液晶面板不良現(xiàn)象Defect Code的命名及現(xiàn)象簡介

1、AUO Proprietary & ConfidentialAUO Proprietary & Confidential 作者作者 ：Alice zhu生效日期生效日期 ：2006.10.20AUO Proprietary & Confidential目目 錄錄一一.點(diǎn)類點(diǎn)類- DA二二.BL類類-DB 三三.Cell類類-DC 四四.組裝類組裝類-DM五五.POL類類-DP六六.Function類類-TM&FSAUO Proprietary & Confidential成因：1.Array元件特性不良; 2.Cell段導(dǎo)電性Particle造成電荷的Leakage 檢測畫面 1. L0階 2

2、. L116階 3. RGB 4. 1/5gomi 現(xiàn)象敘述 1.50公分明顯可見的紅色、綠色、藍(lán)色小光點(diǎn)。 2.如下圖所示。 3.完整一顆Sub pixel發(fā)亮則稱為亮點(diǎn)。 DA11 亮點(diǎn)亮點(diǎn)(Bright Point )AUO Proprietary & Confidential成因：1.Array金屬殘留;Cell段導(dǎo)電性突起物 2.Cell段導(dǎo)電性突起物 檢測畫面 1. L0階 2. L116階 3. RGB 4. 1/5gomi現(xiàn)象敘述 1.50公分可見的紅色、綠色或藍(lán)色忽亮忽暗的小光點(diǎn)。 2.其閃爍的速度不定有的快有的慢。 3.通常為完整一顆的Sub pixel。 DA111 閃爍

3、亮點(diǎn)閃爍亮點(diǎn)(Flash Point)AUO Proprietary & Confidential成因：1. Array金屬殘留 2.Cell段導(dǎo)電性突起物 3.Cell段導(dǎo)電性突起物Repair Fail 檢測畫面1. L0階 2. L116階 3. RGB 4. 1/5gomi現(xiàn)象敘述1.因為觸碰產(chǎn)品表面而出現(xiàn)的50公分可見的紅色、綠 色或藍(lán)色小光點(diǎn)。 2.出現(xiàn)後有可能變成亮點(diǎn)也可能變成閃爍亮點(diǎn)。 3.通常為完整的一顆Sub pixel。 DA112 壓力點(diǎn)壓力點(diǎn) (Press Point)AUO Proprietary & Confidential成因：1.PI 刮傷 2. ITO破洞

4、3.Cell製程中的污染檢測畫面 1. L0階 2. L116階 3. RGB 4. 1/5gomi現(xiàn)象敘述 1. 50公分輕微可見的紅色、綠色或藍(lán)色微小光點(diǎn)。 2. 沒有固定形狀且常數(shù)顆或成群出現(xiàn)。 3.通常為1/3顆的Sub pixel。 DA113 碎亮點(diǎn)碎亮點(diǎn)(Small BP)AUO Proprietary & Confidential成因：1.ITO殘留 2.AS殘留 檢測畫面1. L0階 2. L116階 3. RGB 4. 1/5gomi 現(xiàn)象敘述1. 50公分可見的混色小光點(diǎn)。 2. 任何兩相鄰亮點(diǎn)的四角或四邊有連接情形者皆稱之. DA12 二連亮點(diǎn)二連亮點(diǎn)(BP-Pair)

5、AUO Proprietary & Confidential成因：1.Array元件特性不良 2.O/L Shift 3. Cell製程中導(dǎo)電性Particle檢測畫面1. L0階 2. L116階 3. RGB 4. 1/5gomi現(xiàn)象敘述1. 50公分可見的混色或偏白色的光點(diǎn)。 2. 任何三顆相鄰亮點(diǎn)者皆稱之。 DA13 聚集亮點(diǎn)聚集亮點(diǎn)(Point-Cluster) AUO Proprietary & Confidential成因： 1.Array元件特性不良; 2.Cell段導(dǎo)電性Particle造成電荷的Leakage 檢測畫面 L0階(黑畫面)。 現(xiàn)象敘述裸視可見, 50公分正視不

