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文檔簡介
1、深圳市世融通電子公司產(chǎn)品測試手冊編制部門:品質(zhì)部日期:擬定:日期:日期:日期:版本時(shí)間修改容修改人 . . 2 / 10 目錄1 簡介 4 2.整機(jī)測試項(xiàng)目5 2.1. 電性能測試5 2.2 esd 測試 5 2.3 環(huán)境測試5 2.4 壽命測試4 2.5 機(jī)械強(qiáng)度測試4 . . 3 / 10 3. 整機(jī)測試標(biāo)準(zhǔn)6 3.1 電性能測試標(biāo)準(zhǔn)6 3.2 esd 靜電測試標(biāo)準(zhǔn)4 3.3 環(huán)境測試標(biāo)準(zhǔn)7 3.4 壽命測試標(biāo)準(zhǔn)8 3.5 機(jī)械強(qiáng)度測試標(biāo)準(zhǔn)8 1 簡介1.1目的為了規(guī)世融通公司產(chǎn)品測試的各項(xiàng)工作,使公司產(chǎn)品研發(fā)、 品質(zhì)管理按照共同的測試項(xiàng)目和測試標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測試,以使項(xiàng)目各階段品質(zhì)保證能達(dá)到手
2、機(jī)的測試要求,特制定本測試手冊。1.2適用圍本手冊適用于本公司所有項(xiàng)目的整機(jī)測試。1.3責(zé)任公司產(chǎn)品研發(fā)、品質(zhì)保證都需按本測試手冊進(jìn)行相關(guān)測試,對問題進(jìn)行分析,確定責(zé)任部門,由責(zé)任部門提出改善對策。2 整機(jī)測試項(xiàng)目2.1 電性能測試按照產(chǎn)品檢驗(yàn)規(guī)和行業(yè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),測試手機(jī)的各項(xiàng)重要電性能指標(biāo);2.2 esd 測試測試手機(jī)在靜電環(huán)境中的性能;2.3 環(huán)境測試模擬公司各產(chǎn)品使用的各種惡劣環(huán)境,測試其性能是否達(dá)到要求;主要包括高/ 低溫試驗(yàn)、濕熱試驗(yàn)、防塵試驗(yàn)等。 . . 4 / 10 2.4 壽命測試測試產(chǎn)品各易損部件的工作壽命是否達(dá)到規(guī)格要求;主要包括讀卡器,打印機(jī),制票機(jī)等產(chǎn)品試驗(yàn)。2.5 機(jī)械
3、強(qiáng)度測試測試?yán)ㄗx卡器,打印機(jī),制票機(jī)等機(jī)械結(jié)構(gòu)的強(qiáng)度;主要包含振動測試、跌落測試等。3. 整機(jī)測試標(biāo)準(zhǔn)3.1 電性能測試標(biāo)準(zhǔn)依照公司規(guī)、行業(yè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),測試公司產(chǎn)品的電性能。參考標(biāo)準(zhǔn) : 1.公司的產(chǎn)品行業(yè)環(huán)境要求和試驗(yàn)方法。2.公司產(chǎn)品根據(jù)公司可靠測試設(shè)備測試。3.根據(jù)公司可靠性設(shè)備進(jìn)行安全要求和產(chǎn)品驗(yàn)證進(jìn)行試驗(yàn)3.2 esd 靜電測試標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品在接充電器和不接充電器的情況下,分別測試產(chǎn)品在常用使用狀態(tài)下的esd性能, 待機(jī)和運(yùn)行狀態(tài)是必須要測試的狀態(tài)。接觸放電為6kv,對裸露的金屬件續(xù)放電各10 次后對地放電, 應(yīng)無數(shù)據(jù)丟失和功能損壞等;接觸放電每點(diǎn)每個測試電壓連續(xù)放電10 次(加嚴(yán)測試 20
