安規(guī)測(cè)試說(shuō)明書(shū)1.doc

4.4 顯示器訊息 4.4.1 交耐壓測(cè)試: 4.4.1.1 測(cè)試中止(Abort) 1. 假如交耐壓測(cè)試正在進(jìn)之中，而按RESET開(kāi)關(guān)或使用遙控裝置中斷測(cè)試，液 晶顯示器會(huì)顯示如下: ACW Abort XXX.X s MXX-X X.XX KV XX.XX 2. 假如交耐壓測(cè)試正在進(jìn)之中，而按RESET開(kāi)關(guān)或使用遙控裝置中斷測(cè)試時(shí)， 其中斷測(cè)試的時(shí)間在本分析儀到第一筆測(cè)試結(jié)果之前，液晶顯示器會(huì)顯示: ACW Abort XXX.X s 或 ACW Abort XXX.X s MXX-X -.- - KV - -.- - mA MXX-X X.XX KV - -.- 4.4.1.2 緩升測(cè)試 (Ramp Up) 1. 如交耐壓測(cè)試設(shè)定有緩升 (Ramp Up) 測(cè)試程序，在本分析儀讀到第一筆測(cè)試結(jié)果之前，液晶顯示器會(huì)顯示如下: ACW Ramp XXX.X s MXX-X -.- - KV - -.- - mA 2. 交耐壓測(cè)試在緩升時(shí)間之中進(jìn)耐壓測(cè)試時(shí)，測(cè)試的結(jié)果會(huì)斷的被新，液晶顯示 器會(huì)顯示如下: ACW Ramp XX.X s MXX-X X.XX KV XX.XX mA 4.4.1.3 耐壓測(cè)試(Dwell) 1. 在交耐壓測(cè)試進(jìn)時(shí)，測(cè)試的結(jié)果會(huì)斷的被新，液晶顯示器會(huì)顯示如下: ACW Dwell XXX.X s MXX-X X.XX KV XX.XX mA 2. 如交耐壓測(cè)試的緩升測(cè)試時(shí)間非常短，而在本分析儀到第一筆測(cè)試結(jié)果之前，液晶 顯示器會(huì)顯示如下: ACW Dwell XXX.X s MXX-X -.- - KV - -.- - mA 4.4.1.4 電電上限(HI-Limit) 1. 如被測(cè)物在做交耐壓測(cè)試時(shí)的電電超過(guò)上限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為電電 上限造成的測(cè)試失敗，如果其電值仍然在本分析儀的測(cè)范圍內(nèi)，液晶顯示器會(huì)顯示 如下: ACW HI-Limit XX.X s MXX-X X.XX KV XX.XX 2. 如被測(cè)物在做交耐壓測(cè)試時(shí)的電電超過(guò)上限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為電電 上限造成的測(cè)試失敗，如果其電值超出本分析儀的測(cè)范圍，液晶顯示器會(huì)顯示如下: ACW HI-Limit XXX.X s MXX-X X.XX KV 40 4.4.1.5 短(Short) 如被測(cè)物在做交耐壓測(cè)試時(shí)，電電遠(yuǎn)超過(guò)本分析儀可以測(cè)的范圍之外，再加上本分析儀特殊的短判定電動(dòng)作，會(huì)被程式判定為短造成的測(cè)試失敗，液晶顯示器會(huì)顯示如下: ACW Short XXX.X s MXX-X -.- - KV 40 mA 4.4.1.6 耐壓崩潰(Breakdown) 如被測(cè)物在做交耐壓測(cè)試時(shí)的電電遠(yuǎn)超過(guò)本分析儀可以測(cè)的范圍 ，并且電弧的 電也遠(yuǎn)超過(guò)本分析儀所能夠測(cè)的正常值之外，會(huì)被程式判定為耐壓崩潰造成的測(cè) 試失敗，液晶顯示器會(huì)顯示如下: ACW Breakdown XXX.X s MXX-X X.XX KV 40 4.4.1.7 電電下限 (LO-Limit) 如被測(cè)物在做交耐壓測(cè)試時(shí)的電電低於下限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為電電下 限造成的測(cè)試失敗，液晶顯示器會(huì)顯示如下: ACW LO-Limit XXX.X s MXX-X X.XX KV