6、可見,放大鏡看占滿整個subpixel DA114 微亮點(diǎn)微亮點(diǎn) (small bright dot)AUO Proprietary & Confidential成因：1.Array元件特性不良; 2.Cell段導(dǎo)電性Particle造成電荷的Leakage 檢測畫面1. L0階 2. L116階 3. RGB 4. 1/5gomi現(xiàn)象敘述1. 50公分可見的綠色的光點(diǎn)。 DA16 綠點(diǎn)綠點(diǎn)(Green Bright Point)AUO Proprietary & Confidential成因：1.ITO殘留 2.AS殘留檢測畫面1. L0階 2. L116階 3. RGB 4. 1/5gom

7、i現(xiàn)象敘述1.50公分可見的垂直長條型綠色的光點(diǎn)。 DA161 垂直二連綠亮點(diǎn)垂直二連綠亮點(diǎn)(V-Pair Green Bright Dot)AUO Proprietary & Confidential成因：1.Array元件特性不良; 2.刮傷 3.Cell段導(dǎo)電性Particle 檢測畫面L0階畫面、L116階畫面。 現(xiàn)象敘述50公分可見的兩顆靠近的亮點(diǎn)。 DA17靠近亮點(diǎn)靠近亮點(diǎn)(BP-Near)AUO Proprietary & Confidential成因：1.Array元件特性不良 2. AS殘留 3.ITO殘留 4.Cell製程中導(dǎo)電性Particle 5.刮傷 檢測畫面1. L

8、0,L48,L92,L116,L255,RGB 現(xiàn)象敘述1 .50公分明顯可見的紅色、綠色或藍(lán)色小光 點(diǎn)和暗點(diǎn) ，總數(shù)合計超過規(guī)格。 DA181亮暗點(diǎn)總數(shù)亮暗點(diǎn)總數(shù) (Point-Count)AUO Proprietary & Confidential成因：1.Array元件與Gate Line之間有Leakage 2.ITO殘留 3.AS殘留 檢測畫面L0,L48,L92,L116,L255,RGB 現(xiàn)象敘述1.同一畫面中同時存在亮點(diǎn)與暗點(diǎn)並有兩點(diǎn)間距離不 合規(guī)格時。 DA182 亮暗點(diǎn)間距亮暗點(diǎn)間距 (DP-BP near)AUO Proprietary & Confidential成因：

9、Array元件與Gate Line之間有Leakage 檢測畫面RGB,L255階畫面。 現(xiàn)象敘述1. 50公分明顯可見的黑色小點(diǎn)。 2.Sub pixel 未正常發(fā)亮。 DA21 暗點(diǎn)暗點(diǎn) (Dark Point)AUO Proprietary & Confidential成因：Array元件與Gate Line之間有Leakage 檢測畫面W/R/G/B ,L255階畫面。 現(xiàn)象敘述 1.50公分明顯可見的黑色小點(diǎn)。 2.Sub pixel 未正常發(fā)亮。 DA22 二連暗點(diǎn)二連暗點(diǎn)(DP-Pair)AUO Proprietary & Confidential成因：Array元件與Gate

10、Line之間有Leakage 檢測畫面W/R/G/B, L255階畫面。 現(xiàn)象敘述1. 50公分明顯可見三顆或以上相連接的黑色小點(diǎn)。 2.Sub pixel 未正常發(fā)亮。 DA23 聚集暗點(diǎn)聚集暗點(diǎn)(Cluster Point)AUO Proprietary & Confidential成因：1.刮傷 2.Array元件與Gate Line之間有Leakage檢測畫面R/G/B ,L255階畫面 。 現(xiàn)象敘述 50公分明顯可見兩顆靠近的小暗點(diǎn)。 DA231 靠近暗點(diǎn)靠近暗點(diǎn)(DP-Near)AUO Proprietary & Confidential成因：光罩曝光部分重疊 檢測畫面G92階 畫

