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1、LOGO20212021年年7 7月月1212日日 蘇州大學(xué)環(huán)境監(jiān)測(cè)崗位技藝培訓(xùn)蘇州大學(xué)環(huán)境監(jiān)測(cè)崗位技藝培訓(xùn)總結(jié)交流總結(jié)交流LOGO目目 錄錄LOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置1.1.11.1.1定義:定義:探測(cè)限是指在一定置信度程度下,某種丈量方法所能監(jiān)測(cè)到放射性活探測(cè)限是指在一定置信度程度下,某種丈量方法所能監(jiān)測(cè)到放射性活度度的最小期望值。的最小期望值。由于放射性活度的丈量都是經(jīng)過凈計(jì)數(shù)的丈量再由相關(guān)的公式計(jì)算得由于放射性活度的丈量都是經(jīng)過凈計(jì)數(shù)的丈量再由相關(guān)的公式計(jì)算得出出,因此通常所說的均為凈計(jì)數(shù)的探測(cè)限,給出的普通公式為:,因此通常所說的均為凈計(jì)數(shù)的探測(cè)限,給出的普通公式為:其中:其中

2、: 為最小可探測(cè)計(jì)數(shù)的期望值,為最小可探測(cè)計(jì)數(shù)的期望值, 為樣品丈量時(shí)間為樣品丈量時(shí)間與本與本底丈量時(shí)間一樣時(shí),本底計(jì)數(shù)的期望值。底丈量時(shí)間一樣時(shí),本底計(jì)數(shù)的期望值。1.11.1低程度放射性丈量中的探測(cè)限及其計(jì)算低程度放射性丈量中的探測(cè)限及其計(jì)算bDML65.4DLbMLOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置探測(cè)下限探測(cè)下限LLDnLLDn:最小可探測(cè)樣品的凈計(jì)數(shù),當(dāng)樣品丈量時(shí)間和:最小可探測(cè)樣品的凈計(jì)數(shù),當(dāng)樣品丈量時(shí)間和本底丈量時(shí)間相等時(shí),采用泊松分布規(guī)范,統(tǒng)計(jì)置信程度本底丈量時(shí)間相等時(shí),采用泊松分布規(guī)范,統(tǒng)計(jì)置信程度95%95%。最小可探測(cè)樣品凈計(jì)數(shù)最小可探測(cè)樣品凈計(jì)數(shù)LLDnLLDn由下式計(jì)算:

3、由下式計(jì)算:小于探測(cè)下限數(shù)據(jù)的處置有兩種方法:第一種是假設(shè)丈量結(jié)果小于探測(cè)下限數(shù)據(jù)的處置有兩種方法:第一種是假設(shè)丈量結(jié)果小小于探測(cè)下限,那么結(jié)果用于探測(cè)下限,那么結(jié)果用“LLD“LLD表示;第二種是在對(duì)結(jié)果進(jìn)表示;第二種是在對(duì)結(jié)果進(jìn)展展統(tǒng)計(jì)分析時(shí),對(duì)丈量結(jié)果低于探測(cè)下限的數(shù)據(jù),常規(guī)監(jiān)測(cè)思索統(tǒng)計(jì)分析時(shí),對(duì)丈量結(jié)果低于探測(cè)下限的數(shù)據(jù),常規(guī)監(jiān)測(cè)思索到最大平安原那么,取到最大平安原那么,取LLDLLD參與統(tǒng)計(jì)。參與統(tǒng)計(jì)。 1.2.1 1.2.1 計(jì)數(shù)率的誤差計(jì)數(shù)率的誤差bbntnLLD65. 4LOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置1.1.21.1.2計(jì)算:計(jì)算:在實(shí)踐丈量任務(wù)中,探測(cè)限的計(jì)算關(guān)鍵在于如何了