XX.XX 4.4.1.8 電弧測(cè)試失敗 (Arc Fail) 如被測(cè)物在做交耐壓測(cè)試時(shí)的電電在設(shè)定的電電上限值以內(nèi)，但是電弧的電 超過(guò)電弧電的設(shè)定值，并且本分析儀的電弧偵測(cè)判定功能被設(shè)定為 ON 時(shí)，造成的 測(cè)試失敗，會(huì)被程定判定為被測(cè)物的電弧造成的測(cè)試失敗，液晶顯示器會(huì)顯示如下: ACW Arc-Fail XXX.X s MXX-X X.XX KV XX.XX 4.4.1.9 測(cè)試通過(guò) (Pass) 假如被測(cè)物在做交耐壓測(cè)試時(shí)的整個(gè)過(guò)程都沒(méi)有任何常的現(xiàn)象發(fā)生時(shí)，被認(rèn)定為通過(guò) 測(cè)試，液晶顯示器會(huì)顯示如下: ACW Pass XXX.X s MXX-X X.XX KV XX.XX 4.4.2 直耐壓測(cè)試: 4.4.2.1 測(cè)試中止(Abort) 1. 如直耐壓測(cè)試正在進(jìn)之中，而按 RESET 開(kāi)關(guān)或使用遙控裝置中斷測(cè)試時(shí)，液晶顯示器會(huì)顯示如下: DCW Abort XXX.X s MXX-X X.XX KV XXXX 2. 如直耐壓測(cè)試正在進(jìn)之中，而按 RESET 開(kāi)關(guān)或使用遙控裝置中斷測(cè)試時(shí)，其中斷 測(cè)試的時(shí)間在本分析儀到第一筆測(cè)試結(jié)果之前，液晶顯示器會(huì)顯示: DCW Abort XXX.X s DCW Abort XXX.X s 或 MXX-X -.- - KV - - - - A MXX-X X.XX KV - - - - A 4.4.2.2 緩升(Ramp Up)測(cè)試 1. 如果直耐壓測(cè)試設(shè)定有緩升 (Ramp Up)測(cè)試程序，在本分析儀到第一筆測(cè)試結(jié)果之前，液晶顯示器會(huì)顯示如下: DCW Ramp XXX.X s MXX-X -.- - KV - - - - A 2. 直耐壓測(cè)試在緩升時(shí)間之中進(jìn)耐壓測(cè)試時(shí)，測(cè)試的結(jié)果會(huì)斷的被新，液晶顯示器會(huì)顯示如下: DCW Ramp XXX.X s MXX-X X.XX KV XXXX 4.4.2.3 耐壓測(cè)試 (Dwell) 1. 在直耐壓測(cè)試進(jìn)時(shí)，測(cè)試的結(jié)果會(huì)斷的被新，液晶顯示器會(huì)顯示如下: DCW Dwell XXX.X s MXX-X X.XX KV XX.XX .2. 如直耐壓測(cè)試的緩升測(cè)試時(shí)間非常短，而在本分析儀到第一筆測(cè)試結(jié)果之前，液晶顯示器會(huì)顯示如下: DCW Dwell XXX.X s MXX-X -.- - KV - - - - 4.4.2.4 緩衝電(Ramp-HI) 在直耐壓測(cè)試的模式下，而緩衝電的模式被設(shè)定為 ON 時(shí)，在緩衝期的時(shí)間之內(nèi)，如 果被測(cè)物的電電超過(guò) 12mA時(shí)，會(huì)被程式判定為緩衝電測(cè)試失敗，液晶顯示器會(huì)顯 示如下: DCW Ramp-HI XXX.X s MXX-X X.XX KV 9999 4.4.2.5 最低充電電 (Charge-LO) 在直耐壓測(cè)試的模式下，而最低充電電的模式被設(shè)定為 ON 時(shí)，在緩衝期的時(shí)間之內(nèi)，如果被測(cè)物的電電低於最低充電電值時(shí)，會(huì)被程式判定為最低充電電測(cè)試失敗，液晶顯示器會(huì)顯示如下: DCW Charge-LO XXX.X s MXX-X X.XX KV XXX.X. 4.4.2.6 電電上限 (HI-Limit) 1. 如被測(cè)物在做直耐壓測(cè)試時(shí)的電電超過(guò)上限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為電電 上限造成的測(cè)試失敗，如果其電值仍然在本分析儀的測(cè)范圍內(nèi)，液晶顯示器會(huì)顯示 如下: DCW HI-Limit XXX.X s MXX-X X.XX KV XXXX 2. 