標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 14031-1992 半導(dǎo)體集成電路模擬鎖相環(huán)測試方法的基本原理》作為一項技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，規(guī)定了模擬鎖相環(huán)集成電路的測試原則、測試環(huán)境、測試信號要求及測試項目等內(nèi)容，旨在為該類器件的性能評估提供統(tǒng)一的方法和依據(jù)。不過，您提供的對比項似乎不完整，沒有明確指出要與哪個具體的標(biāo)準(zhǔn)或版本進(jìn)行比較。因此，直接對比其變更點(diǎn)較為困難。

若假設(shè)對比目標(biāo)是該標(biāo)準(zhǔn)后續(xù)的修訂版或其他相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，一般而言，更新的標(biāo)準(zhǔn)可能會包含以下幾類變更內(nèi)容：

  1. 測試技術(shù)的更新：隨著技術(shù)進(jìn)步，新的測試方法和設(shè)備可能被引入，以提高測試精度、效率或覆蓋范圍，老標(biāo)準(zhǔn)中的測試技術(shù)描述會相應(yīng)調(diào)整。

  2. 參數(shù)定義的修訂：為了適應(yīng)技術(shù)發(fā)展或國際標(biāo)準(zhǔn)化的要求，一些關(guān)鍵參數(shù)的定義、測量單位或容差范圍可能會有所變化。

  3. 新增測試項目：針對新型鎖相環(huán)電路特性，可能會增加相應(yīng)的測試項目，以確保全面評估其性能。

  4. 環(huán)境條件和測試條件的調(diào)整：考慮到實際應(yīng)用環(huán)境的變化和對測試準(zhǔn)確性的新要求，測試環(huán)境的溫度、濕度等條件標(biāo)準(zhǔn)，以及測試信號的規(guī)格可能有所更新。

  5. 標(biāo)準(zhǔn)適用范圍的擴(kuò)展或限定：根據(jù)技術(shù)演進(jìn)，標(biāo)準(zhǔn)可能會擴(kuò)大適用的產(chǎn)品類型，或者對特定類型的鎖相環(huán)提出更專門的測試要求。

  6. 術(shù)語和定義的規(guī)范化：為了與國際標(biāo)準(zhǔn)或行業(yè)共識保持一致，標(biāo)準(zhǔn)中的專業(yè)術(shù)語和定義可能會得到修訂和完善。

  7. 參考標(biāo)準(zhǔn)的更新：引用的其他國家標(biāo)準(zhǔn)、國際標(biāo)準(zhǔn)或技術(shù)文獻(xiàn)可能會被更新到最新版本，以確保標(biāo)準(zhǔn)的時效性和準(zhǔn)確性。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 1992-12-18 頒布
  • 1993-08-01 實施
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GB/T 14031-1992半導(dǎo)體集成電路模擬鎖相環(huán)測試方法的基本原理_第1頁
GB/T 14031-1992半導(dǎo)體集成電路模擬鎖相環(huán)測試方法的基本原理_第2頁
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GB/T 14031-1992半導(dǎo)體集成電路模擬鎖相環(huán)測試方法的基本原理-免費(fèi)下載試讀頁

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DDg.621.382L55中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T14031－92半導(dǎo)體集成電路模擬鎖相環(huán)測試方法的基本原理Generalprinciplesofmeasuringmethodsofanaloguephase-loopforsemiconductorintegratedcircuits1992-12-18發(fā)布1993-08-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體集成電路模擬鎖相環(huán)測試方法的基本原理CB/r14031-92Ceneralprinciplesofmeasuringmethodsofanalogucphase-loopforsemiconductorintegraledcircuits本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路模擬鎖相環(huán)(以下簡稱器件或模擬鎖相環(huán))電參數(shù)測試方法的基本原模擬鎖相環(huán)與數(shù)字電路相同的靜態(tài)和動態(tài)參數(shù)測試可參照GB3439半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理》。模擬鎖相環(huán)與運(yùn)算放大器相同的靜態(tài)和動態(tài)參數(shù)測試可參照GB3442《半導(dǎo)體集成電路運(yùn)算(電壓）放大器測試方法的基本原理》總要求1.1若無特殊說明,測試期間，環(huán)境或參考點(diǎn)溫度偏離規(guī)定值的范圍應(yīng)符合詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定，1.2測試期間，應(yīng)避免外界干擾對測試精度的影響,測試設(shè)備引起的測試誤差應(yīng)符合器件詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定。1.3測試期間，施于被測器件的電參量的精度應(yīng)符合器件詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定。14被測器件與測試系統(tǒng)連接或斷開時，不應(yīng)超過器件的使用極限條件。1.5若有要求時，應(yīng)按器件詳細(xì)規(guī)范規(guī)定的順序接通電源。1.6，測試期間.被測器件應(yīng)按器件詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定連接外圍網(wǎng)絡(luò)。鎖相環(huán)處于閉環(huán)狀態(tài)。1.7測試期間，被測器件應(yīng)避免出現(xiàn)自激現(xiàn)象。1.8若電參數(shù)值是由幾步測試的結(jié)果經(jīng)計算確定的，這些測試的時間間隔應(yīng)盡可能短。2參數(shù)測試2.1跟蹤輔入電壓VkTrA2.1.1目的在規(guī)定中心頻率和規(guī)定頻偏下,測試鎖相環(huán)保持跟蹤的最小輸入電壓.2.1.2測試原理鎖相環(huán)接成閉環(huán)，跟蹤輸入

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