測井方法原理期末復(fù)習(xí)

1、測井方法原理與應(yīng)用1 緒論1. 測井技術(shù)發(fā)展根據(jù)采集系統(tǒng)特點大致可分為：模擬測井，數(shù)字測井，數(shù)控測井，成像測井2. 常規(guī)測井方法按照測井系列可分為：巖性測井系列、孔隙度測井系列、電阻率測井系列；3. 巖性測井系列包括：自然電位、自然伽馬、井徑測井；4.孔隙度測井系列包括：聲波時差測井、密度測井、中子測井；5.電阻率測井系列包括：深、中、淺探測的普通時電阻率測井、側(cè)向測井、感應(yīng)測井2 自然電位測井1. 自然電場產(chǎn)生的原因：（1）地層水和泥漿含鹽濃度不同而引起的擴散電動勢和吸附電動勢 （2）地層壓力與泥漿柱壓力不同而引起的過濾電動勢2. 由砂巖，泥巖、泥漿所組成的導(dǎo) 電回路中，電動勢Ed和Eda是

2、串聯(lián)的， 因此，在該回路中擴散作用的總電動勢 Es為該兩電動勢的代數(shù)和。Es = Ed+Eda = Kdlg(Cw/Cmf)+ Kdalg(Cw/Cmf) = Kslg(Cw/Cmf) Ks=Kd+Kda Ks-總的擴散、擴散吸附電動勢系數(shù); Es-井內(nèi)自然電動勢 通常把Es記作SSP，稱為自然電位，此 時的Ed的幅度稱為砂巖線，Eda稱為泥 巖線。實際測井是通常都是以泥巖線作 為自然電位測井曲線的基線。3. 自然電位測井曲線的影響因素：（1）巖性影響、（2）溫度影響、（3）地層水和泥漿濾液中含鹽性質(zhì)的影響、（4）地層水和泥漿濾液中含鹽濃度比值的影響、（5）地層電阻率的影響、（6）地層厚度的影

3、響、（7）井徑擴大和泥漿侵入的影響4. 自然電位測井的應(yīng)用：（1）判斷巖性、劃分滲透層;(2)判斷儲層中流體性質(zhì)；(3)計算地層水電阻率；（4）估計泥質(zhì)含量：泥質(zhì)系數(shù)法經(jīng)驗公式法關(guān)系曲線法;（4)判斷水淹層; (5)地層對比和沉積相研究3 普通電阻率法測井1. 地層因素：也叫相對電阻率，用F表示，F(xiàn)=Ro/Rw，式中: Ro孔隙中100含水時的地層電阻率；Rw地層水電阻率。2. 電阻增大系數(shù)：即含油巖石的電阻率Rt與該巖石完全含水時的電阻率R0之比，I=Rt/Ro3. 阿爾奇公式：上式合稱為Archie公式，它們是應(yīng)用電阻率測井資料解釋具有顆粒孔隙的含水巖石和含油氣巖石的兩個基本解釋公式。式中

4、 b 系數(shù)，僅與巖性有關(guān)；n 飽和度指數(shù)，n2。 4. 阿爾奇公式的重要意義：1）奠定了測井定量解釋的基礎(chǔ)；2）架起了孔隙度測井（一般為聲測井與核測井）與飽和度測井（一般為電阻率測井）之間的橋梁。5. 視電阻率：這個電阻率值既不可能等于某一巖層的真電阻率，也不是電極周圍各部分介質(zhì)電阻率的平均值，而是在離電極裝置一定距離范圍內(nèi)各介質(zhì)電阻率綜合影響的結(jié)果。我們稱之為視電阻率，記作Ra。6. 泥漿低侵：泥漿侵入后，Ri<Rt，一般對應(yīng)油層 泥漿高侵：泥漿侵入后，Ri>Rt，一般對應(yīng)水層7.梯度電極系：梯度電極系就是成對電極靠得很近，而不成對電極離得較遠的電極系。 電位電極系：電位電極系就

