平線性進定測定方法按ZBY230的規(guī)定進行。在使用過中，每隔三個月至少應(yīng)對儀器的水平線和垂直線性進行一次測定。1）ZBY231的使用前，斜探頭至少應(yīng)進行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辯力等的校準(zhǔn)。使用過中，每個工作日應(yīng)校準(zhǔn)前沿距離、K值和主聲束偏離。c.4d掃描量的復(fù)32dB，則應(yīng)對上一次以來2dB，則應(yīng)對所有的記錄信號進行重新評定。7年。本條適用于板厚為6-250mm的鋼制壓力容器用板材的超聲檢測和缺陷等級評定。奧120mm120mm22的規(guī)定。試塊厚度20mm1所示的試塊將工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻50%10dB作為檢測靈敏度。20mm2表16-14-200mm2檢測面平底孔的距 試塊厚度1＞20-2＞40-3＞60-4＞100-5＞160-6＞200- 圖1板厚小于或等于20mm其其2板厚大于20mm單直探頭檢測用應(yīng)與2.4.2條的要求相一致。檢測方檢測5.25.2壓延方100%掃剖面預(yù)定圖 探頭搜查示意50mm(100mm，以板厚的一半為準(zhǔn))100%掃查，掃查示意圖2）根據(jù)合同、技術(shù)或圖樣的要求，也可進行其它形式的掃查在檢測過中，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一者作為缺陷缺陷第一次反射波(F1)50%F1≥50%第一次反射波(B1)50%B1＜100%F1/B1≥50%者。當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳?B1)50%B1＜50%25%或使第一次反射波高底下降到檢測靈敏度條件下熒屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波與底面第一次反射波2.6.1c條缺陷的邊界或指示長度，移動探頭，使底面第一次反射波升高到熒3的規(guī)定100mm或間距小于相鄰小缺陷的指示長度(取其較大值)1m×1m表示長度cm21m×1m檢測面積比I長度大于或等于50mm時，則應(yīng)判廢，不作。1.4.2aLD試塊應(yīng)采用CS1和CS2試塊，也可自行加工，其形狀和尺寸按表4和圖LD1）1）45mm2）55全45表 縱波雙晶直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊尺 12345678956Ra6.3μm。圖 曲面對比試A(補充件)7所示。其它形狀的鍛件也可參照執(zhí)行。400mm100%檢測靈敏度一般不低于最大檢測距離處的￠2mm第一次底面回波幅度(B1)50%，記錄此時衰減器的讀數(shù)，再調(diào)衰減器，使第二次底面回波幅度(B2)50%，兩次衰減器讀數(shù)之差即為(B1-B2)dB的差值。( 式中：a—衰減系數(shù)，dB/m(單AVG曲線及計算法確定缺陷當(dāng)量。對于三倍近場區(qū)內(nèi)的缺陷，可采用單直探頭或雙4dB/m記錄當(dāng)量直徑超過φ4mmφ4mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)，其它鍛件應(yīng)記錄大于或等于φ3mm當(dāng)量直徑的缺陷密集50mm×50mm6dB法決定7要求記錄底波降低量。678678※※※※※※※※※※※※※※※圖 檢測方向(垂直檢測法IV(＞0-(＞8-(＞12-IV(＞0-(＞8-(＞12-表 由缺陷引起底波降低量的等級評IV＞8-＞14-＞20-注：本表僅適用于大于一倍近場區(qū)的缺陷表 密集區(qū)缺陷的等級評IV密集區(qū)缺陷占檢測總面積的百分比0＞0-＞5-＞10->本條不適用于鑄鋼及奧氏體鋼焊縫，外徑小于159mm的對接焊縫，內(nèi)徑小于200mm250mm80%1.4.2aCSK-IA、CSK-IIACSK-IIIA8910。CSK-IACSK-IIACSK-IIIA8-120mmRW2/4(W為探頭接觸面寬度，環(huán)縫檢測0.9～1.5倍的工件。其其圖 CSK—ⅠA試K值探頭，利用一次反射法在焊縫的單面雙側(cè)檢測區(qū)域的寬度應(yīng)是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度30%的一段10mm。Ra6.3μm，一般應(yīng)進行打磨。采用一次反射法檢測時，探頭移動區(qū)不小于1.25P；KK值，ⅠⅠTILTIL圖 CSK—ⅡA試φ1×6平底孔7圖 CSK—ⅢA試K斜探頭K值選取可參照表9的規(guī)定。條件允許時，應(yīng)盡量采用較大K值探頭。表9 推薦應(yīng)用的斜探頭K值板厚K檢測的規(guī)要點如下：2～5MHZ3）20%的部位，應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記，定量線)11所示。8～120mm10試塊上進行，其組成見3.4.1。3）6dB。RW2/4時，距離—波幅曲線的繪制應(yīng)在曲面對比試6)搜查靈敏度不低于最大聲處的評定線靈敏度波幅波幅Ⅰ距離

