多點(diǎn)隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)控制系統(tǒng)的設(shè)計(jì)_第1頁
多點(diǎn)隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)控制系統(tǒng)的設(shè)計(jì)_第2頁
多點(diǎn)隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)控制系統(tǒng)的設(shè)計(jì)_第3頁
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1、多點(diǎn)隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)控制系統(tǒng)的設(shè)計(jì) 挑戰(zhàn):設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)控制系統(tǒng)。 應(yīng)用方案:使用ni公司的labwindows/cvi軟件配合動(dòng)態(tài)信號(hào)分析卡ni-4551和動(dòng)態(tài)數(shù)據(jù)采集卡ni-4472以及其他硬件快速開發(fā)一個(gè)基于pc的多點(diǎn)隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)控制系統(tǒng)。 使用的產(chǎn)品:labwindows/cvi,ni pci-4551,bnc-2140,ni pci-4472。 介紹 多點(diǎn)激勵(lì)振動(dòng)試驗(yàn)控制技術(shù)是對(duì)大型復(fù)雜試件開展可靠性和環(huán)境試驗(yàn)的關(guān)鍵技術(shù),對(duì)產(chǎn)品可靠性的考核有著重要的意義。本文將給出多點(diǎn)隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)的控制方案和控制系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方案,在labwindows/cvi平臺(tái)上結(jié)合ni pci-4551和

2、ni pci-4472板卡開發(fā)一個(gè)雙振動(dòng)臺(tái)隨機(jī)振動(dòng)控制系統(tǒng),并進(jìn)行了實(shí)際連臺(tái)試驗(yàn)。試驗(yàn)結(jié)果表明:在一定試驗(yàn)條件下,本文給出的控制方案是可行的,且所設(shè)計(jì)的控制系統(tǒng)具有較好的控制結(jié)果,達(dá)到了試驗(yàn)規(guī)范要求。 引言 隨著對(duì)產(chǎn)品設(shè)備安全性、可靠性和環(huán)境適應(yīng)性要求的不斷提高,推動(dòng)了考核產(chǎn)品耐振動(dòng)應(yīng)力的振動(dòng)試驗(yàn)技術(shù)的發(fā)展,同時(shí)被試產(chǎn)品覆蓋面也進(jìn)一步擴(kuò)寬,從元器件到部件、組合件乃至整機(jī)都要求進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn),以便在更高層次上充分暴露大系統(tǒng)可能存在的薄弱環(huán)節(jié)和設(shè)計(jì)缺陷。 隨著被試產(chǎn)品結(jié)構(gòu)復(fù)雜化,體積大型化及產(chǎn)品重型化,單點(diǎn)激勵(lì)振動(dòng)試驗(yàn)已不能提供足夠的推力或是達(dá)到特定的運(yùn)動(dòng)水平來較真實(shí)地模擬產(chǎn)品實(shí)際工作環(huán)境,并達(dá)到規(guī)

3、定的試驗(yàn)要求。而國軍標(biāo)、美軍標(biāo)及其它許多國際標(biāo)準(zhǔn)對(duì)振動(dòng)試驗(yàn)中的被試產(chǎn)品所施加應(yīng)力都有嚴(yán)格要求,應(yīng)使其盡量符合實(shí)際的產(chǎn)品工作環(huán)境,因此,對(duì)于無法用單點(diǎn)激勵(lì)來形成的振動(dòng)環(huán)境,則需要通過多點(diǎn)激勵(lì)振動(dòng)來解決。而目前在國內(nèi),多點(diǎn)激勵(lì)振動(dòng)控制技術(shù)還處于起步階段,多點(diǎn)振動(dòng)控制系統(tǒng)更是沒有研制出來。本文將介紹多點(diǎn)隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)控制技術(shù)和基于虛擬儀器技術(shù)的控制系統(tǒng)的設(shè)計(jì)開發(fā),并對(duì)實(shí)際連臺(tái)試驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行分析討論,希望能夠?yàn)槎帱c(diǎn)激勵(lì)振動(dòng)控制技術(shù)的進(jìn)一步研究奠定一個(gè)良好的基礎(chǔ)。 系統(tǒng)設(shè)計(jì) 1、 系統(tǒng)組成 系統(tǒng)由控制計(jì)算機(jī)、ni pci-4551、ni pci-4472、bnc-2140、功率放大器、電荷放大器、傳感器、激振器、試件、夾具及連接電纜等組成(見圖1)。系統(tǒng)使用儀器設(shè)備見表1。其基本工作原理為:控制計(jì)算機(jī)生成驅(qū)動(dòng)信號(hào)由pci-4551卡輸出經(jīng)功率放大器放大后給激振器來產(chǎn)生隨機(jī)振動(dòng),同時(shí)由安裝在試件(或夾具)上的加速度傳感器拾振,經(jīng)電荷放大器后通過pci-4472采集輸入到控制計(jì)算機(jī),從而形成閉環(huán)控制。在實(shí)際試驗(yàn)過程中,由于外界干擾或系統(tǒng)特性的影響,控制過程應(yīng)反復(fù)進(jìn)行,以使控制點(diǎn)處的振動(dòng)能夠達(dá)到并保持試驗(yàn)規(guī)范要求。 圖1 系統(tǒng)組成框圖 表1 系統(tǒng)儀器設(shè)備使用列表 儀 器 名 稱 型 號(hào) 使 用 數(shù) 量 激 振 器 jzt-2 2個(gè) 功率放大器 ts5870 2個(gè) 電荷放大

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