標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 22462-2008 鋼表面納米、亞微米尺度薄膜 元素深度分布的定量測定 輝光放電原子發(fā)射光譜法》是一項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn),主要針對鋼鐵材料表面覆蓋的納米或亞微米級別厚度薄膜內(nèi)元素沿深度方向分布情況的定量分析方法進(jìn)行了規(guī)定。該標(biāo)準(zhǔn)采用輝光放電原子發(fā)射光譜技術(shù)作為檢測手段。

根據(jù)這項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn),首先需要準(zhǔn)備待測樣品,并確保其表面清潔無污染。然后通過控制適當(dāng)?shù)膶?shí)驗(yàn)條件(如氣體壓力、電流強(qiáng)度等),使樣品表面產(chǎn)生輝光放電現(xiàn)象。在此過程中,不同元素會(huì)因激發(fā)而發(fā)出特定波長的光譜線。利用高靈敏度的探測器收集這些光信號,并將其轉(zhuǎn)換成電信號進(jìn)行處理。通過對獲得的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,可以得到薄膜中各元素隨深度變化的具體信息。

此方法適用于研究和評估各種功能涂層、防腐蝕層以及其它類型的表面改性處理效果,在新材料開發(fā)及工業(yè)生產(chǎn)質(zhì)量控制方面具有重要意義。此外,該標(biāo)準(zhǔn)還詳細(xì)列出了實(shí)驗(yàn)所需設(shè)備的基本要求、操作步驟、數(shù)據(jù)處理方法等內(nèi)容,為相關(guān)領(lǐng)域內(nèi)的科研人員和技術(shù)工作者提供了明確指導(dǎo)。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2008-10-30 頒布
  • 2009-06-01 實(shí)施
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GB/T 22462-2008鋼表面納米、亞微米尺度薄膜元素深度分布的定量測定輝光放電原子發(fā)射光譜法-免費(fèi)下載試讀頁

文檔簡介

犐犆犛17.180

犌04

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅/犜22462—2008

鋼表面納米、亞微米尺度薄膜

元素深度分布的定量測定

輝光放電原子發(fā)射光譜法

犖犪狀狅,犛狌犫犿犻犮狉狅狀狊犮犪犾犲犳犻犾犿狅狀狊狋犲犲犾—犙狌犪狀狋犻狋犪狋犻狏犲犱犲狆狋犺狆狉狅犳犻犾犲

犪狀犪犾狔狊犻狊—犌犾狅狑犱犻狊犮犺犪狉犵犲犪狋狅犿犻犮犲犿犻狊狊犻狅狀狊狆犲犮狋狉狅犿犲狋狉狔

20081030發(fā)布20090601實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

犌犅/犜22462—2008

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅲ

1范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

2規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

3術(shù)語和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

4原理!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

5儀器!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

5.1概述!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

5.2儀器性能要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

6樣品制備!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!3

7分析步驟!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!3

7.1譜線的選擇!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!3

7.2優(yōu)化輝光放電原子發(fā)射光譜儀的放電參數(shù)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!3

7.3工作曲線!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!5

7.4工作曲線的確認(rèn)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!7

7.5漂移校正!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!8

7.6樣品分析!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!8

8分析結(jié)果的表示!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!8

8.1定量深度剖析的表示!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!8

8.2膜厚和鍍層質(zhì)量(單位面積)的測定!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!9

9精密度!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!9

10試驗(yàn)報(bào)告!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!9

附錄A(資料性附錄)推薦的元素特征譜線波長!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!10

附錄B(資料性附錄)常見的氧化物密度!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!11

附錄C(規(guī)范性附錄)共同實(shí)驗(yàn)附加資料!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!12

犌犅/犜22462—2008

前言

本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A、附錄B均為資料性附錄,附錄C為規(guī)范性附錄。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC38)歸口。

本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位:寶山鋼鐵股份有限公司、中國科學(xué)院物理研究所、中國科學(xué)院化學(xué)研究所、冶

金工業(yè)信息標(biāo)準(zhǔn)研究院。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:張毅、陳英穎、沈電洪、劉芬、何曉蕾、鄔君飛、欒燕。

犌犅/犜22462—2008

鋼表面納米、亞微米尺度薄膜

元素深度分布的定量測定

輝光放電原子發(fā)射光譜法

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)采用輝光放電原子發(fā)射光譜法用于定量測定鋼表面納米、亞微米尺度薄膜(金屬鍍膜和氧化

膜)中膜厚、鍍層質(zhì)量(單位面積)和薄膜中的元素深度分布。

本方法適用于測定3nm~1000nm厚度的鋼表面薄膜,適用的元素包括:鐵、鉻、鎳、銅、鈦、錳、鋁、

碳、磷、氧、氮和硅。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有

的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版本均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研

究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

GB/T6379.1測量方法與結(jié)果的準(zhǔn)確度(正確度與精密度)第1部分:總則與定義

GB/T6379.2測量方法與結(jié)果的準(zhǔn)確度(正確度與精密度)第2部分:確定標(biāo)準(zhǔn)測量方法重復(fù)

性和再現(xiàn)性的基本方法

GB/T19502表面化學(xué)分析輝光放電發(fā)射光譜方法通則

GB/T20066鋼和鐵化學(xué)成分測定用試樣的取樣和制樣方法

GB/T22461—2008表面化學(xué)分析詞匯(ISO18115:2001,IDT)

ISO57253測量方法與結(jié)果的準(zhǔn)確度(正確度與精確度)———第3部分:標(biāo)準(zhǔn)測量方法精密度的

中間度量(Accuracy(truenessan

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