GB/T 38240-2019無(wú)損檢測(cè)儀器射線數(shù)字探測(cè)器陣列制造特征

ICS19100

N78.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T38240—2019

無(wú)損檢測(cè)儀器射線數(shù)字探測(cè)器

陣列制造特征

Non-destructivetestinginstruments—Standardpracticeformanufacturing

characterizationofdigitaldetectorarrays

2019-10-18發(fā)布2020-05-01實(shí)施

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T38240—2019

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義

3………………1

意義和用途

4………………3

儀器與器件

5………………4

校正對(duì)比和標(biāo)準(zhǔn)操作

6……………………6

方法

7………………………7

結(jié)果計(jì)算或分析

8…………………………10

制造商測(cè)試結(jié)果的顯示

9…………………19

數(shù)字探測(cè)器陣列的分類(lèi)

10………………21

精度與偏差

11……………21

關(guān)鍵詞

12…………………21

附錄規(guī)范性附錄輸入與輸出數(shù)據(jù)模板

A()……………22

參考文獻(xiàn)

……………………25

Ⅰ

GB/T38240—2019

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)試驗(yàn)機(jī)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC122)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位中國(guó)工程物理研究院應(yīng)用電子學(xué)研究所上海奕瑞光電子科技有限公司山東省

:、、

特種設(shè)備研究院濟(jì)寧分院

。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人陳浩王遠(yuǎn)陳云斌胡棟材邱承彬方志強(qiáng)邱敏金利波黃凌端申德峰

:、、、、、、、、、。

Ⅲ

GB/T38240—2019

無(wú)損檢測(cè)儀器射線數(shù)字探測(cè)器

陣列制造特征

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了射線數(shù)字探測(cè)器的儀器與器件校正對(duì)比和標(biāo)準(zhǔn)操作檢測(cè)方法結(jié)果計(jì)算及分析等

、、、

內(nèi)容

。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于數(shù)字面陣列探測(cè)器

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

射線照相檢驗(yàn)規(guī)程

ASTME1742(Standardpracticeforradiographicexamination)

用于工業(yè)輻射照相底片系統(tǒng)分類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

ASTME1815(Standardtestmethodforclassifi-

cationoffilmsystemsforindustrialradiography)

放射學(xué)中測(cè)定總圖像不清晰度的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程

ASTME2002(Standardpracticefordetermining

totalimageunsharpnessandbasicspatialresolutioninradiographyandradioscopy)

計(jì)算輻射照相系統(tǒng)的長(zhǎng)期穩(wěn)定性

ASTME2446(Standardpracticeformanufacturingcharacter-

izationofcomputedradiographysystems)

3術(shù)語(yǔ)和定義

下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件

。

31

.

數(shù)字探測(cè)器陣列系統(tǒng)digitaldetecterarrayDDAsystem

()

將電離輻射或穿透輻射轉(zhuǎn)化為模擬信號(hào)的離散陣列的電子裝置然后將這些數(shù)字化的模擬信號(hào)傳

。

輸?shù)接?jì)算機(jī)并按照與計(jì)算機(jī)驅(qū)動(dòng)方法的輸入?yún)^(qū)域相對(duì)應(yīng)的輻射能譜數(shù)字圖像形式顯示

,。

注電離輻射或穿透輻射轉(zhuǎn)化為電子信號(hào)的首要步驟是通過(guò)使用閃爍材料電離輻射或穿透輻射轉(zhuǎn)化為可見(jiàn)光這

:。

些裝置的速度范圍從若干秒生成一幅圖像直到一秒生成若干幅圖像最快達(dá)到或超過(guò)實(shí)時(shí)射線透視的速度

,,,

通常為幀

(30/s)。

32

.

信噪比signal-to-noiseratioSNR

;

信號(hào)強(qiáng)度的平均值與噪聲強(qiáng)度的標(biāo)準(zhǔn)偏差之比取決于輻射劑量和數(shù)字探測(cè)器陣列系統(tǒng)的性能