4、解本底計(jì)數(shù)在實(shí)踐丈量任務(wù)中,探測(cè)限的計(jì)算關(guān)鍵在于如何了解本底計(jì)數(shù) 。本底計(jì)數(shù)不能簡(jiǎn)單的了解為空白本底或空盒本底的丈量計(jì)數(shù)。不本底計(jì)數(shù)不能簡(jiǎn)單的了解為空白本底或空盒本底的丈量計(jì)數(shù)。不同的丈量方法,其詳細(xì)含義有著很大的差別,但無論什么丈量方同的丈量方法,其詳細(xì)含義有著很大的差別,但無論什么丈量方法,它都是計(jì)算待測(cè)樣品凈計(jì)數(shù)時(shí),從總計(jì)數(shù)中應(yīng)該扣除的一切法,它都是計(jì)算待測(cè)樣品凈計(jì)數(shù)時(shí),從總計(jì)數(shù)中應(yīng)該扣除的一切本底計(jì)數(shù)。如環(huán)境本底、康普頓散射本底、其他核素的干擾等。本底計(jì)數(shù)。如環(huán)境本底、康普頓散射本底、其他核素的干擾等??偪偤涂偤涂傉闪恐械谋镜子?jì)數(shù)指的是探測(cè)系統(tǒng)對(duì)空樣品盤丈量的計(jì)數(shù)丈量中的本底計(jì)數(shù)指的是

5、探測(cè)系統(tǒng)對(duì)空樣品盤丈量的計(jì)數(shù)。但該當(dāng)留意的是當(dāng)樣品厚度較大時(shí),由于樣品本身對(duì)。但該當(dāng)留意的是當(dāng)樣品厚度較大時(shí),由于樣品本身對(duì)、射射線有屏蔽作用,從而使實(shí)踐丈量時(shí)應(yīng)扣除的本底計(jì)數(shù)減少,所以線有屏蔽作用,從而使實(shí)踐丈量時(shí)應(yīng)扣除的本底計(jì)數(shù)減少,所以 需做適當(dāng)修正。需做適當(dāng)修正。1.11.1低程度放射性丈量中的探測(cè)限及其計(jì)算低程度放射性丈量中的探測(cè)限及其計(jì)算bMbMLOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置1.1.21.1.2計(jì)算:計(jì)算:當(dāng)用液體閃爍計(jì)數(shù)系統(tǒng)丈量某種當(dāng)用液體閃爍計(jì)數(shù)系統(tǒng)丈量某種放射性核素時(shí),放射性核素時(shí), 指的是探測(cè)指的是探測(cè)系統(tǒng)對(duì)不含待測(cè)核素的系統(tǒng)對(duì)不含待測(cè)核素的“純液體加進(jìn)閃爍液后所測(cè)得的本

6、底計(jì)純液體加進(jìn)閃爍液后所測(cè)得的本底計(jì)數(shù)。實(shí)踐上絕對(duì)純的液體是不存在的,因此用這種數(shù)。實(shí)踐上絕對(duì)純的液體是不存在的,因此用這種“純液體所純液體所丈量本底所得的探測(cè)限比應(yīng)有的探測(cè)限高。丈量本底所得的探測(cè)限比應(yīng)有的探測(cè)限高。當(dāng)用當(dāng)用HPGeHPGe譜儀分析某種待測(cè)核素時(shí),本底計(jì)數(shù)不但包含空本底凈計(jì)譜儀分析某種待測(cè)核素時(shí),本底計(jì)數(shù)不但包含空本底凈計(jì)數(shù),還包括丈量待測(cè)樣品的康普頓散射本底計(jì)數(shù),普通情況下,數(shù),還包括丈量待測(cè)樣品的康普頓散射本底計(jì)數(shù),普通情況下,核素的全能峰滿足正態(tài)分布,這樣可以導(dǎo)出覆蓋全能峰時(shí)應(yīng)取的核素的全能峰滿足正態(tài)分布,這樣可以導(dǎo)出覆蓋全能峰時(shí)應(yīng)取的譜線本底寬度為譜線本底寬度為2.5

7、4FWHM2.54FWHM半頂峰寬。半頂峰寬。1.11.1低程度放射性丈量中的探測(cè)限及其計(jì)算低程度放射性丈量中的探測(cè)限及其計(jì)算bMLOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置放射性丈量,由于核衰變事件本身的統(tǒng)計(jì)性和探測(cè)器記錄粒子放射性丈量,由于核衰變事件本身的統(tǒng)計(jì)性和探測(cè)器記錄粒子的隨機(jī)性,丈量數(shù)據(jù)本身也服從統(tǒng)計(jì)規(guī)律。各次丈量數(shù)據(jù)總圍的隨機(jī)性,丈量數(shù)據(jù)本身也服從統(tǒng)計(jì)規(guī)律。各次丈量數(shù)據(jù)總圍繞其平均值上下動(dòng)搖,當(dāng)丈量次數(shù)足夠多時(shí),放射性丈量數(shù)據(jù)繞其平均值上下動(dòng)搖,當(dāng)丈量次數(shù)足夠多時(shí),放射性丈量數(shù)據(jù)依然服從高斯分布。依然服從高斯分布。 對(duì)于一次丈量對(duì)于一次丈量N N,其規(guī)范誤差:,其規(guī)范誤差: 相對(duì)規(guī)范誤差:相

