實(shí)驗(yàn)(試驗(yàn))室建設(shè)20130802C

1、實(shí)驗(yàn)室(試驗(yàn)室)建設(shè)()設(shè)計(jì)思想與設(shè)計(jì)方案(討論稿)2013年8月7日 修訂C版 目錄 集團(tuán)公司 中 心 實(shí) 驗(yàn) 室 體 系 頁(yè)碼0 實(shí)驗(yàn)室(試驗(yàn)室)規(guī)劃 設(shè)計(jì)思想 2 1 中心實(shí)驗(yàn)室 編制說(shuō)明 / 體系圖 / 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) / 布置總圖 4 2 照明產(chǎn)品性能部分 編制說(shuō)明 / 體系圖 / 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) / 儀表設(shè)備清單及單價(jià)/場(chǎng)地與要求 / 布置圖 93 可靠性與失效分析部分 編制說(shuō)明 / 體系圖 / 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) / 儀表設(shè)備清單及單價(jià)/場(chǎng)地與要求 / 布置圖 154 電磁環(huán)境部分 編制說(shuō)明 / 體系圖 / 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) / 儀表設(shè)備清單及單價(jià)/場(chǎng)地與要求 / 布置圖 235 電子電氣測(cè)量部分 編制說(shuō)明

2、/ 體系圖 / 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) / 儀表設(shè)備清單及單價(jià)/場(chǎng)地與要求 / 布置圖 286 安規(guī)與認(rèn)證部分 編制說(shuō)明 / 體系圖 / 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) / 儀表設(shè)備清單及單價(jià)/場(chǎng)地與要求 / 布置圖 337 計(jì)量部分 編制說(shuō)明 / 體系圖 / 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) / 儀表設(shè)備清單及單價(jià)/場(chǎng)地與要求 / 布置圖 398 能效部分 編制說(shuō)明 / 體系圖 / 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) / 儀表設(shè)備清單及單價(jià)/場(chǎng)地與要求 / 布置圖 439 理化與材料分析部分 編制說(shuō)明 / 體系圖 / 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) / 儀表設(shè)備清單及單價(jià)/場(chǎng)地與要求 / 布置圖(目前為空白) 10 附件一 參考資料引用 4611 附件二 英文縮寫的代號(hào)、中文名查找與對(duì)照 4712

3、 附件三 歐洲、北美、中國(guó)大陸有關(guān)安全與認(rèn)證的資料介紹 4813 附件四 實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可介紹 54實(shí)驗(yàn)室(試驗(yàn)室)規(guī)劃 設(shè)計(jì)思想 xsp-1-13 公司從首次技術(shù)改造(廠房規(guī)劃與建立實(shí)驗(yàn)室)以來(lái)將近4年。當(dāng)年尤其是實(shí)驗(yàn)室的建立對(duì)企業(yè)影響的擴(kuò)大、職工信心的提升、產(chǎn)品的試驗(yàn)與性能認(rèn)定、市場(chǎng)推廣均起到了積極作用。新廠房正在崛起，與老廠區(qū)比較，公司賦予實(shí)驗(yàn)室的建設(shè)以更大的資金投入，更大的場(chǎng)地規(guī)劃、更大規(guī)模的裝備配置。一旦建成將使公司步入更高的技術(shù)層次，潛入更深的專業(yè)深度，獲得更強(qiáng)的產(chǎn)業(yè)實(shí)力。做好這份新實(shí)驗(yàn)室具體設(shè)計(jì)策劃書，是對(duì)公司戰(zhàn)略發(fā)展提供專業(yè)上的認(rèn)識(shí)支持。1 強(qiáng)有力的實(shí)體企業(yè)衡量標(biāo)準(zhǔn)之一一個(gè)相對(duì)完善的

4、、強(qiáng)有力的實(shí)體企業(yè)除了一定會(huì)具備的現(xiàn)代化生產(chǎn)線與廠房外，還應(yīng)有三個(gè)可以衡量的標(biāo)準(zhǔn)。 有較高比例的科技人員隊(duì)伍(包括高、中、低/老、中、青層次的搭配) 有符合企業(yè)產(chǎn)品技術(shù)發(fā)展要求的、強(qiáng)大的中心實(shí)驗(yàn)室(試驗(yàn)室)。 有活躍、暢通、及時(shí)的情報(bào)資料室(包括標(biāo)準(zhǔn)、檔案、科技信息資料的收藏量及信息研究、辦公物質(zhì)條件等)。2 實(shí)驗(yàn)室功能強(qiáng)大的實(shí)驗(yàn)室(試驗(yàn)室)，有許多功能： 2.1 有效跟蹤、監(jiān)督各級(jí)產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)(國(guó)際、國(guó)家、行業(yè)、企業(yè))所規(guī)定要求的執(zhí)行情況及變化。諸如產(chǎn)品性能、可靠性、安全性、電磁兼容、節(jié)能環(huán)保等。2.2 開(kāi)展各種強(qiáng)制性、非強(qiáng)制性、標(biāo)志性等認(rèn)證、規(guī)定項(xiàng)目的內(nèi)部測(cè)試、試驗(yàn)，以提供符合要求的改進(jìn)數(shù)