5、是在電極的相互距離中，成對電極相距較遠的電極系。8.普通視電阻率測井曲線特征：（1）梯度電極系視電阻率理論曲線：對于高阻厚層模型，理論曲線特征：頂部和底部梯度電極系視電阻率曲線形狀正好是相反的；頂部梯度曲線上的視電阻率極大值、極小值分別出現(xiàn)在高阻層Rt的頂界面和底界面，而底部梯度曲線上的極大值和極小值分別出現(xiàn)在高阻層的底界面和頂界面。中部視電阻率測量時不受上下圍巖的影響，故在地層中部，曲線出現(xiàn)一個直線段其幅度為Rt。對于高阻中等厚度層模型，其理論曲線特征如下：曲線在高阻層界面附近的特點和厚地層視電阻率曲線界面特征基本相同；地層中部差異較大，隨著地層的變薄，地層中部的平直線段部分不再存在，曲線變

6、化陡直，幅度變低。 對于高阻薄層模型，其理論曲線特征如下：在高阻薄層處只有極大值是明顯的；在高阻層的下方(成對電極一方)距高阻層底界面一個電極距的深度上出現(xiàn)一個假極大b點。（2）電位電極系視電阻率理論曲線： 當(dāng)上、下圍巖電阻率相等時，曲線對地層中點上下對稱；視電阻率曲線在地層中點取得極值在地層界面處，曲線出現(xiàn)“小平臺”，小平臺中點正對著地層的界面。9. 普通視電阻率測井曲線影響因素：（1）井的影響（2）電極系的影響（3).侵入影響(4).高阻鄰層的屏蔽影響(5).圍巖的影響10. 普通視電阻率測井的地質(zhì)應(yīng)用：確定巖層界面；確定地層電阻率Rt；地層對比；用于標(biāo)準(zhǔn)測井圖 11. 標(biāo)準(zhǔn)測井：在一個油

7、田或一個區(qū)域內(nèi)，為了研究巖性變化、構(gòu)造形態(tài)和大段油層組的劃分等工作，常使用幾種測井方法在全地區(qū)的各口井中，用相同的深度比例（1:500）及相同的橫向比例對全井段進行測井，這種組合測井叫做標(biāo)準(zhǔn)測井。4 側(cè)向測井1.三電極測井工作原理：(1)測井過程中，主電極Ao和A1、A2供以相同極性的電流Io和Ia，并使它們之間處于等電位狀態(tài)。(2)當(dāng)Ao與A1、A2電位不相等時，其電位差被送到調(diào)整線路上，通過調(diào)節(jié)A1、A2電路中的屏蔽電流Ia，保持整個電極系處于等電位狀態(tài)。(3)三側(cè)向的電場: 由于主電流Io被A1、A2所屏蔽。主電流水平流入地層。(4）儀器記錄的是任意屏蔽電極A1或A2，或主電極Ao與回流

8、電極B之間的電位差U和主電極電流Io ro表示主電極的接地電阻，表示主電電極到回流電極所經(jīng)過的 介質(zhì)的電阻。(5)三側(cè)向的主電流基本上是垂直射入地層。接地電阻定義:ro可看成是由三部分組成：ro=rm+rt+ri(等效串聯(lián)電路) 其中rm、ri、rt對Ra貢獻，取決于聚焦能力大小，聚焦能力強，rt貢獻大，反之rt對Ro貢獻就小。2.影響三側(cè)向測井的因素：1）電極系參數(shù)的影響；2）井眼及地層參數(shù)的影響3.三側(cè)向曲線特征：單一高阻層的電阻率曲線形態(tài)(1)上下圍巖一致時，曲線中心對稱，對高阻層，Ra上升；層愈厚，電阻越高。(2)上下圍巖不一致時，Ra曲線不對稱，極大值偏向高阻圍巖一方；3)h4d時，

9、極值不變，曲線對稱，對地層中心出現(xiàn)極大值。4.三側(cè)向測井曲線的應(yīng)用：（1）劃分巖性剖面：地層界面一般劃在曲線開始急劇變化的位置（2）可用LLd、LLs重疊法定性判斷油水層：油、水層的泥漿侵入性質(zhì)不同，（Rmf>Rw時）油層多為減阻侵入，水層多為增阻侵入。 深側(cè)向RLLD淺側(cè)向RLLS為油層；反之為水層。3）求地層真電阻率Rt：對于較厚的高阻層可以通過深淺三側(cè)向組合圖版求出巖層的真電阻率Rt和侵入帶直徑Di。5.雙側(cè)向測井與三側(cè)向的比較：1)電極系結(jié)構(gòu)：LL3由三個柱狀電極構(gòu)成，雙側(cè)向由“七環(huán)、兩柱”狀電極構(gòu)成。(2)探測深度：雙側(cè)向探測深度大于三側(cè)向。在泥漿侵入深時，LL3所測視電阻率受

