工藝技術(shù)超聲波檢測(cè)工藝規(guī)程

1、'您可自m«（工藝技術(shù)）超聲波檢測(cè)工藝規(guī)程2020年3月早越管理智庫(kù)精心制作J多年企業(yè)咨誼經(jīng)驗(yàn)，精品管理方案值得您下瞬育i超聲波檢測(cè)工藝規(guī)程1 目的本規(guī)程規(guī)定了檢測(cè)人員的資格、儀器探頭試塊、檢測(cè)范圍、方法和質(zhì)量分級(jí)等。2適用范圍 2.1本規(guī)程采用 A 型脈沖反射式超聲探傷儀器對(duì)鋼板、鍛件和焊縫進(jìn)行檢測(cè)。壓力管道對(duì) 接焊縫也參照把本規(guī)程2.2檢測(cè)工藝卡是本規(guī)程的補(bǔ)充，必要時(shí)由 II 級(jí)人員按合同要求編制，其檢測(cè)參數(shù)規(guī)定的更具體。2.3、引用標(biāo)準(zhǔn)：GB150-1998 鋼制壓力容器、GB151-1999 鋼制換熱器TSG R0004-2009固定式壓力容器安全技術(shù)規(guī)程TSG D0

2、001-2009 壓力管道安全技術(shù)檢測(cè)規(guī)程 -工業(yè)管道JB/T 4730-005 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)GB50235-1997 工業(yè)金屬管道工程施工及驗(yàn)收規(guī)范GB50148-1993 工業(yè)金屬管道工程質(zhì)量檢驗(yàn)JB/T7913-1995超聲波檢測(cè)用鋼制對(duì)比試塊的制作與校驗(yàn)方法JB/T9214-1999A 型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法JB/T10061-1999A 型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件JB/T10063-1999超聲探傷用1號(hào)標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件JB/T10062-1999超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法4通用規(guī)則4.1 檢測(cè)人員4.1.1 檢測(cè)人員必須經(jīng)過(guò)培訓(xùn)，按鍋爐壓力容器無(wú)損

3、檢測(cè)人員資格考核規(guī)則的要求， 經(jīng)理論和實(shí)際考試合格，取得相應(yīng)等級(jí)資格證書(shū)的人員擔(dān)任。檢測(cè)由 II 級(jí)以上人員進(jìn)行，1.0。I 級(jí)人員僅做檢測(cè)的輔助工作。4.1.2 檢測(cè)員人員必須每年檢查一次身體，其矯正視力不低于4.2 儀器、探頭和試塊現(xiàn)使用的儀器為汕頭超聲儀器廠生產(chǎn)的CTS-22和CTS-26型儀器和探頭。4.2.1 儀器1）儀器和探頭的組合靈敏度：在達(dá)到所檢工件最大聲程時(shí)，其靈敏度余量應(yīng)10dBo2）衰減器精度：任意相鄰12dB誤差在± 1dB以內(nèi)，最大累計(jì)誤差不超過(guò)1dB。3）水平線性：水平線性誤差不大于 1%。4）垂直線性：在熒光屏滿刻度的 80%范圍內(nèi)呈線性顯示。垂直線性誤

4、差不大于 5%o 4.2.2 探頭1）晶片有效面積除另有規(guī)定外一般不應(yīng)超過(guò) 50m m,且任意一邊長(zhǎng)不大于25mmo2）單斜探聲束軸線水平偏離角不應(yīng)大于 2°，主聲束垂直主方向不應(yīng)有明顯的雙峰。6dB。3）直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)大于或等30dB,斜探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)大于或等于儀器和探頭的系統(tǒng)性應(yīng)按JB/T9214和JB/T10062的規(guī)定進(jìn)行測(cè)試。4.2.3 試塊1）試塊應(yīng)采用與被檢工件相同或近似聲學(xué)的材料制成， 該材料用直探頭檢測(cè)時(shí)， 不 得有大于© 2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。2）試塊的制造要求應(yīng)符合中 JB/T10063和JB/T7913的規(guī)定。3）現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)時(shí)，也可采用

5、其它型式的等效試塊。4.3 檢測(cè)的一般方法4.3.1 檢測(cè)復(fù)蓋率檢測(cè)時(shí)，探頭的每次掃查復(fù)蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15%o 4.3.2 探頭的移動(dòng)速度探頭的掃查速度不應(yīng)超過(guò)150m m/s。當(dāng)采用自動(dòng)報(bào)警裝置掃查時(shí)，不受此限。4.3.3 掃查靈敏度掃查靈敏度至少比基準(zhǔn)度高 6dB。4.3.4耦合劑采用機(jī)油、槳糊、甘油和水等透聲性好，且不損傷檢測(cè)表面的耦合劑。4.3.5 檢測(cè)面1）檢測(cè)面和檢測(cè)范圍的確定原則上應(yīng)保證檢查到工件被檢部分的整個(gè)面積。對(duì)于鋼板和鍛件應(yīng)檢查到整個(gè)工件；而對(duì)熔接焊縫應(yīng)檢查到整條焊縫。2）檢測(cè)面應(yīng)經(jīng)外觀檢查合格， 所有影響超聲檢測(cè)的銹蝕、 飛濺和污物都應(yīng)予以清除， 其表面粗糙度應(yīng)符

