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1、材料結(jié)構(gòu)分析方法陳廣超教授中國(guó)科學(xué)院材料與光電技術(shù)學(xué)院現(xiàn)代材料分析方法陳廣超博士, 教授北京科技大學(xué)現(xiàn)代材料分析方法張銳編著鄭州大學(xué)化學(xué)工業(yè)出版社材料分析方法周玉 主編機(jī)械工業(yè)出版社材料現(xiàn)代研究方法(研究生用教材)常鐵軍 等編著哈爾濱工程大學(xué)出版社材料現(xiàn)代分析測(cè)試方法王富恥 主編 北京理工大學(xué)出版社材料現(xiàn)代分析方法 左演聲主編北京工業(yè)大學(xué)出版社PropertiesCompositionsStructureCharacterizationPropertiesEconomicsCompositionsStructureEnvironmentProcessingEconomicsStructureP

2、rocessingPropertiesCompositionPropertiesCompositionsStructureProcessing課程考核作業(yè)+課堂開(kāi)卷考試共7個(gè)作業(yè),占總成績(jī)的70%, 課堂開(kāi)卷考試占30%手機(jī)郵箱:gcchen_課件: 密碼: xiandaicailiao2010第一章 X射線衍射原理 第一節(jié) X射線的性質(zhì) X射線的發(fā)現(xiàn)與產(chǎn)生X射線的本質(zhì)X射線譜X-射線的產(chǎn)生:高速運(yùn)動(dòng)的電子與物質(zhì)碰撞時(shí)被突然減速或停止運(yùn)動(dòng),其大部分動(dòng)能(99%)轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮苁刮矬w升溫,而一小部分動(dòng)能(1%)則轉(zhuǎn)變?yōu)楣饽芤訶射線形式向外界釋放。產(chǎn)生X-射線必須具備的基本條

3、件: 1. 產(chǎn)生自由電子(如加熱鎢絲發(fā)射熱電子) 2. 加速電子使其高速定向運(yùn)動(dòng)(在陰極、陽(yáng)極間施加高壓) 3. 在電子運(yùn)動(dòng)路徑上設(shè)置障礙物(陽(yáng)極靶)使其減速1912年,勞厄(Max von Laue)、弗里德里希(Fdededch W)與克尼平(Knipping)所做的實(shí)驗(yàn)演示了X射線通過(guò)晶體所產(chǎn)生的衍射花樣,可以說(shuō)是一箭雙雕,既證實(shí)了X射線具有波動(dòng)性,又驗(yàn)證了晶體具有周期性。對(duì)科學(xué)的發(fā)展產(chǎn)生了不可估量的影響。當(dāng)時(shí)的實(shí)驗(yàn)裝置的復(fù)原圖底片上顯出有規(guī)則的斑點(diǎn)1914年勞厄師生獲得了諾貝爾獎(jiǎng)1915年布拉格父子獲得了諾貝爾獎(jiǎng)1885年巴耳麥(J. Balmer)對(duì)氫原子在可見(jiàn)光區(qū)的十四條譜線總結(jié)出

4、了巴耳麥經(jīng)驗(yàn)公式1895年德國(guó)物理學(xué)家倫琴(W. C. Rntgen)發(fā)現(xiàn)了X射線,初步研究了其性質(zhì)。他于1901年成為了世界上第一位諾貝爾獎(jiǎng)獲得者1900年德國(guó)物理學(xué)家普朗克(M. Planck)提出振子能量有不連續(xù)性的“能量子”概念,成功地解釋了黑體輻射中能量密度隨頻率變化的規(guī)律1905年愛(ài)因斯坦(A. Einstein)提出“光子說(shuō)”主張光子兼有粒子性,成功地解釋了光 電效應(yīng)的實(shí)驗(yàn)規(guī)律1906年湯姆遜(J. J. Thomson)因證實(shí)電子是粒子諾貝爾物理獎(jiǎng)1911年盧琴福(E. Rutherford)提出原子結(jié)構(gòu)的有核模型19101912年勞厄(M. Von Laue)在其研究生夫里德

