金屬平均晶粒度測(cè)定方法

1、金屬平均晶粒度測(cè)定方法1范圍1.1 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了金屬組織的平均晶粒度表示及評(píng)定方法。這些方法也適用晶粒形狀與標(biāo)準(zhǔn)系列評(píng)級(jí)圖相似的非金屬材料。這些方法主要適用于單相晶粒組織，但經(jīng)具體規(guī)定后也適用于多相或多組元和試樣中特定類型的晶粒平均尺寸的測(cè)量1.2 本標(biāo)準(zhǔn)使用晶粒面積、晶粒直徑、截線長(zhǎng)度的單峰分布來(lái)測(cè)定式樣的平均晶粒度。這些分布近似正態(tài)分布。本標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)定方法不適用于雙峰分布的晶粒度。雙峰分布的晶粒度參見(jiàn)標(biāo)準(zhǔn)E1181。測(cè)定分布在細(xì)小晶粒基體上個(gè)別非常粗大的晶粒的方法參見(jiàn)E930。1.3 本標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量方法僅適用平面晶粒度的測(cè)量，也就是試樣截面顯示出的二維晶度，不適用于試樣三維晶粒，即立體晶粒尺寸

2、的測(cè)量。1.4 試驗(yàn)可采用與一系列標(biāo)準(zhǔn)晶粒度圖譜進(jìn)行對(duì)比的方法或者在簡(jiǎn)單模板上進(jìn)行計(jì)數(shù)的方法。利用半自動(dòng)計(jì)數(shù)儀或者自動(dòng)分析晶粒尺寸的軟件的方法參見(jiàn)E1382。1.5 本標(biāo)準(zhǔn)僅作為推薦性試驗(yàn)方法，它不能確定受檢材料是否接收或適合使用的范圍。1.6 測(cè)量數(shù)值應(yīng)用SI單位表示。等同的英寸英鎊數(shù)值，如需標(biāo)出，應(yīng)在括號(hào)中列出近似值.1.7 本標(biāo)準(zhǔn)沒(méi)有列出所有的安全事項(xiàng)。本標(biāo)準(zhǔn)的使用者英建立適合的安全健康的操作規(guī)范和使用局限性。1.8 章節(jié)的順序如下：早下Number范圍1奔f文獻(xiàn)2術(shù)語(yǔ)3重要性和用途4使用概述5制樣6測(cè)試7校準(zhǔn)8顯微照相的準(zhǔn)備9程序比較10平面法（JEFFRIES）11普通截取法12海恩

3、線截取法13圓形截取法14Hilliard單環(huán)法14.2Abrams二環(huán)法14.3統(tǒng)計(jì)分析15非等軸晶試樣16含兩相或多相及組元試樣17報(bào)告18精度和偏差19關(guān)鍵詞20附件ASTM晶粒尺寸等級(jí)基礎(chǔ)附件A1晶粒度各測(cè)量值之間的換算附件A2鐵素體與奧氏體鋼的奧氏體晶粒尺寸附件A3斷口晶粒尺寸方法附件A4鍛銅和銅基合金的要求附件A5特殊情況的應(yīng)用附件A6附錄多個(gè)實(shí)驗(yàn)室的晶粒尺寸判定結(jié)果附錄X1參考附件附錄X22、參考文獻(xiàn)2.1 ASTM標(biāo)準(zhǔn)E3金相試樣的準(zhǔn)備E7金相學(xué)有關(guān)術(shù)語(yǔ)E407微蝕金屬和合金的操作E562計(jì)數(shù)法計(jì)算體積分?jǐn)?shù)的方法E691通過(guò)多個(gè)實(shí)驗(yàn)室比較決定測(cè)試方法的精確度的方法E883反射光

4、顯微照相指南E930截面上最大晶粒白評(píng)估方法（ALA晶粒尺寸）E1181雙峰分布的晶粒度測(cè)試方法E1382半自動(dòng)或全自動(dòng)圖像分析平均晶粒度方法2.2 ASTM附件2.2.1 參見(jiàn)附錄X23術(shù)語(yǔ)3.1 定義參照E73.2 本標(biāo)準(zhǔn)中特定術(shù)語(yǔ)的定義：3.2.1 ASTM晶粒度一一G,通常定義為公式（1）Nae為100倍下一平方英寸（645.16mm2）面積內(nèi)包含的晶粒個(gè)數(shù)，也等于1倍下一平方毫米面積內(nèi)包含的晶粒個(gè)數(shù)，乘以15.5倍。322=2.13.2.3 晶界截點(diǎn)法一一通過(guò)計(jì)數(shù)測(cè)量線段與晶界相交或相切的數(shù)目來(lái)測(cè)定晶粒度（3點(diǎn)相交認(rèn)為為1.5各交點(diǎn)）3.2.4 晶粒截點(diǎn)法一一通過(guò)計(jì)數(shù)測(cè)量線段通過(guò)晶粒

5、的數(shù)目來(lái)測(cè)定晶粒度（相切認(rèn)為0.5個(gè)，測(cè)量線段端點(diǎn)在晶粒內(nèi)部認(rèn)為0.5個(gè)）3.2.5 截線長(zhǎng)度一一測(cè)量線段通過(guò)晶粒時(shí)與晶界相交的兩點(diǎn)之間的距離。3.3符號(hào)兩相顯微組織中的基體晶粒A測(cè)量面積A截面上的平均晶粒AIi日日粒仲k舉或縱向日日粒仲k率d平均平囿晶粒直徑（平向出）D平均空間（體積）晶粒直徑f平面計(jì)算方法的JEFFRIES乘數(shù)G顯微晶粒度級(jí)別數(shù)l平均截距r在兩相顯微組織中的基體晶粒上的平均截距17非等軸晶粒縱向平均線截距非等軸晶粒橫向平均線截距17非等軸晶粒面積平均線截距1O基本長(zhǎng)度32mm,用于在微觀和宏觀截線法說(shuō)明G與l之間關(guān)系L測(cè)試線長(zhǎng)度M放大倍數(shù)Mb圖譜中的放大倍數(shù)n視場(chǎng)個(gè)數(shù)N兩相

