T、K、Y管節(jié)點(diǎn)焊縫超聲波探傷探傷要點(diǎn)

1、T、K、丫管節(jié)點(diǎn)焊縫超聲波探傷探傷要點(diǎn)4.1 目視檢驗(yàn)與尺寸測量4.1.1 探傷人員接到檢查人員的超聲探傷申請單后，應(yīng)核對工件名稱、結(jié)構(gòu)、編號是否符合申請內(nèi)容，焊件應(yīng)力延遲時(shí)間是否足夠。并對外觀復(fù)視，復(fù)視的內(nèi)容有：對表面焊 接飛濺、油污的清理情況，表面有無裂紋、銹蝕、表面焊渣、 咬邊、超邊、凹坑及焊肉過高或過低。4.1.2 尺寸測量（a）管節(jié)點(diǎn)的實(shí)際厚度與圖紙的標(biāo)稱尺寸可能有較大的 偏差，直接影響探傷準(zhǔn)確性。 因此探傷前必須實(shí)測ti、tn值。 測量方法是用超聲測厚儀，在主支管上分別選擇四個(gè)位置，通常選擇 0.00、3.00、6.00、9.00四個(gè)鐘點(diǎn)位置，每點(diǎn)測 量三次取“平均值”，并作出標(biāo)記

2、，與圖紙數(shù)據(jù)對照，作為 探傷第一手資料。（b）縱波探傷（0角度）縱波探傷的目的檢測母材是否存在有可能影響橫波探傷 檢驗(yàn)結(jié)果辨認(rèn)的反射體，主要探傷部位是橫波檢查的母材、 鋼板整張復(fù)查、局部復(fù)查。縱波探傷范圍大于橫波探傷范圍，靈敏度調(diào)節(jié)方法是至 少顯示4次底波，以B2波高80%為靈敏度。4.2焊縫根部的標(biāo)記API探傷標(biāo)準(zhǔn)十分強(qiáng)調(diào)作根部標(biāo)記，坡口加工后，焊接 前，對檢查的構(gòu)件，應(yīng)在離開根部一定距離的探傷面上，用 劃痕或打沖印方法作出焊縫根部標(biāo)記，確保焊后根部位置準(zhǔn) 確性，因?yàn)楹负笾Ч芤恢芨课恢玫臉?biāo)記依然存在，這些標(biāo) 記在超聲探傷時(shí)提供了根部在表面上精確位置。并幫助探傷 人員把合格的根部凸出部分與根

3、部缺陷區(qū)別開來，也是制作 焊縫斷面圖的重要依據(jù)。這項(xiàng)工作最好由探傷人員親自動 手。4.3 探傷面修磨清除焊接飛濺、油污、氧化皮、油漆層，對探傷面修整 后，粗糙度不大于 6.3卩m 表面修整長度，滿足斜探頭移 動1.5倍垮距要求。修磨長度：L >1.5( 2tntg B )(mn) 4-14.4 特殊焊縫截面圖的繪制4.4.1 丫 形管節(jié)點(diǎn)焊縫，至少繪圖七張?zhí)厥夂缚p截面圖(在 0.00 6.00 范圍內(nèi)截取 0.00、1.00、2.00、3.00、4.00、 5.00、6.00七個(gè)鐘點(diǎn))，每個(gè)截面圖作好后，在圖上標(biāo)出實(shí) 測的tn、書、$，同時(shí)畫出斜探頭在探測面上極限的移動范 圍和聲程路徑。

4、截面圖尺寸為1：1。作為實(shí)際探傷時(shí)的重要參考資料，它是確定探測范圍的依據(jù)，也是判定缺陷、缺陷 定位、測長、測高等重要資料。對同一型號批量的管節(jié)點(diǎn)，可復(fù)印多套備用。442焊縫截面圖繪制過程作圖工具有萬能取形規(guī)或橡皮泥、量角器、蛇尺、以及 制圖儀器及繪圖紙張。作圖（或缺陷定位）的基準(zhǔn)點(diǎn)是橢圓形焊縫長軸與組裝 工藝線交點(diǎn)a（ 0.00鐘點(diǎn)）c（ 6.00鐘點(diǎn)）為基準(zhǔn)，即焊縫 腳尖與腳跟。AB（b）截面圖制作過程基準(zhǔn)點(diǎn)及時(shí)鐘截面鐘點(diǎn)的截取AN Btn，ti*(0.00點(diǎn)為例)作焊縫上某鐘點(diǎn)的截面圖程序如下：(1) 用萬能取形規(guī)或橡皮泥沿兩條線組成的平面截取焊 縫外表面的形狀。在主、支管上分別劃出兩條垂

5、直于焊縫長 度方向的線，記下主管、支管對應(yīng)方向，將截取的圖形仔細(xì) 的畫在紙上如圖 4-1b1(2) 主支管壁厚的繪制：將主支管外壁曲線延長，以實(shí) 際壁厚t i、tn，按外壁曲率畫出內(nèi)壁曲線。用量角器測出兩 面角書，標(biāo)記在圖上，如圖 4-1b2。(3) 復(fù)制焊縫截面：沿主管外壁按間隙尺寸 3畫平行線，再從支管底部沿上述平行線畫出留根厚度8，按兩面角書,畫出坡口角度如圖4-1b3 ,可按API標(biāo)準(zhǔn)取留根厚度8、 3及坡口角度$ ,如果預(yù)先實(shí)測，貝U以實(shí)測的8、3、$為準(zhǔn)。(4) 繪制模擬聲程路線圖：按入射點(diǎn)位置和折射角在支管上畫出聲程路線圖，折射角為45°、60°、70

