歐能達(dá)系列數(shù)字式超聲波探傷儀基本操作

1、歐能達(dá) 系列數(shù)字式超聲波探傷儀基本操作 一， 開機(jī)。按【電源】1秒指示燈松開。二， 看工件，選擇合適探頭。 目的是超聲波所發(fā)射方向要與缺陷方向相交叉（相切）如：1.單晶直探頭用來檢測被檢測厚度30mm以上工件（鍛件、圓棒、中厚板等） 2.雙晶直探頭用來檢測被檢測厚度1m-50mm左右工件（薄板、薄鑄件等）3.斜探頭用來檢測焊縫，焊縫熔深2.5mm以上（鋼板焊縫）三， 打開預(yù)先保存通道。打開通道步驟：按【返回】3次左上角紅色箭頭3次按【+】 或【】按【打開通道】【返回】四， 設(shè)置【聲程】1. 用直探頭時(shí)【聲程】大于被檢厚度，注意不要讓始波不要超過第一格。按【聲程】（vj=0、10、20、50、1

2、00四檔循環(huán)）“數(shù)字”【回車】2. 用斜探頭時(shí)，【聲程】設(shè)置為母材厚度2倍或以上即可。五，調(diào)整【增益】1. 用直探頭時(shí)，先把探頭放在工件上用手穩(wěn)住，按【增益】（vj=0.1、1、2、6四檔循環(huán)）【+】或【】（使雜波高出水平線即可）。也可用公式直接算出2. 用斜探頭時(shí)，做DAC曲線時(shí)dB值為準(zhǔn)六，【定量】凍結(jié)當(dāng)前屏幕，按【+】（后移）或【】（前移）移動(dòng)黃色光標(biāo)（黃點(diǎn)）到所要缺陷波頂端，此時(shí)Sa值就是該缺陷波位置。再按【定量】1次恢復(fù)采集 七，【退格】為 刪除八，【回車】為 確定九，【返回】為 返回上一菜單十，【輸入法】為 輸入大小寫字母，保存波形數(shù)據(jù)的文件名需要字母時(shí)用十一，【】距離 【】水平【

3、】深度【幅】紅色波的高度 【 】缺陷當(dāng)量值或缺陷值一、 縱波直探頭調(diào)校（AVG【DGS】曲線制作快捷步驟） 1.開機(jī)后按【超聲探傷】按【探傷調(diào)節(jié)】按【通道選擇】按【通道號(hào)】按“+”或“”按【打開通道】【返回】2. 按【探頭參數(shù)】 鍵，將【探頭類型】用【+】/ 【】鍵調(diào)整為直探頭。（注：探頭類型改成直探頭后，【探頭K值】和【探頭角度】自動(dòng)默認(rèn)為0）按【返回】3.按【聲速設(shè)定】，選擇【鋼直聲速】,5900m/s按【返回】。4.按【零點(diǎn)偏移】，將【一次聲程】設(shè)置為“100mm”，檢查【聲速】是否為：5900m/s；調(diào)整【增益】為40，將直探頭放在CSK-IA試塊上，直探頭位置如圖1.按【零點(diǎn)測試】鍵

4、，移動(dòng)探頭找出100mm最高波，穩(wěn)住探頭不動(dòng)，屏幕的左下系統(tǒng)區(qū)出現(xiàn)“測試成功”，即完成直探頭零點(diǎn)調(diào)校。探頭放置位置如下圖1：圖1 圖25. “測試成功”后按【返回】2次，進(jìn)入主菜單1) 按【AVG曲線】【平底孔】，將【孔深度】設(shè)置為200mm,【孔直徑】設(shè)置為2mm，【波高】設(shè)置為50%2) 調(diào)整【增益】為40，將探頭放在CS-1-5試塊上，壓緊探頭，找到200mm孔深的最高波，此時(shí)按【測量】鍵，按照屏幕提示：穩(wěn)住探頭，等待門內(nèi)（紅線）最高波降到屏幕高度50%，按【回車】鍵確認(rèn)后，AVG曲線就制作完成了。此時(shí)屏幕上會(huì)顯示出兩條AVG曲線：一條代表【孔直徑】2mm的曲線，另外一條代表【孔當(dāng)量1】

