元器件篩選原則及常見的篩選項(xiàng)目

第第PAGE3頁共3頁元器件篩選原則及常見的篩選項(xiàng)目1、元器件篩選的必要性安排測(cè)試篩選先后次序的兩種方案：方案1:將不產(chǎn)生連環(huán)引發(fā)效果的失效模式篩選放在前面，將可以與其它失效模式產(chǎn)生連環(huán)引發(fā)效果的失效模式篩選放在后面。2：連環(huán)引發(fā)效果的失效模式篩選放在后面。為該類失效模式的檢測(cè)已經(jīng)在前面做過了，所以不能準(zhǔn)確地定位和剔除這種帶有缺陷的元2高效。2、篩選方案的設(shè)計(jì)原則定義如下：篩選效率W二剔除次品數(shù)/實(shí)際次品數(shù)篩選損耗率L二好品損壞數(shù)/實(shí)際好品數(shù)篩選淘汰率Q二剔降次品數(shù)/進(jìn)行篩選的產(chǎn)品總數(shù)理想的可靠性篩選應(yīng)使W1,IX),Q值大小反映了Q值越大，表示這批產(chǎn)品篩選前的可靠性越差，亦即生產(chǎn)過程中所存在的問題越大，產(chǎn)品的成品率越低。LI出的元器件可黑性水平也越接近于產(chǎn)品的固有可靠性水平。但是這樣做要付出更高的費(fèi)用和更長(zhǎng)的周期，最終降低了篩選效率。因此，篩選條件選擇過高會(huì)造成不必要的浪費(fèi)，篩選條件過低則劣品淘汰不徹底，產(chǎn)品的使用可黑性得不到保證。山此可見，篩選強(qiáng)度不夠或篩選條件過嚴(yán)都對(duì)整批產(chǎn)品的可靠性不利。為了有效而正確地進(jìn)行可靠性篩選，必須合理地確定篩選項(xiàng)LI和篩選應(yīng)力。為此，必須了解產(chǎn)品的失效機(jī)理。產(chǎn)品的類型不同，生產(chǎn)單位不同以及原材料及匸藝流程不同時(shí)，其失效機(jī)理就不一定相同，因而可靠性篩選的條件也應(yīng)有所不同。因此，必須針對(duì)各種具體產(chǎn)品進(jìn)行大量的可靠性試驗(yàn)和篩選摸底試驗(yàn)，從而掌握產(chǎn)品失效機(jī)理與篩選項(xiàng)LI間的關(guān)系。元器件篩選方案的制訂要掌握以下原則：篩選要能有效地剔除早期失效的產(chǎn)品，但不應(yīng)提高正常產(chǎn)品的失效率。為提高篩選效率，可進(jìn)行強(qiáng)應(yīng)力篩選，但不應(yīng)使產(chǎn)品產(chǎn)生新的失效模式。合理選擇能暴露失效的最佳應(yīng)力順序。對(duì)掌握所有產(chǎn)品的失效模式。為制訂合理有效的篩選方案，必須了解各有關(guān)元器件的特性、材料、封裝及制造技術(shù)。此外，在遵循以上五條原則的同時(shí)，應(yīng)結(jié)合生產(chǎn)周期，合理制定篩選時(shí)間。3、幾種常用的篩選項(xiàng)目高溫貯存電子元器件的失效大多數(shù)是山于其體內(nèi)和表面的各種物理化學(xué)變化所引起，它們與溫度有密切的關(guān)系。溫度升高以后，化學(xué)反應(yīng)速度大大加快，失效過程也得到加速，使得有缺陷的元器件能及時(shí)暴露，予以剔除。層缺陷等失效機(jī)理的器件。通常器件需要在最高結(jié)溫下貯存24~168小時(shí)。選擇，以免產(chǎn)生新的失效機(jī)理。功率電老煉它是可靠性篩選的一個(gè)重要項(xiàng)168小時(shí)。有些產(chǎn)品，如集成電元器件的電應(yīng)力要適當(dāng)選擇，可以等于或稍高于額定條件，但不能引人新的失效機(jī)理。功率老煉需要專門的試驗(yàn)設(shè)備，其費(fèi)用較高，故篩選時(shí)間不宜過長(zhǎng)。民用產(chǎn)品通常為100168240小時(shí)甚至更長(zhǎng)的周期。溫度循環(huán)電子產(chǎn)品在使用過程中會(huì)遇到不同的環(huán)境溫度條件，在熱脹冷縮的應(yīng)力作用下，熱匹配性能差的元器件就容易失效。溫度循環(huán)篩選利用了極端高溫和極端低溫間的熱脹冷縮應(yīng)55°C至+125°C,5-10次。離心加速度離心加速度試驗(yàn)乂稱恒定應(yīng)力加速度試驗(yàn)。這項(xiàng)篩選通常在半導(dǎo)體器件上進(jìn)行，把高20000g而且持續(xù)試驗(yàn)一分鐘。監(jiān)控振動(dòng)和沖擊子設(shè)備中，監(jiān)控振動(dòng)和沖擊是一項(xiàng)重要的篩選項(xiàng)目。20-2000HZ,2-20g,2周期，在共振點(diǎn)附近要多停留1500-3000“3、5次，這項(xiàng)試驗(yàn)僅適用于元