TD-LTE射頻板測試說明beta1

1、TD-LTE射頻板測試說明 SW78202035C1 測試內(nèi)容eRPLU 發(fā)射/接收 鏈路性能指標（單路要求）ITEM技術指標指標要求發(fā)射Tx 接收Rx 1Frequency25482642MHz2570MHz2620MHz2Gain(增益)52dB（±2dB）203041dB(±2dB) 20303增益溫度變化<±2dB（-40+85相對常溫增益）<±2dB（-40+85相對常溫增益）4NF(噪聲系數(shù))不測量<3dB 2030 <4dB -40+855ACPR（WCDMA 4FA）-27dBc ±5MHz -27dBc

2、 ±10MHz2030不測量-26dBc ±5MHz -26dBc ±10MHz-40+856IIP3不測量-13dBm7S11輸入駐波比<2:1（<-9.5dB）<1.5:1 (<-14dB)8S22輸出駐波比<1.5:1 (<-14dB)<2:1 （<-9.5dB）9Pout，max(輸出功率)40.2dBm（開啟DPD）不測量10Ripple<1.5 dB (30MHz帶內(nèi))<2.5dB (30MHz)<3dB (74MHz帶內(nèi))11DC current I_5.7V<280mA<

3、280mA12DC current I_28V<1.7A 常開下行滿功率輸出13帶外抑制頻率（MHz）抑制(dB)頻率（MHz）抑制(dB)0234915024003023492400102400253352749284152841400020eRPLU反饋鏈路性能指標ITEM技術指標指標要求說明1輸入信號頻率范圍2540MHz2650MHz2輸出信號頻率范圍2540MHz2650MHz3前向功率檢測通道增益-54±1dB4反向功率檢測通道增益-48±1dB5前向功率檢測通道增益平坦度<3dB6前、反向耦合通道隔離度15dB2 所需儀器及工具名稱參考型號數(shù)量備注

4、矢量網(wǎng)絡分析儀E5062A，ZVB41ESD外殼接地Network Analyzer信號發(fā)生器E4438C，N5182A1ESD外殼接地Signal Generator頻譜儀(帶掃源)E4443A，R&S FSQ81ESD外殼接地Spectrum Analyzer噪聲系數(shù)測試儀N8973A1ESD外殼接地Noise Figure Meter直流電源GPC-3060D1ESD外殼接地DC Power Supply50SMA 終端負載SMA1大功率衰減器40dB 200W150 N 終端負載N型1轉換頭1N陽SMA 陰1校驗時用轉換頭2SMA陰SMA陰1校驗時用3 RX接收鏈路測試1）接收

5、鏈路增益、帶內(nèi)波動以及輸入輸出駐波比測試步驟/信號流程：測試步驟: 步驟1：正確連接模塊至已校準好的網(wǎng)絡分析儀；步驟2：正確設置模塊跳線，工作在常收狀態(tài)；步驟3： 通過網(wǎng)絡分析儀測試接收鏈路的增益曲線，分別讀取2570MHz 、2600MHz、2620MHz增益值取平均得接收鏈路增益，讀取任意30MHz通帶內(nèi)的最大增益、最小增益，算出30MHz帶內(nèi)波動；步驟4：通過網(wǎng)絡分析儀測試接收鏈路的50MHz帶內(nèi)S11，S22曲線，分別讀出帶內(nèi)最大駐 波比；步驟5：分別測試四條通路。預期結果：增益：41dB(±2dB)帶內(nèi)波動：<2.5dB30MHz帶內(nèi)輸入駐波比：<1.5:1輸出

6、駐波比：<2:12）接收鏈路噪聲系數(shù) 測試步驟/信號流程：測試步驟: 步驟1：噪聲系數(shù)測試儀自校；步驟2：模塊的RX端口接噪聲系數(shù)測試儀輸入口，ANT端口接噪聲系數(shù)測試儀的噪聲頭，TX端口接50歐姆匹配負載； 步驟3：設置模塊工作在常收狀態(tài)；步驟4：讀取噪聲系數(shù)值NF；步驟5：分別測試四條通路。預期結果：鏈路噪聲系數(shù)：帶內(nèi)最大值NF<3dB3）接收鏈路的輸入三階互調(diào)截斷點 測試步驟/信號流程：測試步驟: 步驟1：模塊的TX端口接50歐姆匹配負載，RX端口接頻譜分析儀，ANT端口接信號源（信 號源輸出信號為互調(diào)信號，輸出功率分別保證到模塊的ANT端口為-48dBm）。步驟2：模塊正常