6、6;三種典型位置的路線圖，見圖4-2。同一截面三種角度作三張。注意作好的焊縫截面圖是超聲探傷的原始資料，可復(fù)印多份，請產(chǎn)品驗(yàn)船師審查與認(rèn)可。七個(gè)焊縫斷圖樣如下：（制作截面圖需要花費(fèi)兩個(gè)熟悉探傷人員半天時(shí)間）.X ? 1X4.5.3傳遞補(bǔ)償?shù)臏y定（a）作DAC曲線用APIRP2XA級試塊（技術(shù)文件對試塊 的材質(zhì)，熱處理狀態(tài)，晶粒度及探測面加工粗糙度有明確規(guī)定，使超聲能在試塊中傳輸處于理想狀態(tài)），T、K、丫管節(jié)點(diǎn)焊縫探傷，聲束在支管和焊縫中傳播。支管表面和底面粗糙 度及曲率、金相組織，晶粒度等均與試塊不同，為了使探傷 靈敏度不下降，在探傷前要測定試塊與工件的耦合差及不同位置的曲率差及材質(zhì)差，綜合測

7、定后以dB值表示。（b）測定方法：一發(fā)一收雙探頭穿透法（60 °、70 °分別測定）以70 °折射角為例，首先選擇兩個(gè)聲學(xué)性能、規(guī)格相同 的70。折射角探頭兩只，A試塊的厚度與待測支管厚度相同 或相近，比較 A試塊和支管一個(gè)跨距、兩個(gè)跨距反射波幅， 測試時(shí)探傷儀“抑制關(guān)”，以試塊上一個(gè)跨距聲程，一發(fā)一 收探頭、接收波調(diào)節(jié)到80%( FSH)為基準(zhǔn)，以后， dB旋鈕(靈敏度)不動。見圖4-3。試塊試件(1)曲率最小處dBsT1S1S一個(gè)跨距聲程:芻例如,曲率最大處反射波形, 再與試塊反射波比較，兩者 別為 dB,即為(1)傳遞 補(bǔ)償1、R2最高反射波即可T 3B試塊

8、反射波高試件曲率最大1S 1S曲率最大處反射波形圖4-3測量傳遞補(bǔ)償(2)中等曲率dB2(c )平均傳遞補(bǔ)償:dB(1) ：dB(2)：dB(3)二 dB =34-2為了使探傷傳遞補(bǔ)償更符合實(shí)際，在曲率大（1）附近補(bǔ)償量調(diào)節(jié)就是 dB（ 1 ）余此類推，這樣操作時(shí)稍為麻煩， 探傷人員可根據(jù)實(shí)際情況使用平均傳遞補(bǔ)償，還是按部位補(bǔ) 償。（d）在對缺陷當(dāng)量（波幅比較）時(shí)，100%DAC該截面?zhèn)鬟f補(bǔ)償（ dB），當(dāng)量較為精確。（資料介紹不同曲率的傳遞補(bǔ)償最高差可達(dá)20dB）4.6 DAC曲線的制作DAC曲線制作有兩種反射體，根據(jù) APIRP2X提供對比試 塊圖紙：一是 $ 1.6 x 38mmt孔；一

9、是 1.6 x 1.6 x 38mm表面 平底槽。對于根部缺陷應(yīng)用 70°或45。探頭,A級靈敏度用1.6 x 1.6 x 38mm平底槽作DAC有效焊縫區(qū)的缺陷用 $ 1.6 x 38 橫盲孔作DAC曲線評定（見圖4-4a ）;根據(jù)管件厚度選擇 T。 試塊厚度T與管件厚度相同或相近。用 $ 1.6 x 38mm反射體 作DAC根據(jù)B，要計(jì)算各位置聲程，同時(shí)調(diào)好掃描速度。橫孔DAC曲線制作每種探頭作一組 DAC曲線，不同的探測范圍及不同角度 探頭的DAC曲線不能混用，DAC曲線作法如下：先探測 比處$ 1.6橫孔，找到最大反射波，調(diào)滿刻度808100%為第一點(diǎn)，然后探頭在 2位置探測

10、$ 1.6橫孔，儀器 靈敏度不動，找出最高波，標(biāo)記在熒光屏上為第二點(diǎn)，以此 再作第3點(diǎn)、第4點(diǎn)、第5點(diǎn)，將15點(diǎn)連成光滑的曲線， 即為$ 1.6橫孔100%DAC曲線（不少于4點(diǎn)），然后將各點(diǎn)下 降6dB連成曲線，即50%DAC曲線（不少于4點(diǎn)）。 1.6 X 38位置1, S/8位置2,3S/8位置3, 7S/8位置4, 5S/8位置5, 9S/8S:全跨距聲程r l i1 TH15S.” 0.5T113524 0.5S=T/cosp , 1S=2T/cos p ,位置 1 聲程：S/8=2T/8cosp =T/4cos p1.6 X 38圖 4-4$ 1.6 X 38 橫孔 DAC曲線462 無論用何種反射體作 DAC曲線，在探傷程序中， 必須明確規(guī)定其用途，該規(guī)程應(yīng)征得業(yè)主、監(jiān)驗(yàn)人員認(rèn)可。 探傷前DAC曲線校核不少于2點(diǎn)。4.7 時(shí)基（時(shí)間軸）掃描調(diào)節(jié)時(shí)基掃描的調(diào)節(jié)以聲程為基準(zhǔn)，不象平板對接焊縫那樣 可以用水平或深度比例調(diào)節(jié)時(shí)基。時(shí)基掃描應(yīng)以不同角度的 探頭，不同厚度tn及一次聲程或二次聲程為依據(jù)。用計(jì)算法 標(biāo)出最大聲程，再用 CSK-IA或IIW2 （牛角試塊）調(diào)節(jié)，用 API A級試塊1T處橫孔調(diào)節(jié)最好。4探測范圍調(diào)節(jié)見表4-1。表4