5、3mm的曲線。直探頭探傷過程中，缺陷波會(huì)以這兩條曲線為標(biāo)準(zhǔn)，顯示出模擬的當(dāng)量大小，并在左邊的數(shù)值區(qū)顯示出DLa(當(dāng)量值)。l 如果使用【AVG曲線】【大平底】方法制作曲線，將【平底深】設(shè)置為225mm，【孔當(dāng)量1】設(shè)置為2mm，【孔當(dāng)量2】設(shè)置為3mm，【波高】設(shè)置為50%；將探頭放在CS-1-5試塊上，壓緊探頭，找到225mm大平底的最高波，此時(shí)按【測量】鍵，按照屏幕提示：穩(wěn)住探頭，等待門內(nèi)（紅線）最高波降到屏幕高度50%，【回車】鍵確認(rèn)后，大平底AVG曲線就制作完成了。6. 按【返回】2次進(jìn)入主菜單按【探傷調(diào)節(jié)】按【通道選擇】按【保存通道】結(jié)束。CS-1-5試塊圖形如上右圖2：二、橫波斜探

6、頭調(diào)校（DAC曲線制作快捷步驟）1. 開機(jī)后按【超聲探傷】按【探傷調(diào)節(jié)】按【通道選擇】按【通道號(hào)】按【+】或【】按【打開通道】【返回】2. 按【探頭參數(shù)】 鍵，將【探頭類型】用【+】或【】鍵調(diào)整為斜探頭； 【晶片尺寸】（乘號(hào)用小數(shù)點(diǎn)代替）、依次輸入【探頭頻率】、【探頭K值】設(shè)置正確，【探頭角度】自動(dòng)換算。將探頭與儀器連接好。按【返回】。3. 按【聲速設(shè)定】，選擇【鋼斜聲速】,3240m/s按【返回】。4. 按【零點(diǎn)偏移】，將【一次聲程】設(shè)置為“50mm”，檢查【當(dāng)前聲速】是否為：3240m/s；調(diào)整【增益】為40，將斜探頭放置在CSK-IA試塊的R50和R100的圓心處，（即將探頭放置距離試塊

7、圓弧端90mm左右）首先在靠R50弧面一側(cè)然后按【零點(diǎn)測試】鍵，左右方向移動(dòng)探頭找到R50最高波后就穩(wěn)住探頭，等待門內(nèi)（紅線）最高波自動(dòng)調(diào)整到屏幕高度80%，按【回車】；再移動(dòng)探頭靠R100弧面一側(cè)左右方向移動(dòng)探頭找到R100門內(nèi)（紅線）最高波后就穩(wěn)住探頭，按【回車】屏幕的系統(tǒng)區(qū)會(huì)顯示“測量成功”。如“測量失敗”重復(fù)上面步驟。5. 測量結(jié)束后，探頭穩(wěn)住不動(dòng)，請用鋼尺測量探頭前端到CSK-IA試塊R100端邊的距離（X），然后用100X所得到的數(shù)值就是探頭的前沿值，按【探頭前沿】輸入100X的數(shù)值。按【回車】；按【返回】。 如圖 6按【測試K值】，將【孔中心距】設(shè)置為30mm，【反射直徑】設(shè)置為

8、50mm，【標(biāo)稱K值】更改為此時(shí)該斜探頭K值，如K2即輸入2【回車】將探頭標(biāo)K2.0刻槽靠向ø50一側(cè)，按【K值測試】左右移動(dòng)探頭找出門內(nèi)（紅線）最高波自動(dòng)調(diào)整到屏幕高度80%，【回車】鍵K值測試完畢，并在左邊的數(shù)字顯示區(qū)自動(dòng)刷新實(shí)際測量的K值。按【返回】2次進(jìn)入主菜單。 如圖注：K值小于2.0的探頭（比如K1.0，K1.5的探頭），測試K值時(shí)需要將CSK-IA試塊上下翻轉(zhuǎn)過來測試K值，此時(shí)就需要將【孔中心距】設(shè)置為70mm，【反射直徑】設(shè)置為50mm。如下圖7.CSK-IIIA試塊上制作距離波幅曲線（DAC）l 按【DAC曲線】【手工新建】，將探頭對(duì)準(zhǔn)CSK-IIIA試塊上10mm深的孔，左右方向移動(dòng)探頭找到10mm孔深的最高波，調(diào)整【增益】將該最高波調(diào)整到屏幕高度80%，按【回車】鍵選定第一個(gè)點(diǎn)后，移動(dòng)探頭，找到下一點(diǎn)50mm深的孔的最高波，按【回車】制作完成（本儀器最少做2個(gè)點(diǎn)）。 如下圖l 按【DAC曲線】，調(diào)整【增益】為55，將探頭對(duì)準(zhǔn)CSK-IIIA試塊上10mm深的孔的反射波，【自動(dòng)新建】輸入數(shù)字10按【回車】左右方向移動(dòng)探頭找到深度10mm門內(nèi)（紅線）最高波（此時(shí)儀器自動(dòng)調(diào)整增益，按【回車