5、據(jù)與結(jié)論。諸如，CCC、CQC、UL、FCC、Energy Star、ENEC、CE等認(rèn)證。2.3 在新產(chǎn)品研發(fā)、老產(chǎn)品改進(jìn)，新材料、新工藝、新技術(shù)設(shè)計(jì)應(yīng)用后，對(duì)技術(shù)貢獻(xiàn)與產(chǎn)品升級(jí)進(jìn)行考核、評(píng)審、提供制定相應(yīng)技術(shù)規(guī)范的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。2.4 對(duì)產(chǎn)品使用中，產(chǎn)生的各種問(wèn)題提供失效分析(質(zhì)量問(wèn)題與不足改進(jìn))。2.5 對(duì)未知科技難題進(jìn)行實(shí)驗(yàn)與探索。3 推動(dòng)企業(yè)技術(shù)進(jìn)步中心實(shí)驗(yàn)室的建立是公司長(zhǎng)期規(guī)劃的中心內(nèi)容之一，當(dāng)然這需要龐大的資金、優(yōu)秀的組織、相當(dāng)?shù)臅r(shí)間積累。·它將為企業(yè)建立工程專業(yè)研究所，奠定物質(zhì)基礎(chǔ)，為創(chuàng)新提供平臺(tái)。·進(jìn)一步推動(dòng)情報(bào)與標(biāo)準(zhǔn)化的配套發(fā)展。·也一定會(huì)推動(dòng)人才

6、的聚集。4 實(shí)驗(yàn)室的設(shè)計(jì)與認(rèn)識(shí)構(gòu)成 實(shí)驗(yàn)室的設(shè)計(jì)應(yīng)包括軟實(shí)力與硬件二大塊，這樣才構(gòu)成實(shí)驗(yàn)室建設(shè)完整內(nèi)涵。他們有以下各種內(nèi)容組合構(gòu)成。 4.1 專業(yè)體系圖 專業(yè)體系圖，主要目的是簡(jiǎn)明表達(dá)實(shí)驗(yàn)室整體與各專業(yè)的主要工作內(nèi)容，也為內(nèi)涵補(bǔ)充調(diào)整，留下空間。4.2 工作依據(jù)與主要執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容本公司實(shí)驗(yàn)室(試驗(yàn)室)，主要任務(wù)之一是跟蹤、執(zhí)行各級(jí)產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，因此各專業(yè)實(shí)驗(yàn)室(試驗(yàn)室)的工作必需熟悉并詳細(xì)掌握各級(jí)產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容與動(dòng)態(tài)。 4.3 以主要的產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)要求的內(nèi)容置備相應(yīng)的物質(zhì)條件/APPARATUS（儀器、儀表、裝置、裝備、器具、器械、器件、機(jī)件等），實(shí)現(xiàn)主要的實(shí)驗(yàn)功能。 社會(huì)/公司實(shí)驗(yàn)室（工

7、程師）熟悉標(biāo)準(zhǔn)及工作課題熟練操作裝備與實(shí)驗(yàn)接受或提出工作課題三者互動(dòng)出報(bào)告（以數(shù)據(jù)為主） 出結(jié)果（以判斷為主）出成果（以提升為主） 4.4 互動(dòng)關(guān)系 5 局限性實(shí)驗(yàn)室(試驗(yàn)室)是一個(gè)伸縮性很強(qiáng)的概念。世界上著名的貝爾實(shí)驗(yàn)室出了數(shù)名諾貝爾獎(jiǎng)獲得者。1894年成立的全世界最負(fù)盛名的制定安全標(biāo)準(zhǔn)的非強(qiáng)制性實(shí)驗(yàn)認(rèn)證機(jī)構(gòu)UL，正式名稱是“美國(guó)保險(xiǎn)商試驗(yàn)室(Underwriters Laboratory)。”它們都已有上百年歷史。我國(guó)有政府性質(zhì)的各級(jí)檢測(cè)、檢驗(yàn)第三方機(jī)構(gòu)，也擁有許多民營(yíng)的檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)(獨(dú)立的/由企業(yè)投資形成的)。我公司早已有涉及此領(lǐng)域的意愿。根本上仍然是由企業(yè)的諸實(shí)力因素(資金、人材、認(rèn)識(shí)、經(jīng)

8、驗(yàn)、業(yè)內(nèi)交流、社會(huì)認(rèn)可)決定，為此，既要了解相關(guān)的政策/法規(guī)，又不能脫離企業(yè)的實(shí)際情況。還需依賴公司整體上的經(jīng)營(yíng)發(fā)展。目前我們的認(rèn)識(shí)局限性是明顯的，必須抓緊研究與學(xué)習(xí)，操作上步步為營(yíng)，穩(wěn)扎穩(wěn)打，逐漸爭(zhēng)取較大成功。置于應(yīng)怎樣建設(shè)實(shí)驗(yàn)室，并無(wú)現(xiàn)成的理論與實(shí)踐版本、認(rèn)識(shí)上也見(jiàn)仁見(jiàn)智。本人盡可能在廣泛收集信息與現(xiàn)有認(rèn)識(shí)基礎(chǔ)上將經(jīng)驗(yàn)與積累的有限認(rèn)識(shí)系統(tǒng)化、留出修改補(bǔ)充空間，并在細(xì)節(jié)上盡可能廣泛吸取現(xiàn)有的信息充實(shí)到設(shè)計(jì)中,盡可能聽(tīng)取供應(yīng)商與公司內(nèi)部各級(jí)人員的意見(jiàn)補(bǔ)充到文本中，但仍然會(huì)有大量不足之處，所以只能以階段性的“ 討論稿 ”形式，報(bào)告給公司。再將意見(jiàn)集中取舍后，完成可操作的工作版本。作為主要策劃人，