6、合檢測(cè)要求。4.3.6 校準(zhǔn)校準(zhǔn)應(yīng)在基準(zhǔn)試塊上進(jìn)行， 校準(zhǔn)中應(yīng)使超聲主聲束垂直對(duì)準(zhǔn)反射體的軸線， 以獲得穩(wěn) 定的和最大的反射信號(hào)。4.3.6.1儀器校準(zhǔn)在儀器開(kāi)始使用時(shí)，應(yīng)對(duì)儀器的水平線性進(jìn)行測(cè)定，測(cè)定方法按JB/T10061的規(guī)定進(jìn) 行。在使用過(guò)程中，每隔三個(gè)月至少應(yīng)對(duì)儀器的水平線和垂直線性進(jìn)行一次測(cè)定。JB/T100624.3.6.2探頭校準(zhǔn)1）在探頭開(kāi)始使用時(shí)，應(yīng)對(duì)探頭進(jìn)行一次全面的性能校準(zhǔn)。測(cè)定方法按的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行。2）斜探頭校準(zhǔn)使用前，斜探頭至少應(yīng)進(jìn)行前沿距離、 K 值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辯力等的校準(zhǔn)。使用過(guò)程中，每個(gè)工作日應(yīng)校準(zhǔn)前沿距離、 K 值和主聲束偏離。3）直探頭校準(zhǔn)

7、直探頭的靈敏度余量和分辯力應(yīng)每隔一個(gè)月檢查一次。4.3.6.3儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核1）復(fù)核時(shí)機(jī)每次檢測(cè)前均應(yīng)對(duì)掃描線、 靈敏度進(jìn)行復(fù)核，遇有下述情況應(yīng)隨時(shí)對(duì)其進(jìn)行重新核查：a.校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋紐發(fā)生改變時(shí);b.開(kāi)路電壓波運(yùn)或者檢測(cè)者懷疑靈敏度有變化時(shí);C.連續(xù)工作4小時(shí)以上時(shí);d 工作結(jié)束時(shí)。2）掃描量程的復(fù)核10%，則掃描量如果距離一波幅曲線上任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過(guò)掃描讀數(shù)的 程應(yīng)予以修正，并在檢測(cè)記錄中加以說(shuō)明。3）距離一波幅曲線的復(fù)核復(fù)核時(shí)，校核應(yīng)不少一于3點(diǎn)。如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降 2dB,則應(yīng)對(duì)上一次以來(lái)所有的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行復(fù)驗(yàn)；如幅度上升 2dB，則應(yīng)對(duì)所有的

8、記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。4.4報(bào)告和資料的存檔按廠統(tǒng)一表樣由 II 級(jí)以上人員填寫(xiě)報(bào)告，經(jīng)責(zé)任工程師認(rèn)可。鋼板、鍛件送委托人轉(zhuǎn)檢驗(yàn)處存檔；壓力容器焊縫檢測(cè)報(bào)告，與其它檢測(cè)報(bào)告一起交檢驗(yàn)處存檔。 資料存檔不 少于7年。5壓力容器鋼板超聲檢測(cè) 5.1檢測(cè)范圍和一般要求本條適用于板厚為6-250mm的鋼制壓力容器用板材的超聲檢測(cè)和缺陷等級(jí)評(píng)定。奧氏體鋼板材的超聲檢測(cè)也可參照本條執(zhí)行。5.2探頭選用（探頭的選用應(yīng)按表1的規(guī)定執(zhí)行） 5.3標(biāo)準(zhǔn)試塊5.3.1用雙晶直探頭檢測(cè)壁厚小于或等于20mm的鋼板時(shí)，采用標(biāo)準(zhǔn)試塊如圖1所示。5.3.2用單直探頭檢測(cè)板厚大于 20mm的鋼板時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)符合圖 2和表2

9、的規(guī)定。試塊厚度應(yīng)與檢鋼厚度相近。5.4檢測(cè)靈敏度 5.4.1板厚小于或等20mm時(shí)，用圖1所示的試塊將工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的50%，再提高10dB作為檢測(cè)靈敏度。5.4.2板厚大于20mm時(shí)，應(yīng)將圖2所示的試塊平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50%作為檢測(cè)靈敏度。表1探頭選用板厚(mm)采用探頭公私頻率探頭晶片尺寸雙晶探頭單晶直探頭6-20雙晶探頭5MHz晶片面積不小于150mm2> 20-250單晶直探頭2.5MHz圓晶片直徑為14-25m m，或方晶片 面積不小于200mm2表2試塊編號(hào)被檢鋼板厚度檢測(cè)面平底孔的距離S試塊厚度 T1> 20-4015>