假如被測(cè)物在做直耐壓測(cè)試時(shí)的電電超過(guò)上限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為電 電上限造成的測(cè)試失敗，如果電值超出本分析儀的測(cè)范圍，液晶顯示器會(huì)顯示如下: DCW HI-Limit XXX.X s MXX-X X.XX KV 9999 4.4.2.7 短(Short) 假如被測(cè)物在做直耐壓測(cè)試時(shí)的電電遠(yuǎn)超過(guò)可以測(cè)的范圍之外，再加上本分析 儀特殊的短判定電動(dòng)作，會(huì)被程式判定為短造成的測(cè)試失敗，液晶顯示器會(huì)顯示如 下: DCW Short XXX.X s MXX-X -.- - KV 9999 4.4.2.8 耐壓崩潰(Breakdown) 如被測(cè)物在做直耐壓測(cè)試時(shí)的電電在設(shè)定的電電上限值以內(nèi)，但是電弧的電 超過(guò)電弧電的設(shè)定值，并且本分析儀的電弧偵測(cè)判定功能被設(shè)定為 ON 時(shí)，造成的 測(cè)試失敗，會(huì)被程定判定為被測(cè)物的電弧造成的測(cè)試失敗，液晶顯示器會(huì)顯示如下: DCW Breakdown XXX.X s MXX-X X.XX KV 9999 4.4.2.9 電電下限 (LO-Limit) 如被測(cè)物在做直耐壓測(cè)試時(shí)的電電低於下限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為電電下 限造成的測(cè)試失敗，液晶顯示器會(huì)顯示如下: DCW LO-Limit XXX.X s MXX-X X.XX KV XXX.X 4.4.2.10 電弧偵測(cè)判定(Arc Fail) 如被測(cè)物在做直耐壓測(cè)試時(shí)的電電在設(shè)定的電電上限值以內(nèi)，但是電弧的電 超過(guò)電弧電的設(shè)定值，并且本分析儀的電弧偵測(cè)判定功能被設(shè)定為 ON 時(shí)，所造成 的測(cè)試失敗，會(huì)被程定判定為被測(cè)物的電弧造成的測(cè)試失敗，液晶顯示器會(huì)顯示如下: DCW Arc-Fail XXX.X s MXX-X X.XX KV XX.X 4.4.2.11 測(cè)試通過(guò) (Pass) 如被測(cè)物在做直耐壓測(cè)試時(shí)的整個(gè)過(guò)程都沒(méi)有任何常的現(xiàn)象發(fā)生時(shí)，被認(rèn)定為通過(guò)測(cè) 試，液晶顯示器會(huì)顯示如下 : DCW Pass XXX.X s MXX-X X.XX KV XXXX 4.4.3 絕緣電阻測(cè)試 4.4.3.1 測(cè)試中止(Abort) 1. 如絕緣電阻測(cè)試正在進(jìn)之中，而按 RESET 開(kāi)關(guān)或使用遙控裝置中斷測(cè)試時(shí)，液晶顯示器會(huì)顯示如下: IR Abort XXX.X s MXX-X XXXX V XXXX 2. 假如絕緣電阻測(cè)試正在進(jìn)之中，而按 RESET 開(kāi)關(guān)或使用遙控裝置中斷測(cè)試時(shí)，其中 斷測(cè)試的時(shí)間在本分析儀到第一筆測(cè)試結(jié)果之前，液晶顯示器會(huì)顯示: IR Abort XXX.X s 或 IR Abort XXX.X s MXX-X - - - - V - - - - M MXX-X XXXX V - - - - 4.4.3.2 延遲時(shí)間(Delay) 1. 在絕緣電阻測(cè)試剛開(kāi)始時(shí)，測(cè)試電壓正逐步上升的期間之中，此時(shí)本分析儀尚未到第 一筆測(cè)試結(jié)果，液晶顯示器會(huì)顯示如下: IR Delay XXX.X s MXX-X - - - - V - - - M 2. 