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文檔簡(jiǎn)介
1、 生長(zhǎng)結(jié)工藝的雙極型晶體管設(shè)計(jì)一、課程設(shè)計(jì)的內(nèi)容本課程設(shè)計(jì)要求利用ISE軟件進(jìn)行生長(zhǎng)結(jié)工藝的雙極型晶體管設(shè)計(jì)。(1) 根據(jù)圖示在MDRAW中畫(huà)出邊界,并進(jìn)行均勻摻雜,其中E、B、C三個(gè)區(qū)域都是在Si上摻雜;(2) 其中Ne=5*1018 ,Nb=2*1017,Nc=4*1015 單位:/cm3 ;(3) 利用tecplot_ise畫(huà)出V(X),E(X),估計(jì)耗盡層寬度;(4) 設(shè) , 其中V(X) , E(X) , p(x) , n(x) ,及電流密度。(5) 利用,推導(dǎo)出和。二、課程設(shè)計(jì)的目的通過(guò)本課程的學(xué)習(xí)和訓(xùn)練,了解和掌握本專(zhuān)業(yè)基本課程的前提下,在教師的指導(dǎo)下,結(jié)合具體設(shè)計(jì)內(nèi)容,掌握課程
2、設(shè)計(jì)的完整過(guò)程和各個(gè)環(huán)節(jié)、基本方法和途徑,能夠根據(jù)相關(guān)資料或在教師輔導(dǎo)的前提下,利用所學(xué)理論完成預(yù)定題目的綜合性設(shè)計(jì)。鞏固和系統(tǒng)掌握電子科學(xué)與技術(shù)專(zhuān)業(yè)的基本理論知識(shí)和各種現(xiàn)代設(shè)計(jì)工具, 通過(guò)多人共同完成一項(xiàng)設(shè)計(jì)任務(wù)使我們認(rèn)識(shí)到與人協(xié)作的重要性及協(xié)作技巧。提高我們理論聯(lián)系實(shí)際的能力、增強(qiáng)學(xué)以致用的思維意識(shí),提高專(zhuān)業(yè)素質(zhì)。三 、課程設(shè)計(jì)的流程(一)以Si為介質(zhì)時(shí)的晶體管仿真1、桌面右鍵選中New Terminal鍵入mdraw進(jìn)入軟件(1)按照實(shí)驗(yàn)內(nèi)容要求,畫(huà)出晶體管模型:將Exact Coordinates選中,點(diǎn)擊左上角ADD Rectangle,在面板上任意畫(huà)個(gè)矩形,此時(shí)彈出一個(gè)對(duì)話(huà)框,如下
3、圖所示:輸入如下數(shù)值:left:0 right:6.2 top:0 bottom:1 (2) 給晶體管加電極選中set/unset contacts按鈕,單擊ADD CONTACT彈出對(duì)話(huà)框。發(fā)射極:輸入Name:emitter,點(diǎn)擊OK,用鼠標(biāo)點(diǎn)擊發(fā)射極的左邊界?;?極:點(diǎn)擊ADD Point,選中Exact Coordinates,加入點(diǎn)x=1,y=0和點(diǎn)x=1.2,y=0,再單擊ADD CONTACT彈出對(duì)話(huà)框,輸入Name:base,點(diǎn)擊OK,用鼠標(biāo)點(diǎn)擊基極的上邊界。集電極:再單擊ADD CONTACT彈出對(duì)話(huà)框,輸入Name:collector,點(diǎn)擊 OK,用鼠標(biāo)點(diǎn)擊集電極的上邊界。
4、所得圖形如下圖所示:(3)雜質(zhì)摻雜:點(diǎn)擊右下角Doping,再點(diǎn)擊左上角ADD Contact P,在晶體管 區(qū)域畫(huà)一個(gè)矩形,此時(shí)彈出一個(gè)對(duì)話(huà)框,如下圖所示:輸入如下數(shù)據(jù): profile name:Ne concentration=5e+18,species:As X0:0 Y0:0 X1:1 Y1:1點(diǎn)擊OK,此時(shí)已將發(fā)射區(qū)摻雜完畢,接下來(lái)重復(fù)上面步驟實(shí)現(xiàn)基區(qū)與集電區(qū)摻雜:基區(qū)輸入 profile name:Nb concentration=2e+17,species:B X0:1 Y0:0 X1:1.2 Y1:1集電區(qū)輸入 profile name:Nc concentration=4e
5、+15,species:As X0:1.2 Y0:0 X1:6.2 Y1:1(4)構(gòu)建網(wǎng)格:點(diǎn)擊ADD Refinement,點(diǎn)擊Exact Coordinates,在晶體管區(qū)域畫(huà)一個(gè)矩形,此時(shí)彈出如下對(duì)話(huà)框:輸入如下數(shù)據(jù): X0:0 Y0:0 X1:6.2 Y1:1 Max Element Width: 0.1 Max Element Height: 0.1 Min Element Width:0.01 Min Element Height:0.01點(diǎn)擊ADD ,選中第一項(xiàng)添加后,點(diǎn)擊OK.最后點(diǎn)擊菜單欄MeshBuild Mesh,構(gòu)建網(wǎng)格(6) 保存文件:點(diǎn)擊FileSave All ,
6、保存成文件名npn。2、編寫(xiě)程序桌面右鍵點(diǎn)擊New terminal鍵入gedit npn_des.cmd編寫(xiě)程序如下:File * Input FilesGrid = "npn_mdr.grd"Doping = "npn_mdr.dat"* Output FilesPlot = "npn_des.dat" Current = "npn_BJT_des.plt"Output = "npn_BJT.log"Electrode Name="emitter" Voltage=0.0