10、侵入帶影響大，深淺三側(cè)向探測深度差別小，給判斷油(氣)、水層帶來困難。其原因是：三側(cè)向的探測深度取決于電極系長度，LL3電極系長度有限，主電流從一開始就緩慢發(fā)散，到一定程度后擴散劇烈，致使主電流不能進入較深的地層。而雙側(cè)向的探測深度由屏蔽電極A1，A2的長度決定。雙側(cè)向采用將屏蔽電極分為兩段，通過控制各段的電壓，達到增加探測深度目的。(3)縱向分層能力：三側(cè)向的分層能力由主電極長度決定。由于主電極較短，主電流呈水平狀進入地層，降低了上下圍巖的影響，縱向分層能力較強，可劃分出h=0.40.5m以上地層電阻率的變化。雙側(cè)向的縱向分層能力與O1O2的距離有關(guān)，可劃分出h> O1O2的地層電阻率

11、變化。(4)影響因素：三側(cè)向受井眼、圍巖影響，探測深度不深，使用受限制。層厚、圍巖對深、淺雙側(cè)向的影響是相同的，淺雙側(cè)向比淺三側(cè)向受井眼影響小得多。(5)應(yīng)用：兩種側(cè)向測井都可用于劃分地質(zhì)剖面，判斷油水層，確定地層電阻率Rt和侵入帶直徑Di。6. 雙向測井資料應(yīng)用：（1）確定地層的真電阻率需要做必要的井眼、圍巖、侵入三種因素的校正后即可用來確定地層的真電阻率。（2）劃分巖性剖面（3）快速直觀地判斷油水層。7. 將深、淺側(cè)向視電阻率曲線重疊繪制如圖，觀察 兩條曲線幅度的相對關(guān)系，在滲透層井段會出現(xiàn) 幅度差。深側(cè)向曲線幅度大于淺側(cè)向曲線幅度， 叫正幅度差（意味著泥漿低侵)，這種井段一般可 以認為是

12、含油氣井段，反之，當(dāng)深側(cè)向曲線幅度 小于淺側(cè)向曲線幅度時，稱之為負幅度差（意味 著高侵），這種井段可以認為是含水井段。當(dāng)然最 后確定油氣，水層還得參考其他測井資料綜合判 斷做出可靠結(jié)論。5 感應(yīng)測井1.感應(yīng)測井原理：把裝有發(fā)射線圈T和接收線圈R的感應(yīng)測井探管放入井中，給發(fā)射線圈 通交流電(常為20kHz)，在發(fā)射線圈周圍地層中產(chǎn)生交變磁場1，這個 交變磁場通過地層，在地層（假想線圈）中感應(yīng)出電流I1，此電流環(huán)繞 井軸流動，稱為渦流。渦流在地層中流動又產(chǎn)生交變磁場，這個磁場是地 層中的感應(yīng)電流產(chǎn)生的，稱為二次磁場2二次磁場2穿過接收線圈R， 并在R中感應(yīng)出電流，從而被記錄儀記錄。2. 縱向微分幾

13、何因子：實際反映的是單位厚度水平地層幾何因子在縱向(軸向)上變化規(guī)律。 物理意義是：厚度為1個單位，z值一定的無限延伸薄板狀介質(zhì)對視 電導(dǎo)率的相對貢獻。 縱向積分幾何因子：雙線圈系處于厚度為h的地層中心時，地層對測量結(jié)果所作的貢獻。 物理意義是：當(dāng)雙線圈系中點與地層中點重合時，厚度為h的地層對 視電導(dǎo)率的相對貢獻。 徑向微分幾何因子：就是研究以井軸為中心的單位厚度無限延伸圓筒狀介質(zhì)的幾何因子。 物理意義是：厚度為1，半徑為r的無限長圓筒狀介質(zhì)對視電導(dǎo)率的 相對貢獻。 徑向積分幾何因子：就是討論以井軸為中心的整個圓柱狀介質(zhì)的幾何因子。物理意義是： 半徑不同無限長圓柱狀介質(zhì)對視電導(dǎo)率相對貢獻。3.

