無損五大常規(guī)檢測復(fù)習(xí)題

1、超聲部分一. 是非判斷題1. 采用高頻探傷可以改善聲束指向性,提高探傷靈敏度(0) 2. 在同一固體材料中,傳播縱,橫波時的聲阻抗相同(X)3. 聲源面積不變時,超聲波頻率越高,超聲場的近場長度越長(X)4. 為在試件中得到純橫波，斜探頭透聲斜楔材料的縱波速度應(yīng)大于被檢試件中的縱波速度(X)5. 不同壓電晶體的頻率常數(shù)不一樣,故不同壓電晶體作成頻率相同的晶片其厚度不同(0)6. 超聲波束的指向角是在晶片直徑一定的情況下,頻率越低,指向角越小(X)7. 一臺垂直線性理想的超聲波檢測儀，其回波高度與探頭接收到的聲壓成正比例(0)8. 超聲波垂直入射時，界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗相差愈小，聲壓往復(fù)透過率愈高

2、(0) 9. 對空心圓柱體在內(nèi)圓周面上探傷時，曲底面回波聲壓比同聲程大平面高(0)10. 為了在工件中得到純橫波，對于斜探頭的選擇除了合適的入射角以外還應(yīng)考慮斜楔材料的縱波聲速小于工件中的橫波聲速(0)11. 在人工反射體平底孔、矩形槽、橫孔、V形槽中，回波聲壓只與聲程有關(guān)而與探頭折射角度無關(guān)的是矩形槽(X)12. 用sin=1.22/D公式計算的指向角是聲束邊緣聲壓P1與聲束中心聲壓P0之比等于10%時的指向角(X)13. 在普通常用的超聲波檢測儀上，使用“抑制”旋鈕的抑制作用，可以減少雜波顯示，與此同時也會導(dǎo)致垂直線性變差，動態(tài)范圍減小(0)14. 鋼板探傷中，當(dāng)同時存在底波和傷波時，說明

3、鋼板中存在大于聲場直徑的缺陷(X)15. 在中薄板的直探頭多次反射法探傷中，常會發(fā)現(xiàn)小缺陷的多次反射回波中第二次要比第一次高，這是由于多次回波之間的疊加作用所致(0)16.把鋼中橫波折射角為50°的斜探頭移至橫波聲速為2.17x103m/s的材料上，則折射角約為53°(X)17.超聲波通過一定厚度的薄層介質(zhì)時，若該薄層介質(zhì)兩側(cè)的物質(zhì)具有相同的聲阻抗，則薄層厚度為四分之一波長的奇數(shù)倍時，聲壓透過率最大(X)18.半波高度(6dB)法可以適用于任何類型的長條形缺陷測長(X)19.鋼管水浸探傷時,如鋼管中無缺陷,熒光屏上只有始波和界面波(X)20.雙晶直探頭傾角越小,交點離探測面

4、距離越遠,覆蓋區(qū)越大(0)二. 選擇題1.一般來說，在頻率一定的情況下，在給定的材料中，橫波探測缺陷要比縱波靈敏，這是因為（A） A.橫波比縱波的波長短 B.在材料中橫波不易擴散 C.橫波質(zhì)點振動的方向比缺陷更為靈敏 D橫波比縱波的波長長.直探頭探測具有傾斜底面2.可都在固體,液體，氣體中傳播的超聲波波型是（A）：A.縱波 B.橫波 C.表面波 D.板波 E.以上都可以3.超聲波試驗系統(tǒng)的靈敏度（A）A取決于探頭、脈沖發(fā)生器和放大器 B.隨頻率提高而提高 C.與換能器的機械阻尼無關(guān) D.隨分辨率提高而提高4.液浸探傷時，需要調(diào)整探頭和被檢零件表面之間的距離（水距），使聲波在水中的傳播時間（B）

5、 A.等于聲波在工件中的傳播時間 B.大于聲波在工件中的傳播時間 C.小于聲波在工件中的傳播時間 D.以上都不對5.直探頭探測具有傾斜底面的鋼鍛件，圖中哪個聲束路徑是正確的？（A） 6.鍛件探傷時，調(diào)節(jié)靈敏度的方式是（B）A.沒有特定方式 B大平底方式和試塊方式C.槽形反射孔方式D.以上都不對7.在同種固體材料中,縱波聲速CL,橫波聲速CS,表面波聲速CR之間的關(guān)系是(C)A.CRCSCL B.CSCLCR C.CLCSCR D.以上都不對8.當(dāng)超聲橫波入射至端角時,下面的敘述哪點是錯誤的?(D)A反射橫波與入射波平行但方向相反 B.入射角為30°時的反射率最高C.入射角為45

6、76;時的反射率最高 D.入射角為60°時的反射率最低9. .超聲波的反射特性取決于(C):A.入射聲壓 B.反射聲強C.界面兩側(cè)的聲阻抗差異 D.界面兩側(cè)的聲速差異10.聲波垂直入射到表面粗糙的缺陷時,缺陷表面粗糙度對缺陷反射波高的影響是(c)A.反射波高隨粗糙度的增大而增加 B.無影響  C.反射波高隨粗糙度的增大而下降 D.以上a和b都可能11. 為了在工件中得到純橫波，對于斜探頭的選擇應(yīng)考慮（D）A.合適的入射角 B.合適的斜楔材料的縱波聲速 C.合適的斜楔材料的橫波聲速 D.a和c12. .探傷時采用較高的探測頻率,可有利于(D)A.發(fā)現(xiàn)較小的缺陷 B.區(qū)分開相鄰

7、的缺陷 C.改善聲束指向性 D.以上全部13. .在評定缺陷大小時通常采用當(dāng)量法,現(xiàn)發(fā)現(xiàn)一個缺陷大小為2mm平底孔當(dāng)量,該缺陷的實際大小(A) A.大于2mm平底孔 B.小于2mm平底孔 C.等于2mm平底孔D.以上都不對14. .長軸類鍛件從端面做軸向探測時,容易出現(xiàn)的非缺陷回波是(D)A.三角反射波 B.61°反射波 C.輪廓回波 D.遲到波15.用超聲縱波探測鋼鍛件(CL=5850m/s),要求能發(fā)現(xiàn)0.8mm平底孔當(dāng)量的缺陷,應(yīng)選用何種工作頻率為宜?(C) A.1.25MHz B.2.5MHz C.5MHz D.10MHz16.鍛件探傷時,如果用試塊比較法對缺陷定量,對于表面