7、 Name="base" Voltage=0.3 Name="collector" Voltage=3.8 / 此時(shí)Vcb=3.5V,將Voltage=4.3V,再運(yùn)行一遍(Vcb=4V)。 Plot * Fields, Charges, etc Potential Electricfield/vector SpaceCharge eMobility hMobility eVelocity hVelocity * Doping profiles DonorConcentration AcceptorConcentration DopingConcentr
8、ation * Band Structure/Composition ConductionBand ValenceBand BandGap Affinity * Density, Current eDensity hDensity eCurrent/Vector hCurrent/Vector TotalCurrent/Vector * Recombination/Generation rates SRH Auger TotalRecombination * Driving Forces eQuasiFermi hQuasiFermi eGradQuasiFermi/vector hGradQ
9、uasiFermi/vector eEparallel hEparallelMath ExtrapolateNotDamped=100Iterations=20RelerrControlAvalDerivativesPhysics Mobility ( DopingDependenceHighFieldSaturation) Recombination ( Auger SRH(DopingDep)Solve PoissonCoupled Poisson Electron Hole Quasistationary (InitialStep=1e-3 Minstep=1e-8 MaxStep=0.
10、05Goal Name="base" Voltage=0.3 )Coupled Poisson Electron Hole Poisson Coupled Poisson Electron Hole Quasistationary (InitialStep=1e-3 Minstep=1e-8 MaxStep=0.05Increment=1.2Goal Name="collector" Voltage=3.8 / 此時(shí)Vcb=3.5V,將Voltage=4.3V,再運(yùn)行一遍(Vcb=4V)。 )Coupled Poisson Electron Hole 保
11、存文件后運(yùn)行文件,在New Terminal下輸入dessis npn_des.cmd,運(yùn)行文件。3、運(yùn)行TECPLOT_ISE,觀察曲線在New Terminal下輸入tecplot_ise進(jìn)入軟件點(diǎn)擊Fileload調(diào)出文件npn_des.dat 和npn_mdr.grd點(diǎn)擊OK,顯示實(shí)驗(yàn)結(jié)果。點(diǎn)擊工具欄上的slicer選中y軸,設(shè)成常數(shù)為0.5.選中Y=0.5npn_des.dat ,點(diǎn)X,選X1。再選Electrostatic Potentia,點(diǎn)Y,此時(shí)出現(xiàn)V(X)曲線如下圖所示:選中Y=0.5npn_des.dat ,點(diǎn)X,選X1再選eDensity,點(diǎn)Y,此時(shí)出現(xiàn)n(X)曲線如下
12、圖所示:選中Y=0.5npn_des.dat ,點(diǎn)X,選X1再選hDensity,點(diǎn)Y,此時(shí)出現(xiàn)p(X)曲線如下圖所示:選中Y=0.5npn_des.dat,點(diǎn)X,選X1再選ElectricField,點(diǎn)Y,此時(shí)出現(xiàn)E(X)曲線如下圖所示:選中Y=0.5npn_des.dat ,點(diǎn)X,選X1再選TotalCurrent,點(diǎn)Y,此時(shí)出現(xiàn)電流密度曲線如下圖所示:4、估計(jì)耗盡層寬度仔細(xì)觀察電位曲線,如下圖:可以看出基區(qū)的中性區(qū)寬度為1.13-1.07=0.06um,發(fā)射結(jié)耗盡層寬度為1.07-0.987=0.083um,集電結(jié)耗盡層寬度為2.4-1.13=1.27um。(二)實(shí)驗(yàn)結(jié)果與討論(1)運(yùn)行文件后觀察實(shí)驗(yàn)結(jié)果: , 由于放大系數(shù)過(guò)小,應(yīng)減小基區(qū)摻雜濃度來(lái)提高放大系數(shù)。(2)現(xiàn)將基區(qū)濃度改為:后,重新運(yùn)行程序,得到結(jié)果如下: , 此時(shí),符合晶體管的放大系數(shù)。由 , ,得(3)將加4V電壓時(shí),觀察運(yùn)行結(jié)果: ,可見(jiàn)當(dāng)集電極電壓升高后,放大系數(shù)變大。這是因?yàn)榛鶇^(qū)摻雜濃度低,導(dǎo)致基區(qū)寬變效應(yīng)明顯,在集電極所加電壓增大后,基區(qū)變窄,導(dǎo)致雙極晶體管放大系數(shù)和集電結(jié)電流的明顯增
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