硅片制絨工藝學(xué)習(xí)教案_第1頁(yè)
硅片制絨工藝學(xué)習(xí)教案_第2頁(yè)
硅片制絨工藝學(xué)習(xí)教案_第3頁(yè)
硅片制絨工藝學(xué)習(xí)教案_第4頁(yè)
硅片制絨工藝學(xué)習(xí)教案_第5頁(yè)
已閱讀5頁(yè),還剩32頁(yè)未讀, 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說(shuō)明:本文檔由用戶(hù)提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡(jiǎn)介

1、會(huì)計(jì)學(xué)1硅片制絨工藝硅片制絨工藝(gngy)第一頁(yè),共37頁(yè)。第1頁(yè)/共36頁(yè)第二頁(yè),共37頁(yè)。單晶制絨流程(lichng):預(yù)清洗+制絨預(yù)清洗目的: 通過(guò)預(yù)清洗去除硅片表面臟污,以及部分損傷層。機(jī)械損傷層(5-7微米)硅片第2頁(yè)/共36頁(yè)第三頁(yè),共37頁(yè)。預(yù)清洗(qngx)方法: 1、10%NaOH,78oC,50sec; 2、 1000gNaOH,65-70oC(超聲),3min;1000g Na2SiO3+4L IPA,65oC,2min。 2NaOH+Si+H2O=Na2SiO3+2H2SiO32-+3H2O=H4SiO4+2OH-第3頁(yè)/共36頁(yè)第四頁(yè),共37頁(yè)。預(yù)清洗原理: 1、1

2、0%NaOH,78oC,50sec; 利用濃堿液在高溫下對(duì)硅片進(jìn)行快速腐蝕。損傷層存在(cnzi)時(shí),采用上述工藝,硅片腐蝕速率可達(dá)5m/min;損傷去除完全后,硅片腐蝕速率約為1.2m/min。經(jīng)腐蝕,硅片表面臟污及表面顆粒脫離硅片表面進(jìn)入溶液,從而完成硅片的表面清洗。 經(jīng)50sec腐蝕處理,硅片單面減薄量約3m。采用上述配比,不考慮損傷層影響,硅片不同晶面的腐蝕速率比為: (110): (100): (111)=25:15:1,硅片不會(huì)因各向異性產(chǎn)生預(yù)出絨,從而獲得理想的預(yù)清洗結(jié)果。 缺點(diǎn):油污片處理困難,清洗后表面殘留物去除困難。第4頁(yè)/共36頁(yè)第五頁(yè),共37頁(yè)。預(yù)清洗原理: 2、 10

3、00gNaOH,65-70oC(超聲),3min;1000g Na2SiO3+4L IPA,65oC,2min。 利用NaOH腐蝕配合超聲對(duì)硅片表面顆粒進(jìn)行去除; 通過(guò)(tnggu)SiO32-水解生成的H4SiO4(原硅酸),以及IPA對(duì)硅片表面有機(jī)物進(jìn)行去除。第5頁(yè)/共36頁(yè)第六頁(yè),共37頁(yè)。單晶絨面(rn min): 絨面(rn min)一般要求:制絨后,硅片表面無(wú)明顯色差;絨面(rn min)小而均勻。單晶絨面(rn min)顯微結(jié)構(gòu)(左:金相顯微鏡;右:掃描電鏡)第6頁(yè)/共36頁(yè)第七頁(yè),共37頁(yè)。制絨原理: 簡(jiǎn)言之,即利用硅在低濃度堿液中的各向異性腐蝕,即硅在(110)及(100)晶