10、; 202> 40-6030> 403> 60-10050> 654> 100-16090>1105> 160-200140> 1706> 200-250190> 220其余專111111CT(98X/. D 1 = 3201 £-507才-S 一8X4 0 1 = 32 01一圖1板厚小于或等于20m雙晶直探頭檢測(cè)用試塊圖2板厚大于20mm單直探頭檢測(cè)用試543板厚大于60mm時(shí)，也可取板無(wú)缺陷的完好部位的第一次底波來(lái)校準(zhǔn)靈敏度，其結(jié)果應(yīng)與2.4.2條的要求相一致。5.5檢測(cè)方法 5.5.1檢測(cè)面可選鋼板的任一軋制平面進(jìn)行

11、檢測(cè)。若檢測(cè)人員認(rèn)為需要或設(shè)計(jì)上有要求時(shí)，也可對(duì)鋼板的上下兩軋制平面分別進(jìn)行檢測(cè)。5.5.2掃描方式100%3查區(qū)剖面預(yù)定線圖3探頭搜查示意圖1）探頭沿垂直于鋼板壓延方向，間距為100mm的平行線進(jìn)行掃查。在鋼板坡口預(yù)定線兩側(cè)各50mm（當(dāng)板厚超過(guò)100mm,以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)應(yīng)作100%掃查，掃查示意 圖3。2）根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書(shū)或圖樣的要求，也可進(jìn)行其它形式的掃查。5.6缺陷記錄 5.6.1在檢測(cè)過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一者作為缺陷:1）缺陷第一次反射波（F1）波高大于或等于波刻度的50%，即F1>50%者。2）當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高未達(dá)到滿刻度，此時(shí)第一次反射波（F1

12、）波高與波底面 第一次反射波（B1）波高之比大于或等于50%，即B1 < 100%，而F1/B150%者。3）當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高低于滿刻度的50%，即B1 < 50%者。5.6.2缺陷的邊界或指示長(zhǎng)度的測(cè)定方法1）檢出缺陷后，應(yīng)在它的周?chē)^續(xù)檢測(cè)，以確定缺陷的延伸。2）用雙晶直探頭確定缺陷的邊界或指示長(zhǎng)度時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的聲波分割 面相垂直，并使缺陷波下降到檢測(cè)靈敏度條件下熒屏滿刻度的25%或使第一次反射波高底面第一次反射波高之比為 50%。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探 頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。3）用單直探

13、頭確定缺陷的邊界或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭，使缺陷波第一次反射波高下降到檢測(cè)靈敏度條件下熒屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波與底面第一次反射波高之比為50%，此時(shí)，探頭中心移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。4）確定2.6.1c條缺陷的邊界或指示長(zhǎng)度，移動(dòng)探頭，使底面第一次反射波升高到熒光屏滿刻度的50%。此時(shí)，探頭中心移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺 陷的邊界點(diǎn)。5）當(dāng)采用第二次缺陷波和第二次底波來(lái)評(píng)定缺陷時(shí)， 檢測(cè)靈敏度以相應(yīng)的第二次反射波來(lái)校準(zhǔn)。5.7缺陷的評(píng)定方法 5.7.1缺陷指示長(zhǎng)度的評(píng)定規(guī)則一個(gè)缺陷按其指示的最大長(zhǎng)度

14、作為該缺陷的指示長(zhǎng)度。3的規(guī)定5.7.2單個(gè)缺陷面積的評(píng)定規(guī)則1）一個(gè)缺陷按其指示的最大面積作為該缺陷的單個(gè)指示面積。當(dāng)其小于表時(shí)，可不作記錄。2）多個(gè)缺陷其相鄰間距小于100mm或間距小于相鄰小缺陷的指示長(zhǎng)度（取其較大值）時(shí)，其各塊缺陷面積之和作為單位個(gè)缺陷指示面積。5.7.3缺陷面積占有率的評(píng)定規(guī)則在任一 1mx 1m檢測(cè)面積內(nèi)，按缺陷面積所占的百分比來(lái)確定。表3等級(jí)單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度（mm）單個(gè)缺陷指示面積cm2在任一 1mx 1m檢測(cè)面積內(nèi)存在的缺陷面積百分比%以下單個(gè)缺陷指2示面積不記cmI< 100< 25< 3< 9II< 100< 100<