8、粗糙的缺陷,缺陷實際尺寸會(C)A.大于當(dāng)量尺寸 B.等于當(dāng)量尺寸 C.小于當(dāng)量尺寸 D.以上都可能17.厚板焊縫斜角探傷時,時常會漏掉(A)A與表面垂直的裂紋 B.方向無規(guī)律的夾渣 C.根部未焊透 D.與表面平行的未熔合18. .用橫槽作為參考反射體，探測（B）最適宜A.滾軋板材中的疏松 B.焊縫根部的未焊透 C.焊縫中的氣孔 D.內(nèi)部夾雜物19.超聲探傷中，缺陷反射聲壓的大小取決于（d）A.缺陷反射面的大小 B.缺陷的性質(zhì) C.缺陷的取向 D.以上都是20. 下面哪種說法不正確?（C）A.熒光屏上無底波反射，只有缺陷波多次反射，缺陷尺寸一定很大B.正常波形只表示鋼板中無當(dāng)量5mm平底孔的缺

9、陷 C.無底波，說明鋼板中無缺陷 D.無底波，說明鋼板中有缺陷三. 問答題1產(chǎn)生超聲波的必要條件是什么？答：要有作超聲振動的波源（如探頭中的晶片）。要有能傳播超聲振動的彈性介質(zhì)（如受檢工件或試塊）。2液體中為什么只能傳播縱波，不能傳播橫波？答：凡能承受拉伸或壓縮應(yīng)力的介質(zhì)都能傳播縱波，液體雖然不能承受拉伸應(yīng)力，但能承受壓應(yīng)力而產(chǎn)生容積變化，故液體介質(zhì)可傳播縱波。介質(zhì)傳播橫波時，介質(zhì)質(zhì)點受到交變的剪切應(yīng)力作用，液體介質(zhì)不能承受剪切應(yīng)力，故橫波不能在液體中傳播。3何謂超聲波聲場？超聲波聲場的特征量有哪些？答：充滿超聲波的空間或超聲振動所波及的部分介質(zhì)，稱為超聲波聲場。描述超聲波聲場的物理量即特征量

10、有聲壓、聲強和聲阻抗。聲壓：超聲波聲場中某一點在某一瞬時所具有的壓強P與沒有超聲波存在時同一點的靜壓強P之差，稱為該點的聲壓。聲強：單位時間內(nèi)通過與超聲波傳播方向垂直的單位面積的聲能，稱為聲強。常用I表示。聲阻抗：介質(zhì)中某一點的聲壓P與該質(zhì)點振動速度V之比，稱為聲阻抗，常用Z表示，聲阻抗在數(shù)值上等于介質(zhì)的密度與介質(zhì)中聲速C的乘積.4. 聲束聚焦有什么優(yōu)點？簡述聚焦探頭的聚焦方法和聚焦形式？答：聚焦的聲束，聲能更為集中，中心軸線上的聲壓增強，同時可改善聲束指向性，對提高探傷靈敏度、分辯力和信噪比均為有利。聚焦方法：凹曲面晶片直接聚焦 采用聲透鏡片聚焦。聚焦形式：點聚焦和線聚焦。5.超聲波檢測利用

11、超聲波的哪些特性？答：超聲波有良好的指向性，在超聲波檢測中，聲源的尺寸一般都大于波長數(shù)倍以上，聲束能集中在特定方向上，因此可按幾何光學(xué)的原理判定缺陷位置。超聲波在異質(zhì)介面上將產(chǎn)生反射、折射、波型轉(zhuǎn)換、利用這些特性，可以獲得從缺陷等異質(zhì)界面反射回來的反射波及不同波型，從而達到探傷的目的。超聲波檢測中，由于頻率較高，固體中質(zhì)點的振動是難以察覺的。因為聲強與頻率的平方成正比，所以超聲波的能量比聲波的能量大得多。超聲波在固體中容易傳播。在固體中超聲波的散射程度取決于晶粒度與波長之比，當(dāng)晶粒小于波長時，幾乎沒有散射。在固體中，超聲波傳輸損失小，探測深度大.6. 超聲波檢測儀的主要性能指標有哪些？答：超聲

12、波檢測儀性能是指僅與儀器有關(guān)的性能，主要有水平線性，垂直線性和動態(tài)范圍等：水平線性：也稱時基線性或掃描線性，是指檢測儀掃描線上顯示的反向波距離與反射體距離成正比的程度。水平線性的好壞以水平線性誤差表示。垂直線性：也稱放大線性或幅度線性，是指檢測儀熒光屏上反射波高度與接收信號電壓成正比的程度。垂直線性的好壞以垂直線性誤差表示。動態(tài)范圍：是檢測儀熒光屏上反射波高從滿幅（垂直刻度100%）降至消失時（最小可辯認值）儀器衰減器的變化范圍。以儀器的衰減器調(diào)節(jié)量（dB數(shù)）表示。7什么是底面多次回波法？該法主要用于哪些場合？答：依據(jù)底面回波次數(shù)，判斷試件有無缺陷和缺陷嚴重程度的探傷法稱為底面多次回波法。主要

13、用于：缺陷回波法不便實施，要求檢出靈敏度較低的場合。工件厚度不大，形狀簡單，探測面與底面平行的場合。有時作為輔助手段，配合缺陷回波法或底面回波高度法判定缺陷情況。8. 什么叫探傷靈敏度？常用的調(diào)節(jié)探傷靈敏度的方法有幾種？答：探傷靈敏度是指在確定的探測范圍的最大聲程處發(fā)現(xiàn)規(guī)定大小缺陷的能力。有時也稱為起始靈敏度或評定靈敏度。通常以標準反射體的當(dāng)量尺寸表示。實際探傷中，常常將靈敏度適當(dāng)提高，后者則稱為掃查靈敏度或探測靈敏度。調(diào)節(jié)探傷靈敏度常用的方法有試塊調(diào)節(jié)法和工件底波調(diào)節(jié)法。試塊調(diào)節(jié)法包括以試塊上人工標準反射體調(diào)節(jié)和水試塊底波調(diào)節(jié)兩種方式。工件底波調(diào)節(jié)法包括計算法，AVG曲線法，底面回波高度法等