4、面的腐蝕速率遠(yuǎn)大于(111)晶面的腐蝕速率。經(jīng)一定時(shí)間腐蝕后,在(100)單晶硅片表面留下四個(gè)由(111)面組成的金字塔,即上圖所示金字塔。 根據(jù)文獻(xiàn)報(bào)道,在較低濃度下,硅片腐蝕速率差異最大可達(dá)V (110): V(100) : V(111) =400:200:1。 盡管NaOH(KOH),Na2SiO3,IPA(或乙醇)混合體系制絨在工業(yè)中的應(yīng)用已有近二十年,但制絨過(guò)程中各向異性腐蝕以及絨面形成機(jī)理解釋仍存爭(zhēng)議(zhngy),本文將列出部分機(jī)理解釋。第7頁(yè)/共36頁(yè)第八頁(yè),共37頁(yè)。各向異性腐蝕機(jī)理: 1967年,F(xiàn)inne和Klein第一次提出了由OH-,H2O與硅反應(yīng)的各向異性反應(yīng)過(guò)程的

5、氧化還原方程式:Si+2OH-+4H2OSi(OH)62-+2H2; 1973年,Price提出硅的不同晶面的懸掛(xungu)鍵密度可能在各項(xiàng)異性腐蝕中起主要作用; 1975年,Kendall提出濕法腐蝕過(guò)程中,(111)較(100)面易生長(zhǎng)鈍化層; 1985年,Palik提出硅的各向異性腐蝕與各晶面的激活能和背鍵結(jié)構(gòu)兩種因素相關(guān),并提出SiO2(OH)22-是基本的反應(yīng)產(chǎn)物;第8頁(yè)/共36頁(yè)第九頁(yè),共37頁(yè)。各向異性腐蝕機(jī)理: 1990年,Seidel提出了目前最具說(shuō)服力的電化學(xué)模型,模型認(rèn)為各向異性腐蝕是由硅表面的懸掛鍵密度和背鍵結(jié)構(gòu),能級(jí)不同而引起的; 1991年,Glembocki和

6、Palik考慮水和作用提出了水和模型,即各向異性腐蝕由腐蝕劑中自由水和OH-同時(shí)參與反應(yīng); 最近,Elwenspolk等人試著用晶體生長(zhǎng)理論來(lái)解釋單晶硅的各向異性腐蝕,即不同晶向上的結(jié)位(kinksites)數(shù)目(shm)不同; 另一種晶體學(xué)理論則認(rèn)為(111)面屬于光滑表面,(100)面屬于粗糙表面。第9頁(yè)/共36頁(yè)第十頁(yè),共37頁(yè)。各向異性( xin y xn)腐蝕機(jī)理: Seidel電化學(xué)模型:第10頁(yè)/共36頁(yè)第十一頁(yè),共37頁(yè)。絨面形成機(jī)理: A、金字塔從硅片缺陷處產(chǎn)生; B、缺陷和表面沾污造成金字塔形成; C、化學(xué)反應(yīng)產(chǎn)生的硅水合物不易溶解,從而(cng r)導(dǎo)致金字塔形成; D、

7、異丙醇和硅酸鈉是產(chǎn)生金字塔的原因。 硅對(duì)堿的擇優(yōu)腐蝕是金字塔形成的本質(zhì),缺陷、沾污、異丙醇及硅酸鈉含量會(huì)影響金字塔的連續(xù)性及金字塔大小。第11頁(yè)/共36頁(yè)第十二頁(yè),共37頁(yè)。絨面形成最終取決于兩個(gè)因素: 腐蝕速率及各向異性腐蝕速率快慢影響因子: 1、腐蝕液流至被腐蝕物表面的移動(dòng)速率; 2、腐蝕液與被腐蝕物表面產(chǎn)生化學(xué)反應(yīng)(fnyng)的反應(yīng)(fnyng)速率; 3、生成物從被腐蝕物表面離開(kāi)的速率。第12頁(yè)/共36頁(yè)第十三頁(yè),共37頁(yè)。具體(jt)影響因子:NaOH濃度溶液溫度異丙醇濃度制絨時(shí)間硅酸鈉含量槽體密封程度、異丙醇揮發(fā)攪拌及鼓泡第13頁(yè)/共36頁(yè)第十四頁(yè),共37頁(yè)。NaOH濃度對(duì)絨面形

