• 被代替
  • 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.3-2006
  • 2001-11-02 頒布
  • 2002-06-01 實(shí)施
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GB/T 2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱_第1頁(yè)
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ICS19.040K04中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.9—20010iiis6606682-56:1688電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱EnvironmentaltestingforelectricandelectronieproduetsPart2:TestmethodsITestCb:Dampheatystate.primarilysteadyForequipment2001-11-02發(fā)布2002-06-01實(shí)施中華:人民共和.發(fā)布國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

GB/T2423.9-2001目次前言IEC前言IEC序言范圍溉述0000000003試驗(yàn)箱(室)的要求4嚴(yán)醋等級(jí)5初始檢測(cè)6條件試驗(yàn)中間檢測(cè)8恢復(fù)……9最后檢測(cè)10相關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的內(nèi)容

GB/T2423.9-2001本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-2-56:1988(第1版)《環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱》。GB/T2423.9—1989《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱試驗(yàn)方法》是等效采用國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-56(草案)環(huán)境試驗(yàn):第2部分試驗(yàn)試驗(yàn)Cb:恒定濕熱(主要用于設(shè)備))起草的。本標(biāo)準(zhǔn)在技術(shù)內(nèi)容、編寫方法和順序與IEC60068-2-56:1988相同。。1988年后有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)修改信息在本標(biāo)準(zhǔn)中也作了相應(yīng)修改根據(jù)GB/T1.1—1993《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1單元:標(biāo)準(zhǔn)的起草與表述規(guī)則第1部分:標(biāo)準(zhǔn)編寫的基本規(guī)定》中關(guān)于等同采用、等效采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的有關(guān)規(guī)定.本標(biāo)準(zhǔn)在編寫格式上僅作個(gè)別編輯性修改。本標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施之日起,同時(shí)代替GB/T2423.9—1989本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)電器工業(yè)協(xié)會(huì)提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:廣州電器科學(xué)研究所本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:張永彬、章薔英。

GB/T2423.9-2001IEC前言1)IEC關(guān)于技術(shù)問題的正式?jīng)Q議和協(xié)議,是由對(duì)該問題有特別興趣的所有國(guó)家委員會(huì)派代表參加的技術(shù)委員會(huì)制定的,它盡可能地表達(dá)國(guó)際上對(duì)所討論問題的一致意見。2)這些決議或協(xié)議以推薦形式供國(guó)際上使用,并在此意義上為各國(guó)家委員會(huì)所接受3)為了促進(jìn)國(guó)際上的統(tǒng)一,IEC希望所有國(guó)家委員會(huì)在其國(guó)家情況允許的條件下應(yīng)采用國(guó)際電工委員會(huì)推薦標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容為國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。在國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與IEC標(biāo)準(zhǔn)之間存在任何不一致時(shí),要盡可能在國(guó)家標(biāo)淮中明確地指出。

GB/T2423.9-2001IEC序言本標(biāo)準(zhǔn)是由IECTC50(環(huán)境試驗(yàn)技術(shù)委員會(huì))50B(氣候分技術(shù)委員會(huì))制定的本標(biāo)準(zhǔn)的正文是以下列文件為基礎(chǔ):六月法投票報(bào)告50B(中央辦公室)26450B(中央辦公室)267投票同意本標(biāo)準(zhǔn)的全部投票資料可在上表投票報(bào)告中找到。本標(biāo)準(zhǔn)引用下列IEC標(biāo)準(zhǔn):出版號(hào):60068-1:1988:環(huán)境試驗(yàn),第1部分:總則60068-2-2:1974:第2部分:試驗(yàn)武驗(yàn)B:干熱60068-2-3:1969:第2部分:試驗(yàn)試驗(yàn)Ca:恒定濕熱采用說(shuō)明:1GB/T2421-1999等同采用IEC60068-1:1988:B/T2423.2-2001等同采用IEC60068-2-2:1974:GB/T2423.3-1993等效采用IEC60068-2-3:1969。

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法GB/T2423.9-2001idtIEC60068-2-56:1988試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱代替GB/T2423.9-1989EnvironmentaltestingforelectricandelectronicproductsPart:Testmethods-TestCb:Dampheat.steadystate.primarilyforequipment1范圍本標(biāo)準(zhǔn)用于確定電工電子產(chǎn)品·主要是指設(shè)備在高濕條件下使用和儲(chǔ)存的適應(yīng)性。本試驗(yàn)主要用以觀察試驗(yàn)樣品在恒定溫度、無(wú)凝露、經(jīng)規(guī)定時(shí)間及高濕環(huán)境下的影響本試驗(yàn)有數(shù)種不同溫度、濕度和試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間的嚴(yán)酷等級(jí)供選擇使用本試驗(yàn)可用于散熱型及非散熱型試驗(yàn)樣品本試驗(yàn)特別適用于大型設(shè)備或試驗(yàn)時(shí)可能與試驗(yàn)室外的測(cè)試裝置有復(fù)雜連接的設(shè)備。這種連接需要一定的裝配時(shí)間。在安裝期間,可以不用預(yù)熱或維持特定的試驗(yàn)條件2概述在試驗(yàn)時(shí),試驗(yàn)樣品及試驗(yàn)箱(室)均為室溫,將試驗(yàn)樣品放人試驗(yàn)箱(室)中。試驗(yàn)箱(室)內(nèi)的試驗(yàn)條件按照第6章中要求的嚴(yán)酷等級(jí)進(jìn)行調(diào)節(jié)·并保持規(guī)定時(shí)間由于靠近散熱試驗(yàn)樣品附近的溫度及濕度與規(guī)定的試驗(yàn)值有很大的不同,因此對(duì)于這些參數(shù)的測(cè)量要按自由空氣條件中所用的方法進(jìn)行(見GB/T2421—1999中4.4和4.6.2).GB/T2423.3—1993試驗(yàn)Ca:恒定濕熱中的非凝露條件是通過(guò)在試驗(yàn)樣品進(jìn)入試驗(yàn)箱(室)前對(duì)其進(jìn)行預(yù)熱而獲得的.在本試驗(yàn)中,試驗(yàn)樣品是在室溫條件下進(jìn)入試驗(yàn)箱(室)內(nèi)·然后加熱至規(guī)定的溫度試驗(yàn)過(guò)程是在不形成凝露的條件下進(jìn)行的。3試驗(yàn)箱(室)的要求3.1試驗(yàn)箱(室)應(yīng)滿足以下要求“)試驗(yàn)箱(室)內(nèi)的溫度、濕度由安裝在工作空間的傳感器來(lái)監(jiān)測(cè)。對(duì)散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn),傳感器的安裝位置按GB/T2421—1999中4.6.2進(jìn)行:b)工作空間的溫度和相對(duì)濕度要求恒定在標(biāo)稱值及其規(guī)定的容差范圍內(nèi),同時(shí)還要考慮試驗(yàn)時(shí)試驗(yàn)樣品的影響;?。旱?章中規(guī)定的溫度誤差其包括測(cè)量誤差和溫度的緩慢變化;對(duì)于非散熱試驗(yàn)樣品,要考慮工作空間溫度均勻性。為了保證相對(duì)濕度不超過(guò)容差值·需要將工作空間內(nèi)任何兩點(diǎn)的溫差.在任何瞬間保持在較窄的范圍之內(nèi)。如果溫差超過(guò)1C,則得不到需要的條件。同樣

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