15、; 5< 15III< 120< 100< 10< 25IV< 150< 100< 10< 255.8鋼板缺陷等級(jí)評(píng)定5.8.1鋼板等級(jí)劃分見(jiàn)表3 5.8.2在坡口預(yù)定線兩側(cè)各50mm（板厚大于100mm時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)，缺陷的指示長(zhǎng)度大于或等于50mm時(shí)，則應(yīng)判廢，不作評(píng)級(jí)。5.8.3在檢測(cè)過(guò)程中，檢測(cè)人員如確認(rèn)鋼板中有白點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷存在時(shí)，貝U應(yīng)判 廢，不作評(píng)級(jí)。6壓力容器鍛件超聲波檢測(cè) 6.1檢測(cè)范圍和一般要求本條適用于壓力容器用碳素鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測(cè)和缺陷等級(jí)評(píng)定。本條不適用于奧氏體鋼等粗晶材料的超聲檢測(cè)，也

16、適用于內(nèi)外半徑之比小于 80%的環(huán)形和筒形鍛件的周向橫波檢測(cè)。6.2試塊應(yīng)符合1.4.2a條的規(guī)定。6.2.1縱波直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊試塊應(yīng)采用CS1和CS2試塊，也可自行加工，其形狀和尺寸按表 4和圖4的規(guī)定。L56100150200D50608080表4縱波直探頭采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸mm6.2.2縱波雙晶直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊1）工件檢測(cè)距離小于45mm時(shí)，應(yīng)采用縱波雙晶直探頭試塊。2）縱波雙晶直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊的形狀和尺寸按圖 5和表5的規(guī)定。全部哆禺屮砂I圖4縱波直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊表5縱波雙晶直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸（I）3序號(hào)檢 測(cè) 距 離 L10152025303540456.2.3檢測(cè)面是曲面時(shí)，應(yīng)采用對(duì)比試

17、塊來(lái)測(cè)定由于曲率不同而引起的聲能損失，其形狀和尺寸按圖6所示。6.3檢測(cè)時(shí)機(jī)原則上應(yīng)安排在熱處理后,槽、孔、臺(tái)階加工前進(jìn)行。若熱處理后鍛件形狀不適合超聲檢測(cè)時(shí)也可在熱處理前進(jìn)行,但在熱處理后仍對(duì)鍛件進(jìn)行盡可能完全的檢測(cè)。檢測(cè)面的表面粗糙度Ra為6.3卩m。6.4檢測(cè)方法鍛件一般應(yīng)進(jìn)行縱波檢測(cè)。對(duì)筒形鍛件還應(yīng)進(jìn)行橫波檢測(cè)，但掃查部位和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)由供需雙方商定17：H 1 f-t J iAJk 1111.J全部p641橫波檢測(cè)橫波檢測(cè)應(yīng)按附錄IR為工件的0.9曲率半徑1.5倍1-一歆曲面對(duì)比試塊A（補(bǔ)充件）的要求進(jìn)行。642縱波檢測(cè)1）原則上應(yīng)從兩個(gè)相互垂直的方向進(jìn)行檢查，盡可能地檢測(cè)到鍛件的全體

18、積。主要檢測(cè)方向如圖7所示。其它形狀的鍛件也可參照?qǐng)?zhí)行。2）鍛件厚度超過(guò)400mm時(shí)，應(yīng)從相對(duì)兩端面進(jìn)行100%的掃查。6.5檢測(cè)靈敏度的確定 6.5.1縱波直探頭檢測(cè)靈敏度的確定當(dāng)被檢部位的厚度大于或等于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，原則上可選用底波計(jì)算法確定檢測(cè)靈敏度。對(duì)由于幾何形狀所限，不能獲得底波或壁厚小于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，可直接 采用試塊法來(lái)確定檢測(cè)靈敏度。6.5.2縱波雙晶直探頭檢測(cè)靈敏度的確定（至少根據(jù)需要選擇不同直徑平底孔的試塊，并依次測(cè)試一組不同檢測(cè)距離的平底孔三個(gè)）。調(diào)節(jié)衰減器，使其中最高的回波幅度達(dá)到滿刻度的80%。不改變儀器的參數(shù)，測(cè)出其它平底孔回波的最高點(diǎn)，將其標(biāo)在熒光屏上，

19、連接這些點(diǎn)，即是對(duì)應(yīng)于不同直徑平底 孔的縱波雙晶直探頭的距離一波幅曲線，并以此作為檢測(cè)靈敏度。6.5.3檢測(cè)靈敏度一般不低于最大檢測(cè)距離處的e2mm平底孔當(dāng)量直徑。6.6工件質(zhì)衰減系數(shù)的測(cè)定 6.6.1在工件無(wú)缺陷完好區(qū)域，選取三處檢測(cè)面與底面平行且有代表性的部位，調(diào)節(jié)儀器使第一次底面回波幅度(B1)為滿刻度的50%，記錄此時(shí)衰減器的讀數(shù)，再調(diào)衰減器，使第 二次底面回波幅度(B2)為滿刻度的50%，兩次衰減器讀數(shù)之差即為(B1-B2)的dB的差值。6.6.2衰減系數(shù)的計(jì)算公式：2T(B1B 2) 6dB a=式中：a衰減系數(shù)，dB/m(單程)(B1-B2)兩次衰減器的讀數(shù)之差，dBT工件檢測(cè)厚