14、多種方式。9簡述焊縫探傷中，選擇探頭折射角應(yīng)依據(jù)哪些原則？答：探頭折射角的選擇應(yīng)從以下三個方面考慮：能使聲束掃查到整個焊縫截面。能使聲束中心線盡量與焊縫中主要缺陷垂直。保證有足夠的探傷靈敏度。10.焊縫超聲波檢測中，有哪些主要的干擾回波？答：焊縫超聲波檢測中，主要有以下8種干擾回波：加強層干擾回波。焊縫內(nèi)部未焊透反射引起的干擾回波。單面焊襯板引起的干擾回波。焊縫錯邊引起的干擾回波。焊瘤引起的干擾回波。焊偏引起的干擾回波。焊縫表面溝槽引起的干擾回波。油層引起的干擾回波。四. 計算題1.邊長為D=10mm的方形晶片，指向角用0=57/D表示。試計算探測鋼材時，下列探頭晶片的指向角：5MHz10x1

15、0、4MHz12x12、3MHz15x15、2MHz20x20解：=(5900x103)/(5x106)=1.18mm；=(5900x103)/(4x106)=1.48mm；=(5900x103)/(3x106)=1.97mm；=(5900x103)/(2x106)=2.95mm，則：的指向角：0=57x1.18/10=6.70；的指向角：0=57x1.48/12=7.030；的指向角：0=57x1.97/15=7.480；的指向角：0=57x2.95/20=8.4102.用水浸聚焦探頭探鋼管，當(dāng)要求水層高度為10mm，檢查40mm的鋼管時，試計算透鏡的曲率半徑。解：根據(jù)公式r1=1-(C2/

16、C1)f，式中：r1-透鏡曲率半徑；C1-有機玻璃聲速；C2-水聲速；f-焦距（探頭至管子中心的垂直距離），r1=1-(C2/C1)f=1-(1500/2700)(20+10)=(1-0.556)x30=13.3mm答：檢查40mm的鋼管時，透鏡的曲率半徑為13.3m3.用單探頭接觸法橫波探傷外徑為300mm厚60mm的大口徑鋼管時，應(yīng)選用折射角為多少的探頭？解：為保證管內(nèi)壁的缺陷能被發(fā)現(xiàn)，聲束必須與內(nèi)壁相切：sin=r/R=90/150=0.6，=36.87°答：探頭的折射角應(yīng)小于或等于36.874.試計算出厚度=46mm和120mm對接焊縫的探頭移動區(qū)。（選用tg=1和tg=2探

17、頭）解：厚度=46mm時應(yīng)采用單面兩側(cè)探傷，故探測區(qū)P12··tg+50mm，對于tg=1探頭：P12x46x1+50=142mm；對于tg=2探頭：P12x46x2+50=234mm厚度 =120mm時應(yīng)采用兩面探測，故探測區(qū)P2T·tg+50mm，對于tg=1探頭：P2120x1+50=170mm；對于tg=2探頭：P2120x2+50=20mm5.如下圖所示，探頭為tg=2，用儀器與鋼試塊比較，測得探頭中S=10mm，計算探頭中a和b的長度。解：因為儀器中測得的S值是相當(dāng)于鋼中的S值，所以要將S鋼換算成S有機玻璃,即:S有機玻璃/CL有機玻璃=S鋼/CS鋼，

18、S有機玻璃=S鋼·CL有機玻璃/CS鋼=10x2.7/3.2=8.4另外tg=2，=63.4°，sin=CL有機玻璃·sin/CS鋼=2.7·sin63.4°/3.2=0.754，=48.97°，因此：a=cos·S有機玻璃=cos48.97°·8.4=5.5mmb=sin·S有機玻璃=sin48.97°·8.4=6.3mm 答：a=5.5mm，b=6.3mm 6.用2.5P20Z（2.5MHz，20mm）直探頭檢驗厚度為350mm餅形鋼鍛件（CL=5900m/s），將底波調(diào)

19、節(jié)為40dB進行探傷。求：探傷中發(fā)現(xiàn)一缺陷，深200mm，波幅29dB，求此缺陷當(dāng)量？解：缺陷與底波反射波高dB差：=40-29=11dB，由=20lg(2·xf2/2·xB) xf=200mm xB=350mm得2=(2·xf2/·xB·1011/20)=2x2.36x2002/·350·3.55=48.4，缺陷當(dāng)量：7（mm）7.鍛鋼件厚度為320mm，用2.5MHz20直探頭作2平底孔靈敏度探傷，發(fā)現(xiàn)距離探傷面240mm處有一波高為36dB的缺陷波，移動探頭在工作完好部位測得底面回波高度為52dB，求此缺陷的平底孔當(dāng)量

20、？答：缺陷的平底孔當(dāng)量直徑約為6.55mm五. 工藝規(guī)范1.用2.5P 20K1.5（2.5MHz,20mm，tg=1.5）斜探頭,檢驗T=100mm鋼板對接焊縫，掃描按深度1:1調(diào)節(jié)，探傷靈敏度為3x40-14dB，探傷中發(fā)現(xiàn)一缺陷，深40mm，波高25dB，按GB11345-89標準B級，此缺陷如何評定？（楔中等效橫波聲程取為10mm）。解：設(shè)x1，x2分別為孔深d1=100mm，d2=40mm時的聲程： 已知K=1.5，L=10mmx1=d1(K2+1)1/2+L=100x1.8+10=190(mm)，x2=d2(K2+1)1/2+L=40x1.8+10=82(mm)兩孔反射波高dB差=

21、30lg(x1/x2)=30lg(190/82)=11dB， d2=40mm，3x40孔的波高為：H2=H1+=14+11=25dB， 判廢線靈敏度為3-2dB，即23dB， 缺陷波高25dB，表明缺陷波高已位于距離波幅曲線的III區(qū)，按GB11345-89標準的規(guī)定，應(yīng)評定為IV級。2.按JB/T4730-2005.3標準探測1mx1m鋼板時，發(fā)現(xiàn)鋼板上有5個缺陷，其面積均為24cm2，指示長度均為55mm，問：在什么情況下此張鋼板為I級、II級、III級和V級？答：當(dāng)5個缺陷均在鋼板中間且相鄰間距大于100mm，且不判定為白點、裂紋等危害性缺陷，此時這張鋼板為I級；當(dāng)5個缺陷有兩個缺陷相鄰