4、 次) ;空氣放電 10kv,主機(jī)底殼等處進(jìn)行放電,被選點(diǎn)每點(diǎn)每個測試電壓放電10 次(加嚴(yán)測試 20 次) ,每放電一次需對地放電,狀況應(yīng)良好,應(yīng)無數(shù)據(jù)丟失和功能損壞。注:測試后功能恢復(fù)正常,與外觀檢查應(yīng)良好(電鍍層不應(yīng)有掉鍍層等不良現(xiàn)象)。完成后作好記錄。所需手機(jī)數(shù)為2 部。參考標(biāo)準(zhǔn) : 行業(yè)可靠性技術(shù)要求和測試方法esd實(shí)驗(yàn)室環(huán)境要求: 環(huán)境溫度: +15 +35 相對濕度: esd 實(shí)驗(yàn)室濕度應(yīng)嚴(yán)格控制到30 60rh 大氣壓力: 86 106kpa 3.3 環(huán)境測試標(biāo)準(zhǔn)測試項(xiàng)目與條件:測試項(xiàng)目測試條件 / 參考標(biāo)準(zhǔn)主要測試階段數(shù)量須知低溫儲存試驗(yàn)t=-30 3,試驗(yàn)時(shí)間12 小時(shí),
5、回溫 2h 后檢測功能、外觀、機(jī)械和電性能有無異常。項(xiàng)目 pr1階段,首次量產(chǎn), 重要元器件或元器件的供應(yīng)商, 結(jié)構(gòu)材料變更;4 試驗(yàn)中手機(jī)帶電池關(guān)機(jī)狀態(tài)。 . . 5 / 10 低溫工作試驗(yàn)t=-20 3,試驗(yàn)時(shí)間8 小時(shí), 測試過程中需進(jìn)行中間檢測,觀察信號指示并進(jìn)行撥打測試(或用儀器測試電性能),測試持續(xù)時(shí)間到后立即在該溫度下進(jìn)行電性能和功能測試,最終檢測:將試驗(yàn)樣品回溫2h 后檢測呼叫連接、外觀、機(jī)械等應(yīng)正常。中間檢測與最終檢測均正常測試才為合格。項(xiàng)目 pr1階段,首次量產(chǎn), 更改重要元器件或元器件的供應(yīng)商,結(jié)構(gòu)材料變更;4 試驗(yàn)中手機(jī)處于待機(jī)狀態(tài)(如果 t=-203條件下電性能有異常
6、情況,品質(zhì)可按照 t=-103的實(shí)驗(yàn)條件作為最低出貨標(biāo)準(zhǔn)。若選擇觀測信號指示與被叫的方式,需將手機(jī)工作在帶 sim 卡的標(biāo)準(zhǔn)用戶模式) 高溫儲存試驗(yàn)t=652,試驗(yàn)時(shí)間12 小時(shí), 儲存時(shí)間到后立即檢測功能、外觀、 機(jī)械和電性能應(yīng)正常。(可立即調(diào)低溫度至552進(jìn)行高溫工作試驗(yàn))項(xiàng)目 pr1階段,首次量產(chǎn), 更改重要元器件或元器件的供應(yīng)商,結(jié)構(gòu)材料變更;4 試驗(yàn)中手機(jī)帶電池關(guān)機(jī)狀態(tài)。高溫工作試驗(yàn)t=552,試驗(yàn)時(shí)間8 小時(shí),測試過程中需進(jìn)行中間檢測,進(jìn)行主叫撥打測試(或用儀器測試電性能),測試持續(xù)時(shí)間到后在該溫度下進(jìn)行電性能和功能測試,最終檢測:將試驗(yàn)樣品回溫2h 后進(jìn)行功能、外觀、機(jī)械和電性能
7、等檢測。中間檢測與最終檢測均正常測試才為合格。項(xiàng)目 pr1階段,首次量產(chǎn), 更改重要元器件或元器件的供應(yīng)商,結(jié)構(gòu)材料變更;4 試驗(yàn)中手機(jī)處于待機(jī)狀態(tài)。主叫可采用直接拔打112的方式。恒定濕熱試驗(yàn)t=402,rh=93 3% ,試驗(yàn)時(shí)間48 小時(shí),測試過程中需進(jìn)行中間檢測,進(jìn)行主叫撥打測試(或用儀器測試電性能),測試時(shí)間到后在該溫度下進(jìn)行電性能和功能測試,回溫2h 后檢測呼叫連接、外觀、機(jī)械等應(yīng)正常。項(xiàng)目 pr1階段,首次量產(chǎn)必須要測,更改重要元器件或元器件的供應(yīng)商, 結(jié)構(gòu)材料變更4 試驗(yàn)中手機(jī)處于待機(jī)狀態(tài)。(翻蓋手機(jī)翻蓋處于打開狀態(tài),使用大lcd也處于工作狀態(tài),主叫采用撥打 112 的方式)。