6、顯微組織中的測(cè)試線截過(guò)的晶粒數(shù)目Na1X每平方毫米的晶粒數(shù)Na兩相顯微組織中的1X每平方毫米的晶粒數(shù)目NAE100X每平方英寸的晶粒數(shù)Nai非等軸晶粒下縱向NaNAt非等軸晶粒下橫向NaNap非等軸晶粒卜平面上NaNi測(cè)試線上截線的數(shù)目Ninside完全在測(cè)試環(huán)中晶粒數(shù)Nintercepted被測(cè)試環(huán)截?cái)嗟木Я?shù)Nl測(cè)試線上單位長(zhǎng)度上截線的數(shù)目NLl非等軸晶粒下縱向NlNLt非等軸晶粒下橫向nlNLp非等軸晶粒卜平面上nlPi測(cè)試線與晶界相交數(shù)Pl單位長(zhǎng)度測(cè)試線與晶界相交數(shù)PLi非等軸晶粒下縱向PlPLt非等軸晶粒下橫向PlPLp非等軸晶粒卜平面上PlQQms標(biāo)準(zhǔn)偏差Sv單相結(jié)構(gòu)中晶界表面枳的

7、體積比Sv兩相結(jié)構(gòu)中晶界表面積的體積比t學(xué)生的t乘數(shù)，確定置信區(qū)間Vv兩相結(jié)構(gòu)中相體積分?jǐn)?shù)95%CI95%置信區(qū)間%RA相對(duì)準(zhǔn)確率白分速4使用概述1.1 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測(cè)定平均晶粒度的基本方法：比較法、面積法和截點(diǎn)法1.1.1 比較法：比較法不需計(jì)算晶粒、截矩。與標(biāo)準(zhǔn)系列評(píng)級(jí)圖進(jìn)行比較，評(píng)級(jí)圖有的是標(biāo)準(zhǔn)掛圖、有的是目鏡插片。用比較法評(píng)估晶粒度時(shí)一般存在一定的偏差（±0.5級(jí)）。評(píng)估值的重現(xiàn)性與再現(xiàn)性通常為±1級(jí)1.1.2 面積法：面積法是計(jì)算已知面積內(nèi)晶粒個(gè)數(shù)，利用單位面積晶粒數(shù)Na來(lái)確定晶粒度級(jí)別數(shù)Gc該方法的精確度中所計(jì)算晶粒度的函數(shù)。通過(guò)合理計(jì)數(shù)可實(shí)現(xiàn)±0.2

8、5級(jí)的精確度。面積法的測(cè)定結(jié)果是無(wú)偏差的，重現(xiàn)性小于±0.5級(jí)。面積法的晶粒度關(guān)鍵在于晶粒界面明顯劃分晶粒的計(jì)數(shù)1.1.3 截點(diǎn)法：截點(diǎn)數(shù)是計(jì)算已知長(zhǎng)度的試驗(yàn)線段（或網(wǎng)格）與晶粒界面相交截部分的截點(diǎn)數(shù)，利用單位長(zhǎng)度截點(diǎn)數(shù)來(lái)確定晶粒度級(jí)別數(shù)G。截點(diǎn)法的精確度是計(jì)算的截點(diǎn)數(shù)或截距的函數(shù)，通過(guò)有效的統(tǒng)計(jì)結(jié)果可達(dá)到±0.25級(jí)的精確度。截點(diǎn)法的測(cè)量結(jié)果是無(wú)偏差的，重現(xiàn)性和再現(xiàn)性小于±0.5級(jí)。對(duì)同一精度水平，截點(diǎn)法由于不需要精確標(biāo)計(jì)截點(diǎn)或截距數(shù)，因而較面積法測(cè)量快。1.2 對(duì)于等軸晶組成的試樣，使用比較法，評(píng)定晶粒度既方便又實(shí)用。對(duì)于批量生產(chǎn)的檢驗(yàn)，其精度已足夠了。對(duì)于要

9、求較高精度的平均晶粒度的測(cè)定，可以使用面積法和截點(diǎn)法。截點(diǎn)法對(duì)于拉長(zhǎng)的晶粒組成試樣更為有效。1.3 如有爭(zhēng)議時(shí)截點(diǎn)法是所有情況下仲裁的方法1.4 不能測(cè)定重度冷加工材和平均晶粒度。如有需要。對(duì)于部分再結(jié)晶合金和輕度的冷加工材料可視作非等軸晶組成1.5 不能以標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖為依據(jù)測(cè)定單個(gè)晶粒。因?yàn)闃?biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖的構(gòu)成考慮到截面與晶粒三維排列關(guān)系，顯示出晶粒從最小到最大排列分布所反映出有代表性的正態(tài)分析結(jié)果。所以不能用評(píng)級(jí)圖來(lái)測(cè)定單個(gè)晶粒。根據(jù)平均植計(jì)算晶粒度級(jí)別G，僅對(duì)在每一領(lǐng)域的個(gè)別測(cè)量值進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析5 .運(yùn)用性5.1 測(cè)定晶粒度時(shí)，首先應(yīng)認(rèn)識(shí)到晶粒度的測(cè)定并不是一種十分精確的測(cè)量。因?yàn)榻饘俳M織是由不

10、同尺寸和形狀的三維晶粒堆積而成，即使這些晶粒的尺寸和形狀相同，通過(guò)該組織的任一截面（檢驗(yàn)面）上分布的晶粒大小，將從最大值到零之間變化。因此，在檢測(cè)面上不可能有絕對(duì)尺寸均勻的晶粒分布，也不能有兩個(gè)完全相同的晶粒面5.2 在纖維組織中的晶粒尺寸和位置都是隨機(jī)分布的，因此，只有不帶偏見(jiàn)地隨機(jī)選取三個(gè)或三個(gè)以上代表性。只有這樣，所謂“代表性“即體現(xiàn)試樣所有部分都對(duì)檢驗(yàn)結(jié)果有所貢獻(xiàn)，而不是帶有遐想的去選擇平均晶粒度的視場(chǎng)。只有這樣，測(cè)定結(jié)果的準(zhǔn)確性和精確度才是有效的。6 取樣6.1 測(cè)定晶粒度用的試樣應(yīng)在交貨狀態(tài)材料上切取。試樣的數(shù)量及取樣部位按相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)或技術(shù)條件規(guī)定6.2 切取試樣應(yīng)避開(kāi)剪切、加熱影