22、間距小于100mm，且這5個缺陷均在鋼板中間，且不判定為白點、裂紋等危害性缺陷，此時這張鋼板為II級；當(dāng)5個缺陷有3個缺陷相鄰間距小于100mm，且這5個缺陷均在鋼板中間，且不判定為白點、裂紋等危害性缺陷，此時這張鋼板為III級；假如5個缺陷中有任意一個缺陷位于鋼板邊緣，或判定為白點、裂紋等危害性缺陷，此時此張鋼板為V級。3.按JB/T4730.3-2005標準檢驗鍋爐大口徑管座角焊縫，接管為540x80mm，焊縫寬為35mm，采用2.5P14Z（2.5MHz，14mm）直探頭在接管內(nèi)壁作垂直探傷。如以接管外壁曲底面回波調(diào)節(jié)探傷靈敏度，底波應(yīng)調(diào)節(jié)到多少dB？（鋼CL=5900m/s）解：按JB

23、/T4730.3-2005標準要求，距離波幅曲線靈敏度（評定線）為2mm平底孔，已知：R=540/2=270mm，r=270-80=190mm，=5.9x106/2.5x106=2.36mm，設(shè)：x1=80mm，x2=80+35+5=120mm；底波與x2=120mm，=2mm孔波高dB差為：=20lg(2·x1/2)+40lg(x2/x1)+10lg(R/r)=20lg(2x2.36x80/·22)+40lg(120/80)+10lg(270/190)=30+7+1.5=38.5dB即以接管外壁曲底面回波高50%再增益38.5dB作為基準靈敏度。4.按JB/T4730-2

24、005.3標準中規(guī)定對鋼板判別缺陷的三種情況是什么？（用字母和數(shù)字表達）答：在探傷過程中發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一者即為缺陷：缺陷第一次反射波（F1）波高大于或等于滿刻度50%，即F150%；當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高未達到滿刻度，此時缺陷第一次反射波（F1）波高與底面第一次反射波（B1）波高之比大于或等于50%，即B1100%，而F1/B150%；當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高低于滿刻度的50%，即B150%5.16.JB/T4730.3-2005標準中規(guī)定的距離-波幅曲線是如何得到的？該曲線是由什么線組成的？各線的作用是什么？答：按所用探頭和儀器在試塊上實測數(shù)據(jù)繪成，由判廢線、定量線、評定線

25、組成，判廢線-判定缺陷的最大允許當(dāng)量，定量線-判定缺陷大小、長度的控制線，評定線-基準靈敏度控制線及缺陷測長的限止線。是非判斷：1.JB/T4730.3-2005適用于厚度6250mm鋼板的超聲波探傷（0）2.按JB/T4730.3-2005標準檢驗板厚60mm的鋼板，可選用埋深50mm的5平底孔試塊調(diào)節(jié)探傷靈敏度（X）3.JB/T4730-2005承壓設(shè)備無損檢測規(guī)定：當(dāng)采用兩種或兩種以上的檢測方法對承壓設(shè)備的同一部位進行檢測時，應(yīng)按各自的方法評定級別（0）4.按JB/T4730-2005.3標準檢驗板厚120mm的鋼板時，靈敏度試塊的厚度應(yīng)大于等于110mm且直徑5mm平底孔的埋深應(yīng)為90

26、mm（0）5.GB 11345-89標準對探傷系統(tǒng)性能的特殊要求有：系統(tǒng)有效靈敏度余量必須大于評定靈敏度10dB以上，斜探頭分辨力應(yīng)不小于6dB，直探頭分辨力應(yīng)不小于30dB（0）選擇題：1.按JB/T4730-2005.3標準，鋼板平行線掃查中只發(fā)現(xiàn)一個指示長度55mm、指示面積20cm2的分層，該鋼板可評為（A）級 A.I B.II C.III D.不定2.按JB/T4730-2005.3標準檢驗餅形鋼鍛件時，應(yīng)記錄的缺陷是（D）A.3mm當(dāng)量的密集區(qū) B.當(dāng)量4mm的單個缺陷 C.當(dāng)量等于4mm的缺陷密集區(qū) D.b和c3.GB 11345-89標準規(guī)定，需要進行波幅和指示長度測定的缺陷是

27、（C）A.III區(qū)的缺陷 B.II區(qū)的缺陷C.定量線及定量線以上的缺陷 D.I區(qū)的缺陷4.JB/T4730-2005.3標準中對鋼鍛件進行質(zhì)量等級分類的依據(jù)是（D）A.單個缺陷當(dāng)量直徑 B.缺陷引起的底波降低量C.密集區(qū)缺陷占檢測總面積百分比 D.以上都作為獨立的等級分別使用5. .按JB/T4730-2005.3標準規(guī)定，缺陷指示長度小于10毫米時，其長度應(yīng)記為（D）A.8毫米 B.6毫米 C.3毫米 D.5毫米射線部分一、判斷題1. 新的或長期不用的射線機，使用前要進行“訓(xùn)練”，其目的是提高射線管的真空度。（）2. 原子的質(zhì)量數(shù)就是原子核中質(zhì)子與中子數(shù)的總和，通常表示在元素的左下角（）3.

28、 被照體離焦點越近，Ug值越大4. 當(dāng)管電流一定，管電壓增大時，產(chǎn)生的連續(xù)X射線的線質(zhì)變硬、穿透能力增加、波長變短（）5. 1居里（Ci）相當(dāng)于1克鐳每秒的原子衰變數(shù)（）6. 定影液有兩個作用，即溶解未曝光的溴化銀和堅膜作用（）7. 沖洗膠片時，只要使用安全燈，膠片上就不會出現(xiàn)灰霧。（）8. 手工沖洗膠片時，如果沒有停影液可供使用，則可以將膠片直接放入定影液（）9. 攜帶式X光機通常采用自整流式的半波整流，因而產(chǎn)生X射線的利用率比較低()10. X射線照相時使用的電壓值越高，其襯度越高（）二、選擇題1.下列對連續(xù)X射線的強度與靶材的原子序數(shù)關(guān)系的敘述哪種是正確的？（A） A.強度與原子序數(shù)成正

29、比 B.強度與原子序數(shù)不成正比 C.強度與原子序數(shù)成反比 D.強度與原子序數(shù)的平方成正比2.X射線管是發(fā)射X射線的射線源，在一定的管電壓下，X射線管的管電流大小取決于陰極發(fā)射的電子量的多少，而電流強度的大小則取決于（D）：A.整流管電流的大小 Bb.X射線管電流的大小 C.X射線工作時間的長短 D.燈絲加熱溫度3.把59Co放在核反應(yīng)堆中，它捕獲了什么粒子后變成60Co？（D）A.一個電子 B.一個質(zhì)子 C.一個離子 D.一個中子4.射線通過被檢查物質(zhì)時，其強度的衰減與被檢查物質(zhì)的（D）有關(guān)：A.導(dǎo)電性 B.導(dǎo)磁性 C.導(dǎo)熱性 D.原子序數(shù)5.放射源的放射性比活度取決于下列哪一因素？（D）A.