8、濕熱循環(huán)試驗(yàn)從室溫以不大于1/min 速度變到40,rh:933% ,保持 1h;再以不大于1/min速度變到 -10 ,保持 1h;循環(huán) 13 次。循環(huán)期滿,回溫2h后檢測功能、外觀、機(jī)械和電性能應(yīng)正常。項(xiàng)目 pr1階段,首次量產(chǎn), 更改重要元器件或元器件的供應(yīng)商,結(jié)構(gòu)材料變更;4 試驗(yàn)中手機(jī)處于待機(jī)狀態(tài) . . 6 / 10 鹽霧測試三個噴霧周期, 每個 2h,每個噴霧周期后有一個為期 22h的濕熱儲存周期。噴霧條件為溫度為 (15 35) ,濃度為 (5.0 1)的氯化鈉溶液;儲存條件為(40 2) ,相對濕度為90 95項(xiàng)目 pr1階段2 手機(jī)帶電池關(guān)機(jī)狀態(tài)防塵試驗(yàn)將手機(jī)放置在粉塵試驗(yàn)
9、箱,樣品體積綜合不得超過試驗(yàn)箱有效空間的1/3 ,底面積不得超過有效水平在積的1/2 ;與實(shí)驗(yàn)箱壁距離應(yīng)不小于100mm 。啟動粉塵試驗(yàn)箱,使氣流能夠?qū)⒒覊m均勻緩慢地沉降在試驗(yàn)樣品上,最大值不得超過2m/s。測試時(shí)間到后,將手機(jī)在粉塵箱靜置2h,進(jìn)行功能、外觀與裝配檢測。 (在儀器未到位前,也可采用袋子裝上少許灰塵,把手機(jī)裝進(jìn)袋子且用人手抖動袋子1 分鐘方式)。項(xiàng)目 pr1階段,首次量產(chǎn);2 試驗(yàn)中手機(jī)帶電池關(guān)機(jī)。測試后的手機(jī)顯示區(qū)域、攝相頭區(qū)域不得有粉塵出現(xiàn)。備注:對于本環(huán)境測試標(biāo)準(zhǔn)中未涉與的新工藝,新標(biāo)準(zhǔn),可以根據(jù)具體情況采用行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)來進(jìn)行測試。 *防塵測試在沒有專用測試儀器的情況下,可以
10、采用手動測試的方式代替。3.4 壽命測試標(biāo)準(zhǔn)測試項(xiàng)目測試方法 / 標(biāo)準(zhǔn)主要測試階段數(shù)量須知翻/ 滑蓋壽命試驗(yàn)以 4060 次 / 分鐘的速度翻動翻蓋,來回為1 次,要求翻蓋達(dá)到最大轉(zhuǎn)動位置。每 3000次檢查 1 次。要求翻蓋最少測試8 萬次。 測試完畢后首先對樣品進(jìn)行功能、結(jié)構(gòu)檢測;然后拆機(jī)檢查鉸鏈周圍殼體以與fpc 有無外觀異常,并對fpc阻值進(jìn)行測量。第一次裝機(jī), 首次量產(chǎn), 轉(zhuǎn)軸供應(yīng)商變更;4 測試中手機(jī)處于待機(jī)狀態(tài);測試中手機(jī)應(yīng)無異常(關(guān)機(jī),顯示亂等);測試后手機(jī)應(yīng)無結(jié)構(gòu)松動,響聲等, 外觀無掉漆、 裂痕;殼體無破裂,fpc無破裂;以 4060 次 / 分鐘的速度滑動滑蓋,來回為1
11、次,要求滑動達(dá)到最大行程位置。每 3000次檢查 1 次。要求滑蓋最少測試10 萬次。測試完畢后首先對樣品進(jìn)行功能、結(jié)構(gòu)檢測;然后拆機(jī)檢查滑軌、fpc外觀,并對 fpc阻值進(jìn)行測量。第一次裝機(jī),首次量產(chǎn),轉(zhuǎn)軸供應(yīng)商變更;4 . . 7 / 10 speaker 壽命測試采用電池加旅充充電的供電方式或者直接用 4.2v 直流電源供電方式,將試驗(yàn)樣機(jī)設(shè)置成長時(shí)間播放狀態(tài)(采用播放mp3 ,循環(huán)連續(xù)播放),連續(xù)播放時(shí)間不少于120h,功能應(yīng)正常。項(xiàng)目 pr1階段,speaker音頻參數(shù)調(diào)整,供應(yīng)商變更;6 選用音頻較高的歌曲;測試中突然掉電不超過1 分鐘可以累積測試時(shí)間,超過 1分鐘必須重新計(jì)算。馬