評定線1110CSK—Φ2×40—CSK—Φ1×6—Φ1×6—Φ1×6—11Φ2mmΦ3mmΦ6mm為檢測縱向缺陷，原則上采用一種K值探頭或兩種K值探頭在焊縫的單面雙側(cè)進10°～15°的左右轉(zhuǎn)動。圖13余平圖13余平行掃 圖14平行掃15。10°～2013。焊縫余高磨平時，可14100mm時，K值探頭(1512并用)作單面兩45°的掃查。前 左 轉(zhuǎn) 環(huán)圖 四種探頭基本掃查方10K值，并考慮幾何臨界角的限制，確保聲束能KRW2/4且采用平面對比試塊調(diào)節(jié)儀器時，應(yīng)注意到熒光屏0.9～1.5的限制。(的限制。(1617)位置位置位置位置位置圖 插入式管座角焊 圖 安放式管座角焊a.161。b.171。c172d163173e1623.3.3條的規(guī)定執(zhí)應(yīng)根據(jù)缺陷最大反射波幅確定缺陷當(dāng)量直徑￠或缺陷指示ΔL2）缺陷指示長度ΔLa6dBb6dB法測其指示c當(dāng)缺陷反射波峰位于Ⅰ區(qū)，如認(rèn)為有必要記錄時，將探頭左右移動，使波幅降到評，超過評定線的信號應(yīng)注意其是否具有裂紋等危害性缺陷特征懷疑時應(yīng)采取改，10mm5mm最大反射波幅位于；Ⅱ區(qū)的缺陷，應(yīng)根據(jù)其指示長度按表12的規(guī)定予以最大反射波幅低于定量線的非裂紋類缺陷，均Ⅰ級表 Ⅱ區(qū)缺陷的等級評Ⅰ1L=3T101L=3T9TL9TLⅡ1L=3T124.5TL4.5TLⅢ9T(Ⅰ)4.5T(Ⅱ級時)(補充件3探頭探頭公稱頻率主要為2.5MHZ探頭晶片面積為140～400mm2K1KV形槽作為標(biāo)準(zhǔn)槽。V25mm，1%60°。也可采用其它等效的反射體(如邊角反射等)。150mm/S15%從鍛件外圓面將探頭對準(zhǔn)內(nèi)圓面的標(biāo)準(zhǔn)溝槽，調(diào)整增益，使最大反射波高為滿刻度的80%。將該值標(biāo)在面板上，以其為基準(zhǔn)檢測靈敏度；再移動探頭測定外圓面的標(biāo)準(zhǔn)溝槽，

斜探頭（橫波表面波探頭與雙晶（分割）說明：本《超聲波檢測工藝規(guī)》由檢驗處探傷室起草，并負(fù)責(zé)對其內(nèi)容進行解釋

該項操作規(guī)，對壓力容器產(chǎn)品的磁粉探傷實施有效控制本規(guī)適用于原材料板材及管材的探傷，并且也適用于加工產(chǎn)品鍛件、鑄件、焊接件操作規(guī)預(yù)1/5~1/2秒，此后切斷磁化電流，采用軟管澆淋或浸漬法施加磁懸液。磁粉應(yīng)直接噴或撒在被檢區(qū)域，并除去過量的磁粉，輕輕動試件，使其獲得較為后在檢驗并退磁后，應(yīng)把試件上所有的磁粉干凈；應(yīng)該注意徹底清除孔和空腔內(nèi)的JB3965-85標(biāo)準(zhǔn)適用于檢查鐵磁性材料制成的壓力容器焊縫及工件表面或近表面的裂JB4248-86標(biāo)準(zhǔn)適用于檢查鐵磁性材料制成的壓力容器鍛件以及高壓緊固件的表面和ZBJ04006-87本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了鋼鐵材料及其制品的磁粉探傷方法和缺陷磁痕的等級分類，5鑄件磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)在GB9444-88標(biāo)準(zhǔn)中適用于導(dǎo)磁鋼鑄件表面及近表面缺陷的檢驗和質(zhì)量當(dāng)磁場2.4KA/m1T的鑄鋼稱為異磁鋼。說明：本《磁粉探傷操作 》由檢驗處探傷室起草，并負(fù)責(zé)對其內(nèi)容進行解釋

該項操作規(guī)，目的在于對壓力容器產(chǎn)品的滲透探傷實施有效控制本規(guī)適用于原材料鋼材及管材的探傷，并且也適用于加工產(chǎn)品鍛件、鑄件及焊接件8725毫米。滲透施加方法應(yīng)根據(jù)零件大小、形狀、數(shù)量和位，來選擇噴涂、刷涂、澆涂及在滲透過中時間的長短與溫度范圍對探測裂紋的靈敏度有很大影響，所以在ZB.J04005-87中規(guī)定：滲透溫度為15~50℃范圍內(nèi)時，滲透時間一般分為5~10分鐘；當(dāng)滲3~15℃時應(yīng)根據(jù)溫度適當(dāng)增加滲透時間。溶劑去除型滲透劑用劑去除，除了特別難于去除的場合外，一般都用蘸有劑的布和紙擦拭；不得往復(fù)擦拭，不得將被檢件浸于劑中或過量地使用劑；在用水噴法時，水管壓力以0.21MPa為宜，水壓不