11、面。 現(xiàn)象敘述1.50公分明顯可見塊狀、條狀或十字形顏色較深的區(qū) 塊。 2.常發(fā)生位置如下: DA31 面繼面繼 Mura (Shot Mura)AUO Proprietary & Confidential成因：1.背光板內(nèi)的導(dǎo)光板或其他膜片尺吋過大 2.背光板Frame設(shè)計不良尺吋過小或製程出問題造成Frame 尺吋過小 3.背光板內(nèi)的導(dǎo)光板或其他膜片經(jīng)Agine後熱漲冷縮造成檢測畫面L255 畫面 。 現(xiàn)象敘述 40度側(cè)視明顯可見波浪狀痕跡。 DB33 P Mura(P Mura)AUO Proprietary & Confidential成因：1背光板膜片設(shè)計不良 2.背光板內(nèi)的膜片在燈

12、管兩側(cè)週邊補(bǔ)償印刷太過檢測畫面L0 畫面 。 現(xiàn)象敘述畫面四角出現(xiàn)偏亮白色的色塊但輪廓不明顯， DB34 角角Mura(Horn Mura)AUO Proprietary & Confidential成因：1.背光板膜片設(shè)計不良 2.背光板內(nèi)的膜片在燈管側(cè)週邊補(bǔ)償印刷太過檢測畫面 L255畫面 。 現(xiàn)象敘述 在產(chǎn)品燈管側(cè)可見一條或一段顏色較暗的色帶。 DB4 暗線暗線(Dark Line)AUO Proprietary & Confidential成因：1.背光板原材不良本身即有背光板髒污 2.背光板經(jīng)組裝或重工時組裝不慎造成檢測畫面L255畫面 。 現(xiàn)象敘述1.50公分側(cè)視(或由上往下看)即

13、可見明顯的一條亮度比 全白的背景更亮更白的白色線或點(diǎn)，直徑約為1-3mm 不等。 2.以正視會變淡或看不見。 DB51 背光板刮傷背光板刮傷/Prism損傷損傷 (B/L scratch/ Prism sheet damage)AUO Proprietary & Confidential成因：1背光板原材不良本身即有背光板髒污 2.背光板經(jīng)組裝或重工時組裝不慎造成檢測畫面 L255 畫面 。 現(xiàn)象敘述1.50公分可見大小大於背光板異物且形狀與色差均較背 光板異物模糊小霧狀物體。 2.以15倍放大鏡(15X Lupe)無法看出明顯異物者。 DB52 背光板髒污背光板髒污 (B/L dirty)A

14、UO Proprietary & Confidential成因：1人員操作失誤。 2.原材不良檢測畫面L255(63) 畫面 。 現(xiàn)象敘述 產(chǎn)品因燈管損壞而造成該區(qū)域顏色偏暗。 DB6 Lamp 暗暗/BLU 暗暗(lamp dark)AUO Proprietary & Confidential成因：1.泛指一般末定義的背光板原材不良 DB7 背光源材料不良背光源材料不良(BackLight Material Damage)AUO Proprietary & Confidential成因：1.背光板原材不良本身燈源線材有斷裂情況 2.測試人員操作不良燈源線材有斷裂情況 DB8燈管燈管shutd

15、own (Lamp shutdown)AUO Proprietary & Confidential成因：1.人員在組裝時造成的particle, 2. B/L來料時就有的particle, 3.cell表面的particle 檢測畫面1. L255 L1/5gomi 現(xiàn)象敘述1.用放大鏡看, particle在RGB的下面,并且會隨視 線 的動而動. DB11 下下gomi(B/L Particle )AUO Proprietary & Confidential成因:背光板內(nèi)的導(dǎo)光板或其他膜片上有殘膠或透明異物 檢測畫面L255(63)畫面 。 現(xiàn)象敘述1.50公分正視即可見明顯的一顆亮度比全

16、白的背景更亮 更白的白色點(diǎn)，直徑約為1-10mm不等。 2.以上視或其他角度會變淡或看不見 DB12背光板白點(diǎn)背光板白點(diǎn)(B/L white spot)AUO Proprietary & Confidential成因： 1.Bezel變形或間隙過大 2.遮光膠帶貼付對位不準(zhǔn) 3.玻璃漏光 檢測畫面L0 畫面 或漢字框畫面。 現(xiàn)象敘述漏光係指鐵框與玻璃間所出現(xiàn)的條狀白色、黃色、褐 色或藍(lán)色亮線，長度不一定，有時呈數(shù)段出現(xiàn)。 DB21漏光漏光(Light leakage)B/L漏光鐵框漏光AUO Proprietary & Confidential成因： 1.Bezel變形或間隙過大 2.遮光膠帶