14、 六線圈系與雙線圈系的主要區(qū)別：從結(jié)構(gòu)上看，六線圈系比雙線圈系增加了一對聚焦線圈和一對補償線圈，其中聚焦線圈對放在主線圈外側(cè)對稱位置，補償線圈對通常放在主雙線圈之間且繞軸方向與主線圈相反，補償線圈是為了消除井和侵入帶的影響。改變探測深度，聚焦線圈功能是減小圍巖影響，提高縱向辨別能力。 雙線圈系只由兩個線圈組成，它的縱向特征和徑向特征都不夠理想。在縱向特征上：均勻介質(zhì)中有50%的信號是線圈系以外的介質(zhì)貢獻的，在比較薄的底層情況下，上、下圍巖的影響比較大，同時底層界面在曲線上反映不夠明顯。在徑向上特征：1)靠近線圈系的介質(zhì)r<0.45L，對讀數(shù)有較大影響，說明了井對測量結(jié)果的影響很大.2)分

15、析顯示，簡單雙線全系的無用信號遠大于有用信號，所以，相對雙線圈，六線圈系有改善，壓制了無用信號，克服和抵消了井、侵入巖、圍巖等對測量時的影響。4. 感應(yīng)測井曲線的應(yīng)用:1.劃分地層;2.確定地層的真電阻率Rt;3確定儲層流體性質(zhì)5. 感應(yīng)測井的曲線特征：1上、下圍巖電導(dǎo)率相同的單一巖層的感應(yīng)測井曲線特征：曲線的共同特點是曲線對稱，正對巖層處視電導(dǎo)率增大。但是隨著厚度的變化，曲線的幅度隨地層厚度的增大而增大。當(dāng)厚度大于5米以上，巖層的視電導(dǎo)率接近真電導(dǎo)率，而且曲線的半幅度點為地層界面點。2上、下圍巖電導(dǎo)率不同的單一巖層的感應(yīng)測井曲線特征：當(dāng)巖層厚度大于2米時，曲線呈臺階狀，可按地層中點視電導(dǎo)率取

16、值，用半幅點分層。當(dāng)巖層厚度小于1米時，曲線在地層處呈傾斜狀，讀值和分層都比較困難。6. 感應(yīng)測井的曲線影響因素：1）均質(zhì)校正：指對電磁波在均勻無限介質(zhì)中傳播時，其幅度衰減和相位移動的校正；2）圍巖層厚校正：根據(jù)圖版，進行圍巖層厚校正。3)侵入校正:如果地層沒有泥漿侵入，則經(jīng)過均質(zhì)校正及圍巖層厚校正后的電導(dǎo)率即為地層電導(dǎo)率。如果有泥漿侵入，則接著做侵入校正，得到地層電導(dǎo)率。7. 比較普通電阻率測井、側(cè)向測井及感應(yīng)測井的電極系特征、 探測特征、電流分布特征及適用條件。見上課畫的表。6 微電阻率測井1. 微電阻率測井：是指探測深度較淺的一類測井方法，主要是探測儲集層沖洗帶、侵入帶的 電阻率。2.

17、微電極系的測井曲線：巖層依滲透性可分為滲透層和非滲透層：（1）當(dāng)巖層為非滲透層時測得的微電位和微梯度值相等。在微電極系曲線表現(xiàn)為無幅度差或有正、負不定的較小的幅度差。非滲透性的石灰?guī)r和白云巖薄層在微電極系曲線上幅值極高且無幅度差或者具有很小的正、負不定的幅度差。（2）當(dāng)巖層為滲透性地層時：由于泥漿侵入地層，同時在滲透層井壁上形成泥餅，測量結(jié)果Ra主要取決于泥漿侵入帶的電阻率Ri、泥餅電阻率Rmc和泥餅的厚度Hmc。通常泥餅電阻率約為1-3倍的泥漿電阻率，沖洗帶電阻率Rxo約為泥餅電阻率Rmc的5陪以上。因此微梯度電極系的極距比微電位電極系的極距短，因而受泥餅的影響比微電位電極系更大一些。3.

