版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進行舉報或認領(lǐng)
文檔簡介
芯片制備中的光刻技術(shù)廣東工業(yè)大學(xué)機電工程學(xué)院魏昕集成電路的集成度和產(chǎn)品性能每18個月增加一倍。據(jù)專家預(yù)測,今后20年左右,集成電路技術(shù)及其產(chǎn)品仍將遵循這一規(guī)律發(fā)展。以集成電路為核心的電子信息產(chǎn)業(yè)超過了以汽車、石油、鋼鐵為代表的傳統(tǒng)工業(yè)成為第一大產(chǎn)業(yè),成為改造和拉動傳統(tǒng)產(chǎn)業(yè)邁向數(shù)字時代的強大引擎和雄厚基石。經(jīng)濟發(fā)展的數(shù)據(jù)表明,每l2元的集成電路產(chǎn)值,帶動了10元左右電子工業(yè)產(chǎn)值的形成,進而帶動了100元GDP的增長。我國集成電路設(shè)計與制造水平20世紀80年代中期我國集成電路的加工水平為5m,其后,經(jīng)歷了3、1、0.8、0.5、0.35m的發(fā)展。目前達到了0.18m的水平。當前國際水平為0.09m(90nm)。我國與之相差約為2-3代。
集成電路設(shè)計與制造的主要流程框架設(shè)計芯片檢測單晶、外延材料掩膜版芯片制造過程封裝測試系統(tǒng)需求主要流程為薄膜制備、光刻和刻蝕—制造業(yè)—芯片制造過程
由氧化、淀積、離子注入或蒸發(fā)形成新的薄膜或膜層曝光刻蝕硅片測試和封裝用掩膜版重復(fù)20-30次集成電路芯片的顯微照片Vsspoly柵Vdd布線通道參考孔有源區(qū)N+P+集成電路的內(nèi)部單元(俯視圖)集成電路制造工藝圖形轉(zhuǎn)換:將設(shè)計在掩膜版(類似于照相底片)上的圖形轉(zhuǎn)移到半導(dǎo)體單晶片上摻雜:根據(jù)設(shè)計的需要,將各種雜質(zhì)摻雜在需要的位置上,形成晶體管、接觸等制膜:制作各種材料的薄膜圖形轉(zhuǎn)換:光刻電阻集成電路的制造工藝利用光學(xué)光刻傳遞圖形所需步驟圖形轉(zhuǎn)換:光刻
在主流微電子制造過程中,光刻是最復(fù)雜、昂貴和關(guān)鍵的工藝。圓片光學(xué)曝光簡單系統(tǒng):頂上的光源發(fā)出通過掩膜的光。圓片表面涂上一薄光刻膠(光敏材料)。光學(xué)光刻分兩部分:曝光工具在圓片表面產(chǎn)生掩膜圖形;化學(xué)過程——一旦輻照的圖形被光刻膠吸收和圖形被顯影時。曝光光源(工具):可見光、紫外光(UV)、深紫外光(DUV)或極紫外光(EUV)圖形轉(zhuǎn)換:光刻簡單的光學(xué)曝光系統(tǒng)光源光闌快門掩膜光刻膠圖片波長越短,可曝光特征尺寸越小圖形轉(zhuǎn)換:光刻光刻三要素:光刻膠、掩膜版和光刻機光刻膠又叫光致抗蝕劑,它是由光敏化合物、基體樹脂和有機溶劑等混合而成的膠狀液體。光刻膠受到特定波長光線的作用后,導(dǎo)致其化學(xué)結(jié)構(gòu)發(fā)生變化,使光刻膠在某種特定溶液中的溶解特性改變。正膠:分辨率高,在超大規(guī)模集成電路工藝中,一般只采用正膠。負膠:分辨率差,適于加工線寬≥3m的線條。分辨率——可以曝光出來的最小特征尺寸正膠:曝光后可溶負膠:曝光后不可溶圖形轉(zhuǎn)換:光刻幾種常見的光刻方法接觸式光刻:曝光時掩膜壓在涂覆光刻膠的圓片上。分辨率較高,但是容易造成掩膜版和光刻膠膜的損傷。接近式曝光:在硅片和掩膜版之間有一個很小的間隙(10~25m),可以大大減小掩膜版的損傷。