標準解讀

GB/T 10262-1988 是一項中國國家標準，全稱為《小面積鍍(涂)層β反散射厚度計》。這項標準規(guī)定了小面積鍍層或涂層厚度測量中使用的β反散射厚度計的技術(shù)要求、試驗方法、檢驗規(guī)則以及標志、包裝、運輸和儲存要求。具體來說，它涵蓋了以下幾個方面：

  1. 適用范圍：明確了該標準適用于利用β射線反散射原理，對金屬基體上的鍍層或涂層進行非破壞性測量的儀器，特別強調(diào)適用于測量面積較小的樣品。

  2. 術(shù)語和定義：標準首先定義了相關(guān)專業(yè)術(shù)語，確保使用者對涉及的概念有統(tǒng)一的理解，如基體、鍍層、涂層、測量范圍等。

  3. 分類與標記：根據(jù)儀器的特性和使用要求，對β反散射厚度計進行了分類，并規(guī)定了產(chǎn)品的標記方法，便于用戶識別和選擇合適的型號。

  4. 技術(shù)要求：

    • 性能指標：包括測量精度、重復(fù)性、穩(wěn)定性等關(guān)鍵性能參數(shù)的要求。
    • 結(jié)構(gòu)與材料：對儀器的構(gòu)造設(shè)計、材料選擇提出了基本要求，以保證測量的準確性和耐用性。
    • 安全要求：鑒于使用放射源，標準嚴格規(guī)定了輻射防護措施，確保操作人員的安全。

  5. 試驗方法：詳細說明了如何對儀器的各項性能指標進行測試，包括校準方法、測量不確定度評估等，以驗證其是否符合標準要求。

  6. 檢驗規(guī)則：規(guī)定了產(chǎn)品出廠前的檢驗項目、抽樣方案及合格判定規(guī)則，確保每臺出廠的儀器都達到規(guī)定的質(zhì)量標準。

  7. 標志、包裝、運輸和儲存：對產(chǎn)品的外包裝標識、保護措施、運輸條件以及儲存環(huán)境等做了具體要求，以防在流轉(zhuǎn)過程中受損。


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  • 廢止
  • 已被廢除、停止使用，并不再更新
  • 1988-12-30 頒布
  • 1989-10-01 實施
?正版授權(quán)
GB/T 10262-1988小面積鍍(涂)層β反散射厚度計_第1頁
GB/T 10262-1988小面積鍍(涂)層β反散射厚度計_第2頁
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文檔簡介

UDC681.2:621.793F83中華人民共和國國家標準GB10262-88小面積鍍(涂)層B反散射厚度計Betabackscatteringthicknessmeterforsmallareaofplatirg（coating)1989-10-01實施1988-12-30發(fā)布國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標準UDC681.2:621.793小面積鍍（涂）層B反散射厚度計GB10262-88Beta'backscatteringthicknessmeterforsmallareaofplatingCoating)主題內(nèi)容與適用范圍本標準規(guī)定了利用電離輻射反散射原理，在金屬或非金屬基體上對其表面鍍(涂)層的厚度進行非破壞性測最的B反散射厚度計的基本性能與其分級，設(shè)計要求和性能測量方法與步驟。本標準適用于小面積鍍（涂）層B反散射厚度計。本標準也適用于微處理機作為數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，其軟、硬件的技術(shù)要求,可由制造廠自行制訂企業(yè)標準，但B反散射測量的各種要求，應(yīng)符合本標準規(guī)定。2引用標準GB4075，密封放射源分級GB4076；密封放射源一般規(guī)定GB8993.1～8993.12核儀器環(huán)境試驗基本要求與方法術(shù)語（電離輻射）厚度計（ionizingradiation)thicknessmeter3.1包括一個電離輻射源，并利用其電離輻射對材料的厚度進行非破壞性測最的一種裝置。3.2散射scattering人射的粒子或射線與物質(zhì)相互作用，而使其方向或能量發(fā)生變化的過程。3.3反散射backscattering粒子從它進人物體的同一表面而離開該物體的散射。3.4A反散射式測址系統(tǒng)backscattermeasurementsystem。利用由待測材料和緊埃替它的襯底材料反散射的電離輻射來測量待測材料厚度的一種測量系統(tǒng)3.55（物體的）反散射系數(shù)backscatteringcoefficient物體反散射的粒子數(shù)與其人射粒子數(shù)之比，它與放射性活度和測量時間無關(guān)。9等效原子序數(shù)equivalentalomicmumber3.6如果某一元素的反散射系數(shù)R與一種材料（可能是合金或化合物）相同。則該元素的原子序數(shù)可以被認為是這種材料的等效原子序數(shù)。3.7飽和厚度saturationthickness當散射體厚度增加而所產(chǎn)生的反散射不再變化時的最小材料厚度值。3.8絕對反散射計數(shù)XabsolutebackscateringcountX在給定時間內(nèi)，探測器接受到的反散射粒子數(shù)

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