18、微電極系測井資料應(yīng)用： 確定巖層界面 確定井徑擴大井段 確定含油砂巖的有效厚度劃分巖性和滲透性地層7 聲波測井1. 聲波測井主要分兩大類:聲速測井和聲幅測井2. 巖石中聲波傳播的影響因素：（1）巖性：不同巖石礦物有不同彈性性質(zhì)，所以不同巖石，其聲速大小也不同。（2）孔隙度：巖層孔隙中通常被油、氣、水等流體介質(zhì)所充填。流體傳播聲波的速度較造巖礦物小得多，即孔隙流體相對巖石骨架是低速介質(zhì)，所以巖性相同、孔隙流體不變時，孔隙度越大，巖石聲速越小。（3）巖層的地質(zhì)時代： 深度相同，成分相似的巖石，當(dāng)?shù)刭|(zhì)時代不同時，聲速也不同。一般地，老地層比新地層具有較高的聲速。（4）巖層埋藏的深度：在巖性和地質(zhì)時代

19、相同的條件下，聲速隨巖層埋藏深度加深而增大。3. 為了保證接收器首先接收到滑行波，就必須消除后面幾種波的干擾，即不讓這些波在滑行波之前到達。在測井儀器中，通常采用如下措施：儀器外殼上刻槽；適當(dāng)增長發(fā)射器至第一接收器距離(源距)，使直達波與滑行波通過的路徑大體相等，即可首先接收到滑行波。 ttt2t1t0ABCTR1R2v1v24. 單發(fā)雙收聲速測井原理：假設(shè)發(fā)射器在某一時刻t0發(fā)射聲波，聲波 經(jīng)過泥漿、地層、泥漿分別傳播到接收器R1和R2。即沿TABR1 到達路徑R1，沿TABCR2路徑到達R2，到達接收器R1和R2的 時刻分別為t1和t2，那么到達兩個接收器的時間差t為如果兩個接收器之間的距

20、離為L（稱之為間距），且所對井徑?jīng)]有明顯變化、儀器居中時，則可以認為BCR1R2，于是 或5. 周波跳躍：在聲速測井曲線上，對應(yīng)于疏松含氣砂巖層、裂縫帶或破碎帶及井眼嚴重垮塌等地段，常出現(xiàn)時差明顯增大且有時變化無規(guī)律現(xiàn)象。6. 聲波時差測井曲線的影響因素： 井徑變化的影響 地層厚度的影響 氣層、破碎帶等引起周波跳躍 巖石物性變化影響曲線形態(tài)7. 曲線特征 地層均勻、上下圍巖聲速相同時，曲線關(guān) 于地層中心對稱，巖層的界面位于曲線急劇變化處。 巖層不均勻或夾層時，巖層對應(yīng)的時差曲線出現(xiàn)相 應(yīng)變化。 界面附近井徑影響，不反映真值。 聲 波的“周波跳躍”：疏松含氣砂巖層、裂縫帶或破碎帶 以及井眼嚴重垮

21、塌等地段，出現(xiàn)“周波跳躍”，據(jù)此可 以識別氣層或碳酸巖地層中的裂縫發(fā)育帶。8.聲波時差測井應(yīng)用：（1）劃分巖性，作地層對比：由于各類巖石聲波速度不同，所以根據(jù)聲速曲線可以劃分不同巖性的巖石。（2）判斷氣層：天然氣和油水層時差差別大，一般氣比油水中大3050s/m，所以當(dāng)巖層孔隙中含氣時，時差將顯著增大。此外由于聲波在氣層中能量衰減顯著，有可能出現(xiàn)周波跳躍現(xiàn)象。（3）確定地層孔隙度 （4）為地震勘探提供聲速資料（5）提供波阻抗和反射系數(shù)9. 水泥膠結(jié)測井的測量原理：A、套管波的產(chǎn)生：聲波以臨界角入射到套管內(nèi)壁，在套管內(nèi)激發(fā)套管波；B、套管波沿套管傳播時，在井內(nèi)產(chǎn)生臨界折射波，此波被井內(nèi)接收器接收

22、并記錄其首波幅度；C、套管波幅度與第一界面的膠結(jié)程度有關(guān)，第一界膠結(jié)良好，套管波幅度低；第一界膠結(jié)差，套管波幅度高。這樣，就得到了一條隨深度變化的套管波幅度曲線，以反映第一界面膠結(jié)情況。10. 水泥膠結(jié)測井曲線的影響因素：（1）測井時間：為保證灌入到管外環(huán)行空間的水泥充分凝固，一般在固井后24小時到48小時測井最好，過早或過晚都會造成測井值的失真。（2）水泥環(huán)厚度：實驗證明，水泥環(huán)厚度大于2厘米，其對測井曲線的影響基本固定；小于2厘米，隨水泥環(huán)厚度的減小，測井值升高（失真），因此，在對資料進行解釋時，應(yīng)參考井徑曲線。（3）井內(nèi)泥漿氣侵：井內(nèi)泥漿氣侵造成聲波幅度的降低，造成膠結(jié)良好的假象。（4）