20、度，mm663工件上三處衰減系數(shù)的平均值即為該工件的衰減系數(shù)。6.7缺陷當(dāng)量的確定 6.7.1采用AVG曲線及計(jì)算法確定缺陷當(dāng)量。對(duì)于三倍近場(chǎng)區(qū)內(nèi)的缺陷，可采用單直探頭或雙晶直探頭的距離一波幅曲線來(lái)確定缺陷當(dāng)量。也可采用其它等效方法來(lái)確定。6.7.2計(jì)算缺陷當(dāng)量時(shí)，當(dāng)材質(zhì)衰減系數(shù)超過(guò) 4dB/m，應(yīng)考慮修正。6.8缺陷記錄 6.8.1記錄當(dāng)量直徑超過(guò)© 4mm的單個(gè)缺陷的波幅和位置。6.8.2密集性缺陷：記錄密集性缺陷中最大當(dāng)量缺陷的位置和分布。餅形鍛件應(yīng)記錄大于或等于© 4mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)，其它鍛件應(yīng)記錄大于或等于©3mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)。缺陷密集區(qū)

21、面積以 50mmX 50mm的方塊作為最小量度單位，其邊界可以 6dB法決定。應(yīng)按表7要求記錄底波降低量。6.9缺陷等級(jí)評(píng)定 6.9.1單個(gè)缺陷的等級(jí)評(píng)定見(jiàn)表6。6.9.2底波降低量的等級(jí)評(píng)定見(jiàn)表7。6.9.3密集區(qū)缺陷等級(jí)評(píng)定見(jiàn)表& 6.9.4表6、表7和表8的等級(jí)應(yīng)作為獨(dú)立的等級(jí)分別使用。6.9.5如果工件的材質(zhì)衰減對(duì)檢測(cè)結(jié)果有較大的影響，應(yīng)重新進(jìn)行熱處理。6.9.6如果被檢測(cè)人員判定為危害性缺陷時(shí)，可以不受上述條文的限制。1'67/a/11;1/ /7i11181o%te)一k圖7 檢測(cè)方向（垂直檢測(cè)法）注：T為必須檢測(cè)方向；為參考檢測(cè)方向表6單個(gè)缺陷的等級(jí)評(píng)定等級(jí)III

22、IIIIVV缺陷當(dāng)量直徑W© 4© 4-© 4+© 4+>© 4+16dB(> 0-8dB)(> 8-12dB)(> 12-16dB)表7由缺陷引起底波降低量的等級(jí)評(píng)定等級(jí)IIIIIIIVV底波降低量BG/BF< 8> 8-14> 14-20> 20-26> 26注：本表僅適用于程大于一倍近場(chǎng)區(qū)的缺陷。表8 密集區(qū)缺陷的等級(jí)評(píng)定等級(jí)IIIIIIIVV密集區(qū)缺陷占檢測(cè)總面積的百分比 %0> 0-5> 5-10> 10-20> 206.9.7鍛件修補(bǔ)后，應(yīng)按本標(biāo)準(zhǔn)的要求進(jìn)

23、行檢測(cè)和評(píng)定 7鋼制壓力容器焊縫超聲波檢測(cè) 7.1檢測(cè)范圍和一般要求本條規(guī)定了焊縫缺陷的超聲檢測(cè)方法及檢驗(yàn)結(jié)果的等級(jí)評(píng)定。本條適用于母材厚度為8-120mm全焊透熔化焊鋼對(duì)接焊縫和管座角焊縫的超聲檢測(cè)。本條也適用于碳鋼.低合金鋼及奧氏體鋼制壓力管道對(duì)接焊縫.（適用厚度8mm）7.2試塊 7.2.1應(yīng)符合1.4.2a條的規(guī)定。7.2.2采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為CSK-IA、CSK-IIA和CSQIIA。其形狀和尺寸應(yīng)分別符合圖 & 圖9和圖10。7.2.3 CSK-IA、CSK-IIA和CSK-IIIA試塊適用壁厚范圍為8-120mm的焊縫，在滿足靈敏度要求時(shí)，也可采用其它形式的等效試塊。7.2