9、我個(gè)人在技術(shù)認(rèn)識(shí)與組織實(shí)施上的局限性是顯而易見(jiàn)的，因長(zhǎng)期工廠的工作經(jīng)歷，認(rèn)識(shí)深度有限，相關(guān)經(jīng)驗(yàn)不夠，精力、體力有限，能不犯或少犯錯(cuò)誤，不貽誤公司的事業(yè)發(fā)展就是萬(wàn)幸。所以，我個(gè)人認(rèn)為：視實(shí)驗(yàn)室(試驗(yàn)室)為科技人員的終生課題，也不為過(guò)。 附：實(shí)驗(yàn)室(試驗(yàn)室)建設(shè)方案(討論稿) 58第一部分 中 心 實(shí) 驗(yàn) 室 1.1 編制說(shuō)明 ·2011年6月29日我們?cè)趚sp-33-11努力實(shí)現(xiàn)有可靠性(設(shè)計(jì)和制造)保證的LED照明產(chǎn)品一文中，總結(jié)2010年的工作時(shí)，就更明確地提出：我公司主要為執(zhí)行技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，按標(biāo)準(zhǔn)要求創(chuàng)立相應(yīng)的實(shí)驗(yàn)條件。 以現(xiàn)有的產(chǎn)品及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)(不論是傳統(tǒng)的產(chǎn)品，還是LED照明產(chǎn)品)

10、作為規(guī)劃實(shí)驗(yàn)室的依據(jù)，它在規(guī)劃上是以照明產(chǎn)品為主題的綜合性的實(shí)驗(yàn)室，具體又可劃分為照明產(chǎn)品性能(電光色參數(shù))、可靠性與失效分析、電磁兼容(EMC)、電子測(cè)量、安規(guī)與認(rèn)證、能效等多個(gè)獨(dú)立專業(yè)部分。并認(rèn)為“一個(gè)相對(duì)完善的實(shí)體企業(yè)、應(yīng)有一定實(shí)力的實(shí)驗(yàn)室?！蓖瑫r(shí)也提到了實(shí)驗(yàn)室應(yīng)有“對(duì)未知科技難題進(jìn)行實(shí)驗(yàn)、認(rèn)證與探索” 的可能性。 ·柏宜照明中心實(shí)驗(yàn)室綜合能力與公司已有實(shí)驗(yàn)條件、生產(chǎn)條件、質(zhì)量考核條件會(huì)有重復(fù)，但有明顯的差別，柏宜中心實(shí)驗(yàn)室將以更高的技術(shù)層次，更深的專業(yè)深度、更強(qiáng)的產(chǎn)業(yè)實(shí)力為企業(yè)自身與社會(huì)提供服務(wù)。 ·實(shí)驗(yàn)室(試驗(yàn)室)大量的儀表、設(shè)備及測(cè)試系統(tǒng)，在實(shí)驗(yàn)(試驗(yàn))時(shí)的數(shù)據(jù)

11、精度與重復(fù)性要求是國(guó)內(nèi)外裝備、儀表技術(shù)與價(jià)格差距主要原因所在，是不易處理的主要難題。我們?cè)谶x擇時(shí)，仍以國(guó)內(nèi)品牌為先。·試驗(yàn)臺(tái)數(shù)量配置也是個(gè)難以把握的要求。只能根據(jù)場(chǎng)地、資金，先爭(zhēng)取有，再解決是否夠用的矛盾。 1.2 中心實(shí)驗(yàn)室 體系圖 集 團(tuán) 公 司中 心 實(shí) 驗(yàn) 室其它照明產(chǎn)品性能可 失靠 效性 分與 析電磁環(huán)境能效理 化 與材料分析計(jì)量安規(guī)與認(rèn)證電子測(cè)量 見(jiàn)No.2 見(jiàn)No.3 見(jiàn)No.4 見(jiàn)No.5 見(jiàn)No.6 見(jiàn)No.7 見(jiàn)No.8 見(jiàn)No.9 見(jiàn)No.10目前空白目前空白 1.3 中心實(shí)驗(yàn)室 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)專業(yè)領(lǐng)域：照明與燈具序號(hào)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)號(hào)、名稱收藏系統(tǒng)與設(shè)備型號(hào)及名稱備 注1G