23、儀器偏心：與井內(nèi)泥漿氣侵一樣，儀器偏心也造成聲幅的降低，造成膠結(jié)良好的假象。11. 不同固井情況下的變密度測井的特點見表：固井情況波列特征VDL圖形特點套管與水泥環(huán)（第一界面）、水泥環(huán)與地層（第二界面）均膠結(jié)良好套管波弱地層波強左淺右深第一界面膠結(jié)良好而第二界面未膠結(jié)套管波弱地層波也弱左淺右淺第一界面未膠結(jié)或套管外為泥漿套管波強地層波弱左深右淺8 自然伽馬測井1. 根據(jù)實驗和統(tǒng)計，沉積巖的自然放射性強度一般有以下變化規(guī)律：隨泥質(zhì)含量的增加而增加；隨有機物含量的增加而增加，如瀝青質(zhì)泥巖的放射性很高。在還原條件下，六價鈾能被還原成四價鈾，從溶液中分離出來而沉淀在地層中，且有機物容易吸附含鈾和釷的放

24、射性物質(zhì)；隨著鉀鹽和某些放射性礦物的增加而增加。2. 巖石含泥質(zhì)越多，自然放射性就越強。這是因為：構(gòu)成泥質(zhì)的粘土顆粒較細，有較大的比表面積，在沉積過程中能夠吸附較多的溶液中放射性元素的離子。 泥質(zhì)顆粒沉積時間長(特別是深海沉積)，有充分的時間同放射性元素接觸和進行離子交換，所以，泥質(zhì)巖石就具有較強的自然放射性。3. 其工作原理是，伽馬射線射到螢光 體(如碘化鈉晶體)上，從其原子中打 出電子，并在該電子的激發(fā)下發(fā)出閃 光。光電倍增管將閃光轉(zhuǎn)變?yōu)殡娒} 沖，電脈沖的數(shù)量與進入螢光體的伽 馬射線成正比，這就是閃爍計數(shù)器的 基本工作原理。4. 自然伽馬測井曲線特征： 中心對稱（上下圍巖放射性相同），中心

25、出現(xiàn)極大值h3d0，曲線極大值隨h增加而增加，h3d0，極大值=const,與強度大小成正比，與厚度無關(guān)h3d0半幅點定界面，h3d0，厚度真實厚度。5. 自然伽馬測井影響因素：（1）放射性漲落影響；（2）測井速度和儀器時間常數(shù)的影響；（3）地層厚度對曲線幅度的影響，（4）井的參數(shù)對自然伽馬測井曲線的影響6. 放射性漲落：由于地層中放射性元素的衰變是隨機的，因此，在一定時間間隔內(nèi)衰變的原子核數(shù)，亦即放射出的伽馬射線數(shù)不可能完全相同。但從統(tǒng)計的角度來看，它基本上圍繞著一個平均值在一定的范圍內(nèi)波動。這就是通常所說的統(tǒng)計起伏，或放射性漲落。7. 自然伽馬測井曲線應(yīng)用：(1)劃分巖性，確定滲透層；（2

26、）進行地層對比；（3）確定巖石的泥質(zhì)含量 Vsh=(2c·GR-1)/(2c-1)老地層 C=2, 新地層 C=3.74；（4）確定巖石的粒度中值，作沉積環(huán)境分析9 自然伽馬能譜測井1. 自然伽馬能譜測井資料的應(yīng)用： 研究生油層：大量研究表明，巖石中的有機物對鈾富集起著重要作用，因此應(yīng)用自然伽馬能譜測井，可在縱向和橫向上，追蹤生油層和評價生油層生油能力。 求泥質(zhì)含量：研究發(fā)現(xiàn)，地層的泥質(zhì)含量與釷或鉀的含量有較好的線性關(guān)系，而與地層的鈾含量關(guān)系較小 用Th/U比值研究沉積環(huán)境：統(tǒng)計表明：陸相沉積、氧化環(huán)境、風(fēng)化層，ThU7；海相沉積、灰色或綠色頁巖，ThU7；海相黑色頁巖、磷酸鹽巖，T

