標(biāo)準(zhǔn)解讀
GB/T 2424.26-2008是關(guān)于電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)之一,具體屬于該系列標(biāo)準(zhǔn)的第3部分,主要針對振動(dòng)試驗(yàn)的選擇提供支持文件和指導(dǎo)。本標(biāo)準(zhǔn)旨在為制造商、測試實(shí)驗(yàn)室以及相關(guān)技術(shù)人員在進(jìn)行電工電子產(chǎn)品的振動(dòng)試驗(yàn)時(shí)提供參考依據(jù),確保所選試驗(yàn)方法能夠有效評估產(chǎn)品在預(yù)期使用環(huán)境中的耐振性能。
根據(jù)GB/T 2424.26-2008的內(nèi)容,選擇適當(dāng)?shù)恼駝?dòng)試驗(yàn)需要考慮多個(gè)因素,包括但不限于產(chǎn)品的實(shí)際應(yīng)用場景、預(yù)期遇到的振動(dòng)類型及其特性(如頻率范圍、加速度水平)、以及產(chǎn)品結(jié)構(gòu)特點(diǎn)等。標(biāo)準(zhǔn)中詳細(xì)列舉了不同類型振動(dòng)(如正弦振動(dòng)、隨機(jī)振動(dòng))的應(yīng)用場景,并給出了如何基于這些信息來決定最適合的試驗(yàn)參數(shù)的方法論。此外,還提供了關(guān)于如何設(shè)置振動(dòng)臺(tái)、確定振動(dòng)方向及持續(xù)時(shí)間等方面的指南。
對于特定類型的電工電子產(chǎn)品,標(biāo)準(zhǔn)建議首先明確其工作條件下的可能遭遇的最大振動(dòng)級別,然后據(jù)此選取合適的試驗(yàn)等級或自定義合理的試驗(yàn)條件。同時(shí),考慮到某些情況下可能存在多種振動(dòng)源共同作用的情況,標(biāo)準(zhǔn)也提到了復(fù)合振動(dòng)模式下如何綜合考量各種因素來進(jìn)行合理規(guī)劃。
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- 正在執(zhí)行有效
- 2008-12-30 頒布
- 2009-10-01 實(shí)施
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GB/T 2424.26-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第3部分:支持文件和導(dǎo)則振動(dòng)試驗(yàn)選擇-免費(fèi)下載試讀頁文檔簡介
犐犆犛19.040
犓04
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
犌犅/犜2424.26—2008/犐犈犆6006838:2003
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)
第3部分:支持文件和導(dǎo)則
振動(dòng)試驗(yàn)選擇
犈狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犳狅狉犲犾犲犮狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狆狉狅犱狌犮狋狊—
犘犪狉狋3:犛狌狆狆狅狉狋犻狀犵犱狅犮狌犿犲狀狋犪狋犻狅狀犪狀犱犵狌犻犱犪狀犮犲—
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(IEC6006838:2003,Ed1.0,IDT)
20081230發(fā)布20091001實(shí)施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
發(fā)布
中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
書
犌犅/犜2424.26—2008/犐犈犆6006838:2003
目次
前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅲ
引言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅳ
1范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
2規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
3術(shù)語和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
4振動(dòng)試驗(yàn)方法描述!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2
5樣品的振動(dòng)環(huán)境!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!4
6樣品實(shí)際生命周期動(dòng)態(tài)環(huán)境的估計(jì)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!4
7試驗(yàn)方法的選擇!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!7
8樣品的振動(dòng)響應(yīng)檢查!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!9
參考文獻(xiàn)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!12
Ⅰ
書
犌犅/犜2424.26—2008/犐犈犆6006838:2003
前言
GB/T2424包含以下部分:
———GB/T2424.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
———GB/T2424.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則
———GB/T2424.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)
———GB/T2424.6電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度/濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)
———GB/T2424.7電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A和B(帶負(fù)載)用溫度試驗(yàn)箱的測量
———GB/T2424.10電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程大氣腐蝕加速試驗(yàn)的通用導(dǎo)則
———GB/T2424.13電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
———GB/T2424.14電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法太陽輻射試驗(yàn)導(dǎo)則
