JJF 1160-2006中小規(guī)模數(shù)字集成電路測(cè)試設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范

中華人民共和國(guó)國(guó)家計(jì)量技術(shù)規(guī)范

JJF1160—2006

中小規(guī)模數(shù)字集成電路

測(cè)試設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范

CalibrationSpecificationofSmall&Medium

ScaleDigitalIntegratedCircuitTestingSystem

2006-12-08發(fā)布2007-03-08實(shí)施

國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

JJF1160—2006

中小規(guī)模數(shù)字集成電路

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測(cè)試設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范??

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本規(guī)范經(jīng)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局年月日批準(zhǔn)并自

2006128,

年月日起實(shí)施

200738。

歸口單位:全國(guó)無(wú)線電計(jì)量技術(shù)委員會(huì)

起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所

本規(guī)范由全國(guó)無(wú)線電計(jì)量技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)解釋

JJF1160—2006

本規(guī)范主要起草人:

陳大為信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所

()

吳京燕信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所

()

參加起草人:

周旭信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所

()

王酣信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所

()

JJF1160—2006

目錄

范圍……………………

1(1)

引用文獻(xiàn)………………

2(1)

概述……………………

3(1)

計(jì)量特性………………

4(1)

器件電源……………

4.1(1)

精密測(cè)量單元………………………

4.2(1)

驅(qū)動(dòng)單元……………

4.3(2)

比較單元……………

4.4(2)

校準(zhǔn)條件………………

5(2)

環(huán)境條件……………

5.1(2)

測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)及其他設(shè)備………………

5.2(2)

校準(zhǔn)項(xiàng)目及校準(zhǔn)方法…………………

6(2)

設(shè)備工作正常性和器件邏輯測(cè)試功能性檢查……

6.1(2)

器件電源設(shè)置電壓參數(shù)校準(zhǔn)……………

6.2(DPS)(2)

器件電源電流測(cè)量參數(shù)校準(zhǔn)……………

6.3(DPS)(3)

精密測(cè)量單元加電壓測(cè)電流參數(shù)校準(zhǔn)………………

6.4(PMU)(4)

精密測(cè)量單元加電流測(cè)電壓參數(shù)校準(zhǔn)………………

6.5(PMU)(5)

驅(qū)動(dòng)單元電壓設(shè)置參數(shù)校準(zhǔn)………

6.6(6)

比較單元電壓測(cè)量參數(shù)校準(zhǔn)………

6.7(6)

校準(zhǔn)結(jié)果的表述………………………

7(7)

復(fù)校時(shí)間間隔…………

8(7)

附錄中小規(guī)模數(shù)字集成電路測(cè)試設(shè)備校準(zhǔn)證書內(nèi)頁(yè)格式………

A(8)

JJF1160—2006

中小規(guī)模數(shù)字集成電路測(cè)試設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范

1范圍

本規(guī)范適用于測(cè)試時(shí)鐘頻率小于沒(méi)有時(shí)間測(cè)量單元的中小規(guī)模數(shù)字集成

10MHz、

電路測(cè)試設(shè)備校準(zhǔn)

。

2引用文獻(xiàn)

測(cè)量不確定度評(píng)定與表示

JJF1059—1999《》

注:使用本規(guī)范時(shí),應(yīng)注意使用上述引用文獻(xiàn)的現(xiàn)行有效版本。

3概述

中小規(guī)模數(shù)字集成電路測(cè)試設(shè)備測(cè)試對(duì)象是中小規(guī)模數(shù)字集成電路器件具有簡(jiǎn)單

。

邏輯功能檢查和一般直流參數(shù)測(cè)試能力設(shè)備結(jié)構(gòu)相對(duì)大規(guī)模數(shù)字集成電路測(cè)試設(shè)備而

。

言比較簡(jiǎn)單不具備時(shí)間參數(shù)測(cè)量能力

,。

其主要結(jié)構(gòu)由器件電源精密測(cè)量單元驅(qū)動(dòng)比較單元及控制單元組成其結(jié)構(gòu)

、、/。

示意圖如圖

1。

圖中小規(guī)模數(shù)字集成電路測(cè)試設(shè)備結(jié)構(gòu)示意圖

1

本規(guī)范通過(guò)分項(xiàng)參數(shù)校準(zhǔn)和標(biāo)準(zhǔn)樣片比對(duì)檢查對(duì)中小規(guī)模數(shù)字集成電路測(cè)試設(shè)備進(jìn)

行校準(zhǔn)以保證其量值溯源

,。

4計(jì)量特性