MS7000 常用語句

1、1 / 95 MacroTest Semiconductor，Inc. The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testing 上海宏測(cè)半導(dǎo)體科技有限公司上海宏測(cè)半導(dǎo)體科技有限公司 MacroTest Semiconductor, Inc.MacroTest Semiconductor, Inc. MS7000 MS7000 常用語句常用語句 作者：王 駿 2 / 95 MacroTest Semiconductor，Inc. The Better Choice for Your TestingThe Bette

2、r Choice for Your Testing l 加電壓測(cè)加電壓測(cè)電流電流（FVMFVMI I） l 加電流測(cè)電壓（加電流測(cè)電壓（FIMVFIMV） l 測(cè)量頻率（測(cè)量頻率（FoscFosc） l AWGAWG的的使用使用 l DCBLDCBL的的使用使用 l 掃描掃描 l 多級(jí)掃描多級(jí)掃描 l 斷電斷電(Poweroff)(Poweroff) l 良品分良品分BINBIN l 測(cè)量漏電流測(cè)量漏電流 3 / 95 MacroTest Semiconductor，Inc. The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for You

3、r Testing void _stdcall FVMI_fun() double adresult10;/定義數(shù)組adresult10 OVI.OVISet(Bin,OVI_ForceV,1,OVI_2V,OVI_5mA,-5,5);/給“Bin”腳施加1V電壓， 電壓檔位為2V，電流檔位為5mA，電流范圍限制為-55mA OVI.OVIAdcSet(Bin,OVI_Adc_I,10,10,FALSE);/在“Bin”腳采樣，采樣次數(shù)為10， 采樣間隔為10，不開啟Digitizer功能 delay(5);/延時(shí)5ms OVI.OVIMeasure(Bin,OVI_MeasureI,adre

4、sult,OVI_2V,OVI_5mA);/在“Bin”腳測(cè)量 電流，結(jié)果存到adresult數(shù)組中，電壓檔位為2V，電流檔位為5mA OVI.OVISet(Bin,OVI_ForceOff);/關(guān)閉“Bin”腳OVI通道 AddTestResult(SITE_1,FVMV,adresult0);/在工位1上將adresult0中的數(shù)值顯 示出來，顯示名為FVMI 加電壓測(cè)電流（FVMI） 4 / 95 MacroTest Semiconductor，Inc. The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testin

5、g l 加電壓測(cè)加電壓測(cè)電流電流（FVMFVMI I） l 加電流測(cè)電壓（加電流測(cè)電壓（FIMVFIMV） l 測(cè)量頻率（測(cè)量頻率（FoscFosc） l AWGAWG的的使用使用 l DCBLDCBL的的使用使用 l 掃描掃描 l 多級(jí)掃描多級(jí)掃描 l 斷電斷電(Poweroff)(Poweroff) l 良品分良品分BINBIN l 測(cè)量漏電流測(cè)量漏電流 5 / 95 MacroTest Semiconductor，Inc. The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testing void _stdcall

6、FIMV_fun() double adresult10;/定義數(shù)組adresult10 OVI.OVISet(Bin,OVI_ForceI,1,OVI_30V,OVI_5mA,-50,50);/給“Bin”腳施加1mA電 流，電壓檔位為30V，電流檔位為5mA，電壓范圍限制為-5050V OVI.OVIAdcSet(Bin,OVI_Adc_V,10,10,FALSE);/在“Bin”腳采樣，采樣次數(shù)為10， 采樣間隔為10，不開啟Digitizer功能 delay(5);/延時(shí)5ms OVI.OVIMeasure(Bin,OVI_MeasureV,adresult,OVI_30V,OVI_5

7、mA);/在“Bin”腳測(cè) 量電壓，結(jié)果存到adresult數(shù)組中，電壓檔位為30V，電流檔位為5mA OVI.OVISet(Bin,OVI_ForceOff);/關(guān)閉“Bin”腳OVI通道 AddTestResult(SITE_1,FIMV,adresult0);/在工位1上將adresult0中的數(shù)值顯 示出來，顯示名為FIMV 加電流測(cè)電壓（FIMV） 6 / 95 MacroTest Semiconductor，Inc. The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testing l 加電壓測(cè)加電壓測(cè)電流電流

8、（FVMFVMI I） l 加電流測(cè)電壓（加電流測(cè)電壓（FIMVFIMV） l 測(cè)量頻率（測(cè)量頻率（FoscFosc） l AWGAWG的的使用使用 l DCBLDCBL的的使用使用 l 掃描掃描 l 多級(jí)掃描多級(jí)掃描 l 斷電斷電(Poweroff)(Poweroff) l 良品分良品分BINBIN l 測(cè)量漏電流測(cè)量漏電流 7 / 95 MacroTest Semiconductor，Inc. The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testing void _stdcall Fosc() TMU.TMU_S