分辨率較低。投影式曝光:利用透鏡或反射鏡將掩膜版上的圖形投影到襯底上的曝光方法,目前工業(yè)應(yīng)用最多。間隙投影式接近式接觸式三種光刻方式圖形轉(zhuǎn)換:光刻超細線條光刻技術(shù)甚遠紫外線(EUV:13-14nm)所有材料對EUV波段的光波有很強的吸收性。為了減少對EUV的吸收,在EUV光學(xué)體統(tǒng)的路上必須維持真空環(huán)境??蓪崿F(xiàn)22nm的工藝結(jié)點的光刻,經(jīng)改進,可實現(xiàn)10nm得圖形光刻。X射線(110KeV的光子。接近式。分辨率:30nm左右)電子束光刻(直接寫。波長遠小于光波波長,理論上可得到尺寸很小的特征圖形。但掩膜版必須足夠后避免電子穿透,工作效率低。)離子束光刻(直接寫或投影。穿透深度很小,掩膜版的透明部分必須是空白。分辨率高、焦深長、衍射效應(yīng)小、損傷小和產(chǎn)量高、成本等。)圖形轉(zhuǎn)換:刻蝕技術(shù)濕法刻蝕:利用液態(tài)化學(xué)試劑或溶液通過化學(xué)反應(yīng)進行刻蝕的方法。干法刻蝕:主要指利用低壓放電產(chǎn)生的等離子體中的離子或游離基(處于激發(fā)態(tài)的分子、原子及各種原子基團等)與材料發(fā)生化學(xué)反應(yīng)或通過轟擊等物理作用而達到刻蝕的目的。圖形轉(zhuǎn)換:刻蝕技術(shù)濕法腐蝕:濕法化學(xué)刻蝕在半導(dǎo)體工藝中有著廣泛應(yīng)用:磨片、拋光、清洗、腐蝕優(yōu)點是選擇性好、重復(fù)性好、生產(chǎn)效率高、設(shè)備簡單、成本低缺點是鉆蝕嚴重、對圖形的控制性較差干法刻蝕濺射與離子束銑蝕:通過高能惰性氣體離子的物理轟擊作用刻蝕,各向異性性好,但選擇性較差等離子刻蝕(PlasmaEtching):利用放電產(chǎn)生的游離基與材料發(fā)生化學(xué)反應(yīng),形成揮發(fā)物,實現(xiàn)刻蝕。選擇性好、對襯底損傷較小,但各向異性較差反應(yīng)離子刻蝕(ReactiveIonEtching
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 人人文庫網(wǎng)僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 蔬菜網(wǎng)路銷售合同模板
- 裝修施工安全合同模板
- 工業(yè)油漆采購合同模板
- 碼頭承租合同模板
- 集裝箱場站合同模板
- 橙子采購合同模板
- 項目入股投資合同模板
- 廢棄化工儲罐處置合同模板
- 沙瓦合同模板
- 訂購汽車地毯合同模板
- 初中《學(xué)憲法講憲法》第八個國家憲法日主題教育課件
- 2024醫(yī)療機構(gòu)重大事故隱患判定清單(試行)學(xué)習(xí)課件
- (正式版)JBT 7248-2024 閥門用低溫鋼鑄件技術(shù)規(guī)范
- 學(xué)校信息技術(shù)培訓(xùn)方案
- 血透室透析機檢測結(jié)果超標的應(yīng)急處理預(yù)案
- DB21∕T 3355-2020 水利水電工程土壤對鋼結(jié)構(gòu)腐蝕性檢測技術(shù)規(guī)范
- 廣東城際鐵路隧道高壓旋噴樁鉆芯法檢測報告(附圖)
- 大潤發(fā)門店詳表
- 供水管道穿越高速施工方案(完整版)
- 陜旅版 小學(xué)英語詞匯表 (完整-分單元)
- 盤式制動器設(shè)計說明書
評論
0/150
提交評論