30、射線源的質(zhì)量密度 B.材料在反應(yīng)堆中的時間 C.材料的泊松比 D.材料的原子序數(shù)6.某一放射性物質(zhì)其原子蛻變至原來一半數(shù)量所需的時間稱為（B）A.居里 B.半衰期 C.半值層 D.曝光時間7.同位素是（A）A.原子序數(shù)相同，但質(zhì)量數(shù)不同 B.原子序數(shù)及質(zhì)量數(shù)均不同C.原子序數(shù)不同，但質(zhì)量數(shù)相同 D.原子序數(shù)及質(zhì)量數(shù)均相同8.窄束射線和寬束射線的區(qū)別是（B）A.窄束是指散射和未散射的射線均到達檢測器,寬束是指只有未散射的射線到達檢測器。B.窄束是指只有未散射的射線到達檢測器，寬束是指散射和未散射的射線線均到達檢測器。C.窄束和寬束的區(qū)別在于源的尺寸不同；D.窄束和寬束的區(qū)別在于膠片和屏的配合9.

31、為使膠片易于感光，在射線照相時采用熒光增感屏，這是因為它在射線激發(fā)下產(chǎn)生（D）A.白光 B.紅外光 C.紫外光 D.熒光10.投射到膠片單位面積上的射線輻照量是（C）A.單位時間的射線強度 B.與強度成反比，而與時間成正比的量C.射線輻照強度與時間的乘積 D.隨時間按指數(shù)變化的與強度成反比的量11.定影液使用一定的時間后失效，其原因是（D）A.主要起作用的成分已揮發(fā) B.主要起作用的成分已沉淀；C.主要起作用的成分已變質(zhì) D.定影液里可溶性的銀鹽濃度太高12.下面關(guān)于像質(zhì)計的敘述中，正確的是（A）A.各種像質(zhì)計設(shè)計了自己特定的結(jié)構(gòu)和細節(jié)形式，規(guī)定了自己的測定射線照相靈敏度的方法，它們之間不能簡

32、單換算B.各種像質(zhì)計有自己特定的結(jié)構(gòu)和細節(jié)形式，但它們測定射線照相靈敏度的方法是相同或相似的C.用不同像質(zhì)計得到的射線照相靈敏度值如果相同，就意味著射線照片的影像質(zhì)量相同 D.以上都不對三、問答題1.使用X射線機應(yīng)注意些什么?答:避免劇烈震動,排除高壓回路里的氣體,陽極充分冷卻,預(yù)防高壓突波影響,注意燈絲預(yù)熱,不許超負荷使用,電源電壓穩(wěn)定,絕緣油及儀表應(yīng)定期校驗,氣冷機應(yīng)注意保持機頭氣壓,正確訓(xùn)機等。2.產(chǎn)生X射線需要哪些條件？答：產(chǎn)生射線應(yīng)具備五個條件：(1)發(fā)射電子。將燈絲通過加熱到白熾狀態(tài)，使其外圍電子離開原子。在燈絲周圍產(chǎn)生小的“電子云”，這種用熱電流分離電子的方法叫熱電子發(fā)射。(2)

33、電子聚焦。用鉬圈或罩形陰極圍繞燈絲，并將其與負電位接通。由于電子帶負電，會與它發(fā)生相互排斥作用，其結(jié)果是電子被聚成一束。(3)加速電子。在燈絲與陽極間加很高的電壓，使電子從陰極飛向陽極過程中獲得很高速度。(4)高真空度。陰陽極之間必須保持高真空度，使電子不受氣體分子阻擋而降低能量，同時保證燈絲不被氧化燒毀。(5)高速電子被突然遏止。采用金屬作陽極靶，使電子與靶碰撞急劇減速，電子動能轉(zhuǎn)換為熱能和射線。3. 試述射線與物質(zhì)相互作用導(dǎo)致強度減弱，四種效應(yīng)各起什么作用？答：四種效應(yīng)（即光電效應(yīng)、康普頓效應(yīng)、電子對效應(yīng)、湯姆遜效應(yīng)）的發(fā)生幾率與入射光子能量及物質(zhì)原子序數(shù)有關(guān)。一般說來，對低能量射線和原子

34、序數(shù)高的物質(zhì)，光電效應(yīng)占優(yōu)勢，對中等能量射線和原子序數(shù)低的物質(zhì)，康普頓效應(yīng)占優(yōu)勢，對高能量射線和原子序數(shù)高的物質(zhì)，電子對效應(yīng)占優(yōu)勢，湯姆遜效應(yīng)的影響大大低于上述叁個效應(yīng)。在鋼鐵中，當(dāng)光子能量在10keV時，光電效應(yīng)占優(yōu)勢；隨著光子能量的增大，光電效應(yīng)比率逐漸減小，康普頓效應(yīng)比率逐漸增大；在稍過100keV后兩相等，此時湯姆遜效應(yīng)趨于最大，但其發(fā)生率也不到10%，1MeV附近射線的衰減基本上都是康普頓效應(yīng)造成的；電子對效應(yīng)自1.02MeV以后開始發(fā)生，并隨能量的增大發(fā)生幾率逐漸增加，在10MeV附近，電子對效應(yīng)與康普頓效應(yīng)作用大致相等；超過10MeV以后，電子對效應(yīng)對射線強度衰減起主要作用。4.