8、對(duì)規(guī)范誤差:1.2 1.2 統(tǒng)計(jì)誤差統(tǒng)計(jì)誤差NNNNNNNN1LOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置設(shè)在時(shí)間設(shè)在時(shí)間t t內(nèi)記錄了內(nèi)記錄了N N個(gè)計(jì)數(shù),那么計(jì)數(shù)率個(gè)計(jì)數(shù),那么計(jì)數(shù)率n=N/tn=N/t,根據(jù)誤差傳,根據(jù)誤差傳播播公式,計(jì)數(shù)率公式,計(jì)數(shù)率n n的規(guī)范誤差:的規(guī)范誤差:計(jì)數(shù)率的相對(duì)誤差:計(jì)數(shù)率的相對(duì)誤差: 1.2.1 1.2.1 計(jì)數(shù)率的誤差計(jì)數(shù)率的誤差Nntnnnn1/tntNtNn222LOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置由于本底的存在,會(huì)使探測(cè)器測(cè)得的計(jì)數(shù)添加,所以應(yīng)將它們由于本底的存在,會(huì)使探測(cè)器測(cè)得的計(jì)數(shù)添加,所以應(yīng)將它們扣除,這時(shí),為求得凈計(jì)數(shù)率需求進(jìn)展兩次丈量:第一次在時(shí)扣除,

9、這時(shí),為求得凈計(jì)數(shù)率需求進(jìn)展兩次丈量:第一次在時(shí)間間tbtb內(nèi)測(cè)得本底計(jì)數(shù)為內(nèi)測(cè)得本底計(jì)數(shù)為NbNb,第二次在時(shí)間,第二次在時(shí)間tsts內(nèi)測(cè)得樣品計(jì)數(shù)內(nèi)測(cè)得樣品計(jì)數(shù)NsNs,凈計(jì)數(shù)率:凈計(jì)數(shù)率:凈計(jì)數(shù)率的規(guī)范誤差:凈計(jì)數(shù)率的規(guī)范誤差: 1.2.2 1.2.2 存在本底時(shí)誤差的計(jì)算存在本底時(shí)誤差的計(jì)算bsbstNtNnnnbs0bsbstntntNtNbsbsn220LOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置1.3.11.3.1有效數(shù)字的位數(shù)和數(shù)位:有效數(shù)字的位數(shù)和數(shù)位:當(dāng)用一個(gè)近似數(shù)表示一個(gè)量值時(shí),通常規(guī)定其誤差的絕對(duì)值不得超當(dāng)用一個(gè)近似數(shù)表示一個(gè)量值時(shí),通常規(guī)定其誤差的絕對(duì)值不得超 過末尾有效數(shù)字的過

10、末尾有效數(shù)字的0.5(0.5(只保管一位可疑數(shù)字只保管一位可疑數(shù)字) )。對(duì)某一丈量數(shù)據(jù),從該數(shù)左邊第一個(gè)不為零的數(shù)字算起到包括零的最末對(duì)某一丈量數(shù)據(jù),從該數(shù)左邊第一個(gè)不為零的數(shù)字算起到包括零的最末一位數(shù)字為止的全部數(shù)字,都稱為有效數(shù)字。一位數(shù)字為止的全部數(shù)字,都稱為有效數(shù)字。某一數(shù)據(jù)有效數(shù)字的位數(shù)是指該數(shù)據(jù)的有效數(shù)字有幾位?某一數(shù)據(jù)有效數(shù)字的位數(shù)是指該數(shù)據(jù)的有效數(shù)字有幾位?數(shù)據(jù)中某一位有效數(shù)字的數(shù)位指的是該位數(shù)字是個(gè)位、十還是百位、?數(shù)據(jù)中某一位有效數(shù)字的數(shù)位指的是該位數(shù)字是個(gè)位、十還是百位、? 1.3 1.3 丈量數(shù)據(jù)的有效數(shù)字丈量數(shù)據(jù)的有效數(shù)字丈量數(shù)據(jù) 328103 32.8 3.281