7、工作，設為常收狀態(tài)；步驟3：在頻譜儀上測出并記錄三階互調(diào)產(chǎn)物和有用信號大小，通過計算得IIP3；步驟4：分別測試四條通路。預期結果：IIP3-13dBm4）接收鏈路帶外抑制測試 測試步驟/信號流程：測試步驟: 步驟1：對網(wǎng)絡分析儀進行直通校準（功率：-40dBm，頻段0MHz5000MHz）；步驟2：正確連接模塊至已校準好的網(wǎng)絡分析儀；步驟3：設置模塊工作在常收狀態(tài)；步驟4：將矢量網(wǎng)絡分析儀頻率范圍設定在2570MHz2620MHz，讀取最小S21幅度值S0；步驟5：分別將將矢量網(wǎng)絡分析儀頻率范圍設定在0MHz2400MHz、2400MHz2533MHz、2749MHz2841MHz、2841

8、MHz4000MHz各自讀得最大的S21幅度值為S1、S2、S3、S4；步驟6：計算（S0-S1），（S0-S2），（S0-S3），（S0-S4）即為各個頻段要求的抑制比；步驟7：分別測試四個通道。預期結果：頻率(MHz)抑制(dB)02400MHz30dB24002533MHz5dB27492841MHz5dB 28414000MHz20dB4 TX發(fā)射鏈路測試1）發(fā)射鏈路增益，帶內(nèi)波動(30MHz&74MHz)測試測試連接框圖如下：測試前先進行校準,把信號發(fā)生器到被測射頻板的電纜損耗記入信號發(fā)生器；由于下行鏈路輸出端功率較大，所以端口必須加衰減40dB以上的衰減器，將被測射頻板和頻

9、譜儀之間的電纜損耗合計衰減器自身差損共同記入頻譜儀。 信號源Agilent N5182A設置：a) Amptd= -20dBm b)設置信號源輸出方式為掃頻輸出：SWEEP->configure step sweep Freq start :2545MHz Freq stop :2645MHzPoints: 500（可以適當調(diào)節(jié)） sweep freq 設置為on 頻譜儀R&S FSQ8 1155.5001.08設置：a) Center Freq :2595MHz SPAN :100 MHzRBW :30 kHz（可以適當調(diào)節(jié)）AMPLITUDE Ref Level :40dBm

10、Attenuation :AutoScale/Div:1dBb) Trace/View: Max Hold發(fā)射鏈路增益測試：步驟1：分別讀取2570MHz 、2595MHz、2620MHz處的功率值并計算三個頻點的增益G1，G2，G3。（增益=輸出信號功率-輸入信號功率(-20 dBm)。 步驟2：發(fā)射鏈路增益=（G1+G2+G3）/3。帶內(nèi)波動測試：（1）30MHz內(nèi)帶內(nèi)波動測試 步驟1：讀取頻帶（2570MHz2620MHz）內(nèi)任意30MHz信號增益的最大值、最小值，算出30MHz帶內(nèi)波動（2）74MHz內(nèi)帶內(nèi)波動測試步驟1：讀取頻帶（2548MHz2642MHz）內(nèi)任意74MHz信號最大

11、增益、最小增益，算出74MHz帶內(nèi)波動預期結果：增益：52dB（±2dB）帶內(nèi)波動：<1.5dB30MHz<3dB74MHz2）發(fā)射鏈路ACPR，功放28V電流測試 Pout=40dBm測試連接框圖同1）。信號源設置：測試信號為WCDMA 4載波信號，峰均比PAR=10dB左右。 (1)信號源WCDMA 4載波信號導入設置如下： Agilent N5182A a) Mode->Dual ARB->Select Waveform->Waveform Segments(選擇WCDMA_TM1_64DPCH_4C_WFM) ->Load Segment

12、From Int Meida b) Mode->Dual ARB->Select waveform->選擇WCDMA_TM1_64DPCH_4C_WFM->ARB on 如果已經(jīng)導入，則可跳過上述兩步驟。 (2)測試輸入信號參數(shù)設置：a)Freq=2595MHz，Mod設置為on b) Amptd最初可設置為-30dBm。在測試時，逐步加大至輸出功率為40dBm。（可對電源限流以保護功放） 頻譜儀設置：（1） 頻譜儀FSQ8 R&S 1155.5001.08設置如下：a)Meas ->MULT CARR ACP->CP/ACP STANDARD-&g

13、t;選擇W-CDMA 3GPP FWDb)Meas ->MULT CARR ACP-> CP/ACP CONFIG->其中NO. OF ADJ CHAN設置為2（default=2）, NO. OF TX CHAN設置為4。其余設置defaultc)FERQ->CENTER FREQUENCY設置為2595MHzd)SPAN 設置defaulte)AMPT REF LEVEL OFFSET 根據(jù)測試線的線損進行補償設置注意：在頻譜儀輸入端必須接40dB的衰減器。ACPR測試：步驟1：記錄下Adjacent Channal（±5MHz）中Lower和Upper值