8、貌影響: NaOH對(duì)硅片反應(yīng)速率有重要影響。制絨過(guò)程中,由于所用NaOH濃度均為低堿濃度,隨NaOH濃度升高,硅片腐蝕速率相對(duì)上升。與此同時(shí),隨 NaOH濃度改變,硅片腐蝕各向異性因子也發(fā)生改變,因此(ync), NaOH濃度對(duì)金字塔的角錐度也有重要影響。85oC,30min,IPA vol10%第14頁(yè)/共36頁(yè)第十五頁(yè),共37頁(yè)。NaOH濃度(nngd)對(duì)絨面反射率影響: 0.130.140.150.16051015202530354045505560Concentration of NaOH (g/l)Average Reflectance第15頁(yè)/共36頁(yè)第十六頁(yè),共37頁(yè)。單晶制絨單

9、晶制絨溫度影響: 溫度過(guò)高,IPA揮發(fā)加劇,晶面擇優(yōu)性下降,絨面連續(xù)性降低;同時(shí)腐蝕速率過(guò)快,控制困難(kn nn); 溫度過(guò)低,腐蝕速率過(guò)慢,制絨周期延長(zhǎng); 制絨溫度范圍:75-90oC。第16頁(yè)/共36頁(yè)第十七頁(yè),共37頁(yè)。IPA影響:1、降低硅片表面張力,減少氣泡在硅片表面的粘附(zhn f),使金字塔更加均勻一致;2、氣泡直徑、密度對(duì)絨面結(jié)構(gòu)及腐蝕速率有重要影響。氣泡大小及在硅片表面的停留時(shí)間,與溶液粘度、表面張力有關(guān),所以需要異丙醇來(lái)調(diào)節(jié)溶液粘滯特性。單晶制絨單晶制絨第17頁(yè)/共36頁(yè)第十八頁(yè),共37頁(yè)。IPA影響: 除改善(gishn)消泡及溶液粘度外,也有報(bào)道指出IPA將與腐蝕下

10、的硅生成絡(luò)合物而溶于溶液。單晶制絨單晶制絨第18頁(yè)/共36頁(yè)第十九頁(yè),共37頁(yè)。時(shí)間影響(yngxing): 制絨包括金字塔的行核及長(zhǎng)大過(guò)程,因此制絨時(shí)間對(duì)絨面的形貌及硅片腐蝕量均有重要影響(yngxing)。a. 1 min;b. 5 min;c. 10min;d. 30min.單晶制絨單晶制絨第19頁(yè)/共36頁(yè)第二十頁(yè),共37頁(yè)。時(shí)間影響: 經(jīng)去除損傷層,硅片表面留下了許多(xdu)淺的準(zhǔn)方形腐蝕坑。1分鐘后,金字塔如雨后春筍,零星的冒出了頭;5分鐘后,硅片表面基本被小金字塔覆蓋,少數(shù)已開(kāi)始長(zhǎng)大。我們稱(chēng)絨面形成初期的這種變化為金字塔“成核”。10分鐘后,密布的金字塔絨面已經(jīng)形成,只是大小不

11、均勻,反射率也降到了比較低的水平。隨時(shí)間延長(zhǎng),金字塔向外擴(kuò)張兼并,體積逐漸膨脹,尺寸趨于均勻。隨制絨時(shí)間進(jìn)一步延長(zhǎng),絨面結(jié)構(gòu)均勻性反而下降,如圖e,f所示。 單晶制絨單晶制絨第20頁(yè)/共36頁(yè)第二十一頁(yè),共37頁(yè)。時(shí)間(shjin)影響: e. 35min; f. 45min單晶制絨單晶制絨第21頁(yè)/共36頁(yè)第二十二頁(yè),共37頁(yè)。硅酸鈉含量影響(yngxing): 硅酸鈉具體含量測(cè)量是沒(méi)必要的,只要判定它的含量是否過(guò)量即可。實(shí)驗(yàn)用濃鹽酸滴定,若滴定一段時(shí)間后出現(xiàn)少量絮狀物,說(shuō)明硅酸鈉含量適中;若滴定開(kāi)始就出現(xiàn)一團(tuán)膠狀固體且隨滴定的進(jìn)行變多,說(shuō)明硅酸鈉過(guò)量。 相對(duì)而言,制絨過(guò)程中,硅酸鈉含量具有