17、貼付對位不準(zhǔn) 3.玻璃漏光檢測畫面漢字字框畫面 。 現(xiàn)象敘述畫面週圍的有色細(xì)線斷掉或?qū)挾雀淖儭?DB22 漢字字框缺陷漢字字框缺陷(waku)AUO Proprietary & Confidential成因：背光板內(nèi)的導(dǎo)光板或其他膜片組裝不良或尺寸不合 檢測畫面L255 畫面 。 現(xiàn)象敘述畫面任一邊出現(xiàn)顯示區(qū)與BM區(qū)間的亮白色細(xì)線，仔細(xì) 看通常呈一邊較細(xì)一邊較粗的現(xiàn)象 DB23背光板內(nèi)層偏移背光板內(nèi)層偏移(Black-Light Sheet Shift)AUO Proprietary & Confidential成因：背光板內(nèi)的導(dǎo)光板或其他膜片定位片尺吋不對或組裝偏移 檢測畫面GB128畫面

18、。 現(xiàn)象敘述通常出現(xiàn)在畫面兩側(cè)(或單側(cè))的2/3高度左右(依產(chǎn)品別 位置可能有所差異)，有的呈亮白色有的呈暗黑色 ，形 狀為小長方形但輪廓呈暈開現(xiàn)象。 DB31耳朵耳朵 Mura (Ear Mura)AUO Proprietary & Confidential成因：1.背光板內(nèi)的導(dǎo)光板或其他膜片燈管側(cè)補(bǔ)償印刷過度 2.背光板設(shè)計不良，燈管過亮檢測畫面L0 畫面 ,L255階 .現(xiàn)象敘述在產(chǎn)品燈管側(cè)可見一條或一段顏色較亮的色帶。 DB32 亮度亮度 Mura (Kido Mura)AUO Proprietary & Confidential成因：液晶氣泡可分為真空泡和空氣泡，一般來說真空泡形成

19、原因為laser repair所造成，可經(jīng)由autoclave後消除。 而空氣泡比較無法經(jīng)由autoclave消除，其成因為： 1. 液晶脫泡不完全， 2. 進(jìn)VPA預(yù)抽Q Time過長， 3. Panel液晶封口不良。檢測畫面任何畫面 現(xiàn)象敘述50公分可見黑色或彩色水草狀或線狀痕跡，輕觸其週邊 有陷入的現(xiàn)像。 DC10 液晶氣泡（液晶氣泡（LC Bubble)AUO Proprietary & Confidential成因：檢測畫面L0 畫面 。 現(xiàn)象敘述側(cè)視可見類似星雲(yún)狀的亮帶，顏色與形狀皆不一定。 DC11 小星星小星星(sandy)AUO Proprietary & Confident

20、ial 成因：檢測畫面L48,L92,L116 畫面 。 現(xiàn)象敘述本畫面出現(xiàn)直徑約2mm的白色小圓點(diǎn)，正視即可見， 其亮度、形狀與背光板白點(diǎn)有明顯的差異。 DC12 白點(diǎn)白點(diǎn)(white spot)AUO Proprietary & Confidential 成因：檢測畫面L48、L92、L116 。 現(xiàn)象敘述本畫面出現(xiàn)直徑約2mm的白色小圓點(diǎn)，正視即可見。 DC13 點(diǎn)黑點(diǎn)黑(black spot)AUO Proprietary & Confidential 成因：檢測畫面L0 畫面 。 現(xiàn)象敘述通常成團(tuán)出現(xiàn)，50公分看起來像很多碎亮點(diǎn)集中在一 起，以15倍放大鏡檢驗可看別Sub pixel