在絕緣電阻測(cè)試進(jìn)時(shí)，於延遲測(cè)試期間之中，測(cè)試的結(jié)果會(huì)斷的被新，液晶顯示器會(huì)顯示如下: IR Delay XXX.X s MXX-X XXXX V XXXX 4.4.3.3 最低充電電(Charge-LO) 在絕緣電阻測(cè)試的模式下，在緩衝期的時(shí)間之內(nèi)，如果被測(cè)物的充電電低於最低充電電值時(shí)，會(huì)被程式判定為最低充電電測(cè)試失敗，液晶顯示器會(huì)顯示如下: IR Charge-LO XXX.X s MXX-X - - - - V - - - - M 4.4.3.4 絕緣電阻上限(HI-Limit) 1. 如被測(cè)物在做絕緣電阻測(cè)試時(shí)的電阻值超過(guò)上限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為絕緣電阻上限 造成的測(cè)試失敗，如果其電阻值仍然在本分析儀的測(cè)范圍內(nèi)，液晶顯示器會(huì)顯示如下: IR HI-Limit XXX.X s MXX-X XXXX V XXXX 2. 如被測(cè)物在做絕緣電阻測(cè)試時(shí)的電阻值超過(guò)上限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為絕緣電阻上限造成的測(cè)試失敗，如果其電阻值超出本分析儀的測(cè) 范圍之外，液晶顯示器會(huì)顯示如下: IR HI-Limit XXX.X s MXX-X XXXX V 9999 4.4.3.5 絕緣電阻下限(LO-Limit) 1. 如被測(cè)物在做絕緣電阻測(cè)試時(shí)的電阻值低於下限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為絕緣電阻下限 造成的測(cè)試失敗，如果其電阻值仍然在本分析儀的測(cè)范圍內(nèi)，液晶顯示器會(huì)顯示如下: IR LO-Limit XXX.X s MXX-X XXXX V XXXX 2. 如被測(cè)物在做絕緣電阻測(cè)試時(shí)的電阻值低於下限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為絕緣電阻下限 造成的測(cè)試失敗，如果其電阻值低於本分析儀所能測(cè)的最低范圍之內(nèi)，液晶顯示器會(huì)顯示如下: IR LO-Limit XXX.X s MXX-X XXXX V 600 m 4.4.4.4 交接地電阻下限(LO-Limit) 如被測(cè)物在做交接地電阻測(cè)試時(shí)的接地電阻值低於下限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為接地電 阻下限造成的測(cè)試失敗，液晶顯示器會(huì)顯示如下: GND LO-Limit XXX.X s MXX-X XX.XX A XXX 4.4.4.5 測(cè)試通過(guò) (Pass) 假如被測(cè)物在做交接地電阻測(cè)試時(shí)的整個(gè)過(guò)程都沒(méi)有任何常的現(xiàn)像發(fā)生時(shí)，被認(rèn)定為 通過(guò)測(cè)試，液晶顯示器會(huì)顯示如下: GND Pass XXX.X s MXX-X XX.XX A XXX 4.5 操作程序及步驟 7400 系的耐壓測(cè)試器主要是設(shè)計(jì)供生產(chǎn)線自動(dòng)化以及品質(zhì)分析和檢驗(yàn)使用，可以外接RS232 或 GPIB (IEEE-488) 介面控制，也可以外接印介面，將本分析儀所測(cè)試到的結(jié)果 即時(shí)印出，其操作和設(shè)定都非常簡(jiǎn)。合的設(shè)定和操作會(huì)給予聲短暫?jiǎn)舻木?，同時(shí)退回原設(shè)定的態(tài)。請(qǐng)依照下程序和步驟操作本分析儀。 1. 在將本分析儀輸入電源線的插頭接到市電電源以前，請(qǐng)先關(guān)閉本分析儀的輸入電源開(kāi) 關(guān)，并將背板上的電壓選擇開(kāi)關(guān)換到正確的輸入電壓位置上，同時(shí)檢查保險(xiǎn)絲的規(guī) 格是否正確。然后再將地線接到本分析儀背板上的接地端子上。 2. 請(qǐng)將輸入電源線分別接到本分析儀和電源插座上，但是要先將測(cè)試線接到本分析儀 的輸出端子上。 3. 