35、引入劑量當(dāng)量的目的是什么？在射線和射線防護中，劑量當(dāng)量和吸收劑量怎樣換算？答：不同種類的射線（、中子、電子、等），不同類型的照射（內(nèi)照射、外照射）,即使吸收劑量相同，所產(chǎn)生的生物損傷程度也是不同的，為統(tǒng)一衡量評價不同種類射線在不同照射條件下對生物引起的危害，引入了劑量當(dāng)量這一物理概念。劑量當(dāng)量H是吸收劑量D與品質(zhì)因素Q及其他修正因素N的乘積，即H=DQN,劑量當(dāng)量的國際單位是希沃特（Sv），實用單位是雷姆（rem）,1希沃特=1焦耳/千克，1希沃特=100雷姆。對射線和射線，就防護而言，Q和N值均為1，所以可以認為吸收劑量和劑量當(dāng)量在數(shù)值上是相等的。5.X射線和射線有哪些不同點？答：X射線和射

36、線都屬電磁波范疇，兩者最主要的不同點是產(chǎn)生方式不同。X射線是高速電子撞擊金屬產(chǎn)生的，射線是放射性同位素從原子核中發(fā)出的。其他不同點包括：X射線是連續(xù)光譜，射線是線狀光譜；X射線能量取決于加速電子的電壓，射線能量取決于放射性同位素種類；X射線強度隨管電壓的平方和管電流而變，射線強度隨時間的推移按指數(shù)規(guī)律減弱。6. .什么叫照射量？它的單位是什么？答1：照射量是光子在質(zhì)量為dm的某一體積單元的空氣中釋放出來的全部電子（正、負電子）被完全阻止于空氣中時，在空氣中形成的一種符號的離子總電荷的絕對值，即x=dQ/dm。它的單位是倫琴，一倫琴=2.58×10-4庫倫/千克。答2：照射量是X射線或

37、射線在每單位質(zhì)量空氣內(nèi)，釋放出來的所有電子被空氣完全阻止時，在空氣中產(chǎn)生的任一種符號的離子總電荷，單位是庫（侖）/千克(C/Kg)。7. .射線膠片有哪些特性參數(shù)。哪幾項可以在特性曲線上表示出來？如何表示？答：射線膠片的特性參數(shù)主要有：感光度（S），梯度（），灰霧度（D0），寬容度（L），解象力（R），顆粒度(G)。其中前四項可在特性曲線上定量表示出來。感光度S=1/E；梯度=tg'；平均梯度'=2/(lgE2-lgE1)；灰霧度D0等于曲線與縱座標的交點；寬容度L= lgE2-lgE1。8.簡述射線照相法的原理。答：射線在透照工件時，由于射線能量衰減程度與材料密度和厚度有關(guān)，

38、有缺陷部位與無缺陷部位對射線能量的吸收不同，因而透過有缺陷部位與無缺陷部位的射線強度不同，在底片上形成的黑度不同，則可通過底片上不同的黑度的影像顯示缺陷。9. .對探傷中的射線源有哪些要求？答（1）能幅射出能量符合需要的射線。（2）有足夠長的半衰期，能保證一定的使用時間。（3）有足夠大的放射強度，以保證實際使用中曝光時間不致過長。（4）比活度高，射源尺寸小。（5）易于制造，成本低。（6）容易貯存，安裝，不易造成污染。10.為什么射線探傷標準要規(guī)定底片黑度上下限？答：探傷標準中規(guī)定底片黑度上下限是為了保證底片具有較高的對比度沒D和較小的識別界限對比度Dmin，從而得到較高的靈敏度。非增感型膠片值

39、隨黑度的增加而增大，D增大，也會增大，因此，底片取較大的黑度可獲得較高的對比度D，另一方面，Dmin在低黑度范圍內(nèi)大致不變，在高黑度范圍內(nèi)隨黑度的增加而增大，為得到較小的識別界限對比度Dmin，又要控制底片黑度不能過大，綜合以上關(guān)系，當(dāng)黑度D過大或過小，都使使Dmin>D，使透度計影像不能識別，從而降低探傷靈敏度。此外，底片黑度的上限值還受到觀片燈亮度的影響，當(dāng)透過底片光亮度超過100cd/m2時，人眼的識別缺陷能力最強，透過光亮度低于30cd/m2時，識別能力顯著下降，為保證足夠的透過光強，受觀片燈亮度限制，也必須規(guī)定底片黑度上限。四、計算題1.透過厚鋁板的X射線窄射束的照射劑量率是4

40、00x10-7C/Kg，再透過20mm厚的鋁板時，劑量率變?yōu)?00x10-7C/Kg，那么再透過10mm厚的鋁板時，劑量率為多少？解：I1=I0e-x1，200*10-7=400*10-7*e-3，=（ln2）/2，再按I2=I0e-x2，這里x2=20+10=30mm=3cm，代入各參數(shù)即可求得I2=141x10-7C/Kg2.若散射線忽略不計，當(dāng)平板透照厚度的增厚量或減薄量相當(dāng)于半值層厚度的1/x時，則膠片接受的射線照射量將減少或增大百分之幾？解：(1)參閱圖a,設(shè)半值層厚度為H,原厚度為T,增厚量為T時,膠片接受的照射量的變動量為-，則I1=I0/2T/H -(1)I2=I0/2(T+T

41、)/H -(2)(2)÷(1)：I2/I1=2(T-T-T)/H=2(-T/H) 令T=H/x，則I2/I1=2(-1/x)令I(lǐng)2=I1-I，則(I1-I)/I1=2(-1/x)=>1-(I/I1)=2(-1/x) 令I(lǐng)/I1=-，得-=1-2(-1/x)(2)參閱圖b，設(shè)半值層厚度為H,原厚度為T,減薄量為T時,膠片接受的照射量的變動量為+，則I1=I0/2T/H -(1) I2=I0/2(T-T)/H -(2)(2)÷(1)：I2/I1=2(T-T+T)/H=2(T/H) 令T=H/x，則I2/I1=2(1/x) 令I(lǐng)2=I1+I，則(I1+I)/I1=2(1/x

42、)令I(lǐng)/I1=+，得+=2(1/x)-13.透照某厚度50毫米厚的工件，選用焦點為10毫米的X射線機，若要求幾何不清晰度不超過0.2毫米時，問：此時選用的最小焦距是多少？解：Fmin=(d/Ug)+=(10*50/0.2)+50=2550毫米4.透照板厚20mm，加強高3mm的鋼焊縫時，底片上母材區(qū)黑度為2.5，焊道中心黑度為1.5。如將加強高磨平，仍按同一條件透照，則此時被檢區(qū)中心與象質(zhì)計某一直徑的金屬絲相應(yīng)的底片對比度是加強高磨平前的幾倍？（設(shè)線質(zhì)不因穿透厚度而變化，且試件對射線的半值層為2mm，黑度D與梯度G在黑度1.23.5范圍內(nèi)成正比，焦點尺寸的影響可忽略不計。所用膠片特性曲線提供數(shù)