21、 的某些部份顏 色變淡，刮傷，無顏色，破洞皆稱之。 DC14 CF缺陷缺陷(CF defect)AUO Proprietary & Confidential成因：BM不夠黑，原材問題。 檢測畫面漢字字框 。 現(xiàn)象敘述 BM區(qū)原本黑色變成咖啡色或褐色 . DC141 BM區(qū)區(qū)CF 缺陷（缺陷（BM CF Defect )AUO Proprietary & Confidential成因：1人員操作失誤。 2.原材不良檢測畫面L0 畫面 。 現(xiàn)象敘述現(xiàn)象類似Sandy，但其顏色為亮白色圓型，以15X放大 鏡檢 視可看出極細(xì)微的亮點(diǎn)聚集在一起 DC16 Spacer 破裂破裂(Spacer broke

22、n)AUO Proprietary & Confidential成因：1人員操作失誤。 2.原材不良檢測畫面: L48,L92,L116 ?，F(xiàn)象敘述50公分正視可見約呈45度向左或向右斜的條紋狀Mura， 通常為白色條紋間有規(guī)律的間隔。 DC21 配向配向(Rubbing mura)AUO Proprietary & Confidential成因：CF膜厚不均。 檢測畫面L0 畫面 。 現(xiàn)象敘述40度由上往下看可見位在產(chǎn)品中間以下部份一大片看似 雲(yún)狀的Mura，其成因類似Gap Mura，但觸碰其週周圍 沒有波動。 DC215 雲(yún)狀雲(yún)狀Mura(Cloudy Mura)AUO Propriet

23、ary & Confidential成因：1.PI塗佈膜厚不均。 2. PI膜內(nèi)有水痕、異物或汙染。檢測畫面L48、L92、L116。 現(xiàn)象敘述無特定形狀、位置、大小，通常為灰白或灰黑色，整 個Mura色差很平均不會在輪廓處擴(kuò)散霧開，故其形狀 較明顯。 DC216 PI Mura(PI Mura )AUO Proprietary & Confidential成因：1.Cell製作過程中所點(diǎn)的銀膠過大或過高，造成Cell Gap (間隙)改變。 2.Cell製作過程中所塗佈的框膠過大或過高，造成 Cell Gap(間隙)改變。 上述兩個原因皆會造成週邊Mura。 檢測畫面 L0 階畫面 。 現(xiàn)象

24、敘述 1. 會在 Panel 四周邊形成，按升降階可見其亮度 。 2. 特徵 : 在全白畫面會泛黃。 DC23 週邊週邊Mura (Around Mura)AUO Proprietary & Confidential成因：1.CF(彩色濾光片)製作過程中某一個顏色曝光或成型時 有間題，造成該顏色畫面出現(xiàn)黑點(diǎn)或深色色塊。 2 .CF(彩色濾光片)製作過程中成型時膜厚不均。 上述兩個原因皆會造成色Mura。檢測畫面R、G、B 、L92 階畫面。 現(xiàn)象敘述1.在 R、 G、 B 其中一色出現(xiàn)的小白圓點(diǎn)。 2.該Mura只出現(xiàn)在R、G、B、L 92階畫面其中一個或兩個 畫面者稱之。 DC24 色色Mu

25、ra (Color Mura)AUO Proprietary & Confidential成因：1.Cell製作過程中PI膜塗佈不均，造成GB128畫面出現(xiàn) 垂直 狀色塊 2 .Rubbing製程中成型時膜厚不均。 上述兩個原因皆會造成垂直狀Mura。檢測畫面L48、L92、L116階 。 現(xiàn)象敘述升降階確認(rèn)成立一 直線白色的 Mura 。 DC26 垂直狀垂直狀Mura (V-Line Mura)AUO Proprietary & Confidential成因：1Polarizort材料製作過程中因補(bǔ)償膜本身有條紋狀細(xì) 紋,有時出現(xiàn)白色有時出現(xiàn)黑色的斜紋狀色塊。檢測畫面1. L0階 2. L