12、達(dá)振動壽命試驗(yàn)將手機(jī)設(shè)置為馬達(dá)長時(shí)間振動狀態(tài),試驗(yàn)時(shí)間不少于72h;對于單體馬達(dá)可采用:2 秒開 1 秒關(guān)為一個周期,循環(huán)5 萬次以上,馬達(dá)功能應(yīng)正常。項(xiàng)目 pr1階段,更換馬達(dá)供應(yīng)商;3 單體振動周期選取參考手機(jī)實(shí)際使用定出,選取最接近的振動周期進(jìn)行測試機(jī)械按鍵壽命測試以 4060 次/ 分鐘的速度, 不小于 5n的力度均勻按鍵, dome : 10 萬次; switch :5 萬次;導(dǎo)航鍵:6 萬次,每2 萬次檢查1 次,試驗(yàn)后功能應(yīng)正常。項(xiàng)目 pr1階段,dome 供應(yīng)商、按鍵設(shè)計(jì)變更;2 手機(jī)處于關(guān)機(jī)狀態(tài)電池插拔測試裝上電池再取下電池。累計(jì)2000 次以上。每插拔 100 次開機(jī)檢查一
13、次, 手機(jī)功能應(yīng)正常。項(xiàng)目 pr1階段,電池連接器變更;2 測試速度不超過30 次/ 分(插入拔出算一次)sim 卡插拔測試插入 sim 卡再取出,累計(jì)1000 次。每插拔100 次開機(jī)檢查一次,手機(jī)不能有不識卡現(xiàn)象,測試完畢手機(jī)功能應(yīng)正常。(2 合一,3 合一卡座特殊處理)項(xiàng)目 pr1階段,更換 sim 卡座供應(yīng)商;2 測試速度不超過30 次/ 分(插入拔出算一次)外置存卡插拔試驗(yàn)插入存卡再取出,累計(jì)1000 次。不支持熱插拔的機(jī)型,每插拔100 次開機(jī)檢查一次,支持熱插拔的機(jī)型必須在開機(jī)狀態(tài)下測試,每插拔 100 次檢查一次, 要求測試后存儲卡結(jié)構(gòu)正常 (不能破裂) ,手機(jī)無不識卡問題,存
14、卡中的容不可丟失。項(xiàng)目 pr1階段,更換 t 卡座供應(yīng)商;2 插拔頻率不超過30 次/ 分鐘。(插入拔出算一次)耳機(jī)插孔插拔試驗(yàn)將耳機(jī)垂直插入耳機(jī)孔后,再垂直拔出, 如此反復(fù),累計(jì)3000 次。功能應(yīng)正常。項(xiàng)目 pr1階段,更換耳機(jī)插孔供應(yīng)商;2 插拔頻率不超過3040 次/ 分鐘。 (插入拔出算一次)若手機(jī)采用數(shù)據(jù)線、耳機(jī)、充電器三合一接口,需要采用三種配件對應(yīng)同一個母座各測試3000 次。i/o 插拔測試插入數(shù)據(jù)線再拔下,累計(jì)3000 次。每插拔100 次開機(jī)檢查一次,手機(jī)功能應(yīng)正常。項(xiàng)目 pr1階段,更換 i/o 口供應(yīng)商;2 插拔頻率不超過30 次 / 分鐘。(插入拔出算一次)若手機(jī)采
15、用數(shù)據(jù)線、耳機(jī)、充電器三合一接口,需要采用三種配件對應(yīng)同一個母座各測試3000 次。 . . 8 / 10 電池蓋插拔測試插上電池后蓋再拔下,累計(jì) 1000 次,外觀、功能應(yīng)正常。項(xiàng)目 pr1階段,更換電池蓋材料/ 供應(yīng)商;2 插拔頻率不超過30次/ 分鐘(插入拔出算一次)手寫筆插拔測試手寫筆垂直插入手機(jī)再拔出為一次,插拔10000 次,實(shí)驗(yàn)中檢查手機(jī)與手寫筆的配合有無不順暢現(xiàn)象。 測試完畢后手機(jī)與手寫筆外觀、結(jié)構(gòu)應(yīng)正常。(試驗(yàn)速率:25 次/分鐘)項(xiàng)目 pr1階段,更換手寫筆供應(yīng)商;210000次測試后,手機(jī)殼體卡扣彈片功能正常,無破裂; 手寫筆可以鎖緊不會滑落,多段設(shè)計(jì)的手寫筆,拉出后應(yīng)為