11、響的區(qū)域。不能使用有改變晶粒結(jié)構(gòu)的方法切取試樣。7 檢測(cè)試樣7.1 一般來(lái)說(shuō)，如果是等軸晶粒，任何試樣方向都可行。但是，鍛造試樣等軸晶粒的出現(xiàn)7.2 如果縱向晶粒是等軸的，那么這個(gè)平面或其他平面將會(huì)得到同樣的精度。如果不是等軸的，延長(zhǎng)了，那么這個(gè)試樣不同方向的晶粒度測(cè)量會(huì)變化。既然如此，晶粒度大小應(yīng)該至少由兩到三個(gè)基本平面評(píng)定出。橫向，縱向和法向。并根據(jù)16章計(jì)算平均值。如果使用直線而不是圓圈測(cè)量非等軸晶粒截點(diǎn)，可有兩個(gè)測(cè)試面得到結(jié)果截點(diǎn)數(shù)，而不是面積法中所說(shuō)的三個(gè)。7.3 拋光的區(qū)域應(yīng)該足夠大，在選用的放大率下，至少能得到5個(gè)區(qū)域。在大部分情況下，最小的拋光面積達(dá)到160mm2就足夠了，薄板

12、和絲材除外。7.4 根據(jù)E-3推薦的方法，試樣應(yīng)當(dāng)磨片，裝配（如果需要的話），拋光。根據(jù)E-409所列出的，試樣應(yīng)被試劑腐蝕。8 校準(zhǔn)8.1 用千分尺校準(zhǔn)物鏡，目鏡的放大率。調(diào)焦時(shí)，設(shè)置在2%內(nèi)8.2 用毫米尺測(cè)量測(cè)試直線的準(zhǔn)確長(zhǎng)度和測(cè)試圓的直徑。9 顯微照片的準(zhǔn)備顯微照片按E883準(zhǔn)備。10 比較法1.1 1比較法適用于評(píng)定具有等軸晶粒的再結(jié)晶材料或鑄態(tài)材料1.2 2使用比較法評(píng)定晶粒度時(shí)，當(dāng)晶粒形貌與標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖的形貌完全相似時(shí)，評(píng)級(jí)誤差最小。因此本標(biāo)準(zhǔn)有下列四個(gè)系列標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖：1.2.1 1系列圖片1：無(wú)孿晶晶粒（淺腐蝕）100倍1.2.2 2系列圖片2：有孿晶晶粒（淺腐蝕）100倍1.2

13、.3 3系列圖片3：有孿晶晶粒（深腐蝕）751.2.4 4系列圖片4：鋼中奧氏體晶粒（滲碳法）100倍1.3 3表1列出了各種材料建議使用的標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖。1.4 4顯微晶粒度的評(píng)定通常使用與相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)系列評(píng)級(jí)圖相同的放大倍數(shù)，直接進(jìn)行對(duì)比。通過(guò)有代表性視場(chǎng)的晶粒組織圖象或顯微照片與相應(yīng)表系列評(píng)級(jí)圖或標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖復(fù)制透明軟片比較，選取與檢測(cè)圖象最接近的標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖級(jí)別數(shù)，記錄評(píng)定結(jié)果。1.5 5觀察者進(jìn)行評(píng)定時(shí)，要選擇正確的放大率，區(qū)域合適的尺寸晶粒級(jí)別），有代表性視場(chǎng)的試樣的截面和評(píng)定平均晶粒度的區(qū)域。詳見(jiàn)5.21.6 6每個(gè)試樣應(yīng)進(jìn)行三四處代表性區(qū)域的晶粒度評(píng)定。1.7 7當(dāng)帶測(cè)晶粒度超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)系列評(píng)

14、級(jí)圖片所包括的范圍或基準(zhǔn)放大倍數(shù)（75，100）不能滿足需要時(shí)，根據(jù)注2和表2進(jìn)行換算1.8 8在晶粒度圖譜中，最粗的一端視野中只有少量晶粒，在最細(xì)的一端晶粒的尺寸非常小，很難準(zhǔn)確比較。當(dāng)試樣的晶粒尺寸落在圖譜的兩端時(shí)，可以變換放大倍數(shù)使晶粒尺寸落在靠近圖譜中間的位置。10.91.10 0使用相同的方法，不同的測(cè)量人員經(jīng)常得到有細(xì)微差別的結(jié)果，期望提供不同測(cè)量值偏差1.11 1重復(fù)試驗(yàn)時(shí)，會(huì)與第一次出現(xiàn)發(fā)生偏差，通過(guò)改變放大率，調(diào)整物鏡，目鏡來(lái)克服1.12 2對(duì)于特別粗大的晶粒使用宏觀晶粒度進(jìn)行的測(cè)定，放大倍數(shù)為1倍，直接將準(zhǔn)備好的有代表性的晶粒圖象與系列評(píng)級(jí)圖1（非孿晶）和圖2及圖3（孿晶）

15、進(jìn)行比較評(píng)級(jí)。由于標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖是在75倍和100倍下制備的，待測(cè)宏觀晶粒不可能完全與系列評(píng)級(jí)圖一致，為此宏觀晶粒度可用平均晶粒直徑或表3所列的宏觀晶粒度級(jí)別數(shù)來(lái)表示，見(jiàn)注31.13 3比較程序可以用來(lái)評(píng)判鐵素體鋼經(jīng)過(guò)McQuaid-Ehn測(cè)試（參見(jiàn)附錄A3、A3.2）或其它任何方法顯示出的奧氏體晶粒尺寸（參見(jiàn)附錄A3、A3.2）。經(jīng)過(guò)McQuaid-Ehn測(cè)試得到的晶粒（參見(jiàn)附錄A3）可以通過(guò)在100X晶顯微圖像中和標(biāo)準(zhǔn)晶粒度圖譜圖IV相比較得到其晶粒尺寸。測(cè)量其它方法得到的奧氏體晶粒度（參見(jiàn)附錄A3）,可將100X晶顯微圖像中和圖I、n或IV中最相近的結(jié)構(gòu)相比較。1.14 4所謂“SHEPHE

16、RD斷口晶粒尺寸方法”是通過(guò)觀察淬火鋼（2）斷口形貌并與一系列標(biāo)準(zhǔn)斷口相比較6來(lái)判別晶粒尺寸。試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)任意的斷口晶粒尺寸和ASTM晶粒尺寸吻合良好。這種吻合使得奧氏體晶?？梢酝ㄟ^(guò)斷口晶粒尺寸來(lái)判斷。11 面積法在顯微照片上選擇一個(gè)已知面積（通常是5000mm2）,選擇一個(gè)到少能截獲50個(gè)晶粒的放大倍數(shù)。調(diào)好焦后，數(shù)在這個(gè)范圍內(nèi)的晶粒數(shù)。指定區(qū)域的晶粒數(shù)加上被圓圈截獲的晶粒數(shù)的一半就是整個(gè)晶粒數(shù)。如果這個(gè)數(shù)乘上f,在表五中有JEFFRIES乘數(shù)對(duì)應(yīng)的放大率。1X每平方毫米的晶粒數(shù)，由以下公式計(jì)算出：是完全落在網(wǎng)格內(nèi)的晶粒數(shù)，是被網(wǎng)格所切割的晶粒數(shù)，平均晶粒度也就是的倒數(shù)。即。平均平面晶粒直徑（平

