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3070測(cè)試程式開(kāi)發(fā)流程(SOP)一、準(zhǔn)備收集資料,進(jìn)行易測(cè)性,可行性分析,制定瀝信式策略Stepl:收集資料做程式前,我們需要收集的資料有:CAD文件BOMPowerSupplySpecICDatasheets3070可用的Library瀝信式文件(系統(tǒng)自帶的或前人褊舄的3070檄臺(tái)配置文件ConfigPCB雷路H1pcs光板5?10pcs好的板子[相關(guān)名詞解釋]CAD文件:PCB板雷路哉言十的一豐重?cái)?shù)披文件,由CADTools生成BOM:BillofMaterials,料罩文件,言羊名田描述了裝在板子上的元件的豐重短數(shù)量,規(guī)格,根披BOM我仍可以知道元件有沒(méi)有彰PowerSupplySpec:提供檄豐重上雷畤的雷鑒雷流和』懼序等信息4.ICDatasheets宿羊^描述各用重元件的數(shù)披表文件Step2:定羲瀝信式需求和策略[目的]:瀝信式的目檬是提高FaultCoverage,然而又受到客戶的要求,瀝信式成本和畤冏的制的,舄此,我仍需要制定最佳的瀝信式策略[策略制定]:1、封元器件合理息帚類溟?ff?合的瀝信式方法,合理分配?M?源在”boar文件里有元件測(cè)試分類標(biāo)簽,我們應(yīng)該根據(jù)元件和板子的特性選擇合適的測(cè)試分類,如圖1-1一般原則:pinnum>3的元件要放在pinlibrary里測(cè),要寫library文件resistor阻值<6ohm的作為jumperclosed測(cè),阻值>10M的作為jumperopen測(cè)inductance一般可作為jumperclosed測(cè)電路圖里有而B(niǎo)om里沒(méi)有的resistor或capacitor可作jumperopen測(cè),預(yù)留資源;IC要做library測(cè),時(shí)間緊的話寫個(gè)setup即可,以后可以完善vector測(cè)試部分
圖1-1分類標(biāo)簽2、其他特殊的功能瀝信式,比如FlashProgramming,etc,一般用不到根據(jù)測(cè)點(diǎn)3、羲fixture的類頁(yè)型和邀I瓦比如fixturesize的選擇:Fullorbank2,根據(jù)測(cè)點(diǎn)數(shù)選擇,可以在”board”文件里全局設(shè)置里定義,如圖2.圖1-2“board”全局設(shè)置4、羲其它瀝信式流程需要,比如速接到MES(SFCS系統(tǒng)可以在testplan里添加上拋系統(tǒng)并定義上拋路徑,如圖1-3圖1-3SFCS系統(tǒng)連接路徑設(shè)置二、開(kāi)發(fā)1、鞭CAD文件,得到到“board”和“board_xy''圖2-1CAMCADStepl:打開(kāi)CAMCAD,如圖2-1,導(dǎo)入原始設(shè)計(jì)檔,彈出如圖1-4圖2-2導(dǎo)入文件選擇選擇”FABMASTERFATFRead”,導(dǎo)入原始檔FAT文件。Step2:DFT分析TestAtrributeAssignmentDFTOutlineGenerationAccessAnalysisStep3:導(dǎo)入用BOMEXPLORER整理好的BOM表,轉(zhuǎn)出得到board和board_xy文件。2、完成封board文件信息的描述用BoardConsultant描述Step1:在BT-Basic窗口中輸入"boardcons”,打開(kāi)BoardConsultant,如圖2-3:?17-3圖腳PwquiojsXs共。1Jipa/M9IA基膜:edoisjTOjpsuoopi^og£-3圖JMIAlinjMHArMAO:」&\lUCOfRIBOn融岫罪日日z.uuitia^&TAV卻預(yù)0>3^-ipauWUf591由£|td>lW11-ou-duD^eqPJEOH
IIP3/WIAmo山眄4頓2!pje^Riq.日P』mgIf內(nèi)』iflWn陸n(AFlfttniA圖2-4View/EditTestSystemDataStep3:對(duì)系統(tǒng)參數(shù)進(jìn)行設(shè)置1.FixtureOption的哉置,一般默認(rèn),如圖2-5主要是對(duì)Fixture的類型,尺寸,繞線,探針的屬性進(jìn)行設(shè)置,一般FixtureType設(shè)置為Express,即使用短繞線算法;size設(shè)置為Bank2,即用到Module2andModule3,其他默認(rèn)設(shè)置即可圖2-5FixtureOption設(shè)置2、IPGGlobalOption的設(shè)置,如圖2-6主要是對(duì)IPG程序智能算法的設(shè)置,有:ToleranceMultiplier:測(cè)量算法的精度,一般選3或5,數(shù)字越大,精度越低測(cè)Diode,Zener的安全電流設(shè)置RemoteSensing:是否使用a,b,lBus輔助測(cè)量,提高精度CapacitorCompensation:小電容是否需要補(bǔ)償(on/offUpstreamDisable:是否使用Disable,保護(hù)上流ICPreconditionLevel:Safeguard級(jí)數(shù)的設(shè)置各類測(cè)量bus的固有電阻,電感大小的設(shè)置