26、92階 3.L48階現(xiàn)象敘述一般都為斜形狀，比一般其他 Mura 更立體。 DC261 筋狀筋狀mura (TFT PF linear mura)AUO Proprietary & Confidential成因：尚未有明確成因。檢測畫面L0,L48,L92,L116,L255,RGB階畫面 。現(xiàn)象敘述像有顏色細(xì)細(xì)麵線形狀，在水藍(lán) GB128 畫面確認(rèn)，會 逐漸消失淡掉 。 DC27 縱筋縱筋mura (Multiple V-Line Mura)AUO Proprietary & Confidential成因：1.Cell製作過程中PI膜塗佈不均，造成GB128畫面出現(xiàn) 水平狀色塊。 2 .Ru

27、bbing製程中成型時膜厚不均。 上述兩個原因皆會造成水平狀Mura。檢測畫面L48,L92,L116階畫面 。 現(xiàn)象敘述像暈開的 Mura 橫條狀。 DC28 水平狀水平狀mura (H-Line Mura)AUO Proprietary & Confidential 成因：1.上(CF)玻璃與下(TFT)玻璃因外力施壓，造成上下兩片 玻璃間的對位有偏移的現(xiàn)象。 2.CF在Sub-pixel間的BM寬度預(yù)留寬度不足，外力施壓後 無法遮住玻璃偏移造成的TFT金屬線路外露，以50公分 40度側(cè)視時會有一整片或藍(lán)或綠亮亮的現(xiàn)象。檢測畫面 L0階畫面 。 現(xiàn)象敘述在 L0 階畫面用滾輪拉出的色差。

28、DC29 可動式可動式mura (Move able mura)AUO Proprietary & Confidential 成因：1.畫面檢驗完畢關(guān)掉電源後畫面出現(xiàn)水平線狀或其他 形狀的殘留影像，通常為IC與Cell搭配有問題。 DC32 關(guān)機(jī)殘像關(guān)機(jī)殘像 (After Image)AUO Proprietary & Confidential成因：1.上下玻璃因外力擠壓造成玻璃間隙變小 檢測畫面1. L0 /L48 /L92 /L116 /L255 /RGB階調(diào)中以最明顯的 pattern判定現(xiàn)象敘述1.在defect 的附近用手輕壓,此defect會動. DC33 黑黑GAP Mura(C

29、ell) Black Gap Mura(Cell)AUO Proprietary & Confidential 成因：1.Cell原材不良所造成，玻璃間隙變大。 檢測畫面GB128 畫面 。 現(xiàn)象敘述白色的Gap Mura。 DC331 白白Gap Mura(Cell) White Gap Mura(Cell)AUO Proprietary & Confidential成因：1.上下玻璃因外力擠壓造成玻璃間隙變大，此外力通常 是JI段自動化機(jī)臺的治具不平或不清潔造成 2.偏光板重工時因為撕偏光板機(jī)臺調(diào)校不良或製程參數(shù) 失準(zhǔn)，導(dǎo)致偏光板撕離時用力過度造成。檢測畫面L0、L48、L92、L116階

30、畫面 。 現(xiàn)象敘述手壓 Panel 形成漩渦狀，現(xiàn)象特別明顯。 DC34 GAP Mura(Module)AUO Proprietary & Confidential成因：原因不明。 檢測畫面L48、L92、L116 階畫面 。 現(xiàn)象敘述PI 變厚或變薄所形成不規(guī)則形狀，無特定之名稱。 DC35 Mura( Mura)AUO Proprietary & Confidential成因：Cell 漏光可能形成之原因為： 1. Pixel線路刮傷。 2. ITO 破洞。 3. 微小之particle，掉落在線路上，造成short。檢測畫面L0、L48、L92、L116 階。 現(xiàn)象敘述在升降階時於面板

31、四周有亮亮之情形。 DC356 Cell漏光（漏光（Cell light leakage）AUO Proprietary & Confidential 成因：1.Cell原材不良。 2.玻璃清洗機(jī)臺的刮刀卡到玻璃屑。 3.裂片機(jī)臺上有玻璃屑。檢測畫面1.點(diǎn)亮檯燈 現(xiàn)象敘述1.Cell刮傷處目視可見 DC359 Cell 刮傷刮傷 (Cell Scratch)AUO Proprietary & Confidential成因：1.注入口封膠污染。 2.注入口封膠厚度不均造成玻璃間隙改變。 檢測畫面GB128 階畫面 。 現(xiàn)象敘述在面板右側(cè)注入口位置，升降階可見其色差，或由上 往下看，用 Lupe