12、B/T 19001-2008/ISO9001:2008質(zhì)量管理體系 要求No.5準(zhǔn)則包含了以下證明：按管理體系運(yùn)行，具有技術(shù)能力。提供正確的技術(shù)結(jié)果，滿足上述要求并包含與ISO9001中與實(shí)驗(yàn)室有關(guān)的條款。2GB/T 27000-2006/ISO/IEC 17000:2004合格評(píng)定 詞匯和通用原則3GB/T 27011-2005/ISO/IEC 17011:2004合格評(píng)定 對(duì)認(rèn)證合格評(píng)定機(jī)構(gòu)的認(rèn)證機(jī)構(gòu)的一般要求4GB/T 27025-2008 /ISO/IEC 17025:2005檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力的通用要求5CNAS-C101-2006/ISO/IEC 17025:2005檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)

13、驗(yàn)室能力認(rèn)可準(zhǔn)則6GB 4793.1-2007/IEC 61010-1:2001測(cè)量控制和實(shí)驗(yàn)室用電氣設(shè)備的安全要求 第1部分 通用要求7VIM國(guó)際通用計(jì)算學(xué)基本術(shù)語(yǔ)-8BY/QB0017-2010實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)（暫行）9GB/T 18268.1-2010 idt IEC 61326-1:1997測(cè)量、控制和實(shí)驗(yàn)室用的電設(shè)備 電磁兼容性要求 第1部分:通用要求10主要產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)（性能要求、測(cè)試方法、安全）：進(jìn)入到各具體部分1.5 中心實(shí)驗(yàn)室 布置總圖 “遠(yuǎn)方”(2013.7.8)提供的經(jīng)我方提出的初步修改意見(jiàn)試驗(yàn)室布置總圖1.5.1 “柏宜”提供的場(chǎng)地與實(shí)驗(yàn)室規(guī)劃要求 場(chǎng)地：生產(chǎn)大樓第四樓層，建

14、筑面積3520×層高 M/ M(無(wú)梁/有梁)。面積計(jì)算：以立柱單元8×8M為基本，橫向(0.5+10+0.5)共11單元，縱向5單元，共計(jì)64/單元×11×5單元。“柏宜”實(shí)驗(yàn)室規(guī)劃建設(shè)(討論稿)2013.5.30起。1.5.2 “遠(yuǎn)方”提供給“柏宜”的實(shí)驗(yàn)室布置總圖，區(qū)域總面積(總50%樓層)1760(A稿)。1.5.3 “遠(yuǎn)方”提供給“柏宜”的實(shí)驗(yàn)室布置總圖，區(qū)域總面積(總50%樓層)1760(B稿)。第二部分 照明產(chǎn)品性能2.1 編制說(shuō)明 本部分是實(shí)驗(yàn)室的核心部分-照明產(chǎn)品性能實(shí)驗(yàn)室。以照明產(chǎn)品為主題，產(chǎn)品參數(shù)性能為中心。它應(yīng)能滿足照明產(chǎn)品自身的三

15、大測(cè)量?jī)?nèi)容： 極大部分的電、光、色參數(shù) 光色度空間分布參數(shù)與分布曲線 現(xiàn)場(chǎng)照明工程質(zhì)量指標(biāo)。三大測(cè)量?jī)?nèi)容部分參數(shù)可以通過(guò)軟件計(jì)算自動(dòng)獲得。并具有多種文件互換版本(格式)，如GOS、CIE、IES、Tm14、EUT、CIB、CEN等。2.1.1 由于參數(shù)內(nèi)容的豐富復(fù)雜，單一測(cè)試系統(tǒng)又難以覆蓋照明產(chǎn)品的全部參數(shù)，故各個(gè)測(cè)量系統(tǒng)會(huì)有不同的側(cè)重，彼此之間也互有重疊部分，而相同參數(shù)也會(huì)有不同方法(?)測(cè)試等差別。2.1.2 測(cè)量系統(tǒng)均是按技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的要求設(shè)計(jì)制造的，但是LED照明標(biāo)準(zhǔn)體系與傳統(tǒng)照明標(biāo)準(zhǔn)體系有不同的內(nèi)涵。因此在執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，需慎重、細(xì)致地熟悉與理解之。2.1.3 本部分在標(biāo)準(zhǔn)匯總與測(cè)試系統(tǒng)互相

16、配合中，仍有許多設(shè)計(jì)考慮時(shí)無(wú)法細(xì)致酌別之處，有待過(guò)程中修改補(bǔ)充與調(diào)整。注：（？）在測(cè)試方法上可能會(huì)有依據(jù)上的不統(tǒng)一。2.2 照明產(chǎn)品性能 體系圖 燈具配光性能測(cè)試系統(tǒng)電光色參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)光輻射生物安全測(cè)定系統(tǒng)照明產(chǎn)品性能LED（含溫度特性試驗(yàn)）加速老化和壽命測(cè)試系統(tǒng) (燈和燈具) No.2 現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境測(cè)試系統(tǒng)色坐標(biāo)、容差、顯色性色溫光譜峰值波長(zhǎng)等空間分布電壓、電流、功率因數(shù)總照明功率總光通量眩光值GR顯色性Ra亮度L(cd/m3)照明功率LPD(w/m2)照度E(lx)統(tǒng)一眩光值UGR照度均勻度反射比(系統(tǒng)測(cè)量)光譜光色CRI(K)光強(qiáng)亮度顏色其它常用電光色參數(shù)UF光效lm/w柱面半柱面其他公常室