17、面出），是平均晶粒度的平方根。晶粒直徑?jīng)]有物理意義。因?yàn)樗淼氖钦叫尉Я^(qū)域。11.1 為了能夠獲得測(cè)試環(huán)內(nèi)晶粒的數(shù)目和測(cè)試環(huán)上相交的晶粒數(shù)目，有必要用油筆或鋼筆在模板上的晶粒做記號(hào)。面積法的精度與晶粒的數(shù)目有關(guān)。但是在測(cè)試環(huán)中晶粒的數(shù)目不能超過(guò)100，否則會(huì)變得乏味和不準(zhǔn)確。經(jīng)驗(yàn)表明選擇一個(gè)倍數(shù)使視野中包含50個(gè)晶粒左右為最佳。由于需要在晶粒上做記號(hào)以獲得準(zhǔn)確的計(jì)數(shù)所有這種平面法比截點(diǎn)法效率低。11.2 測(cè)量視場(chǎng)的選擇應(yīng)是不帶偏見(jiàn)地隨機(jī)選擇允許附加任何典型視的選擇才是真實(shí)有效的11.3 在最初的定義下，NO.1晶粒為在100X下有1.000晶粒/英寸2，1X下有15.500個(gè)晶下實(shí)際的晶

18、粒數(shù)。粒/mm2。在其它的非標(biāo)準(zhǔn)環(huán)組成的面積中，從表4中找出最相近的尺寸來(lái)判斷每平方毫米ASTM晶粒度G可以通過(guò)表6由NA（1X每平方毫米的晶粒數(shù)）用（公式1）計(jì)算得出。12 截點(diǎn)法12.1 截點(diǎn)法較面積法簡(jiǎn)捷，建議使用手動(dòng)記數(shù)器，以防止記數(shù)的正常誤差和消除預(yù)先估計(jì)過(guò)高或過(guò)抵的偏見(jiàn)12.2 對(duì)于非均勻等軸晶粒的各種組織應(yīng)使用截點(diǎn)法，對(duì)于非等軸晶粒度，截點(diǎn)法既可用于分別測(cè)定三個(gè)相互垂直方向的晶粒度也可計(jì)算總體平均晶粒度。12.3 ASTM平均晶粒度G和直截面之間沒(méi)有直接的聯(lián)系，不像面積法中，和之間有確定的聯(lián)系。關(guān)系式不運(yùn)用于等軸晶粒。在100倍的放大下，平均截面上32mm的平均晶粒度計(jì)算公式為：

19、這里是32mm12.4 晶界表面積比由公式算出。這個(gè)關(guān)系式與晶粒形狀無(wú)關(guān)13直線截點(diǎn)法13.1 估算出被直線截出的晶粒數(shù)，不低于50個(gè)。可以通過(guò)延長(zhǎng)測(cè)試線和擴(kuò)大放大率得到13.2 為了獲得合理的平均值，應(yīng)任意選擇35個(gè)視場(chǎng)進(jìn)行測(cè)量。如果這一平均值的精度不滿足要求時(shí)，應(yīng)增加足夠的附加視場(chǎng)。13.3 計(jì)算截點(diǎn)時(shí)，測(cè)量線段終點(diǎn)不是截點(diǎn)不予計(jì)算。終點(diǎn)正好接觸到晶界時(shí)，計(jì)為0.5個(gè)截點(diǎn)，測(cè)量線段與晶界相切時(shí)，計(jì)為1個(gè)截點(diǎn)。明顯地與三個(gè)晶粒匯合點(diǎn)重合時(shí)，計(jì)為1.5個(gè)截點(diǎn)。在不規(guī)則晶粒形狀下，測(cè)量線在同一晶粒邊界不同部位產(chǎn)生的兩個(gè)截點(diǎn)后有伸入形成新的截點(diǎn)，計(jì)算截點(diǎn)時(shí)，應(yīng)包括新的截點(diǎn)。13.4 應(yīng)該排除有4個(gè)

20、或更多方向直線排列，中度偏離等軸結(jié)構(gòu)的截點(diǎn)計(jì)算?？梢允褂脠D5中的四條直線13.5 對(duì)于明顯的非等軸晶組織，如經(jīng)中度加工過(guò)的材料，通過(guò)對(duì)試樣三個(gè)主軸方向的平行線束來(lái)分別測(cè)量尺寸，以獲得更多數(shù)據(jù)。通常使用縱向和橫向部分。必要時(shí)也可使用法向。圖1任一條100mm線段，可平行位移在同一圖象中標(biāo)記“”處五次來(lái)使用14圓截點(diǎn)法14.1 圓截點(diǎn)法被hiilliardunderwwood和adrams提倡。它能自動(dòng)補(bǔ)償而引起的偏離等軸晶粒誤差。圓截點(diǎn)法克服了試驗(yàn)線段部截點(diǎn)法不明顯的毛病。圓截點(diǎn)法作為質(zhì)量檢測(cè)評(píng)估晶粒度的方法是比較合適的。14.2 單圓截點(diǎn)法14.2.1 運(yùn)用直線法測(cè)量偏離等軸晶粒的晶粒度，如果

21、不是很小心的操作可能會(huì)引起偏差。圓截點(diǎn)法會(huì)削除偏差14.2.2 使用的測(cè)量網(wǎng)格的圓可為任一周長(zhǎng)，通常使用100mm,200mm和250mm.測(cè)度圓不應(yīng)該比最大的晶粒小。14.3 三圓截點(diǎn)法14.3.1 試驗(yàn)表明，每個(gè)試樣截點(diǎn)計(jì)數(shù)達(dá)500時(shí)，常獲得可靠的精確度，對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行開(kāi)方檢驗(yàn)，結(jié)果表明截點(diǎn)計(jì)數(shù)服從正態(tài)分布的統(tǒng)計(jì)方法處理，對(duì)每次晶粒度測(cè)定結(jié)果可計(jì)算出置信區(qū)間。但是如果每個(gè)視場(chǎng)產(chǎn)生40100個(gè)截點(diǎn)計(jì)數(shù)，誤差也會(huì)容易產(chǎn)生。因?yàn)槊恳灰晥?chǎng)的晶粒結(jié)構(gòu)是變化的。至少應(yīng)該選擇5個(gè)視場(chǎng)，一些金相實(shí)驗(yàn)者認(rèn)為，選10個(gè)區(qū)域，每個(gè)區(qū)域4050個(gè)點(diǎn)最合適。對(duì)大多數(shù)晶粒結(jié)構(gòu)，在510區(qū)域選擇400500截點(diǎn)，精確度