5、里克(W. Friedrich)及尼平(P. Knipping)的協(xié)助下完成了五水硫酸銅單晶對(duì)X射線的衍射實(shí)驗(yàn),一箭雙雕的證明了X射線的波動(dòng)性本質(zhì)及晶體結(jié)構(gòu)排列的周期性質(zhì)。1914年勞厄師生獲得了諾貝爾獎(jiǎng)1912年英國(guó)物理學(xué)家布拉格(W. H. Bragg)發(fā)現(xiàn)了X射線的特征譜線,后經(jīng)莫塞萊(H. G. Moseley)系統(tǒng)化1913年布拉格(W. L. Bragg)用比勞厄更簡(jiǎn)單的公式表達(dá)了X射線在晶體中產(chǎn)生衍射的必要條件(布拉格方程)。1915年布拉格父子獲得了諾貝爾獎(jiǎng)1913年丹麥物理學(xué)家玻爾(N. Bohr)提出原子中電子運(yùn)動(dòng)的“定態(tài)”概念及“玻爾頻率規(guī)律”,成功的解釋了氫原子光譜的經(jīng)

6、驗(yàn)公式(巴耳麥經(jīng)驗(yàn)公式)1921年德國(guó)物理學(xué)家厄瓦爾多將倒易點(diǎn)陣的概念引入了X射線衍射領(lǐng)域1923法國(guó)物理學(xué)家德布羅意(L. de Broglie)提出電子等微觀質(zhì)點(diǎn)的運(yùn)動(dòng)兼有波動(dòng)性的假說(shuō)(物質(zhì)波)1927年湯姆遜(G. P. Thomson)的電子衍射實(shí)驗(yàn)證實(shí)了電子具有波動(dòng)性(德布羅意的假說(shuō)),并因此獲得了1937年的諾貝爾物理獎(jiǎng)1985年赫普特曼(H. Hauptman)及科爾勒(J. Karle)因發(fā)展了X射線分析的“直接法”獲得了諾貝爾獎(jiǎng)X-射線的其它性質(zhì):具有很強(qiáng)的穿透物質(zhì)的能力, X-射線穿過(guò)物質(zhì)時(shí)可被偏振化,可被吸收而使其強(qiáng)度衰減;經(jīng)過(guò)電場(chǎng)和磁場(chǎng)時(shí)不發(fā)生偏轉(zhuǎn);能使空氣和其它氣體電

7、離;能激發(fā)熒光效應(yīng),使照像底片感光;能殺死生物細(xì)胞與組織。 X-射線的波長(zhǎng)范圍為100.01nm;用于晶體結(jié)構(gòu)分析的X-射線波長(zhǎng)為0.250.05nm;用于材料探傷的X-射線波長(zhǎng)為0.10.05nm。 一般波長(zhǎng)短的X-射線稱為硬X-射線(0.1nm),波長(zhǎng)長(zhǎng)的X-射線稱為軟X-射線(100.1nm)。X-射線強(qiáng)度I隨波長(zhǎng)變化的關(guān)系曲線。實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn):X-射線管發(fā)射出的X射線分為連續(xù)X射線譜(continuous spectrum)和標(biāo)識(shí)X射線譜(characteristic spectrum)兩類。3. X-射線譜實(shí)驗(yàn)結(jié)果解釋:(1)連續(xù)譜的形成:X-射線管中高速運(yùn)動(dòng)的電子與陽(yáng)極靶碰撞突然減速,產(chǎn)

8、生極大的負(fù)加速度,電子周圍的電磁場(chǎng)將發(fā)生急劇變化,因此向外輻射出電磁波,即X-射線。由于大量電子轟擊陽(yáng)極靶的時(shí)間和條件不完全相同,輻射出的電磁波具有各種不同的波長(zhǎng),因此形成了連續(xù)譜。(2)短波限的出現(xiàn):能量為eV的電子與陽(yáng)極靶碰撞產(chǎn)生光子,因此光子的能量應(yīng)小于或最多等于電子的能量。因此光子能量有其頻率上限(max)或波長(zhǎng)下限(短波限0 )。 式中:e 電子電荷,4.80310-10 靜電單位,1.60210-19 庫(kù)侖這說(shuō)明:連續(xù)X-射線譜有短波限0存在,且與管壓V成反比。連續(xù)X射線譜解釋:大多數(shù)高速電子與陽(yáng)極靶碰撞時(shí),其部分能量要消耗在電子對(duì)陽(yáng)極靶的各種激發(fā)作用上,因此轉(zhuǎn)化為X-射線光量子的