Agilent測(cè)量技術(shù)的啟用和設(shè)置:BoundScanTest、DriveThruTest、MagicTest、etc圖2-6IPGGlobalOption設(shè)置3、familyoption的設(shè)置,如圖2-7對(duì)電路圖中用到的電平邏輯進(jìn)行定義,規(guī)定drivehigh、drivelow>receivehigh、receivelow、slewrate,
負(fù)載電阻類型,默認(rèn)邏輯。圖2-7familyoption的設(shè)置4、GPRelay的設(shè)置,如圖2-8ControlCard中有8對(duì)GPRelay資源,用來(lái)引導(dǎo)驅(qū)動(dòng)來(lái)控制IC
動(dòng)作圖2-8GPRelayoption的設(shè)置5、FixedNodeOptions的設(shè)置,如圖2-9電路中有些點(diǎn)的電平是固定的,我們要定義它們?yōu)镕ixedNode圖2-9FixedNodeOptions的設(shè)置6、powernodeoption的設(shè)置,如圖2-10在powertest時(shí),我們需要給板子上電,所以要定義powernode,一般可以定義幾組,以得到較大的驅(qū)動(dòng)電流。我們用的3070系統(tǒng)提供4組電源,所以在定義時(shí)需說(shuō)明用了第幾組,在PS#里定義,這里我用了第3組圖2-10Powernodeoption的設(shè)置7、LibraryOption的設(shè)置,如圖2-11設(shè)置library文件的路徑,一般定義custom_lib
PowerNodeOptionsForm-|n|x|Notes:ActionsHelp為用戶自定義庫(kù)文件目錄NodeOptionsTypePowerNodeOptionsForm-|n|x|Notes:ActionsHelp為用戶自定義庫(kù)文件目錄圖2-11LibraryOption的設(shè)置8、boardLeveldisable的設(shè)置,如圖2-12在上電測(cè)試中,可能需要使一些IC停止工作,我們就可以在這設(shè)置disable條件,使它們輸出高阻抗,停止工作圖2-12boardLeveldisable的設(shè)置Step4:合理歸類元件,編寫pinlibrary和digitalsetuptest1.在BT-basic中輸入partforms,打開(kāi)PartDescriptionEditor,如圖2-13:PDE是用來(lái)對(duì)電阻、電容、電感、二極管、三級(jí)管、場(chǎng)效應(yīng)管、跳線、開(kāi)關(guān)、熔絲等測(cè)試進(jìn)行描述的工具,定義時(shí)應(yīng)該參照電路圖,準(zhǔn)確無(wú)誤的描述各pin腳的連接,尤其是極性元器件的描述(Diode、Zener、FET、Transistor>etc在BT-basic中輸入setuptesteditor,將打開(kāi)SetupEditor,如圖2-14:SetupEditor是用來(lái)為數(shù)字器件測(cè)試建立setuptest,描述引腳連接,類型,disable信息等等,目的是為測(cè)試預(yù)留資源.Vector測(cè)試部分可以有時(shí)間補(bǔ)上去.要注意的是類型定義不能有誤.對(duì)模擬器件和數(shù)字器件的描述,保存為library文件于Custom_lib中.結(jié)合BOM文件,按照測(cè)試策略的分類一般原則,對(duì)"board”:件中的元件合理分類,選擇測(cè)試方法,比如用library測(cè)還是用Testjet測(cè),還是both,等等
圖2-13PartDescriptionEditor的設(shè)置圖2-14SetupEditorStep5:BoardOutline(如圖2-15和BoardKeepOut(如圖2-16的定義BoardOutline定義板子的邊線,outline包含的區(qū)域里的資源我們是無(wú)法使用的。BoardKeepOut定義Testjet預(yù)留區(qū)域的大小,可以自動(dòng)捕獲,也可以手動(dòng)定義。BoardOutlineActions480033135G(3135093751JUpdate圖2-15BoardOutlineBoardOutlineActions480033135G(3135093751JUpdate圖2-16BoardKeepOutStep6:編譯board和board_xy文件,檢查錯(cuò)誤在BT-basic窗口里輸入checkboard“board”和checkboardxy“board_xy”,沒(méi)有錯(cuò)誤,可以進(jìn)行下一步在BT-basic窗口里輸入com“config”,com“board”;list和com“board_xy”;list,編譯,確保沒(méi)有錯(cuò)誤.如果有問(wèn)題,根據(jù)buglist查找error,并解決問(wèn)題如果沒(méi)有問(wèn)題,則board文件描述結(jié)束,可以進(jìn)入下一步3、BoardPlacement&ProbeSelectionStepl:在BT-Basic里輸入fixcons,打開(kāi)fixtureconsultant如圖
17:圖2-17fixconsultantStep2:選擇TasksIPlaceBoard,如圖TasksS^earchOptionsView/EditFixtureOptionsView/EditFixtureElectronics紓PlaceBoardRunProbeSelectionViewNodeInformationViewProbingDetailsDesignFixture汁襄戳癸多膨逆陽(yáng)愆2-18:圖2-18PlaceBoard
