標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 40007-2021 納米技術(shù)　納米材料電阻率的接觸式測量方法　通則》是一項國家標(biāo)準(zhǔn)，旨在為納米材料電阻率的接觸式測量提供指導(dǎo)。該標(biāo)準(zhǔn)適用于各種形態(tài)（如粉末、薄膜等）的納米材料，并規(guī)定了進(jìn)行此類測量時應(yīng)遵循的基本原則和技術(shù)要求。

標(biāo)準(zhǔn)首先明確了術(shù)語和定義部分，對關(guān)鍵概念進(jìn)行了界定，包括但不限于“納米材料”、“電阻率”、“接觸式測量”等，以確保在后續(xù)討論中各方能夠基于共同理解的基礎(chǔ)之上展開工作。

接著，在設(shè)備與儀器章節(jié)里，列出了執(zhí)行測量所需的主要設(shè)備及其性能要求。這些設(shè)備通常包括但不限于精密電阻測量儀、四探針測試系統(tǒng)等，強調(diào)了對于設(shè)備精度及穩(wěn)定性的高要求，以保證實驗數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和可靠性。

關(guān)于樣品制備方面，標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)描述了不同類型納米材料樣本準(zhǔn)備的具體步驟以及注意事項。例如，對于粉末狀納米材料，可能需要將其壓制成具有一定形狀和尺寸的試樣；而對于薄膜類材料，則需關(guān)注其沉積條件以獲得均勻且無缺陷的表面。

此外，《GB/T 40007-2021》還特別指出，在進(jìn)行接觸式電阻率測量前，必須對樣品進(jìn)行適當(dāng)?shù)念A(yù)處理，比如清洗去除表面污染物或通過熱處理消除內(nèi)部應(yīng)力等，從而避免外界因素干擾最終結(jié)果。

在測量過程部分，文件提供了詳細(xì)的程序指南，涵蓋了從選擇合適的電極配置到記錄實驗數(shù)據(jù)等一系列操作流程。值得注意的是，針對不同類型的納米材料，推薦使用相適應(yīng)的電極布置方式來提高測量準(zhǔn)確性。同時，也強調(diào)了重復(fù)性測試的重要性，建議多次獨立測量并計算平均值作為最終報告的結(jié)果。


如需獲取更多詳盡信息，請直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。

....

查看全部

  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2021-05-21 頒布
  • 2021-12-01 實施
?正版授權(quán)
GB/T 40007-2021納米技術(shù)納米材料電阻率的接觸式測量方法通則_第1頁
GB/T 40007-2021納米技術(shù)納米材料電阻率的接觸式測量方法通則_第2頁
GB/T 40007-2021納米技術(shù)納米材料電阻率的接觸式測量方法通則_第3頁
GB/T 40007-2021納米技術(shù)納米材料電阻率的接觸式測量方法通則_第4頁
免費預(yù)覽已結(jié)束，剩余20頁可下載查看

下載本文檔

GB/T 40007-2021納米技術(shù)納米材料電阻率的接觸式測量方法通則-免費下載試讀頁

文檔簡介

ICS1722020

H21..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T40007—2021

納米技術(shù)納米材料電阻率的

接觸式測量方法通則

Nanotechnology—Contactingmethodsformeasuringthe

resistivityofnanomaterials—Generalrules

2021-05-21發(fā)布2021-12-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T40007—2021

目次

前言

…………………………Ⅰ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

原理

4………………………2

靜態(tài)四探針法法

4.1(A)………………2

動態(tài)四探針法法

4.2(B)………………2

動態(tài)四線兩電極法法

4.3(C)…………3

儀器設(shè)備

5…………………4

通用設(shè)備

5.1……………4

專用設(shè)備

5.2……………4

測量條件

6…………………6

試樣制備

7…………………6

薄膜

7.1…………………6

漿料

7.2…………………6

粉體

7.3…………………6

膜片尺寸測定

7.4………………………6

試樣測量

8…………………6

方法選擇

8.1……………6

法

8.2A…………………7

法

8.3B…………………7

法

8.4C…………………8

影響因素

9…………………9

含水量對電導(dǎo)率測定方法的影響

9.1…………………9

施加壓強對電導(dǎo)率測定方法的影響

9.2………………9

濕度對電導(dǎo)率測定方法的影響

9.3……………………9

測量報告

10…………………9

附錄資料性附錄法測量示例

A()A……………………10

附錄資料性附錄法測量示例

B()B……………………13

附錄資料性附錄法測量示例

C()C……………………16

參考文獻(xiàn)

……………………19

GB/T40007—2021

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國科學(xué)院提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化委員會納米材料分技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC279/SC1)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位中國科學(xué)院山西煤炭化學(xué)研究所冶金工業(yè)信息標(biāo)準(zhǔn)研究院江蘇省特種設(shè)備安

:、、

全監(jiān)督檢驗研究院國家石墨烯產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心江蘇中國科學(xué)院物理研究所國家納米科學(xué)

[()]、、

中心中國計量科學(xué)研究院蘇州晶格電子有限公司廈門大學(xué)寧波大學(xué)山西美錦能源股份有限公司

、、、、、、

寧德時代新能源科技股份有限公司嘉庚創(chuàng)新實驗室

、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人陳成猛李曉明黃顯虹欒燕葛廣路孔慶強任玲玲劉崢丁海龍阮殿波

:、、、、、、、、、、

孫國華蘇方遠(yuǎn)朱慶華周涵韜魏奕民王勤生曹凌云杜兆麗李倩

、、、、、、、、。

Ⅰ

GB/T40007—2021

納米技術(shù)納米材料電阻率的

接觸式測量方法通則

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了納米材料電阻率的接觸式測量方法包括測量原理儀器設(shè)備測量條件測量步驟

,、、、、

影響因素等

。

本標(biāo)準(zhǔn)中靜態(tài)四探針法法適用于納米薄膜納米漿料和納米粉體的電阻率測量動態(tài)四探針

(A)、;

法法動態(tài)四線兩電極法法適用于納米粉體電阻率的測量

(B)、(C)。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

納米科技納米物體的術(shù)語和定義納米顆粒納米纖維和納米片

GB/T32269、

3術(shù)語和定義

界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件

GB/T32269。

31

.

納米材料nanomaterial

任一外部維度內(nèi)部或表面結(jié)構(gòu)處于納米尺度的材料

、。

定義

[GB/T30544.1—2014,2.4]

32

.

電阻率resistivity

ρ

材料內(nèi)部的電流電場強度和穩(wěn)態(tài)電流密度之比即單位體積內(nèi)的體積電阻

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)文本僅供個人學(xué)習(xí)、研究之用，未經(jīng)授權(quán)，嚴(yán)禁復(fù)制、發(fā)行、匯編、翻譯或網(wǎng)絡(luò)傳播等，侵權(quán)必究。
  • 2. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)均為PDF格式電子版文本（可閱讀打印），因數(shù)字商品的特殊性，一經(jīng)售出，不提供退換貨服務(wù)。
  • 3. 標(biāo)準(zhǔn)文檔要求電子版與印刷版保持一致，所以下載的文檔中可能包含空白頁，非文檔質(zhì)量問題。

最新文檔

評論

0/150

提交評論