11、0-3 0.050 0.0500 有效數(shù)字位數(shù) 33323第2位有效數(shù)字?jǐn)?shù)位 萬(wàn)位個(gè)位小數(shù)點(diǎn)后4位 小數(shù)點(diǎn)后3位小數(shù)點(diǎn)后3位LOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置1.3.21.3.2數(shù)字修約規(guī)那么數(shù)字修約規(guī)那么過去過去通常運(yùn)用通常運(yùn)用“四舍五入的規(guī)那么。四舍五入的規(guī)那么。如今如今引薦運(yùn)用引薦運(yùn)用“四舍六入五湊偶規(guī)那么四舍六入五湊偶規(guī)那么: :以被保管數(shù)字的末位為基準(zhǔn),以被保管數(shù)字的末位為基準(zhǔn),假設(shè)遇到它后面的尾數(shù)小于假設(shè)遇到它后面的尾數(shù)小于5(45(4以下以下) ),那么該尾數(shù)被舍棄;,那么該尾數(shù)被舍棄;假設(shè)遇到它后面的尾數(shù)大于假設(shè)遇到它后面的尾數(shù)大于5(65(6以上以上) ),那么末位數(shù)進(jìn),那么末

12、位數(shù)進(jìn)1 1;假設(shè)尾數(shù)恰為假設(shè)尾數(shù)恰為5 5,那么要根據(jù)被保管數(shù)字的末位數(shù)而定。當(dāng)末尾數(shù),那么要根據(jù)被保管數(shù)字的末位數(shù)而定。當(dāng)末尾數(shù)為奇數(shù)時(shí),末尾數(shù)進(jìn)為奇數(shù)時(shí),末尾數(shù)進(jìn)1 1;當(dāng)末尾數(shù)為偶數(shù)時(shí),尾數(shù);當(dāng)末尾數(shù)為偶數(shù)時(shí),尾數(shù)5 5被舍棄。被舍棄。 1.3 1.3 丈量數(shù)據(jù)的有效數(shù)字丈量數(shù)據(jù)的有效數(shù)字LOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置 1.3.2 1.3.2數(shù)字修約規(guī)那么數(shù)字修約規(guī)那么對(duì)一個(gè)數(shù)據(jù),不應(yīng)多次修約,只能進(jìn)展一次性修約。對(duì)一個(gè)數(shù)據(jù),不應(yīng)多次修約,只能進(jìn)展一次性修約。有一個(gè)實(shí)踐丈量的數(shù)據(jù)有一個(gè)實(shí)踐丈量的數(shù)據(jù)0.811490.81149。取。取4 4位有效數(shù)字時(shí),應(yīng)得位有效數(shù)字時(shí),應(yīng)得0.81

13、150.8115;再再取其取其3 3位時(shí),為位時(shí),為0.8120.812;假設(shè)直接由原數(shù)據(jù)?。患僭O(shè)直接由原數(shù)據(jù)取3 3位有效數(shù)字,那么應(yīng)為位有效數(shù)字,那么應(yīng)為0.8110.811。3 3位有效數(shù)字取位有效數(shù)字取0.8110.811是正確的。是正確的。 1.3 1.3 丈量數(shù)據(jù)的有效數(shù)字丈量數(shù)據(jù)的有效數(shù)字原數(shù)據(jù) 299346 0.00003775 196500 0.002300 取3位有效數(shù)字299103 3.7810-5 1.961052.3010-3LOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置1.3.31.3.3數(shù)字運(yùn)算規(guī)那么:數(shù)字運(yùn)算規(guī)那么:1).1).幾個(gè)數(shù)作加、減運(yùn)算:幾個(gè)數(shù)作加、減運(yùn)算: 以小數(shù)