12、很寬的窗口。實(shí)驗(yàn)證實(shí),初拋液硅酸鈉含量不超過(guò)30wt%,制絨液硅酸鈉含量不超過(guò)15wt%,均能獲得效果良好的絨面。盡管如此,含量上限的確定需根據(jù)實(shí)際生產(chǎn)確認(rèn)。 單晶制絨單晶制絨第22頁(yè)/共36頁(yè)第二十三頁(yè),共37頁(yè)。槽體密封程度、異丙醇揮發(fā): 槽體密封程度,異丙醇揮發(fā)對(duì)制絨槽內(nèi)的溶液成分及溫度分布有重要影響。 制絨槽密封程度差,導(dǎo)致溶液揮發(fā)加劇,溶液液位的及時(shí)恢復(fù)非常必要,否則(fuz)制絨液濃度將會(huì)偏離實(shí)際設(shè)定值。異丙醇的揮發(fā)增加化學(xué)藥品消耗量增加的同時(shí),絨面顯微結(jié)構(gòu)也將因異丙醇含量改變發(fā)生相應(yīng)變化。 單晶制絨單晶制絨第23頁(yè)/共36頁(yè)第二十四頁(yè),共37頁(yè)。攪拌及鼓泡: 攪拌及鼓泡有利于提高

13、溶液均勻度,制絨過(guò)程(guchng)中附加攪拌及鼓泡,硅片表面的氣泡能得到很好的脫附,制絨后的硅片表面顯微結(jié)構(gòu)表現(xiàn)為絨面連續(xù),金字塔大小均勻。 但攪拌及鼓泡會(huì)略加劇溶液的揮發(fā),制絨過(guò)程(guchng)硅片的腐蝕速率也略為加快。 單晶制絨單晶制絨第24頁(yè)/共36頁(yè)第二十五頁(yè),共37頁(yè)。小結(jié): 單晶制絨原理為硅的各向異性腐蝕。硅片的表面沾污(zhn w),缺陷等對(duì)絨面形成有重要影響。 影響硅片腐蝕速率及絨面顯微結(jié)構(gòu)的因素眾多,主要包括如下因子:NaOH濃度;溶液溫度;異丙醇濃度;制絨時(shí)間;硅酸鈉含量;槽體密封程度;異丙醇揮發(fā);攪拌及鼓泡等。單晶制絨單晶制絨第25頁(yè)/共36頁(yè)第二十六頁(yè),共37頁(yè)。多

14、晶制絨工藝: 由于多晶硅片由大小不一的多個(gè)晶粒組成,多晶面的共同存在導(dǎo)致多晶制絨不能采用單晶的各向異性堿腐蝕 (Orientation Dependent Etching)方法完成。 已有研究的多晶制絨工藝: 高濃度酸制絨;機(jī)械研磨;噴砂,線切;激光刻槽;金屬催化多孔硅;等離子刻蝕等。 綜合(zngh)成本及最終效果,當(dāng)前工業(yè)中主要使用的多晶制絨方法為高濃度酸制絨。 多晶制絨多晶制絨第26頁(yè)/共36頁(yè)第二十七頁(yè),共37頁(yè)。多晶制絨工藝: 線上工藝: 均為HNO3,HF,DI Water 混合(hnh)體系。常用的兩個(gè)溶液配比大致如下: HNO3:HF:DI Water= 3:1:2.7; HN