24、.4檢測(cè)曲面工件時(shí)，如檢測(cè)面曲率半徑R小于等于W2/4（W為探頭接觸面寬度，環(huán)縫檢測(cè)時(shí)為探頭寬度，縱縫檢測(cè)時(shí)為探頭長(zhǎng)度）時(shí)，應(yīng)采用與檢測(cè)面曲率相同的對(duì)比試塊。一個(gè)對(duì)比試塊可檢其0.91.5倍的工件。7.3檢測(cè)準(zhǔn)備7.3.1檢測(cè)面1）焊縫檢測(cè)一般采用一種 K值探頭，利用一次反射法在焊縫的單面雙側(cè)對(duì)整個(gè)焊接接頭進(jìn)行檢測(cè)。當(dāng)母材厚度大于 46mm時(shí)，利用雙面雙側(cè)直射波檢測(cè)。對(duì)于要求比較高的焊縫，根據(jù)實(shí)際需要也可將焊縫余高磨平，直接在焊縫上檢測(cè)。2）檢測(cè)區(qū)域的寬度應(yīng)是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度30%的一段區(qū)域，這個(gè)區(qū)域最小為10mm。3）探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢、及其它雜質(zhì)。

25、檢測(cè)表面平整光滑，便 于探頭的自由掃查，其表面粗糙度 Ra應(yīng)為6.3卩m, 般應(yīng)進(jìn)行打磨。a.米用一次反射法檢測(cè)時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)不小于1.25 P;P=2TK式中：P跨距，mm,T母材厚度，mm,K 探頭K值,b.采用直射法檢測(cè)時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)不小于0.75 P;4）去除余高的焊縫，應(yīng)將余高打磨到與母材平齊。保留余高的焊縫，如果焊縫表面有咬邊、較大的隆起和凹陷等也應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)男弈ィ?并作圓滑過(guò)渡，以免影響檢驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定。L 試塊長(zhǎng)度,由使用的聲程確定;T試塊厚度,由被檢材料厚度確定;I標(biāo)準(zhǔn)孔位置,由被檢材料厚度確定；根據(jù)檢測(cè)需要可在試塊上添加標(biāo)準(zhǔn)孔;119yuiL J電費(fèi)AL圖9 CSK n A試

26、塊其余二0 1 X 6平底孔7個(gè)VJ/圖10 CSK m A試塊7.3.2探頭K值斜探頭K值選取可參照表9的規(guī)定。條件允許時(shí)，應(yīng)盡量采用較大 K值探頭。表9推薦應(yīng)用的斜探頭K值板厚TmmK8253.0 2.0> 25 462.5 1.5>461202.0 1.0>1203002.0 0733母材的檢驗(yàn)斜探頭掃查聲束通過(guò)的母材區(qū)域，應(yīng)先用直探頭檢測(cè)，以便檢測(cè)是否有影響斜探頭檢測(cè)結(jié)果的分層或其它種類缺陷存在。該項(xiàng)檢測(cè)僅作記錄，不屬于對(duì)母材的驗(yàn)收檢測(cè)。母材檢測(cè)的規(guī)程要點(diǎn)如下:1）方法：接觸式脈沖反射法，采用頻率 25MHZ的直探頭，晶片1025mm；2）靈敏度：將無(wú)缺陷處第二次底波

27、調(diào)節(jié)為熒光屏滿刻度的100%;3）記錄：凡缺陷信號(hào)幅度超過(guò)熒光屏滿刻度 20%的部位，應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記,并予以記錄。7.4距離一波幅曲線的繪制7.4.1距離一波幅曲線按所用探頭和儀器在試塊上實(shí)測(cè)的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲線由評(píng)定線,定量線和判廢線組成，評(píng)定線與定量之間（包括評(píng)定線）為1區(qū)，定量線與判廢線之間（包括定量線）為n區(qū)，判廢線及其以上區(qū)為m區(qū)。如圖11所示。742距離一波幅曲線的靈敏選擇1）壁厚為8120mm的焊縫，其距離一波幅曲線靈敏按表 10的規(guī)定。2）直探頭的距離一波幅曲線靈敏度按表 11的規(guī)定。距離一波幅曲線的制作可在 CS2試塊上進(jìn)行，其組成見(jiàn)3.4.1。3）檢測(cè)橫向缺陷時(shí)，應(yīng)

28、將各線靈敏度均提高6dB。4）檢測(cè)面曲率半徑 R小于或等于 W2/4時(shí)，距離一波幅曲線的繪制應(yīng)在曲面對(duì)比試 塊上進(jìn)行。5）工件的表面耦合損失和材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊相同。6）搜查靈敏度不低于最大聲程處的評(píng)定線靈敏度。mn r 判廢線（RL）I _-定量線（SL）f 評(píng)定線（EL）距離mm圖11距離一波幅曲線表10距離一波幅曲線的靈敏度試塊型式板厚mm評(píng)定線定量線判廢線CSKn A846> 46 120 2X 40 18dB 2X 40 14dB2X 40 12dB2X 40 8dB 2X 404dB 2X 40+2dB815 1 X 612dB 1 X 6 6dB 1 X6+2dBCSKm A