32、確認(rèn) Subpixel 一點(diǎn)一點(diǎn)的像 CF Defect。 DC36 注入口不良注入口不良 ( Inj white mura)AUO Proprietary & Confidential成因：檢測畫面L92 階 。 現(xiàn)象敘述針對 B152EW01 和 B141XN04-2/25 這兩種 Model ,Panel 每秒搖三下, 會看見不規(guī)則形狀的水波紋。 DC37 Cell 波紋狀波紋狀 (Cell Ripple)AUO Proprietary & Confidential成因：檢測畫面L48,L92,L116畫面 。 現(xiàn)象敘述不規(guī)則狀大小、不定區(qū)域，類似MURA，看似霧狀物。 DC5 黑霧黑霧

33、 (Black Fog)AUO Proprietary & Confidential成因：1.CF玻璃與TFT玻璃組裝時對位不良造成。 檢測畫面L0 畫面 、升降階畫面。 現(xiàn)象敘述50公分正視Cell組裝不良處可見一亮帶，以15X放大鏡 檢驗可看到Sub Pixel側(cè)邊有漏光現(xiàn)象。 DC91 Cell 組裝偏移組裝偏移 (Cell assy shift)AUO Proprietary & Confidential成因：遮光黑色膠布貼付不良。 檢測畫面 漢字框畫面。 現(xiàn)象敘述黑色膠布已露出偏光板BM面上 DM1 黑色膠布露出黑色膠布露出 (Excess Black tape)AUO Propri

34、etary & Confidential 成因：1Polarizort材料製作過程中因補(bǔ)償膜本身有條紋狀細(xì) 紋,有時出現(xiàn)白色有時出現(xiàn)黑色的斜紋狀色塊。檢測畫面L0 畫面 、升降階畫面。 現(xiàn)象敘述 不規(guī)則狀，不固定區(qū)域，俗稱IP Mura。 DM2 燒付燒付(Imprint)AUO Proprietary & Confidential成因：1.玻璃經(jīng)COG製程高溫高壓處理造成應(yīng)力集中與變形 檢測畫面GB128 畫面 、L92畫面、升降階畫面。 現(xiàn)象敘述 COG製程的產(chǎn)品容易在COG相關(guān)位置出現(xiàn)。 DM11 COG Mura COG Mura)AUO Proprietary & Confident

35、ial成因：Cell原材不良上偏光板有異物 ，通常指未經(jīng)過 模組 段偏光板重 工者。 檢測畫面L0階(黑畫面)。 現(xiàn)象敘述 Panel內(nèi)上偏光板與Cell玻璃之間，有異物，L0檢查 亮的異物， L63階檢查黑色異物。 DP111上偏光板異物上偏光板異物(cell)Top PF Particle(cell)AUO Proprietary & Confidential成因：Cell原材不良下偏光板有異物 ，通常指未經(jīng)過模組 段偏 光板重工者。 檢測畫面 L0L63階(黑畫面)。 現(xiàn)象敘述 Panel內(nèi)下偏光板與Cell玻璃之間，有異物，L0檢查 亮的異物， L63階檢查黑色異物。 DP112下偏光

36、板異物下偏光板異物(cell) Top PF Particle(cell)AUO Proprietary & Confidential成因：1上偏光板有異物 ，通常指經(jīng)過模組段偏光板重工者。 檢測畫面L0L63階(黑畫面)。 現(xiàn)象敘述Panel內(nèi)上偏光板與Cell玻璃之間，有異物，L0檢查 亮的異物， L63階檢查黑色異物。 DP121上偏光板異物上偏光板異物(module) Top PF Particle(module)AUO Proprietary & Confidential成因：1. 下偏光板有異物 ，通常指經(jīng)過模組段偏光板重工者。 檢測畫面 L0L48階(黑畫面)。 現(xiàn)象敘述 Pan