43、據(jù)：lgE（D2。5）=2.02，lgE(D1。5)=1.76）解:設(shè)加強高磨平前后底片上焊縫中心與像質(zhì)計線徑d相應(yīng)的對比度分別為D1和D2,則:D2/D1=-0.4342G22d/(1+n2)/-0.4341G11d/(1+n1) (1)由題意,1=2,1=21,又G D,即G1=C·D1(1.2D3.5),G2=C·D2(C-常數(shù)),代入(1)式,得:D2/D1=D2(1+n1)/D1(1+n2) (2)又加強高磨平前后,焊縫中心直接透射線強度分別為I1和I2,總透射線強度分別為IP1和IP2,而曝光時間均為t,則加強高磨平后與磨平前焊縫中心的膠片照射量之比為:E2/E

44、1=IP2·t/IP1·t=I2(1+n2)/I1(1+n1) (3)因半值層H=2mm,故I1/I2=2n=23/22.83 (4),又由膠片特性曲線知ED2.5/ED1.5=102.02-1.761.82=E2/E1 (5)將(4),(5)式代入(3)式得:1.82=2.83(1+n2)/(1+n1),(1+n2)/(1+n1)0.64,即(1+n1)/(1+n2)=1.56 (6)將已知數(shù)D1,D2和(6)式代入(2)式,D2/D1=D2(1+n1)/D1(1+n2)=(2.5/1.5)x1.56=2.65.用外透法L1=600mm的距離透照325×20mm

45、的鍋爐聯(lián)箱管環(huán)焊縫，若按6次曝光完成整圈環(huán)焊縫的全面檢查，解:(1)如圖所示,N=180°/=180°/N=180°/6=30°(2)在OAP中,設(shè)AP=Ls,OA=R,由余弦定理得:Ls=R2+(R+L1)2-2R(R+L1)cos1/2,代入數(shù)字計算得到Ls=627mm(3)又由正弦定理得:sin/(R+L1)=sin/Ls=sin-1(R+L1)sin/Ls=37.45°則所取最大失真角和透照厚度比K值分別為多少？=180°-37.45°=142.55 =-=37.45°-30°=7.45°

46、;(4)在OA'P中,sin(180°-)/(R+L1)=sin/180°-=sin-1(R+L1)sin/r=sin-1(600+162.5)sin7.45°/142.5=44°，=136°(5)在OA'A中,T'/sin=/sinT'=sin·/sin=sin6.55°*142.5/sin37.45°=26.73mm K=T'/T=26.73/20=1.346.在露天進行射線照相，已知距焦點1m處漏射線劑量率為200mR/h，散射線劑量率為各位置漏射線劑量率的9倍，現(xiàn)需拍

47、片30張，每張曝光4分鐘，如一人操作，為保證接受劑量不超過10mR，應(yīng)距焦點幾米？如在距焦點12米處操作，為保證每人接受劑量不大于10mR。上述工作應(yīng)由幾個人分擔(dān)？此時每人所接受的照射劑量為多少mR？解：(1)設(shè)一米處的照射率為I1，拍30張片的照射量為E1，安全距離為Fx，則I1=200(1+9)=2000mR/hE1=2000(4*30)÷60=4000mR Ex/E1=(F1/Fx)2 10/4000=1/Fx2 Fx=20m(2)又設(shè)12m處的照射量為E12,獲得安全照射量的分組人數(shù)為n,人均受照量為Ey,則 E12/E1=(F1/F12)2E12/4000=(1/12)2

48、E12=27.8mR n=E12/10=27.8/10=3 Ey=27.8/39.3mR磁粉部分1、 是非判斷題(共20題)二、選擇題(共20題)三、問答題（共10題）四、計算題（共6題）五、工藝題（共4題）一 是非判斷題1. 磁化電流去掉后，試件上保留的磁感應(yīng)強度稱為矯頑力。（）2. 狹窄的磁滯回線說明試件的材料是高碳鋼。（）3. 鐵磁性材料的磁感應(yīng)強度和外加磁場強度成正比。（）4. 鐵磁性材料經(jīng)淬火后，其矯頑力一般說要變大。（）5. 當(dāng)電流直接通入空心試件時，磁感應(yīng)強度在其內(nèi)表面為最大。（）6. 熒光磁懸液的磁粉濃度一般比非熒光磁懸液的濃度低（）7. 在剩磁法中，若要使用直流設(shè)備，則可以不

49、配備斷電相位控制裝置（）8. 采用長度和直徑相同的鋼棒和銅棒分別對同一鋼制筒形工件作芯棒法磁化，如果通過的電流相同,則探傷靈敏度相同（）9. 縱向磁化產(chǎn)生的磁場，其強度決定于線圈匝數(shù)和線路中電流安培數(shù)的乘積。（）10. 使用靈敏度試片的目的之一是要了解探傷面上磁場的方向和大小。（）11. 在同一條件下進行磁粉探傷，交流磁化法較直流磁化法對近表面內(nèi)部缺陷的檢測靈敏度低（）12. 磁粉探傷的基本原理是要在試件上能建立一定大小的磁感應(yīng)強度（0）13. 鐵磁性材料經(jīng)淬火后，其矯頑力一般情況下是不變的（X）14. 用同樣大小的電流通入長度相同而直徑分別為25mm、50mm的園棒時，直徑50mm的表面磁感

50、應(yīng)強度近似為直徑25mm的2倍（X）15. 退磁一般是把工件放入等于或大于磁化工件時所施加的磁場的強度的磁場，然后不斷改變磁場方向，同時逐漸減小磁場的強度到零（0）16. .電磁軛法的優(yōu)點之一是不象直接通電法那樣會因接觸不良打火損傷工件表面（0）17. 件如果有殘留的局部磁極將會產(chǎn)生不相關(guān)顯示，妨礙磁粉檢驗，為了成功地進行磁粉檢驗，應(yīng)先對試件進行退磁，然后沿預(yù)定的方向進行磁化（0）18. 中心導(dǎo)體可以逐次偏斜并大約有10%的磁場重疊來檢查整個周向，每次有效磁化的周向距離約為中心導(dǎo)體直徑的2倍（X）19. 把試件放入一個線圈中，使通過線圈的交流電逐漸降低進行退磁時，試件長軸方向沿南北方向的情況下