17、共用內(nèi)建房不筑間舒和與適工場(chǎng)眩業(yè)所光建 評(píng)筑 價(jià)室不外舒如適體眩育光場(chǎng)評(píng)所價(jià)照明工程質(zhì)量指標(biāo)電源效率燈具效率2.3 照明產(chǎn)品性能 燈與燈具產(chǎn)品的部分執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)序號(hào)執(zhí) 行 標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)、名 稱收藏系統(tǒng)與設(shè)備型號(hào)及名稱備 注1LED燈具電光色參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)HAAS-2000高精度快速光譜輻射計(jì)配積分球0.5M/2M各一只。 可用于：·測(cè)量相對(duì)光譜功率分布、輻射功率、光通量(配積分球)，光效(lm/w)·主波長(zhǎng)、峰值波長(zhǎng)、光譜純度、半寬度·色溫、顯色指數(shù)、色品坐標(biāo)、色容差、紅色比·電壓、電流、功 率、功率因數(shù)1.1Q/TPYR 01-2010LED雙端管型照明燈 性

18、能要求1.2GB/T 7922-2008照明光源顏色的測(cè)量方法1.3GB/T 5702-2003( NEQ CIE 13.3-1995)光源顯色性評(píng)價(jià)1.4LB/T 001-2009整體式LED路燈的測(cè)量方法(第版)1.5LB/T 003-2009LED隧道燈1.6GB/T 24823-2009普通照明用LED模塊 性能要求1.7GB/T 24824-2009普通照明用LED模塊 測(cè)試方法1.8GB/T 24827-2009道路與街路照明燈具 性能要求1.9GB/T 24907-2010道路照明用LED燈 性能要求1.10GB/T 24908-2010普通照明用自鎮(zhèn)流LED燈 性能要求1.11

19、GB/T 29296-2012反射型自鎮(zhèn)流LED燈 性能要求 1.12IESNA LM-79-08 北美固態(tài)照明產(chǎn)品的電氣和光度測(cè)量的認(rèn)定方法1.13美國(guó)Energy Star關(guān)于對(duì)LED燈具規(guī)范的相關(guān)測(cè)量要求1.14CIE 127:2007(英文)LED測(cè)量1.15CIE 15:2004colorimetry 比色法/色度測(cè)量1.16ANSI C78.377-2006固態(tài)照明產(chǎn)品色度學(xué)的要求2燈具空間光強(qiáng)分布(配光曲線)、空間顏色分布、空間亮度分布測(cè)試系統(tǒng) GO-R5000全空間快速分布光度計(jì)(立式)(LM-79稱為測(cè)角光度計(jì))Full-Field Speed Goniophotometer

20、(“變角/測(cè)角/測(cè)向”光度計(jì))可用于:燈具及光源下述功能測(cè)量(近場(chǎng)/遠(yuǎn)場(chǎng)/全空間)·燈具空間光強(qiáng)分布(配光曲線)·燈具空間(光譜分布、顏色分布、平均顏色特性及空間顏色不均勻性)·燈具空間亮度分布(閃亮面積、平均亮度、眩光)·總光通量、光效能·燈具電壓、電流、功率、 諧波·各種傳統(tǒng)燈具及LED燈具標(biāo)準(zhǔn)對(duì)配光性能測(cè)試的要求·燈具最大規(guī)格 直徑1.6M/50kg2.1GB/T 23110-2008/CIE43-1979投光燈具光度測(cè)試2.2GB/T 7002-2008投光照明燈具光度測(cè)試2.3GB/T 9468-2008燈具分布光

21、度測(cè)量的一般要求2.4LM-80-08 IESNA(美國(guó))LED光源流明維護(hù)率測(cè)量認(rèn)定方法2.5GB/T 22907-2008等同CIE 121-1996燈具的光度測(cè)試和分布光度學(xué)CIE 121:1996泛光燈光度測(cè)量法和測(cè)角光度測(cè)量法2.6GB/T 26178-2010/CIE84-1989 技術(shù)文件光通量測(cè)量法2.7CIE 70:1987照度分布測(cè)量法2.8CIE TC2-74(光輻射源的空間光譜輻射測(cè)量技術(shù)委員會(huì))-求證關(guān)于1.11的內(nèi)容：消費(fèi)日?qǐng)?bào)2013.6.6 B3版美國(guó)通報(bào)LED燈具測(cè)試新規(guī)一文中有“TBT”通報(bào)評(píng)議會(huì)，對(duì)美國(guó)最近無(wú)日期發(fā)布的“LED燈測(cè)試程序”展開(kāi)評(píng)議。·

22、;規(guī)定“測(cè)量LED燈流明輸出、輸入功率和相對(duì)光譜分布的方法”·規(guī)定“測(cè)量LED光源光通維持率的方法，以預(yù)測(cè)LED燈的額定壽命” B2版另有能源之星LED認(rèn)證新變化2013.4.1一文， B2/B3版是否即為1.11的“E.S要求”？序號(hào) 執(zhí) 行 標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)、名 稱收藏系統(tǒng)與設(shè)備型號(hào)及名稱備 注3LED照明 現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境測(cè)量設(shè)備(照明工程更必需)1 EZ-3000便攜式現(xiàn)場(chǎng)光譜光色綜合分析2 CX-2B 成像亮度計(jì)3 SR-2 光譜輻亮度計(jì)4 PHOTO-2000 面照度計(jì)5 PHOTO-2000 半柱面照度計(jì)6 PHOTO-2000 自動(dòng)安平照度計(jì)7 PHOTO-2000 快速存儲(chǔ)照度計(jì)

