標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 12085.6-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第6部分:砂塵》相比于《GB/T 12085.6-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 砂塵》主要有以下幾點(diǎn)變化:
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標(biāo)準(zhǔn)更新:最顯著的變化是標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布年份從1989年更新至2010年,表明內(nèi)容經(jīng)過(guò)了重新修訂,以反映近年來(lái)在光學(xué)和光學(xué)儀器領(lǐng)域環(huán)境試驗(yàn)技術(shù)的新進(jìn)展和要求。
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試驗(yàn)條件細(xì)化:2010版標(biāo)準(zhǔn)對(duì)砂塵試驗(yàn)的條件進(jìn)行了更詳細(xì)的規(guī)范,包括砂塵的種類、粒度分布、濃度以及試驗(yàn)箱內(nèi)的氣流速度等,這些細(xì)節(jié)的明確有助于提高試驗(yàn)結(jié)果的一致性和可比性。
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試驗(yàn)程序優(yōu)化:新標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)試驗(yàn)程序進(jìn)行了調(diào)整,比如預(yù)處理步驟、試驗(yàn)周期、間歇時(shí)間以及后續(xù)的檢查評(píng)估方法,使得試驗(yàn)流程更加科學(xué)合理,能更好地模擬實(shí)際使用中的環(huán)境影響。
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測(cè)試設(shè)備與技術(shù)要求提升:隨著科技的進(jìn)步,2010版標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)用于砂塵試驗(yàn)的設(shè)備精度、控制系統(tǒng)的性能提出了更高要求,確保試驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。
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安全與環(huán)??剂?/strong>:新版標(biāo)準(zhǔn)可能加入了更多關(guān)于試驗(yàn)過(guò)程中人員安全操作指導(dǎo)和環(huán)境保護(hù)的要求,體現(xiàn)了標(biāo)準(zhǔn)制定時(shí)對(duì)可持續(xù)發(fā)展和社會(huì)責(zé)任的關(guān)注。
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術(shù)語(yǔ)與定義更新:為適應(yīng)行業(yè)發(fā)展的需要,標(biāo)準(zhǔn)中可能對(duì)一些關(guān)鍵術(shù)語(yǔ)和定義進(jìn)行了修訂或新增,以保持與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的接軌,增強(qiáng)標(biāo)準(zhǔn)的通用性和適用范圍。
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參考文獻(xiàn)與標(biāo)準(zhǔn)協(xié)調(diào)性:2010版標(biāo)準(zhǔn)可能更新了參考文獻(xiàn)列表,引用了最新的研究成果和技術(shù)標(biāo)準(zhǔn),同時(shí)增強(qiáng)了與其他相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)及國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的協(xié)調(diào)一致性。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 12085.6-2022
- 2011-01-14 頒布
- 2011-05-01 實(shí)施
文檔簡(jiǎn)介
ICS37.020N30中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T12085.6—2010代替GB/T12085.6-1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第6部分:砂塵Opticsandopticalinstruments--EnvironmentaltestmethodsPart6:Dust(ISO9022-6:1994.MOD)2011-01-14發(fā)布2011-05-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第6部分:砂塵GB/T12085.6-2010中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行北京復(fù)興門外三里河北街16號(hào)郵政編碼:100045網(wǎng)址:服務(wù)熱線:010-685220062011年6月第一版書號(hào):155066·1-42811版權(quán)專有浸權(quán)必究
GB/T12085.6—2010GB/T12085《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法》分為以下16個(gè)部分:-第1部分:術(shù)語(yǔ)、試驗(yàn)范圍;第第2部分:低溫、高溫、濕熱;第3部分:機(jī)械作用力;第4部分:鹽霧:第第5部分:低溫、低氣壓綜合試驗(yàn);第6部分:砂塵:第7部分:滴水、淋雨;-第8部分:高壓、低壓、浸沒:第第9部分:太陽(yáng)輻射;-第10部分:振動(dòng)(正弦)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)第11部分:長(zhǎng)霉;-第12部分:污染;-第13部分:沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗(yàn);第14部分:露、霜、冰;-第15部分:寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)與高溫、低溫綜合試驗(yàn);-第16部分:彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)。本部分為GB/T12085的第6部分。本部分修改采用ISO9022-6:1994《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第6部分:砂塵》本部分與ISO9022-6:1994的主要差異如下:刪刪除國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的序言和前言:根據(jù)ISO9022-6第1章及我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)用語(yǔ)習(xí)慣作了重新編寫:“國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)本部分"一詞改為"本部分"。本部分代替GB/T12085.6—1989《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法砂塵》,與GB/T12085.6-1989的主要差異為:合并范圍與試驗(yàn)?zāi)康模粚⒏戒汚試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)示意圖放入標(biāo)準(zhǔn)正文的試驗(yàn)條件中;增加了試驗(yàn)程序的總則.規(guī)定了試驗(yàn)程序的標(biāo)準(zhǔn)依據(jù):增加了環(huán)境試驗(yàn)的標(biāo)記名稱,修改了相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)號(hào)的編寫。本部分由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。本部分由全國(guó)光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC103)歸口本部分起草單位:上海理工大學(xué)、寧波永新光學(xué)股份有限公司,本部分主要起草人:馮瓊輝、章慧賢、曾麗珠、葉慧。本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:GB/T12085.6-1989
GB/T12085.6—2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第6部分:砂塵花范圍本部分規(guī)定了砂塵試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件本試驗(yàn)的目的是研究試樣的光學(xué)、熱學(xué)、機(jī)械學(xué)、化學(xué)和電學(xué)等特性受到砂塵影響的變化程度,特別是研究運(yùn)動(dòng)部件(如滑動(dòng)面、軸承、接觸器、控制裝置、齒輪)的故障或不能允許的表面磨損。本試驗(yàn)不用來(lái)確定對(duì)粗粒砂塵的耐磨性規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)GB/T12085的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。GB/T12085.1光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第1部分:術(shù)語(yǔ)、試驗(yàn)范圍(GB/T12085.1-2010.ISO9022-1:1994.MOD)3試驗(yàn)條件暴露期間,光學(xué)表面應(yīng)用各種措施防止砂塵的影響,如防塵罩。L。罩蓋方式應(yīng)在相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定。若試樣在是露時(shí)光學(xué)表面不必罩蓋.則應(yīng)在有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中加以說(shuō)明,試驗(yàn)箱(室
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