16、伸長狀態(tài)觸摸屏點(diǎn)擊試驗(yàn)將手機(jī)固定在點(diǎn)擊測試儀器上,用固定在尖端的隨機(jī)手寫筆,加載150g 的力,對觸摸屏點(diǎn)擊 25 萬次,每 5 萬次對屏幕進(jìn)行檢查并清潔;手機(jī)處于待機(jī)狀態(tài);測試完畢后,觸摸屏表面無損傷,功能正常。點(diǎn)擊速率:約 1 次/ 秒第一次送樣,更換 tp、觸摸ic; 或更換 lcd供應(yīng)商;2 采用手機(jī)自帶手寫筆進(jìn)行測試, 同時(shí)驗(yàn)證手寫筆的可靠性。觸摸屏劃線試驗(yàn)將手機(jī)固定在劃線測試儀器上,用手機(jī)自帶的手寫筆沿觸摸屏的對角線進(jìn)行劃線測試,劃線壓力為150g 力,測試次數(shù)10 萬次 (反復(fù)來回為2 次),每 1 萬次對觸摸屏功能、結(jié)構(gòu)和外觀進(jìn)行檢測,并對觸摸屏進(jìn)行清潔。測試完畢后,觸摸屏功能
17、應(yīng)正常,外觀無損傷 (劃痕) 。(劃線速度: 約 30mm/秒)第一次送樣,更換 tp、觸摸ic, 或更換 lcd供應(yīng)商;2 劃線測試距離不小于屏幕對角線距離的1/3 。備注:觸摸屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)為選作測試項(xiàng)目,只針對tp的新供應(yīng)商樣品做驗(yàn)證測試,標(biāo)準(zhǔn)屏不再安排此項(xiàng)測試。3.5 機(jī)械強(qiáng)度測試標(biāo)準(zhǔn)測試項(xiàng)目測試方法 / 標(biāo)準(zhǔn)主要測試階段數(shù)量須知跌落試驗(yàn)(單機(jī))試驗(yàn)樣機(jī)插sim 卡,并裝配電池,手機(jī)處于正常待機(jī)狀態(tài)。將樣品放置在垂直跌落試驗(yàn)儀上,將高度調(diào)到1.3m ,進(jìn)行垂直跌落測試。每個面各測2 次,共跌落12 次。跌落測試后,首先對樣品進(jìn)行外觀、功能,結(jié)構(gòu)檢測,記錄測試狀態(tài)后,再進(jìn)行拆機(jī)檢測。(
18、2.8 的屏適用1.3 米, 2.8 的屏適用 1 米)第一次裝機(jī),項(xiàng)目 pr1 , 首次量產(chǎn),電池、殼體、屏等大的器件變更與供應(yīng)商變更;4 試驗(yàn)從手機(jī)的最小面開始跌落,每個循環(huán)中l(wèi)cd 面為最后跌落面; 有翻蓋(滑蓋)的移動機(jī)應(yīng)將蓋合上;跌落后進(jìn)行外觀檢查,磨損是可以的,但不應(yīng)有破裂以與裂痕;電池蓋易脫落,手寫筆易脫出,兩次以的掉卡或掉電以與膠塞拉出但未脫落等現(xiàn)象不作為不合格的判定依據(jù)。拆機(jī)檢測:部殼體無破裂機(jī)變形,定位柱等無變形,確保主板定位良好,主板元器件無損傷。 . . 9 / 10 試驗(yàn)中,若因?yàn)樵O(shè)計(jì)原因,無法滿足跌落后電池后蓋任然鎖緊狀態(tài),可采用加貼膠紙的方式固定電池蓋后再進(jìn)行測試
19、撞擊試驗(yàn)單體測試:將單體顯示屏固定在剛性支撐面上,用45g 鋼球,從50cm 高處,以初速為 o 的狀態(tài),垂直沖擊鏡片中心點(diǎn)位置共5次。試驗(yàn)完畢后,對樣品進(jìn)行外觀檢測。整機(jī)測試:將試驗(yàn)樣品裝上配套電池。不開機(jī)狀態(tài)下依靠在剛性的支撐面上,用45g 鋼球,從50cm 高處,以初速為o 的狀態(tài),垂直沖擊中心位置共5 次。試驗(yàn)完畢后,對樣品進(jìn)行功能、外觀與裝配檢測。第一次裝機(jī),改 lcd組件或供應(yīng)商變更2 單體測試試驗(yàn):采用 45g鋼球從 50cm 處垂直落下的方式進(jìn)行。單體測試后,顯示屏外觀無損傷,功能應(yīng)正常。整機(jī)測試試驗(yàn):采用 45g鋼球從 50cm處垂直落下的方式進(jìn)行。整機(jī)測試后,手機(jī)顯示應(yīng)無異常,觸摸屏外觀、功能應(yīng)正常。 ( 不適用 tp) 微跌試驗(yàn)樣機(jī)插 sim 卡開機(jī)狀態(tài), 高度為 7cm跌落到地面為 pvc (厚度 4mm ,硬度 80 shore d )上
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