GB/T 15757-2002產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面缺陷術(shù)語(yǔ)、定義及參數(shù)

TC8.17.040.20J04中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T_15757-2002eqvISO8785：1998產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面缺陷術(shù)語(yǔ)、定義及參數(shù)GeometricalProductSpecifications(GPS)SurfaceimperfectionsTerms.definitionsandparameters2002-07-15發(fā)布2003-01-01實(shí)施人民共中華和發(fā)布國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

GB/T15757-2002前本標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO8785:1998《產(chǎn)品兒何量技術(shù)規(guī)范（GPS）表面缺陷術(shù)語(yǔ)、定義及參數(shù)》1998年版)對(duì)GB/T15757—1995《表面缺陷術(shù)語(yǔ)、定義及參數(shù)》進(jìn)行修訂.在技術(shù)內(nèi)容上與ISO8785:1998等效，編寫規(guī)則上與之等同。本標(biāo)準(zhǔn)主要在以下內(nèi)容修訂：-增加了縮孔、凹面)飄曲、（凸面)飄曲定義的相應(yīng)圖示；對(duì)表面缺陷的特性和參數(shù)的代號(hào)做了改動(dòng)。本標(biāo)準(zhǔn)與ISO8785的區(qū)別：-略去了ISO8785中的導(dǎo)言，與國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的編寫規(guī)則相協(xié)調(diào)；-略去了ISO8785中的附錄B(參考目錄)。本標(biāo)準(zhǔn)自實(shí)施之日起，同時(shí)代替GB/T15757—1995本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A是提示的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)產(chǎn)品尺寸和幾何技術(shù)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：中國(guó)機(jī)械科學(xué)研究院、時(shí)代集團(tuán)公司、中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院、北京計(jì)量科學(xué)研究所、沈陽(yáng)601所本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：王欣玲、王忠濱、高思田、吳迅、王肇強(qiáng)、趙有祥

GB/T15757-2002ISO前言ISO(國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織)是一個(gè)世界范圍的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化組織(ISO成員)的聯(lián)合會(huì)，國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的制定工作通常由ISO各技術(shù)委員會(huì)進(jìn)行。每個(gè)成員組織,對(duì)某一主題的技術(shù)委員會(huì)感興趣,就有權(quán)參加該委員會(huì)工作,其他與ISO協(xié)作的政府間或非政府間的國(guó)際組織也可以參加工作。ISO與IEC(國(guó)際電工委員會(huì))在所有有關(guān)電工技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化的內(nèi)容上進(jìn)行密切合作。由技術(shù)委員會(huì)提出的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)草案，散發(fā)給各成員組織，由各成員組織投票表決，至少需要75%的贊成票才能作為國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)公布。國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO8785是由ISO/TC213《產(chǎn)品尺寸和幾何技術(shù)規(guī)范》技術(shù)委員會(huì)制定的本標(biāo)準(zhǔn)附錄A是提示的附錄

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS）術(shù)語(yǔ)、定義及參數(shù)GB/T15757-2002表面缺陷eqvISO8785：1998GeometricalProductSpecifications(GPS)代替GB/T15757-1995SurfaceimperfectionsTerms.definitionsandparameters1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了有關(guān)表面缺陷的術(shù)語(yǔ)，允許表面缺陷的程度及測(cè)量表面缺陷方法的技術(shù)規(guī)范等內(nèi)容本標(biāo)準(zhǔn)適用于技術(shù)文件、技術(shù)圖紙和科技出版物等本標(biāo)準(zhǔn)的定義不涉及表面粗糙度和表面波紋度本標(biāo)準(zhǔn)沒(méi)有指出是否要進(jìn)行表面缺陷的評(píng)定，這取決于具體的應(yīng)用或表面的功能對(duì)于特殊的應(yīng)用和制造工藝·在必要情況下可附加專用的術(shù)語(yǔ)和定義。這些術(shù)語(yǔ)和定義將在相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定。幾種特殊表面缺陷將在其他標(biāo)準(zhǔn)中定義一般術(shù)語(yǔ)與定義2.1基準(zhǔn)面referencesurface用以評(píng)定表面缺陷參數(shù)的一個(gè)幾何表面，1基準(zhǔn)面通過(guò)除缺陷之外的實(shí)際表面的最高點(diǎn)，且與由最小二乘法確定的表面等距。2基準(zhǔn)面是在一定的表面區(qū)域或表面區(qū)域的某有限部分上確定的·這個(gè)區(qū)域和單個(gè)缺陷的尺寸大小有關(guān)。該區(qū)域的大小須足夠用來(lái)評(píng)定缺陷·同時(shí)在評(píng)定時(shí)能控制表面形狀誤差的影響。3基準(zhǔn)面具有幾何表面形狀,它的方位和實(shí)際表面在空間與總的走向相一致2.2表面缺陷評(píng)定區(qū)域(A）surfaceimperfectionevaluationarea（A)工件實(shí)際表面的局部或全部，在該區(qū)域上，檢驗(yàn)和確定表面缺陷。23表面結(jié)構(gòu)Surfacetexture出自幾何表面的重復(fù)或偶然的偏差，這些偏差形成該表面的三維形貌，住：表面結(jié)構(gòu)包括在有限區(qū)域上的粗糙度、波紋度、紋理方向、表面缺陷和形狀誤差.24表面缺陷(SIM）Surfaceimperfection(SIM)在加工、儲(chǔ)存或使用期間，非故意或偶然生成的實(shí)際表面的單元體、成組的單元體、不規(guī)則體1建議不要將“表面瑕班”的術(shù)語(yǔ)用于本標(biāo)準(zhǔn)定義的表達(dá)中。這些單元體或不規(guī)則體的類型.明顯區(qū)別于構(gòu)成一個(gè)粗糙度表面的那些單元體或不規(guī)則體3在實(shí)際表面上存在缺陷并不表示該表面不可用。缺