14、位數(shù)最少的數(shù)為基準(zhǔn),其它各數(shù)都湊成比該數(shù)多以小數(shù)位數(shù)最少的數(shù)為基準(zhǔn),其它各數(shù)都湊成比該數(shù)多1 1位小數(shù)的位小數(shù)的數(shù)參與運(yùn)算;運(yùn)算結(jié)果取小數(shù)位數(shù)最少的位數(shù)。例如:數(shù)參與運(yùn)算;運(yùn)算結(jié)果取小數(shù)位數(shù)最少的位數(shù)。例如: 183.4396 183.43960.178290.1782934.534.5183.44183.440.180.1834.534.5218.12218.12218.1218.1; 159.4-83.46-16.41 159.4-83.46-16.4159.5359.5359.559.5。 2).2).幾個(gè)數(shù)作乘、除運(yùn)算:幾個(gè)數(shù)作乘、除運(yùn)算: 各數(shù)中以有效數(shù)字位數(shù)最少的數(shù)為基準(zhǔn),其它各數(shù)

15、都湊成比該數(shù)各數(shù)中以有效數(shù)字位數(shù)最少的數(shù)為基準(zhǔn),其它各數(shù)都湊成比該數(shù)多多1 1位有效數(shù)字的數(shù)參與運(yùn)算;運(yùn)算結(jié)果取小數(shù)位數(shù)最少的位數(shù)。位有效數(shù)字的數(shù)參與運(yùn)算;運(yùn)算結(jié)果取小數(shù)位數(shù)最少的位數(shù)。 1.3 1.3 丈量數(shù)據(jù)的有效數(shù)字丈量數(shù)據(jù)的有效數(shù)字LOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置1.3.41.3.4有效數(shù)字位數(shù)確實(shí)定:有效數(shù)字位數(shù)確實(shí)定:直接丈量讀數(shù)的有效數(shù)字位數(shù)取決于丈量設(shè)備的精度。丈量讀數(shù)中,最直接丈量讀數(shù)的有效數(shù)字位數(shù)取決于丈量設(shè)備的精度。丈量讀數(shù)中,最多只保管一位可疑數(shù)字,這一位可疑數(shù)字來源于估計(jì)值。多只保管一位可疑數(shù)字,這一位可疑數(shù)字來源于估計(jì)值。在放射性丈量中,射線強(qiáng)度的間接丈量得到的是射

16、線計(jì)數(shù),能譜分析中在放射性丈量中,射線強(qiáng)度的間接丈量得到的是射線計(jì)數(shù),能譜分析中得到的是特征射線的峰面積,直接讀數(shù)中都沒有可疑數(shù)字,全部是有得到的是特征射線的峰面積,直接讀數(shù)中都沒有可疑數(shù)字,全部是有效數(shù)字。但由此計(jì)算出計(jì)數(shù)率效數(shù)字。但由此計(jì)算出計(jì)數(shù)率( (計(jì)數(shù)計(jì)數(shù)/ /每秒或計(jì)數(shù)每秒或計(jì)數(shù)/ /每分每分) )時(shí),需求思索時(shí),需求思索如何確定有效數(shù)字的位數(shù)。如何確定有效數(shù)字的位數(shù)。計(jì)算機(jī)的運(yùn)用使計(jì)算結(jié)果的數(shù)字位數(shù)大大添加。數(shù)字位數(shù)多并不闡明丈計(jì)算機(jī)的運(yùn)用使計(jì)算結(jié)果的數(shù)字位數(shù)大大添加。數(shù)字位數(shù)多并不闡明丈量結(jié)果越準(zhǔn)確。有效數(shù)字位數(shù)應(yīng)根據(jù)對(duì)丈量誤差的要求來確定。量結(jié)果越準(zhǔn)確。有效數(shù)字位數(shù)應(yīng)根據(jù)對(duì)丈

17、量誤差的要求來確定。1.3 1.3 丈量數(shù)據(jù)的有效數(shù)字丈量數(shù)據(jù)的有效數(shù)字LOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置1.4.11.4.1氣溶膠總氣溶膠總總總的數(shù)據(jù)處置的數(shù)據(jù)處置C:UsersdellDesktopC:UsersdellDesktop蘇大蘇大 總放總放 氣氣溶膠總放數(shù)據(jù)處置溶膠總放數(shù)據(jù)處置羅奇軍羅奇軍.xls.xls:1.41.4實(shí)踐操作中的數(shù)據(jù)處置實(shí)踐操作中的數(shù)據(jù)處置LOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置1.4.21.4.2土壤樣品中土壤樣品中譜數(shù)據(jù)分析譜數(shù)據(jù)分析C:UsersdellDesktopC:UsersdellDesktop蘇大蘇大gammagamma譜譜譜分析丈量數(shù)據(jù)記錄表譜分析丈量