22、將會(huì)大于10%。14.3.2 測(cè)量網(wǎng)格由三個(gè)同心等距，總周長(zhǎng)為500mm的圓組成，如圖5所示。將此網(wǎng)格用于測(cè)量任意選擇的五個(gè)不同視場(chǎng)上，分別記錄每次的截點(diǎn)數(shù)。然后計(jì)算出平均晶粒度和置信區(qū)間，如置信區(qū)間不合適，需增加視場(chǎng)數(shù)，直至置信區(qū)間滿足要求為止。在測(cè)試中允許使用合適尺寸的刻線，但希望觀察者能找出推薦刻度正確閱讀的難點(diǎn)，運(yùn)用手動(dòng)記數(shù)器，完整依次閱讀每個(gè)圓上的點(diǎn)數(shù)直到計(jì)算出晶界面所有的點(diǎn)數(shù)。手動(dòng)記數(shù)器可以避免預(yù)先估計(jì)的過(guò)高過(guò)低的偏差。1.1.1.1 1選擇適當(dāng)?shù)姆糯蟊稊?shù)，使三個(gè)圓的試驗(yàn)網(wǎng)格在每一視場(chǎng)上產(chǎn)生40個(gè)100個(gè)截點(diǎn)數(shù)，目的是通過(guò)選擇5個(gè)視場(chǎng)可獲得400個(gè)500個(gè)總截點(diǎn)計(jì)數(shù)。1.1.1.2

23、 2測(cè)量網(wǎng)格通過(guò)三個(gè)晶粒匯合時(shí)截點(diǎn)計(jì)數(shù)為2個(gè)14.3.3 根據(jù)以下公式計(jì)算和，和是截面上的點(diǎn)數(shù)，是測(cè)試線長(zhǎng)度，是放大率14.3.4 計(jì)算平均截距，運(yùn)用表6中的方程式或表4，圖6中的數(shù)據(jù)，可的出晶粒度15統(tǒng)計(jì)分析15.115.1 晶粒度測(cè)量不可能是十分精確的測(cè)量。所以結(jié)果不可能代表實(shí)際的晶粒度大小。，根據(jù)工程實(shí)踐，本章方法提出了保證測(cè)量結(jié)果滿足相應(yīng)的置信區(qū)間及相對(duì)誤差的要求。使用95%的置信區(qū)間（95%CI）表示測(cè)量結(jié)果有95%的幾率落在指定的置信區(qū)間內(nèi)。15.1.1 每一視場(chǎng)晶粒度的大小總是在變化，這是不確定性的一部分。15.1.2 測(cè)量好需要的數(shù)值后，根據(jù)計(jì)算平均數(shù)，每個(gè)具體的值，是個(gè)數(shù)15

24、.3 根據(jù)計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)差s是標(biāo)準(zhǔn)差15.4 95%置信區(qū)間按計(jì)算表7列出了和對(duì)應(yīng)值15.5 測(cè)量結(jié)果相對(duì)誤差按計(jì)算%RA15.6 如果%RA對(duì)此預(yù)期要求相差太大，應(yīng)補(bǔ)增視場(chǎng)數(shù)后重新計(jì)算。對(duì)于大多數(shù)計(jì)算，不大于10%是視為有效的15.7 運(yùn)用圖4和圖6的方程式，換算，和平均晶粒級(jí)別數(shù)Go16非等軸晶試樣的晶粒度16.1 如晶粒形狀加工而改變，不再是等軸形狀。對(duì)于矩形的棒材或板材晶粒度應(yīng)在材的縱向、橫向法向截面上測(cè)定，對(duì)于圓幫材晶粒度應(yīng)在縱向和橫向截面上測(cè)定。如果等軸偏差不太大（3:1形狀比），可在縱向試樣面上使用圓形測(cè)量網(wǎng)格進(jìn)行分析。如果使用直線取向測(cè)量網(wǎng)格進(jìn)行測(cè)定，可使用三個(gè)主要截面的任意兩個(gè)面上

25、進(jìn)行三個(gè)取向的測(cè)量16.2 面積法16.2.1 當(dāng)晶粒形狀不是等軸而生長(zhǎng)，運(yùn)用面積法測(cè)定晶粒度方法是在三個(gè)主平面上進(jìn)行晶粒計(jì)數(shù)，也就是測(cè)定縱向、橫向及法向平面上放大一倍時(shí)的每平方毫米內(nèi)的平均晶粒度，,然后計(jì)算出每平方毫米內(nèi)的平均晶粒度：16.2.2 對(duì)于等軸形狀偏離形狀不太嚴(yán)重的晶粒度可以僅根據(jù)計(jì)算出16.2.3 根據(jù)計(jì)算出，僅對(duì)每個(gè)區(qū)域的各個(gè)值進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析16.3 截面法16.3.1 要估計(jì)非等軸組織的晶粒度?？墒褂脠A測(cè)量網(wǎng)格隨機(jī)地放在三個(gè)主檢測(cè)面上進(jìn)行?；蚴褂弥本€段在3個(gè)或6個(gè)主檢測(cè)面（見(jiàn)圖7）進(jìn)行截點(diǎn)計(jì)數(shù)。對(duì)于等軸形狀偏離不太嚴(yán)重（3:1形狀比）的晶粒度的圓測(cè)量網(wǎng)格在縱向面上進(jìn)行測(cè)量是可

26、行的16.3.2 晶粒度可以通過(guò)單位長(zhǎng)度晶界相交的平均數(shù)或單位長(zhǎng)度上晶粒截線的平均數(shù)計(jì)算出對(duì)于單相晶粒結(jié)構(gòu)，兩種方法得到相同的結(jié)果。PL,Nl可由每個(gè)主檢測(cè)平面上的測(cè)試圓和圖7所示的3個(gè)或6個(gè)主要測(cè)試方向上的直線計(jì)算出。16.3.3 根據(jù)在三個(gè)平面上隨機(jī)測(cè)量的Pl,Nl用以下公式計(jì)算平均值P（P?百PLP）1/31/3N（NliNLtNlp）根據(jù)PL,NL選擇性計(jì)算，i7,ip,通過(guò)以下公式計(jì)算l?（匚h316.3.4 如果測(cè)試線在三個(gè)主平面的主方向上。僅兩個(gè)三個(gè)主方向內(nèi)的主平面需要計(jì)算，并且獲得晶粒度的估算值16.5根據(jù)縱向面上平行（0）和垂直（90）于變形方向的平均截距，可確定晶粒伸長(zhǎng)率或