Step3:在彈出的BoardPlacementForm里輸入放板位置坐標(biāo)和旋轉(zhuǎn)角度,選擇ShowPlacementonMainForm,完成放板。如圖2-19:hl—NotescurrentOffsetfromFixtureOrigintoCenterOfBoard(TenthMils)placement15sirGraphleft-TasksPlaceBoardRunProbeSelectionhl—NotescurrentOffsetfromFixtureOrigintoCenterOfBoard(TenthMils)placement15sirGraphleft-TasksPlaceBoardRunProbeSelectionViewNodeInformationBoardPlacementFormActionsHelpPlaceBQardUuardPlacementrurniActions600^ViewProbingDetailsDesignFixture-ViewModeInformaticnHunSelectionViewProbingDetailsDesignFixtureView/EditFixtureOptionsView/EditFixtureElectronics76相匕S^earchOptionsy淞"¥"::"楊::W;::W:WSS:找""::WfiftWAWAWS|View/EditFixtureOptionsView/EditFixtureElectronics圖2-19BoardPlacement我們也可以用鼠標(biāo)拖動(dòng)MainForm里的板子,放到適合的位置。
如果問(wèn)題比Step4:選擇EstimateBlockedPins,察看有哪些pins資源被擋到了,較多,可以重做Step3,然后再做Step4,直到滿意為止。如圖2-20:如果問(wèn)題比tJudrdPldcementForm□IXRotationNotes:ItisestimaTedthat102pinswillbetJudrdPldcementForm□IXRotationNotes:ItisestimaTedthat102pinswillbeblockedForthisplacennent.ShowPlacementOnMainFonnEstimateBlockedPinsCardResourceResource2081720818208232082420831ResourceKeaourceUpdateClose76491]■■■MBOffsetfromFixtureOrigintoCenterOfBoard(TenthMils]圖2-20BlockedpinsStep5:Update后,選擇TasksIRunProbeSelection,執(zhí)行ProbeSelection,如圖
2-21:圖2-21Update&RunProbeSelectionStep6:確認(rèn)ConfirationDialog后,程序?qū)?zhí)行ProbeSelection,如圖2-22:
ConfirmationDialogxjThefixtureobjectdoesnotexistforthisboarddirectory.(BoardPlacementhasautomaticallybeenrun,butthefixturehasnotbeensaved.)ProbeSelectionusesthefixturedatafromthecurrentboarddirectoryonthedisk,soitwillnotbeabletorununtilyousavethefixture.xjCancelConfirmationDialogThefixtureobjectdoesnotexistf(boarddirectory.(BoardPlacemerautomaticallybeenrun,butthefixhasnotbeensaved.)ProbeSeleCancelConfirmationDialogThefixtureobjectdoesnotexistf(boarddirectory.(BoardPlacemerautomaticallybeenrun,butthefixhasnotbeensaved.)ProbeSele(usesthefixturedatafromthecurrboarddirectoryonthedisk,soit'notbeabletorununtilyousavetfixture.DoyouwishtosavetothecurrendirectoryonthediskandthenrurSelection?圖2-22Confirmation&ProbeSelectiondone4、跑IPGTestConsultant,生成瀝信式文件和治具文件Stepl:在BT-basic窗口下按F6,打開(kāi)IPGTestConsultant,如圖
2-23:圖2-23IPGConsultantStep2:選擇ActionsIDevelopBoardTest,然后是ActionsIBeginInteractiveDevelopment,進(jìn)行人機(jī)交互式開(kāi)發(fā),StepbyStep,如圖ActionsEditManagemEnterBoardDataDevelopTestAddATest2-24:ActionsEditManagemiEnterBoardDataDevelopBoardTest