27、hU2。（5)尋找高效放射性碎屑巖和碳酸鹽巖儲集層10 密度測井1. 伽馬射線與物質(zhì)的相互作用： 光電效應(yīng) 康普頓吳有訓(xùn)效應(yīng)（0.25-2.50MeV） 電子對效應(yīng) 伽馬射線的吸收2. 密度測井使用的伽馬源與巖石作用時，主要產(chǎn)生康普頓效應(yīng)，并散射伽馬射線。密度測井就在于測量這種散射伽馬射線強度而求巖石密度。3. 為了克服井眼對密度測井影響，常采用： 推靠裝置將裝有伽馬源和探測器儀器部位推向井壁進行測量； 將伽馬源放在一個帶定向窗口的鉛瓶內(nèi)，定向發(fā)射、定向接收，增強散射伽馬射線強度。4. 通常由于短源距探測器探測深度淺，受泥餅影響比長源距探測器大，故圖上交會點就會偏離脊線。這種偏離可以有兩種情況

28、： 當(dāng)泥餅密度小于巖石密度時，泥餅的影響使得長、短源距計數(shù)率有所增高，且因短源距計數(shù)率增高更顯著，于是，圖上的交會點將偏離所探測巖石的實際密度值而落在脊線右上方。 當(dāng)泥餅密度大于巖石密度時(如含重晶石的泥餅)，泥餅的影響使得長、短源距計數(shù)率降低，且因短源距計數(shù)率的降低更顯著，于是，圖上的交會點將落在脊線左下方。5. 密度測井的地質(zhì)應(yīng)用：（1）確定巖層的孔隙度 純巖石孔隙度為，骨架密度、孔隙流體密度和巖層體積密度分別為ma、f、b（2）確定巖性（3）密度曲線與中子曲線重疊可用于識別氣層：氣層表現(xiàn)為低孔隙度11 中子測井1. 中子測井分類：（1）根據(jù)中子測井的記錄內(nèi)容：可以將它分為：中子-中子測井

29、；中子-伽馬測井 （2）根據(jù)儀器的結(jié)構(gòu)特點，中子中子測井又可分為：中子-超熱中子測井（SNP）井壁中子測井；中子-熱中子測井（CNL）補償中子測井2. 地層對快中子的減速能力主要決定于地層的含氫量。3. 減速長度LS：用來描述快中子變?yōu)闊嶂凶拥臏p速過程，減速長度定義為由快中子減速為熱中子所經(jīng)過的直線距離的平均值，單位為厘米4. 擴散長度Ls：從產(chǎn)生熱中子起到其被俘獲吸收為止，熱中子移動的距離。5. 地層的含氫指數(shù)：單位體積的任何巖石或礦物中氫核數(shù)與同樣體積的淡水中氫核數(shù)的比值，稱為該巖石或礦物的含氫指數(shù)，用H表示。 是介質(zhì)密度M是該化合物的克分子量；x是介質(zhì)分子中的氫原子數(shù)；K是比例常數(shù)6.

30、中子測井的應(yīng)用： 確定地層孔隙度 FDC與CNL石灰?guī)r孔隙度曲線重疊定性判斷氣層：天然氣使FDC測井計算孔隙度增大，而使CNL測井計算孔隙度偏小。故二者在氣層上有一定的幅度差，而且DN。 CNL與FDC測井交會求孔隙度、確定巖性：由密度測井(FDC)的體積密度值和CNL的石灰?guī)r孔隙度值的交會點，可確定地層的孔隙度ND的大小和巖性。7. 中子伽馬測井中的氯和氫的作用比較：對相同含氫量的巖石而言，如果含氯量不同時，在含氯量高的巖石中，無論采用的源距如何，測得的中子伽馬射線強度均有所增高。8. 中子伽馬測井曲線的應(yīng)用： 劃分氣層。中子伽馬測井曲線可以用來劃分氣層確定油水界面 12 測井解釋1. 如圖所示，當(dāng)含水飽和度很低而含油飽和度很高 時，水的相對滲透率接近于零，地層產(chǎn)油不出水。 這時含水飽和度叫束縛水飽和度Swb。當(dāng)含水飽和 度很高，而含油飽和度很低時，有的絕對滲透率接 近于零，此時地層只出水不出油，這時的含油飽和 度叫殘油飽和度Shr。2. 儲集層具備的條件：一是具有儲存油氣的孔隙、孔洞和裂縫（隙）等空間場所；二是孔隙、孔洞和裂縫（隙）之間必須相互連通，在一定壓差下能夠形成油氣流動的通道。3. 儲集層的基本參數(shù)：1、孔隙度2、滲透率