27、各向異性AI,AIU0-ii（90）1.1.1.1 1三維晶粒的形狀，可通過(guò)三個(gè)主基礎(chǔ)面上的平均截距來(lái)確定1.1.1.2 2可將以上結(jié)果簡(jiǎn)化成按比例表示的最小值16.3.6 三個(gè)主平面上的l可由N1,PL,得出（參見(jiàn)Eq22）,以下公式計(jì)算：P（P7可PP）1/3i（l71口1/316.3.7 平均晶粒度由表4的得出的全部平均數(shù)和表6中的方程式。非等軸晶粒的晶粒度計(jì)算參見(jiàn)附錄A1和E1382實(shí)驗(yàn)方法16.4每一平面和基本測(cè)試方向的數(shù)據(jù)，根據(jù)15.1-15.5所示方法進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析17含兩相或多相及多級(jí)組無(wú)試樣的晶粒度17.1 對(duì)少量的第二相的顆粒，不論是否是所希望的形貌，測(cè)定晶粒度時(shí)可忽略不計(jì)，

28、也就是說(shuō)當(dāng)作單相物質(zhì)結(jié)構(gòu)來(lái)處理，可使用面積法或截點(diǎn)法測(cè)定其晶粒度，若無(wú)另有規(guī)定，其有效的平均晶粒度應(yīng)視作為基體晶粒度。17.2 根據(jù)E-562,測(cè)定各部分晶粒所占的百分比17.3 比較法對(duì)于大多工藝生產(chǎn)檢驗(yàn)，如果第二相（或組元）基本上與基體晶粒大小相同由島狀或片狀組成，或者是第二相質(zhì)點(diǎn)（晶粒）的數(shù)量少而尺寸又小的，并位于初生晶粒的晶界處，此時(shí)可用比較法。17.4 面積法如果基體晶粒邊界清晰可見(jiàn)，且第二相（組元）質(zhì)點(diǎn)（晶粒）主要存在于基體晶粒之間，而不是在晶粒內(nèi)時(shí)，可使用面積法進(jìn)行晶粒度測(cè)量。選用的測(cè)量網(wǎng)格面積大小，應(yīng)以只能覆蓋基體晶粒為度，通過(guò)統(tǒng)計(jì)測(cè)量網(wǎng)格面積內(nèi)的晶粒數(shù)N來(lái)確定基體晶粒度。其有

29、效平均晶粒度由每一基相的晶粒度來(lái)確定。17.5 截點(diǎn)法17.5.1 適用于面積法的限定條件同樣適用于本截點(diǎn)法。此外，還應(yīng)確定基相（）的體積分?jǐn)?shù)。然后使用單圓或三圓的測(cè)量網(wǎng)絡(luò)，計(jì)數(shù)出測(cè)量網(wǎng)格與基體晶粒相交截的晶粒數(shù)按下述確定基相晶粒的平均截距：式中為基相（）晶粒體積分?jǐn)?shù)，可利用（基相晶粒面積分?jǐn)?shù)）關(guān)系估算測(cè)量網(wǎng)格長(zhǎng)度，單位為毫米放大倍數(shù)測(cè)量網(wǎng)格與基相晶粒交截?cái)?shù)17.6 運(yùn)用平行的直線的個(gè)別截面長(zhǎng)度的測(cè)量決定平均截距也是可行的。不要測(cè)量線尾的截點(diǎn)。這個(gè)方法很煩瑣，除非在一些情況下可以自動(dòng)進(jìn)行?？筛鶕?jù)表4表6得到G值18 報(bào)告18.1 測(cè)試報(bào)告中需表明試樣所有相關(guān)信息，如成分、規(guī)格名稱或商標(biāo)、顧客或

30、數(shù)據(jù)需求者、測(cè)試日期、熱處理或其它處理歷史、試樣的位置和區(qū)域、腐蝕液和腐蝕方法，晶粒度分析方法及其它需要的信息。18.2 列出了測(cè)量視野的數(shù)目，放大倍數(shù)和視野面積。晶粒的數(shù)目、截線或交點(diǎn)的數(shù)目也需要記錄。在兩相結(jié)構(gòu)中，需列出基體相的面積分?jǐn)?shù)。18.3 如有需要，應(yīng)提供典型形貌的顯微照片。18.4 類出平均測(cè)量值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、95置信區(qū)間、相關(guān)準(zhǔn)確度百分比和ASTM晶粒度。18.4.1 在比較法中，僅需列出估計(jì)的ASTM晶粒度.18.5 對(duì)于非等軸晶粒，列出分析方法，檢查的面積，評(píng)判的方向（如可適用的），每個(gè)面或方向的估算晶粒度，主要平面的測(cè)量平均值，計(jì)算或估算的ASTM晶粒度。18.6 兩相結(jié)構(gòu)

31、中，列出分析方法,基體相的數(shù)量（如測(cè)量了），基體相的晶粒尺寸（標(biāo)準(zhǔn)偏差、95置信區(qū)間、相關(guān)準(zhǔn)確度百分比）、計(jì)算或估算的ASTM晶粒度。18.7 如需要列出一批試樣中的平均晶粒尺寸，不能簡(jiǎn)單地計(jì)算ASTM晶粒度的平均值,要計(jì)算實(shí)際測(cè)量值的算術(shù)平均值，如每個(gè)試樣的。從批平均值中計(jì)算或估計(jì)批ASTM晶粒度。試樣的也可以根據(jù)15節(jié)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，來(lái)估算晶粒尺寸隨批次的不同而產(chǎn)生的變化。19 準(zhǔn)確度和偏差19.1 晶粒尺寸測(cè)量的準(zhǔn)確度和偏差依靠于試樣選取的代表性和選擇測(cè)量拋光平面面積的代表性。如果晶粒的尺寸隨產(chǎn)品而變化，試樣和區(qū)域的選擇必須適合這種變化。19.2 晶粒尺寸測(cè)量的相對(duì)準(zhǔn)確度隨著選取試樣的增多