9、能量要小于高速電子的全部能量,= eV-,即大多數(shù)輻射的波長(zhǎng)均大于短波限。另外,電子可能要經(jīng)過(guò)多次碰撞才能逐漸消耗自己的全部能量,電子每經(jīng)歷一次碰撞產(chǎn)生一個(gè)光子,多次碰撞產(chǎn)生多次因此輻射,由于多次輻射中產(chǎn)生的各個(gè)光量子能量各不相同,因此出現(xiàn)了連續(xù)X射線譜。(3)V,i 對(duì) I 的影響: X射線的強(qiáng)度是指單位時(shí)間內(nèi)通過(guò)與X射線傳播方向垂直的單位面積上的所有光量子的能量總和。常用的單位是J/cm2s。即X射線的強(qiáng)度(I)是由光量子的能量(h)及它的數(shù)目(n) 決定,I= n h。 實(shí)驗(yàn)表明,連續(xù)X射線譜中最大強(qiáng)度Imax 對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng) max 1.5 0 連續(xù)X射線譜的總強(qiáng)度(即X光管發(fā)射出的X射線

10、的總能量)經(jīng)驗(yàn)公式為: 式中:K1和m都是常數(shù), m 2, K1 1.11.410-9;Z為陽(yáng)極靶材料的原子序數(shù)此式表明:連續(xù)X射線譜的總強(qiáng)度與X射線管電流(i)、陽(yáng)極靶材的原子序數(shù)(Z)及管電壓(V)的平方成正比。 X射線管的效率定義為: 例如,當(dāng)采用鎢靶(Z=74),管電壓為100KV時(shí),X射線管的效率1%。這是由于在X射線管中,高速運(yùn)動(dòng)的電子轟擊陽(yáng)極靶時(shí),其能量的絕大部分(99%)轉(zhuǎn)化為熱能而損失,只有極少部分的能量轉(zhuǎn)化為X射線。所以X射線管工作時(shí)必須有良好的循環(huán)水冷卻,以防止陽(yáng)極靶熔化。3.2 標(biāo)識(shí)X射線譜實(shí)驗(yàn)方法簡(jiǎn)述:對(duì)鉬靶X射線管,保持管電流(i)不變,逐漸增加管電壓(V),記錄不

11、同管電壓下X射線強(qiáng)度(I)隨波長(zhǎng)()的變化規(guī)律。標(biāo)識(shí)X射線譜實(shí)驗(yàn)結(jié)果特征:(1)V20KV,在連續(xù)X射線譜上某幾個(gè)波長(zhǎng)一定的位置的強(qiáng)度突然明顯增大: K輻射=0.63, K輻射=0.71。 K輻射與K輻射的強(qiáng)度比為5:1。K輻射可細(xì)分為 K1(=0.70926)及K2(=0.71354)兩條譜線, K1與K2的強(qiáng)度比為2:1。(3)出現(xiàn)標(biāo)識(shí)譜線后,增加管電壓只增加標(biāo)識(shí)譜線的強(qiáng)度,不改變標(biāo)識(shí)譜線的波長(zhǎng).標(biāo)識(shí)X射線譜 激發(fā)電壓(V激):開(kāi)始產(chǎn)生標(biāo)識(shí)譜線的臨界電壓 激發(fā)K系輻射時(shí),陰極電子的能量應(yīng)至少等于擊走原子內(nèi)K層電子所需的激發(fā)功WK,其數(shù)值亦等于K層的能級(jí)。激發(fā)K系的激發(fā)電壓VK=WK/e。