先將被測(cè)物或其測(cè)試治具端的測(cè)試線全部接妥，然后再將回線 (Return) 接到本分析儀的回端子上，再將接地電阻測(cè)試的電回測(cè)試線 (7440 機(jī)型) 或被測(cè)物接地線測(cè)試的測(cè)試線 (7430 機(jī)型) 接到本分析儀的端子上，最后才將高壓測(cè)線接到本分析儀的高壓端子上，并檢查所有的測(cè)試線是否全部接妥。 4. 然后開(kāi)啟本分析儀的輸入電源開(kāi)關(guān) ，此時(shí)全部的指示燈都會(huì)一起而顯示器會(huì)即出現(xiàn)如下：在指示燈全時(shí)，請(qǐng)即檢查指示燈是否正常。然后程式會(huì)自動(dòng)出現(xiàn)本分析儀最后一次測(cè)試時(shí)的記憶組和測(cè)試資，并進(jìn)入待測(cè)和設(shè)定模式，此時(shí)顯示 器會(huì)顯示下四個(gè)劃面的其中一個(gè)劃面： EXTECH 74XX Ver : X.X ACW Set XXX.X s DCW Set XXX.X s MXX-X X.XX KV XX.XX 或 MXX-X X.XX KV XXXXX IR Set XXX.X s 或 GND Set XXX.X s MXX-X X.XX KV XXXX MXX-X XX.XX A XXX 註明：如果記憶組 MXX-X_ 時(shí)，表示該步驟測(cè)試完成后，會(huì)自動(dòng)接到下一個(gè)測(cè)試 步驟。 請(qǐng)先考一般測(cè)試設(shè)定的明，將本分析儀的一般測(cè)試，PLC 遙控 (PLC Remote)、GPIB 位址 (GPIB Address)、LCD 反襯 (LCD Contrast)、警報(bào)音 (Volume)、接地電電阻測(cè)試的電阻/電壓錶 (GND Meter)、測(cè)試失敗停止 (Fail Stop)，自動(dòng)印 (AUTO Print)、印方式 (Print Mode)、印號(hào)碼 (Print Code Number) 設(shè)定完成.如果安裝有 GPIB 介面卡時(shí)，程式才會(huì)出現(xiàn) GPIB 位址設(shè)定，如果安裝有印介面卡程式才會(huì)出現(xiàn)自動(dòng)印 (AUTO Print)、印方式 (Print Mode) 和印編號(hào) (Print Code Number) 的設(shè)定。 5. 如果要重新設(shè)定測(cè)試，請(qǐng)按 SET 鍵，進(jìn)設(shè)定模式，重新設(shè)定測(cè)試，詳細(xì)的設(shè)定方式、程序和步驟，請(qǐng)考測(cè)試設(shè)定的明。如果鍵盤(pán)被鎖定，請(qǐng)先照鍵盤(pán)鎖定的明，先將鍵盤(pán)解鎖定，才能進(jìn)測(cè)試設(shè)定。 請(qǐng)?jiān)谶@里輸入您要轉(zhuǎn)換的文字或語(yǔ)句. 6. 如果要選擇記憶組內(nèi)的測(cè)試進(jìn)測(cè)試時(shí)，請(qǐng)按 MEMORY 鍵，程式會(huì)進(jìn)入記憶組 的選擇模式，液晶顯示器會(huì)顯示如下： Memory = X X Range ： 1 - 50 請(qǐng)用字鍵將要選擇作為測(cè)試的程式記憶組的代表字輸入程式內(nèi)，記憶組選擇完成 后，再按 ENTER鍵將記憶組的輸入程式內(nèi)，程式會(huì)自動(dòng)叫出將該記憶組的測(cè)試并回到等待測(cè)和設(shè)定模式。以下是以交耐壓測(cè)試，液晶顯示器會(huì)顯示如下: ACW Set XXX.X s MXX-X X.XX KV XX.XX 7. 如果要重新選擇記憶組內(nèi)測(cè)試步驟的進(jìn)測(cè)試時(shí)，請(qǐng)按 STEP鍵，程式會(huì)進(jìn)入記憶 組步驟的選擇模式，液晶顯示器會(huì)顯示如下： ACW Set XXX.X s MXX-X X.XX KV XX.XX 請(qǐng)用字鍵將要選擇程式記憶組內(nèi)測(cè)試步驟的代表字輸入程式內(nèi)，測(cè)試步驟為 18 共八個(gè)步驟。如果要將測(cè)試步驟接到下一個(gè)步驟作接測(cè)試時(shí)，請(qǐng)考“測(cè)試設(shè)定的明，將 Connect 選擇為 ON 。如果在第八測(cè)試步驟選擇為“ON時(shí)，測(cè)試步驟會(huì)被接到下一被選擇的記憶組的測(cè)試步