23、8 Z-10 智能照度計(jì)用于：包括LED照明在內(nèi)各類照明產(chǎn)品·現(xiàn)場(chǎng)照明環(huán)境數(shù)量指標(biāo)：照度、亮度。質(zhì)量指標(biāo)：顏色、光譜成分、顯色性、反射比、眩光限制、照明均勻度等分析。·建筑、裝潢材料的光學(xué)性能分析。·(SR-2)實(shí)驗(yàn)室兼用·能耗指標(biāo)：照明功率密度限制3.1GB/T 5700-2008照明測(cè)量方法3.2GB/T 5699-2008采光測(cè)量方法3.3GB/T 26180-2010/CIE 13.3:1995光源顯色性的表示與測(cè)量方法3.4GJJ 45-2006城市道路照明設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)3.5JGJ/T 163-2008城市夜景照明設(shè)計(jì)規(guī)范3.6CIE 15:200

24、4colorimetry 比色法/色度測(cè)量3.7GB 50034-2004建筑照明設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)3.8GB/T 16275-2008城市軌道交通照明3.9LB/T 004-2010半導(dǎo)體照明試點(diǎn)示范工程 LED道路和隧道照明現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)及驗(yàn)收實(shí)施細(xì)則4光輻射安全測(cè)定系統(tǒng)OST-300光輻射安全測(cè)試系統(tǒng)用于：各種光源、燈具·光譜分布、光譜輻亮度、光譜輻照度、照度、光譜輻射曝光量、有效紫外輻射比(mWklm)·表現(xiàn)光源尺寸、色溫、色坐標(biāo)、顯色指數(shù)、色容差等。·覆蓋200nm3000nm全波段4.1GB/T 20145-2006/ IEC/EN 62471:2006/CIE S0

25、09/E:2002燈和燈系統(tǒng)的光生物安全性4.2IEC/EN 60335-2-27:1997紫外和紅外輻射皮膚護(hù)理電器的特殊要求4.3IEC/EN 60598 Annex P 2005/32/EC歐盟指令等4.4IEC/EC 60432Incandescent Lamp UV radiation 白熾燈紫外輻射4.5GB 7000.1-2007/IEC 60598.1:2003燈具第1部分：一般要求和試驗(yàn)5LED(燈和燈具)加速老化和壽命測(cè)試系統(tǒng)(含溫度特性試驗(yàn))LT-300ALED加速老化和壽命測(cè)試系統(tǒng)用于：LED燈和LED燈具產(chǎn)品·常規(guī)老化、過(guò)載老化、壽命試驗(yàn)、光通量維持特性試驗(yàn)

26、·顏色漂移特性試驗(yàn)·溫度特性試驗(yàn)·LED壽命推算系統(tǒng) TM-21-11推估方式(55/85/自選溫度3個(gè)測(cè)試溫度)13.4.1 E、S新規(guī)有光衰>30%時(shí)，視覺(jué)受影響，新規(guī)光通維持率定為70%，不是原50%的低標(biāo)準(zhǔn)要求。5.1GB/T 24824、23-2009同1.4 、 1.55.2QB/T 4057-2010普通照明用發(fā)光二極管 性能要求5.3LB/T 001-2009同1.35.4LM-80-2008 美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)IESNALED光源流明維護(hù)率測(cè)量認(rèn)定方法5.5ASSIST(？)推薦參考文件？IEC 62612 IES TM-21LED壽命測(cè)試(非標(biāo)準(zhǔn)測(cè)

27、試)5.6ENERGY STAR 美國(guó)能源之星 Program Requirements Product Specification Eligibility Criteria-5.7IEC/PAS 62717:2011LED modules for general lighting Performance requirements5.8IEC/PAS 62722-2-1:2011Luminaire Performance Part 2-1: Particular requirements for LED luminaires序號(hào)設(shè)備/儀表/名稱型號(hào)單價(jià)LWH設(shè)備(m2)LWH占地(m2)水(m

28、3)電(KW)氣(m3)重量(kg)備 注1LED燈具電光色參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)(高精度快速光譜輻射計(jì))HAAS-200017.4萬(wàn)元6×4×3m(24m2)5約500光通量需配積分球2燈具配光性能測(cè)試系統(tǒng)全空間快速分布光度計(jì)(立式)GO-R5000117萬(wàn)元(套)18×6.5×6m 117m2(暗室)3×4×2.5m 12m2(操作室)15約2000(主機(jī)部分)樓板承重要求大于(600700)kg/m23現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境測(cè)量系統(tǒng)3.1現(xiàn)場(chǎng)光譜光色綜合分析EZ-300029.8萬(wàn)元6×6×2.5m(36 m2)2約1003.2成像