51、最有利（X）20. 交流電有趨膚效應(yīng)，所以采用交流電磁化發(fā)現(xiàn)表面缺陷的靈敏度較高（0）二、選擇提1.鐵磁物質(zhì)在加熱時鐵磁消失而變?yōu)轫槾判缘臏囟冉校–）A.凝固點 B.熔點 C.居里點 D.相變點2.以下關(guān)于磁力線的說法，不正確的是（D）A.磁力線永不相交 B.磁力線是用來形象地表示磁場的曲線 C.磁力線密集處的磁場強 D.與磁力線垂直的方向就是該點的磁場方向3. 下列有關(guān)缺陷所形成的漏磁通的敘述（F）是正確的A.磁化強度為一定時，缺陷高度小于1mm的形狀相似的表面缺陷，其漏磁通與缺陷高度無關(guān)B.缺陷離試件表面越近，缺陷漏磁通越小C.在磁化狀態(tài)、缺陷種類和大小為一定時，缺陷漏磁通密度受缺陷方向影

52、響D交流磁化時，近表面缺陷的漏磁通比直流磁化時要小E.當(dāng)磁化強度、缺陷種類和大小為一定時，缺陷處的漏磁通密度受磁化方向的影響 F.C,D和E都對4. 下列關(guān)于漏磁場的敘述中，正確的是（C）A缺陷方向與磁力線平行時，漏磁場最大 B漏磁場的大小與工件的磁化程度無關(guān)C漏磁場的大小與缺陷的深度和寬度的比值有關(guān) D工件表層下，缺陷所產(chǎn)生的漏磁場，隨缺陷的埋藏深度增加而增大5. 下列關(guān)于連續(xù)法和剩磁法的敘述中，正確的是（D）A由于電源的允許通電時間短，采用一邊通電幾次、一邊施加磁懸液的方法，這不是正常的連續(xù)法操作B剩磁法適用于焊接缺陷的探傷；C剩磁法要用直流電，如用交流電，必須采用斷電相位控制器；DA和C

53、6. 下列有關(guān)退磁場的敘述中正確的是（A）A.退磁場是由于工件磁化后形成磁極造成的 B.L/D值越大，退磁場越大 C.退磁場大小與工件形狀無關(guān)D.將工件夾于電磁鐵的兩極之間形成閉合磁路后，沒有退磁場7. 下面哪種退磁方法最有效？（A）A有反向和降壓控制器的直流電；B有降壓控制器的交流電；C半波整流交流電； D全波整流電8. 采用線圈磁化法要注意的事項是（D）A.線圈的直徑不要比零件大得太多 B.線圈兩端的磁場比較小 C.小直徑的零件應(yīng)靠近線圈 D.以上都是9. 同樣大小的電流通過兩根尺寸相同的導(dǎo)體時，一根是磁材料，另一根是非磁性材料，則其周圍的磁場強度是（D）A磁性材料的較強；B非磁性材料的較

54、強；C隨材料磁導(dǎo)率變化；D磁場強度相同10. 下列關(guān)于鐵磁性材料的敘述中，正確的是（E）A鐵磁性材料有磁滯現(xiàn)象B隨著含碳量增高，矯頑力增大C鐵磁性材料的磁導(dǎo)率遠大于1，它是與外磁場變化無關(guān)的常數(shù)D鐵磁性材料比順磁性材料較難達到磁飽和狀態(tài)EA和B11使用熒光磁粉的一個優(yōu)點是（B）A需要的設(shè)備少；B檢驗速度快；C成本低；D容易被吸附12. 用于磁粉探傷的磁粉應(yīng)具備的性能是（D）A無毒；B磁導(dǎo)率高；C頑磁性低；D以上都是13. 檢驗細微的淺表面裂紋時，最佳的方法是（C）A干法交流電；B干法直流電；C濕法交流電；D濕法直流電14. 下列材料中，不能進行磁粉探傷的是（C）A.碳鋼 B.馬氏體不銹鋼 C.

55、奧氏體不銹鋼 D.鑄鐵15. 磁力線的特征主要是（D）A.磁力線彼此不相交 B.磁極處磁力線最稠密 C.具有最短路徑，是封閉的環(huán) D.以上都是16. 下列有關(guān)退磁的敘述中（A）是正確的A.所謂退磁就是將試件上的剩磁減小到不妨礙使用的程度B.退磁是把試件放入通直流電的線圈中，不切換電流方向，使試件逐漸遠離線圈C.園形截面的試件用軸向通電磁化后，不需要進行退磁D.退磁是使磁場交替180°反轉(zhuǎn)磁化17. 零件退磁后為什么要進行清洗？（A）A為保證去除磁粉；B為防止虛假顯示；C節(jié)省磁粉；D防止熱處理時出現(xiàn)裂紋18. 下列有關(guān)磁化電流方向與缺陷方向之間關(guān)系的正確敘述是（B）A.直接通電磁化時，

56、與電流方向垂直的缺陷最容易探測到 B.直接通電磁化時，與電流方向平行的缺陷最容易探測到C.直接通電磁化時，與電流方向無關(guān)，任何方向的缺陷都能探出D.用線圈法磁化時，與線圈內(nèi)電流方向垂直的缺陷最容易探出19. 觸頭法對大型結(jié)構(gòu)件的對接焊縫進行磁粉探傷時，影響探傷有效范圍的主要因素是（C）：A.磁化電流種類 B.觸頭電極間距選擇 C.以上都是20. 如果零件上出現(xiàn)遍及表面的顯示（有時是環(huán)形線），應(yīng)如何處理？（C）A用較高的安培值重新磁化；B用較低的安培值重新磁化；C退磁；DA和C三問答題1.硬磁材料和軟材料有什么區(qū)別？答：硬磁材料指磁粉探傷中不易磁化（或難于退磁）的鐵磁性材料，其特點是磁滯回線肥胖，具有：低磁導(dǎo)率；高磁阻；高剩磁；高矯頑力。反之軟磁材料，是指容易進行磁化的鐵磁性材料，其特點是磁滯回線狹窄（相對于硬磁材料而言），具有：高磁導(dǎo)率；低磁阻；低剩磁；低矯頑力2.磁懸液中的磁粉濃度應(yīng)如何