———GB/T2424.15電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第3部分:溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
———GB/T2424.17電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)錫焊試驗(yàn)導(dǎo)則
———GB/T2424.19電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)?zāi)M貯存影響的環(huán)境試驗(yàn)導(dǎo)則
———GB/T2424.22電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度(低溫、高溫)和振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)
導(dǎo)則
———GB/T2424.25電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第3部分:試驗(yàn)導(dǎo)則地震試驗(yàn)方法
———GB/T2424.26電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第3部分:支持文件和導(dǎo)則振動(dòng)試驗(yàn)選擇
本部分為GB/T2424的第26部分。
本部分等同采用IEC6006838:2003(Ed1.0)《環(huán)境試驗(yàn)第38部分:支持文件和導(dǎo)則振動(dòng)試
驗(yàn)選擇》。
為便于使用,本部分做了下列編輯性修改:
———“IEC600683的本部分”一詞改為“GB/T2424的本部分”或“本部分”;
———用小數(shù)點(diǎn)“.”代替作為小數(shù)點(diǎn)的逗號(hào)“,”;
———?jiǎng)h除國際標(biāo)準(zhǔn)的前言;
———為了與現(xiàn)有GB/T2424其他各部分的名稱一致而將本部分改為當(dāng)前名稱;
本部分引用的規(guī)范性文件中有一部分目前尚未轉(zhuǎn)化為等同采用的國家標(biāo)準(zhǔn),在引用這些規(guī)范性文
件時(shí)仍以IEC/ISO的編號(hào)列出。
本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC8)提出并歸口。
本部分起草單位:上海市質(zhì)量檢驗(yàn)技術(shù)研究院、信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所、北京航空航天大學(xué)、廣
州大學(xué)、北京中元集團(tuán)、上海自動(dòng)化所。
本部分主要起草人:盧兆明、紀(jì)春陽、吳颯、徐忠根、王沈敏、李傳日、張?jiān)健⑹窌增?、周驊、常少莉?/p>
本部分為首次發(fā)布。
Ⅲ
犌犅/犜2424.26—2008/犐犈犆6006838:2003
引言
元件、設(shè)備和其他電工產(chǎn)品,下文中稱樣品,在生產(chǎn)、運(yùn)輸或使用中將經(jīng)受各種不同類型的振動(dòng)。在
GB/T4798中,不同的振動(dòng)環(huán)境按其振動(dòng)特性可劃分為穩(wěn)態(tài)和瞬態(tài)的。在GB/T2423系列標(biāo)準(zhǔn)中,描
述了關(guān)于穩(wěn)態(tài)振動(dòng)和瞬態(tài)振動(dòng)的試驗(yàn)方法,而且提供了三個(gè)關(guān)于振動(dòng)試驗(yàn)方法的標(biāo)準(zhǔn),分別是:
———正弦振動(dòng)(GB/T2423.10)試驗(yàn)Fc:振動(dòng)(正弦);
———寬帶(數(shù)控)隨機(jī)(GB/T2423.56)試驗(yàn)Fh:寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)控)和導(dǎo)則;
———混合模式試驗(yàn)(GB/T2423.58)試驗(yàn)Fi:振動(dòng)—混合模式。
Ⅳ
犌犅/犜2424.26—2008/犐犈犆6006838:2003
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)
第3部分:支持文件和導(dǎo)則
振動(dòng)試驗(yàn)選擇
1范圍
GB/T2424的本部分提供了在GB/T2423中試驗(yàn)Fc正弦、試驗(yàn)Fh隨機(jī)和試驗(yàn)Fi混合模式振動(dòng)
模式等三種穩(wěn)態(tài)的振動(dòng)試驗(yàn)方法中進(jìn)行選擇的導(dǎo)則。第4章簡要描述了這幾種不同的穩(wěn)態(tài)振動(dòng)試驗(yàn)方
法和它們的目的。本部分不包括瞬態(tài)振動(dòng)試驗(yàn)方法。
在進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn)時(shí),應(yīng)該了解其環(huán)境條件,尤其是樣品的動(dòng)力學(xué)環(huán)境。本部分有助于環(huán)境條件信息
的收集(見第8章)和動(dòng)力學(xué)環(huán)境的估計(jì)或測量(見第6章),并舉例演示如何確定最合適的振動(dòng)試驗(yàn)方
法。從振動(dòng)條件出發(fā),給出了選擇合適試驗(yàn)的方法。由于實(shí)際的振動(dòng)環(huán)境中,隨機(jī)特性通常占主導(dǎo)作
用,所以隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)應(yīng)該是最常用的方法。見第7章表1。
下述試驗(yàn)方法可以用于試驗(yàn)之前、期間和之后對樣品進(jìn)行振動(dòng)響應(yīng)檢查。如何選擇合適的激勵(lì)方
法見第8章和表2。
在本部分中,有關(guān)規(guī)范的編寫者可以找到關(guān)于振動(dòng)試驗(yàn)方法的有關(guān)信息和如何選擇振動(dòng)試驗(yàn)方法
的導(dǎo)則。對于某一試驗(yàn)方法的試驗(yàn)參數(shù)或嚴(yán)酷度等級,應(yīng)參照有關(guān)規(guī)范。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過GB/T2424的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文
件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成
協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本
部分。
GB/T2421—1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)總則(idtIEC600681:1988)
GB/T2422—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn):術(shù)語和定義(eqvIEC6006852:1990)
GB/T2423.10—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc:振動(dòng)
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