29、亮度計(jì)CX-2B3.3光譜輻亮度計(jì)SR-23.4柱面照度計(jì)PHOTO-20003.5半柱面照度計(jì)PHOTO-20003.6自動(dòng)安平照度計(jì)PHOTO-20003.7快速存儲(chǔ)光度計(jì)PHOTO-20003.8智能照度計(jì)Z-104光輻射安全測(cè)定系統(tǒng)OST30069.8萬(wàn)元8×3×2.5m(24m2暗室)10約600安規(guī)試驗(yàn)5.1LED(燈和燈具)加速老化和壽命測(cè)試系統(tǒng)LT-300A26.8萬(wàn)元3.5×2.5×2.5m(9m2)14約500可靠性壽命試驗(yàn)5.2LED(單顆與模組)加速老化和壽命測(cè)試系統(tǒng)LT-200A39.8萬(wàn)元3×4×2.5m(

30、12m2)14約8006合 計(jì)300.80萬(wàn)元·234m2 暗室 占141m2 6m屋凈高 占117m22.4 照明產(chǎn)品性能 儀表設(shè)備清單及單價(jià)/場(chǎng)地與要求 2.5 照明產(chǎn)品性能 布置圖說(shuō)明：1 暗室內(nèi)門、墻及天花板均涂無(wú)光黑色漆，有窗的部分都掛黑色絲絨布簾，絨面朝內(nèi)。2 地面建議鋪設(shè)黑色地毯。3 所有儀器必須有良好接地，請(qǐng)?jiān)O(shè)置接地良好的單相220V供電。4 房間必須有足夠大的門以進(jìn)儀器，圖中門位置為示意圖。5 暗室建議安裝中央空調(diào)，其四周墻體建議采用保溫材料（儀器四周需滿足恒溫要求25±1），空調(diào)管道的位置需與我方協(xié)商，以免碰到儀器。6 光闌外形如圖所示，由、兩部分組成，

31、為固定木板，厚度為200mm; 為兩對(duì)半開(kāi)門板，厚度為60mm.第3部分 可靠性與失效分析 3.1 編制說(shuō)明可靠性與失效分析部分是一個(gè)以照明產(chǎn)品為主要對(duì)象，但編寫的體系圖則具有通用性。其試驗(yàn)的內(nèi)容方法，條件依據(jù)的是GB/T2423電工電子產(chǎn)品通用的環(huán)境實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，產(chǎn)品可以按要求選擇使用。3.1.1 市場(chǎng)上的通用設(shè)備規(guī)格與具體產(chǎn)品實(shí)施時(shí)會(huì)有容積與數(shù)量要求無(wú)法滿足照明產(chǎn)品特殊的外型、大小懸殊的個(gè)體，是實(shí)施難關(guān)之一。3.1.2 本處列出的部分技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，既有通用的機(jī)械與氣候環(huán)境試驗(yàn)方法，也需要補(bǔ)充具體產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)要求方面的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。3.1.3 耐久性(壽命)試驗(yàn)，是試驗(yàn)室中占地與耗能大戶，也是可靠性

32、的核心試驗(yàn)內(nèi)容。溫度耐久性試驗(yàn)較簡(jiǎn)單，只需保證試驗(yàn)臺(tái)數(shù)，但電耐久性不僅會(huì)涉及壽命臺(tái)的數(shù)量，還涉及試驗(yàn)技術(shù)方法如間歇、加速等，市場(chǎng)上沒(méi)有現(xiàn)成的試驗(yàn)臺(tái)，要自制。3.1.4 失效分析是提高與改進(jìn)制造質(zhì)量的最有效工作方法之一。除了必有的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備外，它還應(yīng)該有一些物理化學(xué)手段，如缺陷分析觀察顯微鏡、X射線分析儀等。目前還開(kāi)列不出系統(tǒng)內(nèi)容，在工作中需補(bǔ)充增添。3.1.5 本處的可靠性與失效分析部分，將EMC、安規(guī)與認(rèn)證(如IP防護(hù)，防爆等)歸入專門章節(jié)部分表述。3.2 可靠性與失效分析 體系圖No.3 可靠性與失效分析 耐久性（壽命）失效分析機(jī)械（環(huán)境）氣候（環(huán)境） 電耐久性多應(yīng)力溫度（儲(chǔ)存） 微結(jié)構(gòu)

33、失效熱失效12產(chǎn)品與包裝加速度離心力碰撞（結(jié)構(gòu)強(qiáng)度與撞擊）沖 擊振動(dòng)（隨機(jī)）振動(dòng)（正弦）附高溫應(yīng)力附低溫應(yīng)力溫濕度低 溫高 溫其它失效性能失效溫控儀熱成像分析儀熱阻測(cè)試儀X射線應(yīng)用儀視像顯微鏡溫度、電、其他加速壽命間歇壽命恒定壽命181719見(jiàn)2.2體系圖列入EMC及安規(guī)部分處理自(定)制1178916151413其 他高 溫低 溫高低溫沖擊高低溫循環(huán)恒溫恒濕交變濕熱低氣壓鹽 霧水試驗(yàn)沙 塵多應(yīng)力風(fēng) 壓防紫外防臭氧腐蝕防 雷12106543注：此處編號(hào)為“設(shè)備部分序號(hào)”3.3 可靠性與失效分析 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)(補(bǔ)充修訂)序號(hào)執(zhí) 行 標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)、名 稱收藏系統(tǒng)與設(shè)備型號(hào)及名稱備 注1可靠性試驗(yàn)方法1.

