怎樣用萬用表檢測電容器.doc

怎樣用萬用表檢測電容器電容器是一種最為常用的電子元件。電容器的外形及電路符號繽?-10所示。電容器的通用文字符號為“C”。電容器主要由金屬電極、介質(zhì)層和電極引線組成，兩電極是相互絕緣的。因此，它具有“隔直流通交流”的基本性能。用數(shù)字萬用表檢測電容器，可按以下方法進行。 一、用電容檔直接檢測某些數(shù)字萬用表具有測量電容的功能，其量程分為2000p、20n、200n、2和20五檔。測量時可將已放電的電容兩引腳直接插入表板上的Cx插孔，選取適當?shù)牧砍毯缶涂勺x取顯示數(shù)據(jù)。2000p檔，宜于測量小于2000pF的電容；20n檔，宜于測量2000pF至20nF之間的電容；200n檔，宜于測量20nF至200nF之間的電容；2檔，宜于測量200nF至2F之間的電容；20檔，宜于測量2F至20F之間的電容。經(jīng)驗證明，有些型號的數(shù)字萬用表在測量50pF以下的小容量電容器時誤差較大，測量20pF以下電容幾乎沒有參考價值。此時可采用串聯(lián)法測量小值電容。方法是：先找一只220pF左右的電容，用數(shù)字萬用表測出其實際容量C1,然后把待測小電容與之并聯(lián)測出其總?cè)萘緾2，則兩者之差（C1C2）即是待測小電容的容量。用此法測量120pF的小容量電容很準確。二、用電阻檔檢測實踐證明，利用數(shù)字萬用表也可觀察電容器的充電過程，這實際上是以離散的數(shù)字量反映充電電壓的變化情況。設數(shù)字萬用表的測量速率為n次/秒，則在觀察電容器的充電過程中，每秒鐘即可看到n個彼此獨立且依次增大的讀數(shù)。根據(jù)數(shù)字萬用表的這一顯示特點，可以檢測電容器的好壞和估測電容量的大小。下面介紹的是使用數(shù)字萬用表電阻檔檢測電容器的方法，對于未設置電容檔的儀表很有實用價值。此方法適用于測量0.1F幾千微法的大容量電容器。1 測量操作方法將數(shù)字萬用表撥至合適的電阻檔，紅表筆和黑表筆分別接觸被測電容器Cx的兩極，這時顯示值將從“000”開始逐漸增加，直至顯示溢出符號“1”。若始終顯示“000”，說明電容器內(nèi)部短路；若始終顯示溢出，則可能時電容器內(nèi)部極間開路，也可能時所選擇的電阻檔不合適。檢查電解電容器時需要注意，紅表筆接電容器正極，黑表筆接電容器負極。2 測量原理用電阻檔測量電容器的測量原理。測量時，正電源經(jīng)過標準電阻R0向被測電容器Cx充電，剛開始充電的瞬間，因為Vc 0，所以顯示“000”。隨著Vc 逐漸升高，顯示值隨之增大。當Vc 2VR 時，儀表開始顯示溢出符號“1”。充電時間t為顯示值從“000”變化到溢出所需要的時間，該段時間間隔可用石英表測出。 注意事項：（1） 測量之前應把電容器兩引腳短路，進行放電，否則可能觀察不到讀數(shù)的變化過程。（2） 在測量過程中兩手不得碰觸電容電極，以免儀表跳數(shù)。（3）測量過程中，VIN（t）的值是呈指數(shù)規(guī)律變化的，開始時下降很快，隨著時間的延長，下降速度會越來越緩慢。當被測電容器Cx的容量小于幾千皮法時，由于VIN（t）一開始下降太快，而儀表的測量速率較低，來不及反映最初的電壓值，因而儀表最初的顯示值要低于電池電壓E。（4）當被測電容器Cx大于1F時，為了縮短測量時間，可采用電阻檔進行測量。但當被測電容器的容量小于200pF時，由于讀數(shù)的變化很短暫，所以很難觀察得到充電過程。一、用蜂鳴器檔檢測利用數(shù)字萬用表的蜂鳴器檔，可以快速檢查電解電容器的質(zhì)量好壞。將數(shù)字萬用表撥至蜂鳴器檔，用兩支表筆分別與被測電容器Cx的兩個引腳接觸，應能聽到一陣短促的蜂鳴聲，隨即聲音停止，同時顯示溢出符號“1”。接著，再將兩支表筆對調(diào)測量一次，蜂鳴器應再發(fā)聲，最終顯示溢出符號“1”，此種情況說明被測電解電容基本正常。此時，可再撥至20M或200M高阻檔測量一下電容器的漏電阻，即可判斷其好壞。測試時，如果蜂鳴器一直發(fā)聲，說明電解電容器內(nèi)部已經(jīng)短路；若反復對調(diào)表筆測量，蜂鳴器始終不響，儀表總是顯示為“1”，則說明被測電容器內(nèi)部斷路或容量消失。二、用數(shù)字萬用表測量大于20F的電容常見的數(shù)字萬用表，其電容檔的測量值最大為20F，有時不能滿足測量要求。為此，可采用下述簡單的方法，用數(shù)字萬用表的電容檔測量大于20F的電容，最大可測量幾千微法的電容。采用此法測量大容量電容時，無需對數(shù)字萬用表原電路做任何改動。此方法的測量原理是以兩只電容串聯(lián)公式C串C1C2/(C1+C2)為基礎(chǔ)的。由于容量大小不同的兩只電容串聯(lián)后，其串聯(lián)后的總?cè)萘恳∮谌萘啃〉哪侵浑娙莸娜萘?，因此，如果待測電容的