32、而提高。每個(gè)試樣的晶粒尺寸測(cè)量的相對(duì)準(zhǔn)確度隨著選取區(qū)域、晶粒數(shù)目及截線的增多而提高。19.3 試樣準(zhǔn)備不適當(dāng)會(huì)產(chǎn)生測(cè)量偏差。只有顯示出真正的結(jié)構(gòu)和完整的晶界才能獲得最佳的測(cè)量精度遠(yuǎn)離偏差。當(dāng)未被顯出的晶界數(shù)目增多時(shí)，偏差增加，準(zhǔn)確度、重復(fù)性、再現(xiàn)性變差。19.4 選用不適合的放大倍數(shù)會(huì)產(chǎn)生偏差。19.5 如果晶粒的形狀不是等軸的，例如通過(guò)變形晶粒被拉長(zhǎng)或變得扁平，這時(shí)只測(cè)量一個(gè)平面上的晶粒尺寸，尤其時(shí)和變形方向垂直的平面，會(huì)產(chǎn)生偏差。產(chǎn)生變形的晶粒最好采用與變形方向一直的平面來(lái)測(cè)試。變形的晶粒尺寸應(yīng)該是在兩個(gè)或三個(gè)基本面上的測(cè)量值由16節(jié)的方法計(jì)算而得得平均值。19.6 單峰分布的試樣可以用這

33、些試樣方法來(lái)得到晶粒度。雙峰分布（或更復(fù)雜）的試樣不能用僅產(chǎn)生單一平均晶粒度得方法來(lái)測(cè)量，它應(yīng)該菜用E1181的方法進(jìn)行描述，用E112的方E930。法進(jìn)行測(cè)量。測(cè)定分布在細(xì)小晶?；w上個(gè)別非常粗大的晶粒的方法參見(jiàn)19.7 當(dāng)采用比較法，需選擇和試樣性質(zhì)一致的圖譜（孿生或非孿生，或滲碳和緩冷）,腐蝕（平腐蝕或晶粒對(duì)比腐蝕），以獲得最佳的精度。19.8 采用對(duì)比法獲得的單個(gè)金相晶粒度等級(jí)公差是±0.5G,當(dāng)同一試樣的多個(gè)數(shù)據(jù)時(shí)，其晶粒度等級(jí)公差可達(dá)到1.5-2.5G.19.9 斷口晶粒尺寸方法只能應(yīng)用于硬化鋼、相對(duì)脆性的工具鋼。試樣需淬火或請(qǐng)讀回火，斷口表面非常平整。采用“SHEPHE

34、RD斷口晶粒尺寸方法”，有經(jīng)驗(yàn)的金相工作者可以估算工具鋼的原奧氏體晶粒尺寸公差是±0.5G.19.10 一種試樣程序（參見(jiàn)附錄X1）是根據(jù)操作標(biāo)準(zhǔn)E691進(jìn)行分析的，其結(jié)果顯示在面積法和截線法中選用圖I和晶粒測(cè)量結(jié)果進(jìn)行比較，其偏差程度相當(dāng)一致。圖中的晶粒度比測(cè)量值粗0.5-1G，即G的數(shù)目減少。19.11 沒(méi)有觀測(cè)誤差存在，由面積法或截線法測(cè)出的晶粒度結(jié)果應(yīng)一致。19.12 隨著晶?；蚪鼐€段數(shù)目增加,晶粒度測(cè)量的相對(duì)準(zhǔn)確度也提高。在相同的數(shù)目下，截線法的相對(duì)準(zhǔn)確度要優(yōu)于平面法。對(duì)于截線法,獲得大約400個(gè)截線或截點(diǎn)數(shù)能達(dá)到10的RA,而對(duì)于平面法，需要大約700個(gè)截線或截點(diǎn)數(shù)能達(dá)到

35、10%的RA。重復(fù)性和可再現(xiàn)性隨著晶?；蚪鼐€段數(shù)目增加而提高，相同數(shù)目下，截線法的效果要優(yōu)于平面法。19.13 為了獲得準(zhǔn)確的計(jì)數(shù)，面積法需要在晶粒上做記號(hào)，而截線法則不需要。截線法使用簡(jiǎn)單快捷。而且測(cè)試表明截線法有著更好的統(tǒng)計(jì)精度，因此推薦用截線法。19.14 單個(gè)操作者重復(fù)測(cè)量晶粒度公差可到土0.1G,一組操作者晶粒度公差可到土0.5G。20關(guān)鍵詞20.1 ALA晶粒尺寸；各相異性指數(shù)；面積分?jǐn)?shù)；ASTM晶粒度；校準(zhǔn)；等軸晶粒；腐蝕劑；晶界；晶粒；晶粒尺寸；截線數(shù)；截線長(zhǎng)度；截點(diǎn)數(shù)；非等軸晶；孿生晶界附錄（強(qiáng)制性信息）A1ASTM晶粒度級(jí)別數(shù)的基礎(chǔ)A1.1.1術(shù)語(yǔ)和符號(hào)的描述一般術(shù)語(yǔ)晶粒度

36、普遍用于評(píng)定晶粒大小或和幾種測(cè)量方法中，通常使用長(zhǎng)度、面積或體積。使用的晶粒度級(jí)別數(shù)表示的晶粒度與測(cè)量方法和計(jì)量單位無(wú)關(guān)。圖6,表2和表4中闡明計(jì)算G的方程式，附錄A2中提供了普遍使用測(cè)量方法的關(guān)系。方程中的測(cè)量值如下：A1.1.1.1N=已知測(cè)定區(qū)域A的晶粒截面數(shù)，1=已知測(cè)定網(wǎng)格的長(zhǎng)度。M=放大率N=晶粒個(gè)數(shù)平均數(shù)A1.1.1.2調(diào)整放大率后，是單位面積（mm2）內(nèi)的晶粒個(gè)數(shù)（1倍），NL測(cè)試線上單位長(zhǎng)度（mm）上截線的數(shù)目（1倍），Pl是單位長(zhǎng)度（mm）測(cè)試線與晶界相交數(shù)（1倍）。-11-1、，、，、八，A.1.1.1.3l，1是單位長(zhǎng)度（mm）（1倍）的平均截距NaPlA1.1.1.4

37、是測(cè)試網(wǎng)格平均面積，平均晶粒直徑是的平方根。A1.1.1.5l,t,p寫(xiě)在下面當(dāng)評(píng)定非等軸晶粒結(jié)構(gòu)的晶粒大小時(shí)，三個(gè)下標(biāo)代表了三個(gè)主要平面。L是縱向面。T是橫向面。P是法向面。三個(gè)面互相垂直。每個(gè)平面上有兩個(gè)互相垂直的主要方向。A1.1.1.6n是視場(chǎng)個(gè)數(shù)A1.1.1.7另外以下特殊符號(hào)在隨后的方向式中列出截面法A1.2.1.米制單位l是100X下平均截距，是1X下平均截距，單位mm。G=0。=32面積法英制單位NAE是100X每平方英寸的晶粒數(shù)A2晶粒度各種測(cè)量值的計(jì)算A2.1放大率的改變一如果在放大率為M下觀察的到晶粒度，需要換算成在MB放大率(100X或1X),根據(jù)以下方法計(jì)算：A2.1