18、數(shù)據(jù)記錄表-1511003601.xls-1511003601.xls:例如:例如:K-40K-40,對(duì)應(yīng)能量,對(duì)應(yīng)能量14601460、8KeV8KeV1.41.4實(shí)踐操作中的數(shù)據(jù)處置實(shí)踐操作中的數(shù)據(jù)處置LOGO2.2.譜儀譜儀譜儀的主要組成部分有:探頭、前置放大器、主放大器、脈沖幅度譜儀的主要組成部分有:探頭、前置放大器、主放大器、脈沖幅度分析器,計(jì)算機(jī)。分析器,計(jì)算機(jī)。其框圖如下所示:其框圖如下所示:2.12.1譜儀的組成部分譜儀的組成部分LOGO2.2.譜儀譜儀采用高純度的采用高純度的 P P型型GeGe單晶,一端外表經(jīng)過蒸發(fā)分散或加速器離子注入施主雜質(zhì)單晶,一端外表經(jīng)過蒸發(fā)分散或加速

19、器離子注入施主雜質(zhì)( (如如磷或鋰磷或鋰) )構(gòu)成構(gòu)成 N N區(qū)和區(qū)和 N+ N+,并構(gòu)成,并構(gòu)成P-NP-N結(jié)。另一端蒸金屬構(gòu)成結(jié)。另一端蒸金屬構(gòu)成 P+ P+,并作為入射窗。,并作為入射窗。兩端引出電極。帶電粒子在半導(dǎo)體探測(cè)器的靈敏體積內(nèi)產(chǎn)生電子空穴對(duì),電子兩端引出電極。帶電粒子在半導(dǎo)體探測(cè)器的靈敏體積內(nèi)產(chǎn)生電子空穴對(duì),電子空穴對(duì)在外電場(chǎng)的作用下漂移而輸出信號(hào)??昭▽?duì)在外電場(chǎng)的作用下漂移而輸出信號(hào)。在運(yùn)用時(shí),首先向杜瓦瓶中加灌液氮,使在運(yùn)用時(shí),首先向杜瓦瓶中加灌液氮,使HPGeHPGe探測(cè)器徹底冷卻后方能加載高壓至探測(cè)器徹底冷卻后方能加載高壓至額定值。用多額定值。用多射線放射源進(jìn)展能量刻度

20、,用規(guī)范放射源進(jìn)展效率刻度,其中效射線放射源進(jìn)展能量刻度,用規(guī)范放射源進(jìn)展效率刻度,其中效率刻度比較費(fèi)時(shí)且比較昂貴,由于需求一系列規(guī)范源,但對(duì)測(cè)定放射性核素的活率刻度比較費(fèi)時(shí)且比較昂貴,由于需求一系列規(guī)范源,但對(duì)測(cè)定放射性核素的活度是至關(guān)重要的。測(cè)試樣品時(shí),需將樣品放置與效率刻度時(shí)一樣的位置,且樣品度是至關(guān)重要的。測(cè)試樣品時(shí),需將樣品放置與效率刻度時(shí)一樣的位置,且樣品盒的大小、材質(zhì)與效率刻度的規(guī)范源一致,從測(cè)試樣品的能譜中,分析待測(cè)核素盒的大小、材質(zhì)與效率刻度的規(guī)范源一致,從測(cè)試樣品的能譜中,分析待測(cè)核素的能峰,得到其計(jì)數(shù)率,再除以效率和發(fā)射幾率,即得到待測(cè)樣品的放射性活度的能峰,得到其計(jì)數(shù)率

21、,再除以效率和發(fā)射幾率,即得到待測(cè)樣品的放射性活度。2.2 HPGe2.2 HPGe探測(cè)器的任務(wù)原理探測(cè)器的任務(wù)原理LOGO2.2.譜儀譜儀能量分辨率:對(duì)于能量分辨率:對(duì)于HPGeHPGe譜儀,分辨率通常用對(duì)譜儀,分辨率通常用對(duì)Co-60Co-60的的1.33MeV1.33MeV全能全能峰的半寬度表示,典型數(shù)據(jù)是峰的半寬度表示,典型數(shù)據(jù)是HWPM=1.9KeVHWPM=1.9KeV探測(cè)效率:普通分為絕對(duì)效率與本征效率,影響探測(cè)效率的主要要素探測(cè)效率:普通分為絕對(duì)效率與本征效率,影響探測(cè)效率的主要要素有幾何條件、作用幾率探測(cè)介質(zhì)的原子序數(shù)越高,探測(cè)效率越高有幾何條件、作用幾率探測(cè)介質(zhì)的原子序數(shù)越