圖2-24ActionsSelectionStep3:按照TestDevelopmentSteps流程,StepbyStep執(zhí)行:如圖2-25:圖2-25StepbyStepStep4:IPGConsultantMessages窗口會(huì)顯示當(dāng)前步驟的執(zhí)行結(jié)果,如果遇到錯(cuò)誤,程序會(huì)掛起,我們需要根據(jù)錯(cuò)誤提示,尋找問(wèn)題,解決錯(cuò)誤,然后重新執(zhí)行這一步,直到所有Steps順利完成。如圖
2-26:圖2-26Execution5、送Fixture文件到治具廠做治具TestConsult<NodeN208474(NodeN208493(將生成的fixture文件打包發(fā)給治具廠商制作治具6、修改Testplan添加Smartest參數(shù)添加sfcs參數(shù)4.添加gprelay開(kāi)關(guān)命令,控制上雷和disable勤作7、袖充完成SetupTest文件,使其完整對(duì)照電路圖和ICSpec,用VCL或PCF語(yǔ)言編寫數(shù)字測(cè)試的Vector測(cè)試部分,使其具有測(cè)試功能.如圖2-27:圖2-27VCLLanugage三、Debug和優(yōu)化程式,生成測(cè)試覆蓋率報(bào)告FixtureCheck治具做好后,我們要對(duì)其進(jìn)行檢查,確保沒(méi)有錯(cuò)誤Stepl:在BT-Basic窗口中輸入loadboardldebboard,打開(kāi)PushbuttonDebug窗口,如圖3-1Step2:將銅板放入治具,選擇MacrosITestplanMacrosipins,結(jié)果為shortOK;如果有Open,應(yīng)該檢查Probe、治具繞線是否有open或P-pin和M-pin是否接觸不良,可以重復(fù)運(yùn)行fixlockIfixunlock,使治具與機(jī)臺(tái)contact無(wú)誤。Step3:將光板放入治具,選擇MacrosITestplanMacrosishorts,結(jié)果為OpenOK,如果有short,應(yīng)該檢查fixturewiring是否有Short。Step4:放入一塊好板,在BT-basic窗口中輸入faoniverifyallmuxcards,如果沒(méi)有問(wèn)題,OK,否則,要檢查MuxCardStep5:放一塊好板,在PushbuttonDebug里選擇Debug|DebugTest…彈出的對(duì)話框中輸入Testjet,然后選擇AutoDebugiAutoDebugTest,讓VTEP自動(dòng)學(xué)值,如果出現(xiàn)0或負(fù)值,請(qǐng)檢查VTEP的放大器和極性Step6:禍撤檢查治具的Probe是否OK、弓罩簧是否沾牢固、Tooling孔徑是否適合,治具邊框、密封墊圈和油壓桿是否OK,等等。圖3-1PushbuttonDebug2、Debug并優(yōu)化程式在確保治具沒(méi)有問(wèn)題的前提下,我們用好的板子進(jìn)行程式的Debug和優(yōu)化。Stepl:DebugShortstest1、放入好板,在Debug窗口中選擇MacrosITestplanMacroslshorts,遇到PhantomShorts,應(yīng)該在short文件里調(diào)整相應(yīng)的測(cè)試順序和delaytime,直到?jīng)]有PhantomShorts出現(xiàn).2、調(diào)完shorts后,應(yīng)該comment掉reportphantomsStep2:上雷碓保powerwiring是正碓的在確保沒(méi)有short的情況下,選擇MacrosITestplanMacrosIPowerSupplies,檢查powerwiring是否正確,保^速到ARSU卡上的powerwiring是OK的,可以在Testplan里用rps命令報(bào)告供電電壓和電流是否到位。Step3:DebugAnalogIncircuitTest1、DebugResistors2、DebugCapacitors3、DebugInductors調(diào)Analog時(shí)應(yīng)該結(jié)合電路圖和Bom,適當(dāng)?shù)募覩uarding和參數(shù)選項(xiàng),比如wait,ed,en等等,合理調(diào)整上下限和frequence,一個(gè)原則是:測(cè)試穩(wěn)定。Step4:DebugtestjetTest用AutoDebug學(xué)習(xí)好板子的值,然后用其他好板子驗(yàn)證,重復(fù)直到TestjetPassStep5:DebugDigitalIncircuittests用gpconnect命令控制CPU或BUS動(dòng)作,為一些數(shù)字測(cè)試提供測(cè)試條件用gpconnect命令控制Clock動(dòng)作,為一些數(shù)字測(cè)試提供測(cè)試條件DebugDigtalICStep6:DebugAnalogfunctionaltestsDebug晶振元件瀝信式程序Debug雷源^換IC的?S?量程序適當(dāng)?shù)挠胓pconnect命令控制這些IC動(dòng)作,調(diào)用編寫的power_check程序,檢查
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