29、> 15 46 1 X 69dB 1X 6 3dB 1 X6+5dB> 46 120 1 X 66dB1X 6 1 X6+10dB表11直探頭距離一波幅曲線的靈敏度評(píng)定線定量線判廢線2mm平底孔3mm平底孔6mm平底孔7.5檢測(cè)方法 7.5.1平板對(duì)接焊縫的檢測(cè)1）為檢測(cè)縱向缺陷，原則上采用一種K值探頭或兩種K值探頭在焊縫的單面雙側(cè)進(jìn) 行檢測(cè)。母材厚度大于 46mm時(shí)，采用雙面雙側(cè)檢測(cè)，如受幾何條件限制，也可在焊縫雙面單側(cè)采用兩種 K值探頭進(jìn)行檢測(cè)。斜探頭就應(yīng)垂直于焊縫中心線放置在檢測(cè)面上,作鋸齒形掃查，見(jiàn)圖12。探頭前后移動(dòng)范圍應(yīng)保證掃查到全部焊縫截面。在保持探頭垂 直焊縫作前后

30、移動(dòng)的同時(shí)，還應(yīng)作 10°15°的左右轉(zhuǎn)動(dòng)。圖12鋸齒型掃查2）為檢測(cè)焊縫及熱影響區(qū)的橫向缺陷應(yīng)進(jìn)行平行和斜平行掃查。 檢測(cè)時(shí)，可在焊縫兩 側(cè)邊緣使探頭與焊縫中心線成10°20°作斜平行搜查。見(jiàn)圖13。焊縫余高磨平時(shí)，可 將探頭放在焊縫及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查， 見(jiàn)圖14。焊縫母材超過(guò)100mm時(shí),應(yīng)在焊縫的兩面作平行掃查或采用兩種K值探頭（K1和K1.5或K1和K2并用）作單面兩個(gè)方向的平行掃查；對(duì)電渣焊縫還應(yīng)增加與焊縫中心線成45°的掃查。II圖14平行掃查圖13余平行掃查15。3）為確定缺陷的位置、方向和形狀。觀察缺陷動(dòng)態(tài)波形和區(qū)

31、分缺陷信號(hào)或偽缺陷信號(hào), 可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方法，見(jiàn)圖r O:前后左右圖15四種探頭基本掃查方法7.5.2曲面工件對(duì)接焊縫的檢測(cè)1）檢測(cè)面為曲面時(shí)，可盡量按平板對(duì)接焊縫的檢測(cè)方法進(jìn)行檢測(cè)。對(duì)于受幾何形狀限 制，無(wú)法檢測(cè)的部位應(yīng)予以記錄。2）縱向檢測(cè)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑與檢測(cè)面曲率半徑之差應(yīng)小于10%。a.根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭 K值，并考慮幾何臨界角的限制，確保聲束能掃查到整個(gè)焊縫。b.板探頭接觸面修磨后，應(yīng)注意探頭入射點(diǎn)和K值的變化，并用曲線試塊作實(shí)際測(cè)定。C.當(dāng)檢測(cè)面曲率半徑R大于W2/4且采用平面對(duì)比試塊調(diào)節(jié)儀器時(shí)，應(yīng)注意到熒光屏必要時(shí)進(jìn)指示的缺陷

32、深度或水平距離與缺陷實(shí)際的徑向埋藏深度或水平距離弧長(zhǎng)的差異,行修正。3）環(huán)縫檢測(cè)時(shí)對(duì)比塊的曲率半徑應(yīng)為檢測(cè)面曲率半徑0.91.5 倍。7.5.3管座角焊縫的檢測(cè)1） 一般原則在選擇檢測(cè)面和探頭時(shí)應(yīng)考慮到各種類型缺陷的可能性,并使聲束盡可能垂直于該焊接結(jié)構(gòu)中的主要缺陷。2）檢測(cè)方式根據(jù)焊縫結(jié)構(gòu)形式，管座角焊縫的檢測(cè)有五種探測(cè)方式,可選擇其中一種或幾種方式組合實(shí)施檢測(cè)。檢測(cè)方式的選擇應(yīng)由合同雙方商定， 并考慮檢測(cè)主要檢測(cè)對(duì)象和幾何條件的限制。（圖16、圖17）。-1/1/-丨位置1位置3位置1VV2置一、 位圖16插入式管座角焊縫圖17安放式管座角焊縫a.在接管內(nèi)壁采用直探頭檢測(cè)，見(jiàn)圖16位置1。