22、高,探測(cè)效率越高、記錄效率。、記錄效率。峰總比:指全能峰下的脈沖數(shù)與全譜下的脈沖數(shù)之比。峰總比:指全能峰下的脈沖數(shù)與全譜下的脈沖數(shù)之比。峰康比:峰中心道最大計(jì)數(shù)與康普頓坪內(nèi)平均計(jì)數(shù)之比。它闡明了一峰康比:峰中心道最大計(jì)數(shù)與康普頓坪內(nèi)平均計(jì)數(shù)之比。它闡明了一個(gè)譜線的峰落在另一個(gè)譜線的康普頓坪上能否明晰的表現(xiàn)出來。個(gè)譜線的峰落在另一個(gè)譜線的康普頓坪上能否明晰的表現(xiàn)出來。本底:主要取決于晶體大小和屏蔽好壞。本底:主要取決于晶體大小和屏蔽好壞。2.3 2.3 譜儀的主要技術(shù)目的譜儀的主要技術(shù)目的LOGO2.2.譜儀譜儀能量刻度是指確定能譜中多道分析器的道址與能量刻度是指確定能譜中多道分析器的道址與射線

23、能量的關(guān)系,也射線能量的關(guān)系,也就是利用知能量的就是利用知能量的放射源測(cè)出對(duì)應(yīng)能量的峰位,然后做出能量與峰放射源測(cè)出對(duì)應(yīng)能量的峰位,然后做出能量與峰位道址的關(guān)系曲線。位道址的關(guān)系曲線。適用于能量和效率刻度的常用核素及主要參數(shù):適用于能量和效率刻度的常用核素及主要參數(shù): 2.4 2.4 譜儀的能量刻度譜儀的能量刻度LOGO2.2.譜儀譜儀在進(jìn)展體源刻度時(shí),選擇的刻度源必需滿足要求,但由于在在進(jìn)展體源刻度時(shí),選擇的刻度源必需滿足要求,但由于在分析中分析中,被丈量的介質(zhì)種類繁多,不能夠把每種介質(zhì)都選擇刻度源介質(zhì),所,被丈量的介質(zhì)種類繁多,不能夠把每種介質(zhì)都選擇刻度源介質(zhì),所以在實(shí)踐運(yùn)用中,即使介質(zhì)差

24、別較大,也可經(jīng)過自吸收矯正得到較準(zhǔn)以在實(shí)踐運(yùn)用中,即使介質(zhì)差別較大,也可經(jīng)過自吸收矯正得到較準(zhǔn)確的結(jié)果。確的結(jié)果。計(jì)算公式如下:計(jì)算公式如下:其中其中NN刻度源在能量刻度源在能量E E處的凈峰面積;處的凈峰面積;T-T-刻度譜丈量的活時(shí)間;刻度譜丈量的活時(shí)間; f- f-能量為能量為E E的的射線的發(fā)射率;射線的發(fā)射率;A-A-為刻度源的活度為刻度源的活度 。 2.52.5譜儀的全能峰效率刻度譜儀的全能峰效率刻度AfTNE)(LOGO2.2.譜儀譜儀對(duì)于對(duì)于HPGeHPGe譜儀,全能峰效率與能量關(guān)系常用對(duì)數(shù)多項(xiàng)式表示:譜儀,全能峰效率與能量關(guān)系常用對(duì)數(shù)多項(xiàng)式表示: 2.5 2.5 譜儀的全能峰效率刻度譜儀的全能峰效率刻度)(ln)ln(10Eanii1.61.82.02.22.42.62.83.03.2-2.2-2.1-2.0-1.9-1.8-1.7-1.6-1.5-1.4 B EFF2BLog()Log(E)(keV)LOGO3.Cs-3.Cs-分析方法分析方法實(shí)

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