14、中較差的數(shù)據(jù)。例：Lower： -28dB，Upper：-28.5dB，則記錄下-28dB。步驟2：記錄下Alternate Channal（±10MHz）中Lower、Upper值中較差的數(shù)據(jù)。方法同步驟1。功放工作電流測試：步驟1：記錄下輸出功率為40dBm時的28V電源的電流值步驟2：計算兩級功放效率（暫）預期結果：WCDMA 4FA：ACPR : -27 dBc/±5MHz; -27dB/±10MHzI28V < 1.7A Pout=40dBm3）輸入、輸出駐波（S11，S22）測試測試連接框圖如下：矢網(wǎng)校準：a) Center freq: 2.6G

15、Hz, b) Span :1GHz，c) Power: -20 dBmS11測試步驟1：測試2570MHz2620MHz頻段內(nèi)的S11，并在Marker Search中選擇MAX項，將MAX值添入表格。S22測試步驟1：關掉功放28V電源。 步驟2：測試2570MHz2620MHz頻段內(nèi)的S22，并在Marker Search中選擇MAX項，將MAX值添入表格。預期結果：輸入駐波比：<2:1（<-9.5dB）; 輸出駐波比：<1.5:1（-14dB）4）前向耦合度和平坦度測試網(wǎng)絡分析儀（帶40dB衰減器）校準設置如下：a) 頻率范圍：2548MHz2642MHz，b) 輸出功

16、率：-20dBm，c) IF帶寬：1KHz；測試步驟：步驟1：eRPLU模塊的TX端口接矢量網(wǎng)絡分析儀PORT 1，ANT經(jīng)過40dB衰減器后接矢量網(wǎng)絡分析儀PORT2，RX接匹配負載，使其正常工作，設為常發(fā)狀態(tài)；測出S21。步驟2：設置網(wǎng)絡分析儀：Display-Date to Mem，存儲eRPLU發(fā)射增益曲線，然后設置Data Math為：Data/Mem。步驟3：eRPLU模塊的TX端口接矢量網(wǎng)絡分析儀PORT 1，ANT接大功率匹配負載（50W以上），RX端口經(jīng)40dB衰減器后接網(wǎng)絡分析儀PORT2。設置eRPLU工作在前向檢測狀態(tài)。設置方法：對應測試發(fā)射鏈路通道的接插件引腳電平設置

17、如下(低：GND，高：6V)。通道號前向檢測引腳編號狀態(tài)檢測與上行輸出切換引腳編號狀態(tài)TX1FRD_S1（9）高PD_EN1（15）高TX2FRD_S2（8）高PD_EN2（14）高TX3FRD_S3（26）高PD_EN3（32）高TX4FRD_S4 （27）高PD_EN4 （33）高 步驟4：用網(wǎng)絡分析儀讀出曲線，即為前向耦合度曲線（負值），記下值。 步驟5：讀取該曲線里的最大值和最小值，算出前向功率檢測通道增益平坦度預期結果：Gain=54dB±1dBRipple<3dB5）反向耦合度測試網(wǎng)絡分析儀校準設置如下：a) 頻率范圍：2548MHz2642MHzb) 輸出功率：0

18、dBmc) IF帶寬：1 KHz測試步驟：步驟1：eRPLU的ANT端口接PORT1，TX端口接匹配負載，RX端口接PORT2。步驟2：設置e RPLU模塊工作在反向檢測工作狀態(tài)。設置方法: 對應測試發(fā)射鏈路通道的接插件引腳電平設置如下(低：GND，高：6V)：通道號前向檢測引腳編號狀態(tài)檢測與上行輸出切換引腳編號狀態(tài)TX1FRD_S1 （9）低PD_EN1 （15）高TX2FRD_S2 （8）低PD_EN2 （14）高TX3FRD_S3 （26）低PD_EN3 （32）高TX4FRD_S4 （27）低PD_EN4 （33）高步驟3：讀出增益曲線S21，即為反向耦合增益度曲線（負值）。預期結果：Gain= 48dB±1dB6）發(fā)射鏈路帶外抑制測試對網(wǎng)絡分析儀進行直通校準a) 頻率范圍：0MHz3000MHzb) 輸出功率：-20dBm 測試步驟：步驟1：將矢量網(wǎng)絡分析儀頻率范圍設定在2570MHz2620MHz，讀取最小S21幅度值S0。步驟2：分別將將矢量網(wǎng)絡分析儀頻率范圍設定在0MHz2349MHz、2349MHz2400 MHz、各自讀得最大的S21幅度值為S1、S2。步驟3：計算（S0-S1），（S0-S2），即為各個頻段要