33、b.板在容器內(nèi)壁采用直探頭檢測(cè)，見(jiàn)圖17位置1。c在接管外壁采用斜探頭檢測(cè)，見(jiàn)圖17位置2。d在接管內(nèi)壁采用斜探頭檢測(cè)，見(jiàn)圖16位置3和圖17位置3。e在容器外壁采用斜探頭檢測(cè)，見(jiàn)圖16位置2。3置位尺寸及掃查方法應(yīng)按3.3.3條的規(guī)定執(zhí)3）管座角焊縫以直探頭檢測(cè)為主，探頭頻率、 行。對(duì)直探頭掃查不到的區(qū)域，可采用斜探頭檢測(cè)。7.6缺陷定量檢測(cè) 7.6.1靈敏度應(yīng)調(diào)到定量線靈敏度。7.6.2對(duì)所有反射波超過(guò)定量線的缺陷，均應(yīng)確定其位置、最大反射波幅和缺陷當(dāng)量。L。7.6.3缺陷當(dāng)量應(yīng)根據(jù)缺陷最大反射波幅確定缺陷當(dāng)量直徑e或缺陷指示1）缺陷當(dāng)量直徑e,用當(dāng)量平底孔直徑表示，主要用于直探頭檢測(cè)，可

34、采用公式計(jì)算 距離一波幅曲線和試塊對(duì)比來(lái)確定缺陷當(dāng)量尺寸。2）缺陷指示長(zhǎng)度 L的測(cè)定采用以下方法:a當(dāng)缺陷反射波只有一個(gè)設(shè)點(diǎn)，且位于n區(qū)時(shí)，用6dB法測(cè)其指示長(zhǎng)度。b當(dāng)缺陷反射波峰值起儀變化，有多個(gè)設(shè)點(diǎn)，且位于n時(shí)，應(yīng)以端點(diǎn)6dB法測(cè)其指示 長(zhǎng)度。c當(dāng)缺陷反射波峰位于I區(qū)，如認(rèn)為有必要記錄時(shí)，將探頭左右移動(dòng)，使波幅降到評(píng)定線，以此測(cè)定缺陷指示長(zhǎng)度。7.7缺陷評(píng)定7.7.1超過(guò)評(píng)定線的信號(hào)應(yīng)注意其是否具有裂紋等危害性缺陷特征，如有懷疑時(shí)，應(yīng)采取 改變探頭K值，增加檢測(cè)面、觀察動(dòng)態(tài)波形并結(jié)合結(jié)構(gòu)工藝特征作判斷，如對(duì)波形不能判斷時(shí)，應(yīng)輔以其它檢測(cè)方法作綜合判定。7.7.2缺陷指示長(zhǎng)度小于10mm時(shí)按

35、5mm計(jì)。7.7.3相鄰兩缺陷在一直線上，其間距小于其中較小的缺陷長(zhǎng)度時(shí)，應(yīng)做為一條缺陷處理,以兩缺陷長(zhǎng)度之和作為其指示長(zhǎng)度（不考慮間距）。7.8缺陷等級(jí)評(píng)定7.8.1不允許存在下列缺陷:1）反射波幅位于判廢線及m區(qū)的缺陷;2）檢測(cè)人員判定為裂紋等危害性的缺陷;7.8.2最大反射波幅位于；n區(qū)的缺陷，應(yīng)根據(jù)其指示長(zhǎng)度按表12的規(guī)定予以評(píng)級(jí)。7.8.3最大反射波幅低于定量線的非裂紋類缺陷，均評(píng)為I級(jí)。7.8.4不合格的缺陷應(yīng)予以返修。返修部位及熱影響區(qū)仍按本標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測(cè)和等級(jí)評(píng)定。等級(jí)板厚T單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度I多個(gè)缺陷的累積指示長(zhǎng)度L I8 120>1203001L= -T，最小為10,最大

36、不超過(guò) 30 31L= -T，最大不超過(guò)503在任意9T焊縫長(zhǎng)度范圍內(nèi)L '不超過(guò)T在任意9T焊縫長(zhǎng)度范圍內(nèi)L '不超過(guò)Tn8 120>1203001L= -T，最小為12,最大不超過(guò) 40 3最大不超過(guò)75在任意4.5T焊縫長(zhǎng)度范圍內(nèi)L '不超過(guò)T在任意4.5T焊縫長(zhǎng)度范圍內(nèi)L '不超過(guò)T超過(guò)n級(jí)者表12 n區(qū)缺陷的等級(jí)評(píng)定注：板厚不等的焊縫，以薄板 為準(zhǔn)當(dāng)焊縫長(zhǎng)度不足9T（ I ）或4.5T（ n級(jí)時(shí)），可按比例折算。附錄A壓力容器鍛件橫波檢測(cè)（補(bǔ)充件）1目的規(guī)范壓力容器鍛件檢測(cè)。2適用范圍橫波檢測(cè)僅適用于內(nèi)外徑之比大于或等于 80%的環(huán)形和筒形鍛件。3探頭 3.1探頭公稱頻率主要為2.5MHZ。3.2探頭晶片面積為140400mm2。K值探頭。3.3原則上應(yīng)