38、.1面積法：NaNao(M/Mb)2Na是放大倍數(shù)為Mb的晶粒數(shù)截點(diǎn)法NiNio(M/Mb)Ni是放大倍數(shù)為Mb的截點(diǎn)數(shù)A2.1.3長(zhǎng)度lloMb/Ml是放大倍數(shù)為Mb的長(zhǎng)度A.2.1.4ASTM晶粒級(jí)別數(shù)GGoQ這里Q210g(M/Mb)2(log2M10g2Mb)=是放大倍數(shù)為Mb的平均晶粒級(jí)別數(shù)A2.1.5Na1X每平方毫米的晶粒數(shù)NaeIOOX每平方英寸的晶粒數(shù)換算關(guān)系為：A2.2其他換算關(guān)系式可由以下方程式算出：A截面上的平均晶粒A2.2.2圓晶粒平均截距：A2.3以下給出其他有用的換算式：A2.3.1體積直徑（空間的）A2.3.2單相結(jié)構(gòu)中晶界表面積的體積比SV=兩相結(jié)構(gòu)中晶界表面

39、積的體積比SVA3.鐵素體和奧氏體鋼的奧氏體晶粒尺寸A3.1范圍不同的材料經(jīng)過(guò)特殊的處理和工藝可以獲得不同的晶粒特征。A3.2奧氏體晶粒尺寸A3.2.1鐵素體鋼如果沒(méi)有特別說(shuō)明，奧氏體晶粒尺寸步驟如下：A3.2.1.1相關(guān)程序（碳鋼和合金鋼）測(cè)試條件需和實(shí)際應(yīng)用時(shí)熱處理相關(guān)。加熱溫度不超過(guò)正常熱處理溫度500F（14C）,保溫時(shí)間不能超過(guò)50%,熱處理氣氛相同。冷卻速度和處理方法有關(guān)，微觀檢驗(yàn)參照表1。A3.2.1.2滲碳（碳鋼和合金鋼，碳含量一般低于0.25%）這個(gè)程序一般在做Mcquaid-enn測(cè)試中用到。如果沒(méi)有特別說(shuō)明,滲碳溫度在1700±250F（927±14）

40、，時(shí)間8小時(shí)或者滲碳厚度大約0.050英寸（1.27mm）A4斷裂晶粒尺寸法A4.1這種方法來(lái)源于ARPI和Shepherd通過(guò)斷口老分析前奧氏體晶粒尺寸（參見(jiàn)注腳11）,碳鋼和合金鋼的滲碳處理也可以用這種方法。A4.21到10共十種斷口分別對(duì)應(yīng)在ASTM的晶粒度。斷口的形狀注明最相近的標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)字，可以插入半個(gè)數(shù)字。如果斷口有兩種不同的斷裂圖案，還可以標(biāo)出兩個(gè)數(shù)字。A4.3試樣可以通過(guò)敲打自由端、三點(diǎn)彎曲其它的方法得到。在弄斷之間可以進(jìn)行刻槽或冷凍處理以獲得平坦的斷口。其它信息參見(jiàn)VANDERVOORE(10)A4.4試樣主要由馬氏體組成。允許適量的殘留碳化物存在。但是其它的相變產(chǎn)物如貝氏體、

41、珠光體和鐵素體的批量存在會(huì)改變斷口形貌，使方法失效。馬氏體工具鋼的過(guò)度回火也會(huì)改變斷口形貌使評(píng)判失效。方法使用于淬火試樣和輕度回火試樣。扁平的脆性斷口的結(jié)果最為準(zhǔn)確。A4.5研究表明斷口晶粒尺寸和金相法的結(jié)果符合良好。對(duì)于大多數(shù)工具鋼來(lái)說(shuō)，斷口晶粒度的范圍在金相晶粒度G的±1級(jí)。A4.6斷口法判斷的晶粒度不能小于10。斷口法判斷的晶粒度大于1級(jí)不能采用本法。A5.1對(duì)于鍛銅及銅合金，必須按下列程序：A5.1.1按E3準(zhǔn)備試樣A5.1.2比較法應(yīng)進(jìn)行對(duì)比平面出進(jìn)行腐蝕，如果進(jìn)行平面腐蝕，參見(jiàn)平面n.A5.1.3晶粒尺寸應(yīng)表示為平均晶粒直徑，單位mm。A5.1.4混合晶粒尺寸(測(cè)試方法參

42、見(jiàn)E1181)經(jīng)常在熱加工金屬中出現(xiàn)。應(yīng)該表示為面積百分?jǐn)?shù)和直徑，比如，500.015mm和500.070mm.A5.1.5為了符合晶粒尺寸特定值的大小晶粒尺寸計(jì)算或觀測(cè)值范圍大于0.055mm最近的倍數(shù)0.005A6特殊情況的應(yīng)用A6.1不同的金屬和材料行業(yè)有許多不同的晶粒尺寸測(cè)量的特定方法。本表標(biāo)準(zhǔn)列出了方法并不意味著那些特定的方法被取消，只要經(jīng)驗(yàn)證明相應(yīng)的方法能夠滿足特定的使用情況。但是強(qiáng)烈推薦應(yīng)用15節(jié)列出的統(tǒng)計(jì)程序來(lái)處理這些傳統(tǒng)方法產(chǎn)生的數(shù)據(jù)以確認(rèn)它們的置信區(qū)間能夠符合現(xiàn)有的需求。A6.2這些特定方法產(chǎn)生的數(shù)據(jù)并不能方便地與表4重的常用尺寸范圍相對(duì)應(yīng)。這些可以通過(guò)當(dāng)場(chǎng)與使用場(chǎng)合的固有的平均值或在長(zhǎng)期使用中獲得的平均值相比較來(lái)判斷。但是強(qiáng)烈推薦這些方法在初次使用前應(yīng)廣泛論證并轉(zhuǎn)換成相應(yīng)的ASTM晶粒度。當(dāng)晶粒度是由截線法或面積法得來(lái)的，直接就表明其ASTM晶粒度。如果使通過(guò)表4或附錄A1、A2轉(zhuǎn)換而來(lái)的，應(yīng)說(shuō)明相當(dāng)于ASTM晶粒度N