15、O3:HF:DI Water= 1:2.7:2 制絨溫度6-10,制絨時(shí)間120-300sec。反應(yīng)方程式:HNO3+Si=SiO2+NOx+H2O SiO2+6HF=H2SiF6+2H2O 多晶制絨多晶制絨第27頁(yè)/共36頁(yè)第二十八頁(yè),共37頁(yè)。多晶制絨工藝: 制絨原理: HNO3:HF:DI Water= 3:1:2.7 該配比制絨液與位錯(cuò)腐蝕(fsh)Dash液的配比基本一致,反應(yīng)原理也一致,即利用硅片在缺陷或損傷區(qū)更快的腐蝕(fsh)速率來(lái)形成局部凹坑。同時(shí),低溫反應(yīng)氣泡的吸附也是絨面形成的關(guān)鍵點(diǎn)。 由于Dash溶液進(jìn)行缺陷顯示時(shí),反應(yīng)速率很慢,因此,進(jìn)行多晶制絨時(shí),需提高硅片的腐蝕(

16、fsh)速率(通常通過(guò)降低溶液配比中水的含量完成)。多晶制絨多晶制絨第28頁(yè)/共36頁(yè)第二十九頁(yè),共37頁(yè)。多晶制絨多晶制絨多晶制絨工藝: 制絨原理: HNO3:HF:DI Water= 1:2.7:2 該配比制絨液利用硅片的染色腐蝕。染色腐蝕是指在電化學(xué)腐蝕過(guò)程中,硅片的反應(yīng)速率受硅片基體載流子濃度影響很大。載流子濃度差異導(dǎo)致硅片腐蝕速率產(chǎn)生差異,從而形成(xngchng)腐蝕坑,完成硅片的 制絨。 相比上一配比,該配比下硅片腐蝕速率非??欤瑢?duì)制絨過(guò)程中溫度要求進(jìn)一步提高。同時(shí),在該工藝下,硅片表面顏色將變得較深。第29頁(yè)/共36頁(yè)第三十頁(yè),共37頁(yè)。多晶制絨工藝: 兩種工藝配比下的絨面(r

17、n min)照片: 配比(pi b)1配比(pi b)2多晶制絨多晶制絨第30頁(yè)/共36頁(yè)第三十一頁(yè),共37頁(yè)。新型制絨工藝: 新型制絨工藝: Rena浮法鏈?zhǔn)街平q(解決熱排放問(wèn)題);緩沖液調(diào)節(jié)制絨(控制(kngzh)自催化以及熱量生成問(wèn)題);放棄傳統(tǒng)制絨體系衍生的新制絨體系。多晶制絨多晶制絨第31頁(yè)/共36頁(yè)第三十二頁(yè),共37頁(yè)。槽式多晶制絨: 槽式批量制絨方式比較適合單晶,但對(duì)多晶酸制絨,由于反應(yīng)過(guò)程放熱量很大,而多晶酸制絨又需要一個(gè)低的制絨溫度(wnd),因此對(duì)設(shè)備的冷卻系統(tǒng)以及溶液循環(huán)系統(tǒng)有很高的要求。多晶制絨多晶制絨第32頁(yè)/共36頁(yè)第三十三頁(yè),共37頁(yè)。槽式多晶制絨: 設(shè)備改進(jìn)方向: 1、花籃齒間距盡量大,降低單批生產(chǎn)硅片數(shù)量; 2、大流量,強(qiáng)循環(huán)酸液致冷; 3、制絨過(guò)程(guchng)中酸循環(huán)。 工藝改進(jìn)方向: 1、降低制絨過(guò)程(guchng)熱積累; 2、防止硅片表面酸霧形成。擬采取的實(shí)驗(yàn)方向:添加緩沖劑進(jìn)行多晶制絨。多晶制絨多晶制絨第33頁(yè)/共36頁(yè)第三十四頁(yè),共37頁(yè)。NaOH的作用: 中和殘余酸液: H+OH-=H2OHCl+HF的作用: 進(jìn)一步去除金屬離子,

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶(hù)所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫(kù)網(wǎng)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶(hù)上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶(hù)上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶(hù)因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

最新文檔

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論