37、el內(nèi)下偏光板與Cell玻璃之間，有異物，L0檢查 亮的異物， L48階檢查黑色異物。 DP122下偏光板異物下偏光板異物(module) Bottom PF Particle(module)AUO Proprietary & Confidential成因：1. 下偏光板有異物 ，通常指經(jīng)過模組段偏光板重工者。 檢測畫面 L0L48階(黑畫面)。 現(xiàn)象敘述 Panel內(nèi)下偏光板與Cell玻璃之間，有異物，L0檢查 亮的異物， L48階檢查黑色異物。 DP122下偏光板異物下偏光板異物(module) Bottom PF Particle(module)AUO Proprietary & Con

38、fidential成因： 1. 上偏光板原材刮傷。 2.人員取放動作不當(dāng)。 3.硬式保護(hù)膜硬度太高。檢測畫面 L0 階 。 現(xiàn)象敘述 偏光板上有熔解的痕跡，而顏色為黑色，而燒傷區(qū)域 大部份在Panel的四周BM區(qū)域。 DP21 上偏光板刮傷上偏光板刮傷(Top PF Scratch)AUO Proprietary & Confidential成因：1.偏光板原材不良(負(fù)翹太嚴(yán)重) 2.Pol貼付機(jī)臺roller gap未調(diào)整好。 DP31 偏光板氣泡偏光板氣泡(PF Bubble)AUO Proprietary & Confidential成因：1.偏光板原材不良(沾附 particle) 2

39、.機(jī)臺內(nèi)部 particle污染。檢測畫面L255階 、 L92階 。 現(xiàn)象敘述 偏光板內(nèi)有污點(diǎn)或髒污，類似Mura或Gomi。 DP4偏光板髒污（偏光板髒污（Top PF Dirt ）AUO Proprietary & Confidential成因：1.Cell原材不良。 2.軟式保護(hù)膜上有投影筆筆跡轉(zhuǎn)印到偏光板。檢測畫面 L255 階 。 現(xiàn)象敘述 在白畫面容易看出有投影筆痕跡，位置在偏光板內(nèi)部。 DP41偏光板投影筆筆跡偏光板投影筆筆跡(Polarizer Handwriting Dirty)AUO Proprietary & Confidential成因： 1.偏光板原材不良。 2.R

40、obot上有particle 。 3.set table上有particle。 4.clean roller上有particle。檢測畫面1.點(diǎn)亮檯燈 現(xiàn)象敘述1.傷痕目視可見 DP6上偏光板壓傷上偏光板壓傷 (Top PF Dent)AUO Proprietary & Confidential成因：1.Cell原材不良。 2.JI機(jī)臺治具不清潔有硬異物殘留導(dǎo)軟壓傷偏光板。 檢測畫面L0 階 、 L92 階 現(xiàn)象敘述大的類似Black Gap Mura 有黑色和白色 ，小的有時 很像異物 DP61 下偏光板壓傷下偏光板壓傷 (Bottom PF Dent)AUO Proprietary & C

41、onfidential成因：1.偏光板原材不良。 2. 化學(xué)藥品污染。檢測畫面 L92 畫面 、升降階畫面。 現(xiàn)象敘述 偏光板層內(nèi)類似Mura，在L0階會比較明顯看出偏光 板腐蝕。 DP7 偏光板腐蝕偏光板腐蝕 (Chemical pollution)AUO Proprietary & Confidential成因：檢測畫面1. B/L點(diǎn)亮 2. 所有檢測畫面 現(xiàn)象敘述1.垂直區(qū)塊性缺陷(亮區(qū)塊、暗區(qū)塊、區(qū)塊顏色與周圍 不同)皆屬之。 2.多重垂直性區(qū)塊皆屬之。 TM3 垂直區(qū)塊缺陷垂直區(qū)塊缺陷 (V-Block Defect)AUO Proprietary & Confidential 成因：檢測畫面1. B/L點(diǎn)亮 2. 所有檢測畫面 現(xiàn)象敘述1.水平區(qū)塊性缺陷(亮區(qū)塊、暗區(qū)塊、區(qū)塊顏色與周圍 不同)皆屬之。 2