12、原子中K層能級(jí)最高,因此擊走K層電子所需的功也最大,K系激發(fā)電壓最高 在發(fā)生K系激發(fā)的同時(shí)也伴隨著其它各系的激發(fā)和輻射過(guò)程,但在一般的X射線衍射中,由于L、M、N等系的輻射強(qiáng)度較弱、波長(zhǎng)較長(zhǎng),因此只能觀察到K系輻射。K系標(biāo)識(shí)X射線的強(qiáng)度與管電壓、管電流的關(guān)系為:式中:K2,n 常數(shù);對(duì)K系譜線n=1.51.7 V,V激 分別為工作電壓和K系激發(fā)電壓 i 管電流實(shí)驗(yàn)表明,當(dāng)工作電壓為K系激發(fā)電壓的35倍時(shí),I標(biāo)/I連最大。伴隨電子從高能級(jí)向低能級(jí)躍遷時(shí)輻射的標(biāo)識(shí)X射線頻率及波長(zhǎng)由下式計(jì)算: X射線標(biāo)識(shí)是由W.H. 布拉格(W. H. Bragg)發(fā)現(xiàn)的。19131914年莫塞萊(H. G. Mo

13、seley)總結(jié)出了標(biāo)識(shí)X射線譜波長(zhǎng)與原子序數(shù)間的關(guān)系(莫塞萊定律)式中K為常數(shù),可由賴德堡(Rydberg)常數(shù)R=1.097107 m-1 及躍遷殼層差計(jì)算得到;是屏蔽常數(shù)1=K(Z-)K系標(biāo)識(shí)X射線譜的波長(zhǎng)和工作電壓陽(yáng)極靶元 素原子序數(shù)K1K2K K KVKKV工作電壓(KV)Cr242.289622.935122.29092 .084802.07015.982025Fe261.935971.939911.93731.756531.74337.102530Co271.788921.792781.79021.620751.60817.7130Ni281.657841.661691.6591

14、1.500101.48808.293035Cu291.540511.544331.54181.392171.38048.863540Mo420.709260.713540.71070.632250.619820.65055Ag470.559410.563810.56090.497010.485525.55560 在X射線多晶體衍射工作中主要利用K系輻射。X射線譜的連續(xù)譜部分只能增加衍射花樣的背景。 當(dāng)一束X射線通過(guò)物質(zhì)時(shí),其能量可分為三部分,即一部分被散射,一部分被吸收,而其余部分則透過(guò)物質(zhì)繼續(xù)沿原來(lái)的方向傳播。第二節(jié) X-射線與物質(zhì)的相互作用1. X射線的散射 相干散射coherent sc

15、attering) :X射線使物質(zhì)中的電子在其電場(chǎng)的作用下產(chǎn)生強(qiáng)迫振動(dòng),每個(gè)受迫振動(dòng)的電子便成為新的電磁波源向空間各個(gè)方向輻射與入射X射線頻率相同的電磁波,這些新的散射波之間可以發(fā)生干涉作用。相干散射是產(chǎn)生晶體衍射的基礎(chǔ)?。?非相干散射:X射線與外層電子(受核束縛力?。┗蜃杂呻娮优鲎矔r(shí),電子獲得一部分動(dòng)能成為反沖電子,碰撞后的光子能量減少并偏離原來(lái)的傳播方向。由于散射波波長(zhǎng)隨散射方向改變,與入射X射線不存在固定的位相關(guān)系,散射線之間不能發(fā)生干涉作用。我們稱這種散射為非相干散射(incoherent scattering)也稱之為非彈性散射(inelastic scattering)或康普頓散