9、ET(Bin,TMU_FREQAN,10,1,TMU_10V,TMU_100K,TMU_FNONE);/設(shè)定TMU測(cè)量模式為測(cè)量 頻率、采樣次數(shù)為10、timeout時(shí)間為1ms、測(cè)量檔位為100kHz、不用濾波 TMU.TMU_START(Bin,TMU_SLOP_NEG,0.5,0);/在“Bin”腳測(cè)量波形，下降沿0.5V位置開始觸發(fā) TMU.TMU_STOP(Bin,TMU_SLOP_NEG,0.5,0); /在“Bin”腳測(cè)量波形，下降沿0.5V位置結(jié)束觸發(fā) TMU.TMU_ARM(Bin);/“Bin”腳啟動(dòng)測(cè)量 delay(10);/延時(shí)10ms TMU.TMU_MTA(Bin,

10、TMU_FREQAN,1);/測(cè)量“Bin”腳測(cè)試頻率數(shù)據(jù)，測(cè)量模式為1 AddTestResult(SITE_1,Fosc,TMU.GetPinResult(Bin);/在工位1上將“Bin”腳中的數(shù)值顯 示出來，顯示名為Fosc“ TMU.TMU_SET(“Bin”,TMU_OFF,10,1,TMU_10V,TMU_100K,TMU_FNONE);/關(guān)閉“Bin”腳TMU通道 測(cè)量頻率（Fosc） 8 / 95 MacroTest Semiconductor，Inc. The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your

11、Testing l 加電壓測(cè)加電壓測(cè)電流電流（FVMFVMI I） l 加電流測(cè)電壓（加電流測(cè)電壓（FIMVFIMV） l 測(cè)量頻率（測(cè)量頻率（FoscFosc） l AWGAWG的的使用使用 l DCBLDCBL的的使用使用 l 掃描掃描 l 多級(jí)掃描多級(jí)掃描 l 斷電斷電(Poweroff)(Poweroff) l 良品分良品分BINBIN l 測(cè)量漏電流測(cè)量漏電流 9 / 95 MacroTest Semiconductor，Inc. The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testing void _st

12、dcall UserInit()/在UserInit()中下載波表文件 double mcode4096;/定義數(shù)組mcode4096 double pi2=8*atan(double)1); AWG.ChnInit(AWG);/在“AWG”腳初始化AWG通道 for (int i=0;i=1;i=i-0.02)/從i=1.5開始遞減，每次遞減0.02，直到為i=1 OVI.OVISet(Bin1,OVI_ForceV,i,OVI_2V,OVI_5mA,-5,5);/在Bin1腳輸出i的電壓 delay(5);/延時(shí)5ms DVI.DVIMeasureA(Bin2,DVI_MeasureV,D

13、VI_8V,DVI_50mA);/在Bin2腳測(cè)量 result1=DVI.GetPinResult(Bin2);/將Bin2腳測(cè)量結(jié)果賦給result1 if(result1=1;i1=i1-0.1)/從i1=1.5開始遞減，每次遞減0.02，直到為i1=1 OVI.OVISet(Bin1,OVI_ForceV,i1,OVI_2V,OVI_5mA,-5,5);/在Bin1腳輸出i1的電壓 delay(5);/延時(shí)5ms DVI.DVIMeasureA(Bin2,DVI_MeasureV,DVI_8V,DVI_50mA);/在Bin2腳測(cè)量 result1=DVI.GetPinResult(B

14、in2);/將Bin2腳測(cè)量結(jié)果賦給result1 if(result1=1;i2=i2-0.02)/從i2=result0+0.1開始遞減，每次遞減0.0 2，直到為i2=1 OVI.OVISet(Bin1,OVI_ForceV,i2,OVI_2V,OVI_5mA,-5,5);/在Bin1腳輸出i2的電壓 delay(5);/延時(shí)5ms DVI.DVIMeasureA(Bin2,DVI_MeasureV,DVI_8V,DVI_50mA);/在Bin2腳測(cè)量 result3=DVI.GetPinResult(Bin2);/將Bin2腳測(cè)量結(jié)果賦給result1 if(result3=10/re

15、sult0在30到40范圍內(nèi)分在軟件BIN3 /result0在超出范圍不寫，默認(rèn)分在函數(shù)失效設(shè)置的軟件BIN中 23 / 95 MacroTest Semiconductor，Inc. The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testing l 加電壓測(cè)加電壓測(cè)電流電流（FVMFVMI I） l 加電流測(cè)電壓（加電流測(cè)電壓（FIMVFIMV） l 測(cè)量頻率（測(cè)量頻率（FoscFosc） l AWGAWG的的使用使用 l DCBLDCBL的的使用使用 l 掃描掃描 l 多級(jí)掃描多級(jí)掃描 l 斷電斷電(Powero

16、ff)(Poweroff) l 良品分良品分BINBIN l 測(cè)量漏電流測(cè)量漏電流 24 / 95 MacroTest Semiconductor，Inc. The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testing 測(cè)量漏電流 void Ileak_fun() FHVI.FHVISet(FHVI,FHVI_ForceV,800,FHVI_1000V,FHVI_3P2uA,-0.003,-0.003);/在FHVI腳輸 出800V的電壓 FHVI.FHVIAdcSet(FHVI,FHVI_Adc_I,100,10);/在FHVI腳采樣設(shè)置 delay(5);/延時(shí)5ms FHVI.FHVIMeasure(FHVI,FHVI_MeasureI,adResult,FHVI_1000V,FHVI_3P2uA);/將FHVI腳測(cè)量 結(jié)果賦給數(shù)組adResult FHVI.FHVISe