34、1GB/T 2423.1-2008 / IEC60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫1.2GB/T 2423.2-2008 / IEC60068-2-2：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫1.3GB/T 2423.3-2006 / IEC60068-2-78：2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)1.4GB/T 2423.4-2008 / IEC60068-2-30：2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h-12h循環(huán))1.5GB/T 2423.5-1

35、995 / idt IEC68-2-27：1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊1.6GB/T 2423.6-1995 / idt IEC68-2-29：1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞1.7GB/T 2423.8-1995 / idt IEC68-2-30：1990電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed和導(dǎo)則：自由跌落1.8GB/T 2423.10-2008 / IEC60068-2-6：1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc：振動(dòng)(正弦)1.9GB/T 2423.15-2008 / IEC

36、60068-2-7：1986電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度1.10GB/T 2423.16-2008 / IEC60068-2-10：2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J及導(dǎo)則：長(zhǎng)霉1.11GB/T 2423.17-2008 / IEC60068-2-11：1981電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka:鹽霧1.12GB/T 2423.18-2012 / IEC60068-2-52：1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kb:鹽霧,交變（氯化鈉溶液）1.13GB/T 2423.21-2008 / IEC600

37、68-2-13：1983電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)M:低氣壓1.14GB/T 2423.22-2012 / IEC60068-2-14：2009電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化1.15GB/T 2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Q:密封1.16GB/T 2423.24-1995 / idt IEC68-2-5：1975電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Sa:模擬地面上的太陽(yáng)輻射1.17GB/T 2423.25-2008 / IEC60068-2-40：1976電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AM:低溫

38、/低氣壓綜合試驗(yàn)1.18GB/T 2423.26-2008 / IEC60068-2-41：1976電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)1.19GB/T 2423.27-2005 / IEC60068-2-39：1976電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)1.20GB/T 2423.30-1999 / idt IEC68-2-45：1993電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)XA和導(dǎo)則:在清洗劑浸漬1.21GB/T 2423.33-2005 / idt IEC68-1：1988電工電子產(chǎn)品環(huán)境

39、試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kca:高濃度二氧化硫試驗(yàn)1.22GB/T 2423.34-2005 / IEC60068-2-38：2009電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)1.23GB/T 2423.35-2005 / IEC60068-2-50：1983電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)1.24GB/T 2423.36-2005 / IEC60068-2-51：1983電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/BFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)1

40、.25GB/T 2423.37-2006 / IEC60068-2-68：1994電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)L：沙塵試驗(yàn)1.26GB/T 2423.38-2008 / IEC60068-2-18：2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則1.27GB/T 2423.40-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱1.28GB/T 2423.41-1994電子電工產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 風(fēng)壓試驗(yàn)方法序號(hào)執(zhí) 行 標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)、名 稱收藏系統(tǒng)與設(shè)備型號(hào)及名稱備 注1.29GB/T 2423.43-2008電工電子

41、產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 振動(dòng)、沖擊和類似動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)樣品的安裝1.30GB/T 2423.45-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABDM:氣候順序1.31GB/T 2423.48-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ff：振動(dòng)時(shí)間歷程法1.32GB/T 2423.49-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fe：振動(dòng)正弦拍頻法1.33GB/T 2423.50-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy：恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)1.34GB/T 2423.51-2000電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方

42、法 試驗(yàn)Ke：流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)1.35GB/T 2423.52-2003電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)77：結(jié)構(gòu)強(qiáng)度與撞擊1.36GB/T 2423.53-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Xb：由手的摩擦造成標(biāo)記和印刷文字的磨損1.37GB/T 2423.54-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Xc：流體污染1.38GB/T 2423.55-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eh:錘擊污染1.39GB/T 2423.56-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fh:寬帶隨機(jī)振動(dòng)（數(shù)字制作）和導(dǎo)則1

43、.40GB/T 2423.57-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ei：沖擊 沖擊響應(yīng)譜合成1.41GB/T 2423.58-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fi：振動(dòng) 混合模式1.42GB/T 2423.59-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh：溫度（高溫、低溫）/低氣壓/振動(dòng)(隨機(jī))綜合1.43GB/T 2423.60-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)U:引出端及整體安裝件強(qiáng)度1.44GB/T 2423.101-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)：傾斜和搖擺1.45GB/T

44、 2423.102-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合1.46GB/T 2689.1-1981恒定應(yīng)力壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)方法1.47GB/T 10593.1-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測(cè)量方法 第1部分：振動(dòng)1.48GB/T 10593.2-2012電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測(cè)量方法 第2部分：鹽霧1.49GB/T 10593.3-1990電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測(cè)量方法 振動(dòng)數(shù)據(jù)處理和歸納2可靠性試驗(yàn)導(dǎo)則、設(shè)備性能確認(rèn)2.1GB/T 2424.1-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則2.2GB/T 2424.2-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則2.3GB/T 2424.5-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)2.4GB/T 2424.6-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度/