16、射(Compton scattering) 。 2. X射線的吸收(1)吸收種類物質(zhì)對(duì) X射線的吸收(真吸收)是原子內(nèi)部電子的躍遷引起的。物質(zhì)吸收X射線時(shí)會(huì)產(chǎn)生二次特征(產(chǎn)生熒光輻射)、光電效應(yīng)(逸出光電子)及俄歇效應(yīng)(逸出俄歇電子)。 熒光輻射與光子效應(yīng):考慮受X射線作用的物質(zhì),其原子能級(jí)同樣也是不連續(xù)變化(量子化)的。吸收入射線X射線能量后其內(nèi)層電子(如K、L層等)被擊出。與高速電子撞擊X射線管陽(yáng)極靶激發(fā)出特征X射線的過(guò)程相似,X射線與物質(zhì)作用時(shí)出會(huì)輻射出特征輻射,稱為熒光輻射或二次特征輻射;被擊出的電子稱為光電子。熒光輻射會(huì)向空間任何方向發(fā)射,因此使入射線方向上X射線強(qiáng)度大大減弱,在多晶

17、體X射線衍射分析中造成衍射圖像背底增強(qiáng),對(duì)分析不利。 俄歇效應(yīng):物質(zhì)受入射X射線作用原子發(fā)生K系激發(fā),L層電子躍遷至K層時(shí),K層與L層的能級(jí)差不是以特征輻射的形式輻射出來(lái),而是將L層(或M、N)的一個(gè)電子擊出原子外,這種現(xiàn)象稱為俄歇效應(yīng),被擊的電子稱為俄歇電子。X射線的衰減規(guī)律 質(zhì)量吸收系數(shù) X射線穿過(guò)厚度為dx的薄層單元時(shí),其強(qiáng)度衰減率dI/I可表示為:上式積分,得到強(qiáng)度為I0的入射X射線穿過(guò)厚度為H 的均勻物質(zhì)后透射X射線的強(qiáng)度IH:式中: 線吸收系數(shù),單位為cm-1。其大小取決于入射X射線的波長(zhǎng)及該物質(zhì)的密度m 質(zhì)量吸收系數(shù)。 m =/,單位為cm2g-1 。對(duì)特定的材料質(zhì)量吸收系數(shù)只取

18、決于入射X射線的波長(zhǎng),與該物質(zhì)的物理狀態(tài)(固態(tài)、液態(tài)或氣態(tài))無(wú)關(guān)。 m與入射X射線波長(zhǎng)及原子序數(shù)Z的關(guān)系為:m K 3Z2多元素物質(zhì)(機(jī)械混合物、固溶體或化合物)不論宏觀世界呈固態(tài)、液態(tài)或氣態(tài),其總質(zhì)量吸收系數(shù)為其組成元素質(zhì)量吸收系數(shù)的加權(quán)平均值: m = w1m1 + w2m2 + 式中: w1,w2各元素的重量百分?jǐn)?shù) m1,m2各元素的質(zhì)量吸收系數(shù)吸收限的應(yīng)用(absorption edge) m K3Z2 濾波片的選擇 在晶體X射線衍射分析采用K系標(biāo)識(shí)X射線作為輻射(光)源時(shí),為避免同時(shí)出現(xiàn)由K及K的產(chǎn)生的兩套衍射圖案使衍射花樣過(guò)于復(fù)雜,解決的辦法是在入射X射線照射樣品前先通過(guò)一個(gè)濾波片將入射X射線的K成分吸收掉。 濾波的選擇原則是其K吸收限剛好位于入射X射線的K與K之間,并且盡量靠近K。這樣入射X射線中能量較高的K成分因能激發(fā)濾波片的K系熒光而被大部分吸收掉,而能量較低的K成分因不能激發(fā)濾波片的K系熒光被吸收的程度較小。 濾波片過(guò)厚,它對(duì)K的吸收也增加。但是實(shí)踐表明, K 的強(qiáng)度被吸收到原來(lái)的1/2時(shí), K/K的強(qiáng)度比將由原來(lái)的1/5降至1/500左右。 濾波片的材料應(yīng)根據(jù)X射線源陽(yáng)極靶材決定,濾波片的厚度可由吸收定律計(jì)算。 當(dāng) Z靶 40時(shí),Z濾片 = Z靶-2對(duì)于幾種陽(yáng)極靶常采用的濾波片陽(yáng)極靶濾波片靶 材原子序數(shù)K波長(zhǎng)K波長(zhǎng)材料原子序數(shù) K厚度*mm

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